SPC统计过程控制(PPT 93页)

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SPC统计过程控制教材ppt(37张)

SPC统计过程控制教材ppt(37张)
– 5、确定各组的频数 – 6、作直方图 – 7、对直方图的观察: 特点, 中间高、两头低、左右对称
7
SPC
3、基础知识
(2)、正态分布 (Normal Distribution) 当抽取的数据个数趋于无穷大而区间宽度趋向于0时,外形轮廓的折线就趋向于光滑的曲
线,即:概率密度曲线。 特点:面积之和等于1。
11
SPC统计过程控制教材(PPT37页)
SPC
• (4)、使用控制图应考虑的问题
– a、控制图用于何处? – b、如何选择控制对象? – c、怎样选择控制图? – d、如何分析控制图? – e、点出界或违反其他准则的处理。 – f、控制图的重新制定。 – g、控制图的保管问题。
SPC统计过程控制教材(PPT37页)
– 1、找出最大值和最小值,确定数据分散宽度 数据分散宽度=(最大值 最小值)
– 2、确定组数 k n
– 3、确定组距 h=(最大值最小值)/组数
– 4、确定各组的边界 第一组的组下限=最小值 最小测量单位的一半 第一组的组上限=第一组的组下限+组距=第二组的组下限 第二组的组上限=第二组的组下限+组距=第三组的组下限,依此类推。
2
SPC
3、为什么要学习SPC(二)?
• 3控制方式与6控制方式的比较:
3
SPC
4、开展SPC工程的步骤
• 培训SPC
– 正态分布等统计基础知识 – 品管七工具:调查表、分层法、散布图、排列图、直方图、因果图、控制图 – 过程控制网图的做法 – 过程控制标准的做法
• 确定关键质量因素
– 对每道工序,用因果图进行分析,造出所有关键质量因素,再用排列图找出 最终产品影响最大的因素,即关键质量因素;

SPC统计过程控制PPT课件

SPC统计过程控制PPT课件
如果仅存在变差的普通原因, 随着时间的推移,过程的输出 形成一个稳定的分布并可预测
预测
目标值线
范围
时间
目标值线
如果存在变差的特殊原因, 随着时间的推移,过程的 输出不稳定
范围
时间
20
SPC的3σ原理
当过程仅含有正常变异时,过程的输出的质量特性 X呈正态分布N(µ ,σ2),其中µ 为正态分布值, σ为标准差。在µ、σ已知时,产品的合格率可用 下表表示:
41
建立X-R图的步骤C
C1分析极差图上的数据点
超出控制限的点 链
C C2识别并标注特殊原因(极差图) 明显的非随机图形

程 C3重新计算控制界限(极差图)

超出控制限的点
制 解 释
C4分析均值图上的数据点 C5识别并标注特殊原因(均值图)
链 明显的非随机图形
C6重新计算控制界限(均值图)
C7为了继续进行控制延长控制限 42
制定了相关的JIS标准。 至此,休哈特博士对日本工业的影响非常之
重大,为了纪念戴明博士,日本专门设置 了戴明质量奖。
5
SPC的发展史
1984年日本名古屋工业大学调查了115家日 本各行各业的中小型工厂,结果发现平均 每家工厂采用137张控制图;
美国柯达彩色胶卷公司有5000多名职工, 一共应用了35000张控制图,平均每名职工 做七张控制图
上控制界限(UCL)
中心线 (CL) 下控制界限(LCL)
27
控制图的视“小概率事件不可能发生”的原 理
工序处于稳定状态下,其计量值的分布大致符
合正态分布。由正态分布的性质可知:质量数据 出现在平均值的正负三个标准偏差(X3)之外的 概率仅为0.27%。这是一个很小的概率,根据概 率论 “视小概率事件为实际上不可能” 的原理, 可以认为:出现在X3区间外的事件是异常波动, 它的发生是由于异常原因使其总体的分布偏离了 正常位置 控制限的宽度就是根据这一原理定为3

