X荧光光谱仪主机及配件构成、简介
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入射X射线和荧光X射线的吸收
定量分析方法和基体效应校正 基体效应-元素间的吸收增强效应
样品产生的特征射线也在X射线范围。这些射线还可以激发样品中的 其他元素的电子，再次产生荧光X射线，这种射线被称为二次荧光。
在光谱仪上，一次和二次荧光是区分不开的，三次以上的荧光均可 忽略。
一次和二次X荧光
注意事项与安全操作规程
定量分析方法和基体效应校正
定量分析方法和基体效应校正
绘制标准曲线 根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行 拟合； 和其它仪器分析方法不同的是，在XRF分析中X射线强度很少直接正 比于分析元素的浓度；
已建立的标准曲线示意图
定量分析方法和基体效应校正
仪器测量条件的选择
X射线的激发条件 ➢ 根据分析元素选择电压、电流 ➢ 滤光片 找到合适的峰位和背景位置 计数器 测量时间的选择
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
(13) 滤光片电机 (14) 探测器 (15) 高压 (16) 光管
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
(17) 电源 (18) 控制板 (19) 电源 (20) 电机驱动器 (21) 气撑
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
(22) 探测器(易损坏，请勿触摸) (23) 准直器(易损坏，请勿触摸)
X荧光光谱仪主机及配件构成、简介
一丝一毫彰显科技艺术·天瑞仪器
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造 EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
定量分析方法和基体效应校正 仪器安装注意事项
保养与维护
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
原理
•X射线光管发射的原级X射线入射至样品， 激发样品中各元素的特征谱线;
多道分析仪 多道分析仪
多道分析仪作用是记录在每个高度间隔内产生了多少个脉冲。
多道分析仪生成的检测光子的能量的柱状图
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
X荧光测试贵粮食样品的五大优势
快速
•一般测量一个样品只需要10分钟
无损
•物理测量，不改变样品性质
精准
•对样品可以精确分析
直观
•直观的分析谱图，元素分布一幕了然
降低背景，提高检出限的滤光片
如果分析谱线强度太高超过探测器的饱和计数率时，也 可以使用滤光片吸收掉一部分辐射以避免饱和。
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
探测器
机理：电子进入探测器时，探测器产生一个电脉冲，这个脉冲的高度和入射 光子能量成正比。将脉冲放大，由多道分析仪接收。
固体探测器结构示意图
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
•探测器记录特定波长的X射线光子N;
•根据特定波长X射线光子N的强度，计算出 与该波长对应的元素的浓度
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
X 射线荧光光wenku.baidu.com仪原理及基本构造
基本构造
光学系统的光路图和典型光谱图
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
光管
图2.2 侧窗和端窗式X射线管（实物图见右下）结构示意图
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
1. 样品腔 2. 出风口 3. 触摸屏 4. 电源指示灯（当接通仪器电 源后此灯会亮） 5. 高压指示灯（测试样品时， 此灯亮，仪器才是正常工作） 6. 伸缩式支撑杆 7. 仪器上盖
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
8. 风扇 9.电源开关 10.电源接口 11.USB接口 12.网线接口
定量分析方法和基体效应校正 测量时间的选择
计数误差The Counting Statistical Error (CSE)
其中：r是每秒计数率，t为测量时间。
定量分析方法和基体效应校正
样品制备及基体效应
•粉末样品制备 压片 特点：简单、快速、节省，可保证在相同密度下测试。
定量分析方法和基体效应校正 基体效应-元素间的吸收增强效应 X射线须穿过原子层进入原子内部，在此过程中一部分被 原子吸收。产生的特征射线也必须穿过原子层射出样品， 同样它也会被吸收一部分。
