TTL 、CMOS 门电路参数测试

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1.4
1.5
TTL与非门参数测试
调节电位器,测出相应的输出电压,在坐标纸上画出电
压传输特性曲线,并在曲线中求得以下参数:
V o (V )
输出高电平VOH, 关门电平VOFF,
Vo 输出低电压VOL,
H
90% *V oH
开门电平VON,
阈值电压VTH,
低电平噪声容限VNL,
V oL 0 V I (V ) V oFF V TH V oN
二、实验所用器件型号及管脚排列
VCC
14
4A
13
4B
12 &O &O
4Y
11
3A
10
3B
9 &O &O
3Y
8
VDD
14
4A
13
4B
12 &O &O
4Y
11
3A
10
O
3B
9 &
3Y
8
O
& 5 6 7
1
2
3
4
5
6
7
1
2
3
4
1A
1B
1Y
2A
2B
2Y
GND
1A
1B
1Y
2A
2B
2Y
VSS
74LS00管脚排列及逻辑符号
+5V
+5V
A
IC C L
A IC C H
&
&
TTL与非门参数测试
+5V
2)IIL—输入低电平电流。 测试原理图：
I IL
&
A
+5V
3) IIH—输入高电平电流。 测试原理图：
I IH A
&
TTL与非门参数测试
4) No:扇出系数，即门的输出端能带动同类门的数目。 输出低电平时的扇出系数：
N OL I O L m ax I IL m a x
TTL 、 CMOS 门参数测试
《数字电路》实验一
一、实验目的
（1）了解 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的主要参数及参数意义。
（2）熟悉 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的主要参数的测量方法。
（3）掌握 TTL 和 CMOS 逻辑门电路的逻辑功能及使用规则。
（4）掌握数字电路与逻辑设计实验的基本操作规范。
输出高电平时的扇出系数：
N OH
I O H m ax I IH m a x
IOLmax测试原理图如右图所示:
TTL与非门参数测试 5) 电压传输特性曲线
指的是电压Vo随输入电压VI的变化而变化的关系 曲线。
+5V
10K
&
V V
VI VO
0
0.3
0.5
0.85
0.9
0.95
1.0
1.05
1.1
1.15
电压测试记录表(单位V)
VI VO 0 1.0 2.0 2.2 2.3 2.35 2.4 2.45 2.50 2.55 2.6 2.7 2.8 3.0 5.0
注：CMOS所有多余的输入端均不能悬空，包括用到的门和没有用到的门的输入端。
（2）传输时延tpd的测试
VDD
0.5Vm
VI
.
&
。
VI
VO
VO 0.5Vm
高电平噪声容限VNH。
6）传输时延tpd的测试
. .
&
. .
B
. .
C
. .
D
。
Ucc E
. 。
A
&。
&。
&。
&。
.
。
Uo
TTL门电路tpd测试电路
（二）提高部分
3、CMOS与非门的参数测试
（1）电压传输特性测
试
选用型号为CD4011的集成电路，管脚排列及门电路逻辑符号如图 所示，实验时按测量图连接电路，将实验数据记录在表中。
f≥100KHz
tpHL
tpLH
传输时延tpd
CMOS门电路tpd的测试电路
tpd=（tPLH+tPHL）/2 tPHL为导通延迟时间，tPLH为截止延迟时间。
（4）三态门功能测试

选用型号为 74LS244的集成电 路，参考其引脚排 列及逻辑符号，按 右边电路图测试高 阻状态，将实验结 果填入下表。输入
E A
输出
Y
0 1
0 1 0 1
4．用Multisim仿真软件设计TTL逻辑门电路的
传输时延tpd测试电路，并用软件仿真该电路求 其传输时延tpd。
CD4011B管脚排列及逻辑符号

74LS244引脚排列及逻辑符号
三、实验内容
（一）基础实验部分 1、TTL与非门逻辑功能的测试
+5V
A & B F
2、TTL与非门参数测试
1)ICCL 、ICCH
ICCL ：当所有输入端接高电平时即输出为低电平时电源提 供器件的电流。 ICCH ：当所有输入端接地时即输出为高电平时电源提供器 件的电流。