spc统计过程控制ppt课件

spc统计过程控制ppt课件
但是。。。被送进了医院。
波 动 ( 散 布 ) 大
平 均 发 生 偏 移
波 动 ( 散 布 ) 小
平 均 发 生 偏 移
Bad! Good!
波 动 ( 散 布 ) 大
平 均 没 有 偏 移
波 动 ( 散 布 ) 小
平 均 没 有 偏 移
假设我们的生产过程中其中一个工序是将金属材料切割成每个长度为 10mm的产品。当我们完成切割1000个产品后,测量每个产品的长度,
统计过程控制-SPC
常用的质量管理工具,包括直方图,鱼刺图,散布图,都是对 “昨天”情况的分析和解释,可以用在“救火”和解决问题,
但若想实现过程控制,则需要专门的预防工具-SPC。
统计过程控制SPC
统计过程控制(SPC)就是: 应用统计的方法,对生产/服务过程进行控制。 它能够区分产生变异的普通原因和特殊原因。 在生产过程中,对过程进行监控,当出现会产生异常情况的趋 势时进行预警,对过程进行适当的调整。
二、应用控制图的步骤
应用步骤如下:
1. 选择控制图拟控制的质量特性,如重量、不合格品数等;
2. 选用合适的控制图种类;
3. 确定样本容量和抽样间隔; 4. 收集并记录至少20~ 25组样本的数据,或使用以前所记录的数据; 5. 计算各个样本的统计量,如样本平均值、样本极差/样本标准差等; 6. 计算各统计量的控制界限; 7. 画控制图并标出各样本的统计量,
不合格品数 计 控制图
数 不合格品率 型 控制图
控 缺陷数控制 制图
图 单位缺陷数 控制图
控制图符号
x -R
特点
适用场合
最常用,判断工序是否正常的效 果好,但计算工作量很大。
适用于产品批量较大的工序。

统计过程控制SPCppt

统计过程控制SPCppt

正态分布的参数
正态分布由2个参数决定:
即总体均值:μ(常用样本均值Xbar来估计)
x
1 n
n i 1
xi
总体标准差:σ(常用样本标准差S来估计),标准差 是对波动的度量
S
1 n 1
n i 1
( xi
x)2
QIHANG Consulting
正态分布的重要特性
正态分布的图形特点是中间高、两 头低、左右对称并延伸至无限。
过程变差的一部分。
过程能力
是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限
(Process Capability) 的距离,用Z来表示。
QIHANG Consulting
正态分布
假如对一个要求长度为20.30的零件进行测 量,共测量75次,得到的数据范围如下,对次 数比例的统计直方图如下页所示:
数据 范围
测得 次数
次数 比例
20.105- 20.155- 20.205- 20.255- 20.305- 20.355- 20.40020.155 20.205 20.255 20.305 20.355 20.400 20.455
2
8
23
20
13
5
4
2.7% 10.7% 30.7% 26.7% 17.3% 6.7% 5.3%
SPC的产生
➢ 工业革命以后, 随着生产力的进一步发展,大 规模生产的形成,如何控制大批量产品质量成为一 个突出问题,单纯依靠事后检验的质量控制方法已 不能适应当时经济发展的要求,必须改进质量管理 方式。于是,英、美等国开始着手研究用统计方法 代替事后检验的质量控制方法。
➢ 1924年,美国的休哈特博士提出将3Sigma原理 运用于生产过程当中,并发表了著名的“控制图 法”,对过程变量进行控制,为统计质量管理奠定 了理论和方法基础。

SPC统计过程控制―非常经典.pptx

SPC统计过程控制―非常经典.pptx
控制用控制图:经过上述分析证实过程稳定并能满 足质量要求,此时的控制图可以用于现场对日常的 过程质量进行控制。
34
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分析用控制图
決定方针用 过程分析用 过程能力研究用 过程控制准备用
控制用控制图
追查不正常原因
迅速消除此项原因
并且研究采取防止此 项原因重复发生之措 施。
分析用控制图
过度调整——把过程中每一个偏离目标的值 当作过程中发生了特殊原因来进行处理的做 法。
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5、基本统计量说明
1、平均值 X 设X1,X2,…….Xn是一个大小为n的样本,
则X=(X1+X2+……+Xn)/n 2、中位数~X
将数据按数值大小顺序排列后,位于中间 位置的书,称为中位数。 如:5,9,10,4,7, ~X=7; 如:5,9,10,4,7,8 ~X=(7+8)/2=7.5
形状:峰态
分布宽度
22
22
正态分布
99.73% 95.45%
68.26%
-3σ -2σ -1σ μ +1σ +2σ +3σ 正态分布的特征: 1、中间高,两边低,左右对称;两边伸向无穷远。 2、与横坐标所围成区域的面积为1;
23
23
控制图原理说明
群体 平均值=μ 标准差=σ
抽样
μ-kσ μ
k
k
如设备的正常震动,刀具的磨损,同一 批材料的品质差异,熟练工人间的替换;
13
13
(2)、普通原因、特殊原因
特殊原因:指的是造成不是始终作用于过程的 变差的原因,即当它们出现时将造成(整个)过 程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查找 出来并且采取了措施,否則它们将继续用不可 预测的方式来影响过程的输出。如果系统內存 在变差的特殊原因,随时间的推移,过程的输 出将不稳定。

