门电路逻辑功能测试.

表-3 与非门电压传输特性实验记录表 0.5 0.8 0.9 1.0 1.1 1.2 1.3 1.5 2.0 2.5 3.0
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4.3.与非门的动态测试：测试电路如图- 6
将函数发生器接为TTL输出，ƒ=1kHz，接入与非门A输入端 . 当B输入端接1时，用示波器同时观察A端输入ui和输入出u0的波形。 当B输入端接0时，观察A端输入ui和输入出u0的波形。
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图-1 74LS00外引线图
2.1.两输入与非门的逻辑表达式为: ___ Y=A·B 2.2.两输入与非门的标准逻辑符号是： 与非门逻辑功能：输入有“0”，输出“1”。
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仿真元件符号
＆
1 74LS00 2
3
2
4.实验内容及步骤：
4.1.测试与非门的逻辑功能 将74LS00插到实验箱B1插座上，在GND与Vcc上加5V直流电源。分别 输入高/低电平到A.B端,用二极管指示输出Y端电平.测量电路如图-2,将 测试结果填入表-1中。
100 2
&
3
&
3
uo
2 7 V 7
图-4 输入/输出电流测量电路
扇出系数N是指驱动同类门电路的数目， 用以衡量带负载能力。 扇出系数N=IOL/IIL。
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4
3) 与非门的电压传输特性 (TTL)
uo uOH
3.5
vcc
1
14
8
3
2.5
&
1.5
Rw 10k
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2.实验原理
本实验选择TTL两输入与非门74LS00和CMOS与非门 CD4011,它们的外部管脚定义相同,如下图-1所示。
14 13 VCC 12 & 74LS00 11 10 9 & 8
&
1 2 3 4
&
5 6 GND 7
CD4011 与74LS00管脚排列 相同，同为4个相同的两输入 与非门。 集成块正面放置，且标记缺 口向左，左下角为管脚1，管 脚顺序按逆时针排列。
输入信号A＝ui
0
ui “ 1”
A B
当输入 B=1
&
uo
0
输出uo
“ 0”
当输入B=0
输出uo=？
图- 6 与非门动态测试电路
0
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5.实验报告
5.1.认真记录所测与非门的主要参数uOH、uOL、IIL、IOH， 并与标准值比较，并对两种器件参数进行比较。 5. 2.用坐标纸仔细描绘所测与非门传输特性曲线，标出uOH、 uOL、uON、uOff。并对两种器件特性曲线进行比较。
2 uo ui 7
0.5
uOL
0.5 1.0 1.5 2.0
0
ui uOFF uON 图-5 测定TTL与非门电压传输特性电路图
ui uo
TTL
电压传输特性是 TTL与非门输出电压 与输入电压之间的 关系曲线。 1.按电路图接线，通 电调节输入电压ui， 测量相应输出电压 uo（在输出uo突变段 要每0.1V取点 ）。 2.根据测量数据作电 压传输特性曲线。 标出TTL门电路主要 参数： uOH. uOL. uON.uOFF等。
一. 门电路逻辑功能与参数测试 1.实验目的
1.1.认识集成门电路的管脚排列。 1.2.掌握门电路的逻辑功能及参数测试方法。 1.3.熟悉TTL电路的使用规则和注意事项。
2.实验设备
2.1.数字存储示波器：TDS1002 。 2.2.函数信号发生器：EE1641D 。 2.3.数字万用表：UT58A。 2.4.数字实验箱：CDS-02 IC:74LS00等。 2.5.可跟踪直流稳定电源：SS3323。
表-2 TTL门电路输出电平测量表 uo UOH/V uof
A
&
7
uOH V
A B
&
7
uOL
B
V
UOL/V
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图-3 与非门输出电平测试电路
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2）低电平输入电流IIL和扇出系数N 如图-4所示
Vcc
IIL
14
1
Vcc
14 1
100
IOL
a.低电平输入电流 IIL: 是指输入端对地电流。 可在输入端串联100Ω电 10k 阻接地，测量电压UR 则：IIL=UR/R. b.低电平输出电流IOL 是指输出端为低电平 的输出电流． 可采用从电源VCC串联 100Ω电阻及10K的变阻器 接到输出端。调节电位器 RW，使uO低电平为(0.20 －0.30V）时。测量100电 阻电压U100。 则IOL= U100/100。
ui
A1
B 2
Vcc 14
8
uo
表-1 测试与非门的逻辑功能表 输入(ui) A 0 0 1 1
5V 14
& 3Y
7 GND
输 出(uo) B 0 1 0 1
5V 14
TTL
图-2 TTL与非门逻辑功能测量图
4.2.TTL与非门的参数测试 1）输出高电平UOH和输出低电平UOL 测试电路如图-3.测量值记在表-2中.