计算机组成原理实验

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

嘉应学院

计算机组成原理实验报告

系/班别:计算机软件工程1103班

指导老师:张凤英

课程名称:计算机组成原理

学生姓名:曾少庆

学生学号:111110124

实验一计算器组成实验

(一) 算术逻辑运算实验

一、实验目的:

1、掌握简单运算器的数据传送通路。

2、验证运算功能发生器(74LS181)的组合功能。

二、实验设备:

TDN-CM+计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。

三、实验内容:

1.实验原理

实验中所用的运算器数据通路如下图1-1所示。其中运算器由两片74LS181以并/串形式构成8位字长的ALU。运算器的输出经过一个三态门(74LS245)和数据总线相连,运算器的两个数据输入端分别由两个锁存器(74LS373)锁存,锁存器的输入连至数据总线,数据开关(“INPUT DEVICE”)用来参与运算的数据,并经过一三态门(74LS247)和数据总线相连,数据显示灯(“BUS UNIT”)已和数据总线相连,用来显示数据总线内容。

图中已将需要连接的控制信号用圆圈标明(其他实验相同,不再说明),其中除T4为脉冲信号,其他均为电平信号由于实验电路中的时序信号均以连至“W/R UNIT”的微动开关KK2的输出端,按动微动开关,即可获得实验所需的单脉冲,而S3,S2,S1,S0,Cn,M,LDDR1,LDDR2,ALU-B,SW-B 各电平控制信号用“SWITCH UNIT”中的二进制数据开关来模拟,其中Cn,ALU-B,SW-B为低电平有效,LDDR1,LDDR2为高电平有效。

图1-1 运算器数据通路

2. 实验步骤

(1)按图1-2连接实验线路,仔细查线无误后,接通电源。

(2)用二进制数码开关向DR1和DR2寄存器置数。具体操作步骤图示如下:

[ALU-B=1] [LDDR1=1] [LDDR1=0]

[SW-B=0] [LDDR2=0] [LDDR2=1] [T4=脉冲] [T4=脉冲]

检验DR1和DR2中存的数是否正确,具体操作为:关闭数据输入三态门(SW-B=1),打ALU 输出三态门(ALU-B=0)当置S3,S2,S1,S0,M 为1 1 1 1 1 时,总线指示灯显示DR1中的数,而置成1 0 1 0 1时总线指示灯显示DR2中的数。

图1-2 实验接线图

(3)验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能(采用正逻辑)

在给定DR1=65,DR2=A7的情况下改变运算器的功能设置观察运算器的输出,填入下表,并和理论分析进行比较,验证。

DR1 DR2 S3 S2 S1 S0

M=0 (算数运算)

M=1 (逻辑运算) CN=1 无进位 CN=0 有进位 65 A7 0000 F=(65) F=(66) F=(9A ) 0001 F=(E7) F=(E8) F=(18) 0010 F=(7D ) F=(7E ) F=(82) 0011 F=(FF ) F=(0) F=(0)

0100

F=(A5)

F=(A6)

F=(82)

数据开关 (01100101)

三态门

寄存器DR1

(01100101) 数据开关

(10100111) 寄存器DR2 (10100111)

0101 F=(27)F=(B8)F=(58)

0110 F=(BD)F=(-42)F=(C2)

0111 F=(3F)F=(40)F=(40)

1000 F=(8A)F=(E3)F=(BF)

1001 F=(C)F=(10D)F=(3D)

1010 F=(A2)F=(BE)F=(A7)

1011 F=(25)F=(7D)F=(7D)

1100 F=(CA)F=(CB)F=(1)

1101 F=(4C)F=(DD)F=(7D)

1110 F=(E2)F=(E3)F=(77)

1111 F=(64)F=(65)F=(65)

(二)进位控制实验

一.实验目的

1. 验证带进位控制的算术运算功能发生器的功能。

2. 按指定数据完成几种指定的算术运算。

二.实验设备

TDN-CM+计算机组成原理教学实验系统一台,排线若干。

三.实验内容

1.实验原理

进位控制运算器的实验原理如图1-3所示,在实验(1)的基础上增加进位控制部分,其中181的进位进入一个74锁存器,其写入是由T4和AR信号控制,T4是脉冲信号,实验时将T4连至“STATE UNIT”的微动开关KK2上。AR是电平控制信号(低电平有效),可用于实现带进位控制实验,而T4脉冲是将本次运算的进位结果锁存到进位锁存器中。

图1-3 进位控制实验原理图

2.实验步骤

(1)按图1-4连接实验线路,仔细检查无误后,接通电源。

图1-4 实验接线图

(2)用二进制数码开关向DR1和DR2寄存器置数。具体操作步骤图示如下:

[ALU-B=1] [LDDR1=1] [LDDR1=0]

[SW-B=0] [LDDR2=0] [LDDR2=1] [T4=脉冲] [T4=脉冲]

(3) 进位标志消零具体操作方法如下:

实验板中“SWITCH UNIT ”单元中的CLR 开关为标志CY ,ZI 的消零开关,它为零时是消零状态,所以将次开关做1-0-1操作,即可使标志位消零。 注:进位标志指示灯CY 亮时表示进位标志为“0”,无进位;进位标志指示灯CY 亮时表示进位标志为“1”,有进位。

结果是:进位标志指示灯CY 亮时表示进位标志为“0”,无进位。

(4)验证带进位运算及进位锁存功能,使Cn=1,Ar=0来进行带进位算术运算。例如:做加法运算,首先向DR1,DR2置数,然后使ALU-B=0,S3,S2,S1,S0,M 状态为1 0 0 1 0,此时数据总线上显示的数据为DR1加DR2加当前进位标志,这个结果是否产生进位,则要按动微动开关KK2若进位标志灯亮,表示无进位;反之,有进位。 结果是:有进位。

数据开关 (01010101)

三态门

寄存器DR1

(01100101) 数据开关

(10100111) 寄存器DR2 (10100111)

相关文档
最新文档