统计过程控制SPC(PPT 88页)

统计过程控制SPC(PPT 88页)

控制界限外 控制界限内半区 控制界限内全部
控制界限内全部
5:3点中2点落在中 心线同侧B区外
6:5点中4点落在中 心线同侧C区外
7:15点落在中心线 两侧C区内 8:8点落在中心线两 侧且无一在C区内
控制界限A区 控制界限A+B区 控制界限C区 控制界限A+B区
针对对象 界外点 参数μ的变化 参数μ随时间变化 数据分层不够
准则7:连续15个点在C区内
UCL A
基本形式:
B
C CL
C
B LCL A
P(μ-σ≤x ≤ μ+σ)=0.68268
质量管理学
3.统计过程控制(SPC)
统计过程控制的工具-控制图
准则7:连续15个点在C区内
基本形式:
UCL A
B C CL C
B LCL A
出现此准则的原因是由于参数σ变化过小。特点: 不要被数据的良好的外貌所迷惑,应注意到隐藏 的非随机性。
16.48
15.05
质量管理学
3.统计过程控制(SPC)
13.73 t
统计过程控制的工具-控制图
准则4:连续14个点上下交替
基本形式:
UCL A
B C CL C
B LCL A
出现此准则的现象可能是由于数据分层的原 因,比如一位操作者轮流使用两台机床或由 两位操作者轮流使用一台设备。
质量管理学
3.统计过程控制(SPC)
图:
1、收集数据 选取一定量的数据,一般为50~200个,过少将影响精度
,过多则计算繁琐,经常取为100个左右。
2、数据的分组与排列 数据分组是十分重要的步骤,分组的方法是:
(1)从技术上认为,大致相同条件下收集的数据分在一组内; (2)组中不应包括不同性质的数据。 这样做的目的是保证组内仅存在偶然因素的影响。每组数据

SPC统计过程控制培训课件(PPT 80张)

SPC统计过程控制培训课件(PPT 80张)

宇宙万物及工业产品大都呈常态分配 变异的原因可分为偶因及异因
偶因属管理系统的范围
例如:身高.体重.智力.考试成绩.所得分配


预防与检测
人 机 法 环 測量 測量
原料
PROCESS
Y=f(x1,x2,….)



Y可视为顾客所要求的产品特性。 但是如果在y进行相应的统计控制 品已经制造出来,只是相当于检验 得好不好,时效已晚。 所以要去探究哪些因素会影响y,
X X X

UCL LCL 全距控制图
建立X-R图的步骤C
C1分析极差图上的数据点 C2识別并标注特殊原因(极差图) C 过 程 控 制 解 释
C3重新計算控制界限(极差图)
超出 链 明显 形
C4分析均值图上的数据点
C5识別并标注特殊原因(均值图)
超出 链 明显
控制图的判读

超出控制界限的点:连续25点出现一个或 任何一个控制界限是该点处于失控状态的

对系统采取措施
局部措施、系统措施示意
UCL
组内变异和组间差异说明

不同槽之间的谓组间变异,我们在于了解在
组间变异大的解决方法


此时的异常将在Xbar图中显示出来 一般的责任是在现场人员,可能是 料,没有依照标准作业方法等。 此种问题比较容易解决,85%应由 员就可以处理。
组内变异大的解决方法
层别的说明
复合
使用控制图的注意事项

控制界限的重新计算

为使控制线适应今后的生产过程, 在 最初的控制线CL、UCL、LCL时, 常 复计算, 以求得切实可行的控制图. 但 经过使用一定时期后, 生产过程有了 加工工艺改变、刀具改变、设备改变