注意事项与安全操作规程
注意事项
仪器使用注意事项
使用本仪器，应具有一定的电脑基本常识，并经过我们公司专业技术 人员培训或指导后方可使用。同时，禁止儿童和孕妇并操作仪器。
工作环境
内容 贮存运输温度 贮存运输相对湿度 大气压 电源适应能力 工作湿度 工作温度
适应范围 15℃—25℃ ≤70% 86kPa—106 kPa 220V±5V，50Hz±60Hz ≤70% 15℃—30℃
注意事项与安全操作规程
注意事项
重要元器件
注意事项与安全操作规程
避免将本机安装在温度极低和湿度极高的位置
例如：应避免将本机安装在水龙头、热水器、加湿器附件，如果湿度 过低，当仪器温度升高（至常温）时，仪器内会形成潮气，这样会毁坏 电路板，雨水、湿气和液体含有矿物质，会腐蚀精密部件。
注意事项与安全操作规程
在30KV条件下用Gd管获得的发射光谱
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
电流、电压、靶材的选择依据
重元素选择大电压、小电流 轻元素选择小电压、大电流
X射线管的连续谱线取决于所加电压、电流及靶材
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
滤光片
作用: 降低干扰谱线和背景的强度从而提高信噪比。
过滤靶线和背景的滤光片
环保
•检测过程中不产生任何废气、废水
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
EDX 3200S PLUS-C本产品可用于稻 米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素 镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷 （As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出 限最低可达0.04ppm。其2-3分钟能进行快 速筛查，测试12分钟对样品的准确测量。
避免将本机安装在过热位置
高温会缩短电子器件寿命、毁坏电池。
避免将本机安装在大量积尘的位置
灰尘会污染仪器的光路系统，导致仪器检测 不准甚至无法检测。
注意事项与安全操作规程
避免将本机安装在易挥发或易燃物质 （如酒精或油漆稀释剂）的附近
避免将本机安装在易受震动的位置
例如，应避免将本机安装在不稳定的桌 子或支架上
注意事项与安全操作规程
避免将本机安装在强电磁干扰的环境中
例如：避免将本机安装在电视机、收音机或类似电子设备的附近。
定量分析方法和基体效应校正 基体效应-元素间的吸收增强效应
样品产生的特征射线也在X射线范围。这些射线还可以激发样品中的 其他元素的电子，再次产生荧光X射线，这种射线被称为二次荧光。
在光谱仪上，一次和二次荧光是区分不开的，三次以上的荧光均可 忽略。
一次和二次X荧光
注意事项与安全操作规程
定量分析方法和基体效应校正
定量分析方法和基体效应校正
绘制标准曲线 根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行 拟合； 和其它仪器分析方法不同的是，在XRF分析中X射线强度很少直接正 比于分析元素的浓度；
已建立的标准曲线示意图
定量分析方法和基体效应校正
仪器测量条件的选择
X射线的激发条件 ➢ 根据分析元素选择电压、电流 ➢ 滤光片 找到合适的峰位和背景位置 计数器 测量时间的选择
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
(13) 滤光片电机 (14) 探测器 (15) 高压 (16) 光管
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
(17) 电源 (18) 控制板 (19) 电源 (20) 电机驱动器 (21) 气撑
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
(22) 探测器(易损坏，请勿触摸) (23) 准直器(易损坏，请勿触摸)
X荧光光谱仪主机及配件构成、简介
一丝一毫彰显科技艺术·天瑞仪器
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造 EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
定量分析方法和基体效应校正 仪器安装注意事项
保养与维护
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
原理
•X射线光管发射的原级X射线入射至样品， 激发样品中各元素的特征谱线;
多道分析仪 多道分析仪
多道分析仪作用是记录在每个高度间隔内产生了多少个脉冲。
多道分析仪生成的检测光子的能量的柱状图
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