SPC统计过程控制PPT(共 79张)

SPC统计过程控制PPT(共 79张)

计数值数据
用个数为单位来表示的 质量特性值数据。特点 :不可以连续取值,即 整数位后不允许有小数 的数据,统计学上称高 离散型数据。 测量出现/不出现.
如:废品的件数、陷数、 出勤人数、通/止数据、 安装正确/错误数据、孔钻通/未通、 表面划伤/未划伤
波动(变差) 的概念
正是波动的存在,工程师才在
– 对过程的变差进行量化是改进过程中的关键一步。
– 了解造成变差的原因可帮助我们确定采取什么类型的措 施可达到持久的改进。
波动的种类
正常波动
是由偶然或随机因素造成的 。如:操作的方法的微小变 动、机床的微小振动、刀具 的正常磨损、夹具的微小松 动、材质上的微量差异等。 (它不能被操作人控制,只 能由技术、管理人员控制在 公差范围内。即普通原因产 生的变差)
SPC 的目的
·对过程作出可靠的评估; ·确定过程的统计控制界限,判断过 程是否失控和过程是否有能力; ·为过程提供一个早期报警系统,及时监 控过程的情况以防止废品的发生; ·减少对常规检验的依赖性,定时的观察 以及系统的测量方法替代了大量的检测和 验证工作;
企业通过应用SPC可以实现
-降低成本 -降低不良率,减少返工和浪费 -提高劳动生产率 -提供核心竞争力 -赢得广泛客户 - 更好地理解和实施质量体系
正态分布
34.13% 34.13%
0.13% 2.14%
13.60%
13.60%
2.14% 0.13%
–3S
–2S
–1S 0 +1S
68.26%
95.46%
99.73%
+2S +3S
SPC技术原理
–3S –2S –1S 0 +1S +2S +3S

SPC统计过程控制及正态分布 ppt课件

SPC统计过程控制及正态分布 ppt课件
经济性
输出 检测 容忍浪费
产品质量 一般
反馈模型
过程 预防 避免浪费 稳定
2.3. 两种不同的质量观
2.4. 预备知识——概率
• 随机现象
列举身边的一种随机现象,并说明随机现象的性质
• 概率
NA P(A) =
N
2.4.1. 两类随机变量
• 计量型(连续型) 如:切割槽的深度和宽度 服从的分布:正态分布
2021/3/26
SPC统计过程控制及正态分布 ppt
28
课件
第三种情况:6 >USL-LSL
当制程变异或制程能力大于规范宽度时, 表示制程处于非常不理想的情况中,即使 是普通原因的变异, 如分布A, 超出规范的上下限的不良率在不可接受的范围内. 即 制程没有制造符合规格产品的能力。
2021/3/26
2.6.两种变差原因、两种过程状态及 相应的两种控制措施
2.6.1. 两种变差原因
• 普通原因——指的是造成随着时间的推移具有稳定的且可 重复的分布过程中的许多变差的原因。
• 特殊原因(通常也叫可查明原因)——指的是造成不是始 终作用于过程的变差的原因,即当它们出现时将造成(整 个)过程的分布改变。
如果仅存在变差的普通 原因,随着时间的推移, 过程的输出形成一个稳 定的分布并可预测
如果存在变差的特殊原 因,随着时间的推移, 过程的输出不稳定
2.6.2. 两种过程状态
仅存在普通原因的变差 分布是稳定的 过程可预测 过程是统计受控的
存在特殊原因的变差 分布不稳定 过程不可预测 过程是不受控的
2.6.3.两种控制措施
检查产品是否合格
• 泊松分布
随机变量X=c 0
1
2
3

SPC统计过程控制培训教材(共 87张PPT)