X荧光测试贵粮食样品的五大优势
快速
•一般测量一个样品只需要10分钟
无损
•物理测量，不改变样品性质
精准
•对样品可以精确分析
直观
•直观的分析谱图，元素分布一幕了然
降低背景，提高检出限的滤光片
如果分析谱线强度太高超过探测器的饱和计数率时，也 可以使用滤光片吸收掉一部分辐射以避免饱和。
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
探测器
机理：电子进入探测器时，探测器产生一个电脉冲，这个脉冲的高度和入射 光子能量成正比。将脉冲放大，由多道分析仪接收。
固体探测器结构示意图
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
•探测器记录特定波长的X射线光子N;
•根据特定波长X射线光子N的强度，计算出 与该波长对应的元素的浓度
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
X 射线荧光光wenku.baidu.com仪原理及基本构造
基本构造
光学系统的光路图和典型光谱图
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
光管
图2.2 侧窗和端窗式X射线管（实物图见右下）结构示意图
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
1. 样品腔 2. 出风口 3. 触摸屏 4. 电源指示灯（当接通仪器电 源后此灯会亮） 5. 高压指示灯（测试样品时， 此灯亮，仪器才是正常工作） 6. 伸缩式支撑杆 7. 仪器上盖
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
8. 风扇 9.电源开关 10.电源接口 11.USB接口 12.网线接口
定量分析方法和基体效应校正 测量时间的选择
计数误差The Counting Statistical Error (CSE)
其中：r是每秒计数率，t为测量时间。
定量分析方法和基体效应校正
样品制备及基体效应
•粉末样品制备 压片 特点：简单、快速、节省，可保证在相同密度下测试。
定量分析方法和基体效应校正 基体效应-元素间的吸收增强效应 X射线须穿过原子层进入原子内部，在此过程中一部分被 原子吸收。产生的特征射线也必须穿过原子层射出样品， 同样它也会被吸收一部分。
注意事项与安全操作规程
注意事项
仪器使用注意事项
使用本仪器，应具有一定的电脑基本常识，并经过我们公司专业技术 人员培训或指导后方可使用。同时，禁止儿童和孕妇并操作仪器。
工作环境
内容 贮存运输温度 贮存运输相对湿度 大气压 电源适应能力 工作湿度 工作温度
适应范围 15℃—25℃ ≤70% 86kPa—106 kPa 220V±5V，50Hz±60Hz ≤70% 15℃—30℃
注意事项与安全操作规程
注意事项
重要元器件
注意事项与安全操作规程
避免将本机安装在温度极低和湿度极高的位置
例如：应避免将本机安装在水龙头、热水器、加湿器附件，如果湿度 过低，当仪器温度升高（至常温）时，仪器内会形成潮气，这样会毁坏 电路板，雨水、湿气和液体含有矿物质，会腐蚀精密部件。
注意事项与安全操作规程
在30KV条件下用Gd管获得的发射光谱
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
电流、电压、靶材的选择依据
重元素选择大电压、小电流 轻元素选择小电压、大电流
X射线管的连续谱线取决于所加电压、电流及靶材
X 射线荧光光谱仪原理及基本构造
滤光片
作用: 降低干扰谱线和背景的强度从而提高信噪比。
过滤靶线和背景的滤光片
环保
•检测过程中不产生任何废气、废水
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
EDX 3200S PLUS-C仪器结构介绍
EDX 3200S PLUS-C本产品可用于稻 米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素 镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷 （As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出 限最低可达0.04ppm。其2-3分钟能进行快 速筛查，测试12分钟对样品的准确测量。
避免将本机安装在过热位置
高温会缩短电子器件寿命、毁坏电池。
避免将本机安装在大量积尘的位置
灰尘会污染仪器的光路系统，导致仪器检测 不准甚至无法检测。
注意事项与安全操作规程
避免将本机安装在易挥发或易燃物质 （如酒精或油漆稀释剂）的附近
避免将本机安装在易受震动的位置
例如，应避免将本机安装在不稳定的桌 子或支架上
注意事项与安全操作规程
避免将本机安装在强电磁干扰的环境中
例如：避免将本机安装在电视机、收音机或类似电子设备的附近。