SPC统计过程控制培训教材(共 87张PPT)
常用概率分布简介
连续型分布:
正态分布:当质量特性(随机变量)由为数众多的因素影响,而又
没有一个因素起主导作用的情况下,该质量特性的值的变异分布,一般 都服从或近似服从正态分布。
离散型分布:
二项分布:一个事物只有两种可能的结果,其值的分布一般服从
二项分布;
泊松分布:稀有事件的概率分布一般服从柏松分布。
上海NQA认证有限公司
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SPC控制图
SPC控制图对两种错误的预防
错判是虚发警报的错误:由于偶然原因造成数据点超出 控制限的情况,从而造成将一个正常的总体错判为不正 常,在控制限为正负3情况下,这样的概率小于3‰;
漏判是漏发警报的错误,也就是判断当数据点在控制限 内的异常,所以,SPC增加了对界内数据点趋势的判断 准则。
漏判是漏发警报的错误:也称为第II类错误,在过程存 在异常变异时,如被监控的总体的均值或标准偏差发生改 变,仍会有一部分数据在上下控制限之内,从而发生漏 报的错误,这种错误用β表示。
上海NQA认证有限公司
21
SPC控制图
SPC控制图对两种风险预防
漏报
错 报
解决 方案
错报:3σ控制限 漏报:判断准则
上海NQA认证有限公司
SPC的统计理论基础
中心极限定理
设X1,X2,…..,Xn是n个独立分布的随机量,分布的均 值为μ,方差为σ2,则在n较大时,有
(1 )X
1
+X
2
+...+X
n
=

n
X
i
i=1
近似服从均值为nμ,方差为nσ2的正态分布。
( 2 )X
=
X
1
+X
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P( X x) x e , x 0,1,2,...
x!
E( X ) ,Var( X ) , ( X )
概率基础知识—正态分布
▪ 正态分布在质量管理中最重要也是最常用的分布。
▪ 正态分布的概率密度函数:它的图形是对称的钟形曲线, 称为正态曲线。
P(x)
1
e
(
x ) 2 2
2
2
-∞<x<+∞
字母X,Y,Z等表示随机变量,它们的取值用相应 的小写字母x,y,z等表示。 ▪假如一个随机变量仅取数轴上有限个点或可列个点, 则称此随机变量为离散型随机变量。如一只铸件上 的瑕疵数、一台车床一天的故障数等。 ▪假如一个随机变量的所有可能取值充满数轴上一个 区间(a,b),则称此随机变量为连续随机变量。 如一台电视机的寿命等。
2
2
X
n
统计基础知识—总体与个体
▪在一个统计问题中称研究对象的全体为总体,构成 总体的每个成员称位个体,总体就是某数量指标X 的全体(即一堆数),这一对数有一个分布,从而 总体可以用一个分布描述。统计学的任务就是:
▪研究总体是什么分布? ▪这个总体(即分布)的均值、方差(或标准差)是
多少?
统计基础知识—样本
1924年,休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产 过程当中,并发表了著名的“控制图法”,对过程变量 进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。
目的
▪ 贯彻预防原则是现代质量管理的核心与精髓。 ▪ 质量管理学科有一个重要的特点,就是对于质量管理
所提出的原则、方针、目标都要有科学的措施与科学 的方法来保证他们的实现,这体现质量管理的科学性。
如何减少两类错误造成的损失
▪ 控制限间距增加,α减少,β增加;反之α增加,β减少。 两种错误在所难免。
▪ 解决的办法:使两种错误造成的总损失最小的原则来 确定UCL和LCL之间的距离。经验证明休哈特所提出 的3σ方式最接近最优间距。
第二章 统计过程控制的理论基础
概率基础知识—随机变量
随机变量及其分布: ▪表示随机现象结果的变量称为随机变量。常用大写
六西格玛和四西格玛质量比较
六西格玛统计含义 1
▪ “西格玛”源于统计学中标准差σ的概念。标准差表示数
据相对于平均值的分散程度。“西格玛水平”则将过程输 出的平均值、标准差与顾客要求的目标值、规范限联系起 来进行比较。
▪ 理论上“六西格玛质量水平”是指,正态分布从-6σ到+6 σ均落在规范下限到规范上限范围内。过程输出的绝大多数 都集中在顾客要求的目标值附近。此时,过程满足顾客要 求能力很高。
常用连续分布有: ▪ 正态分布 ▪ 均匀分布 ▪ 对数正态分布 ▪ 指数分布等
概率基础知识—二项分布
▪ 二项分布满足下列条件: ▪ 重复进行n次试验; ▪ n次试验间相互独立; ▪ 每次试验仅有两个可能的结果,如合格与不合格,正
面与反面等,统称为成功与失败。 ▪ 每次试验成功的概率为p,失败的概率为1- p。 ▪ 其概率函数及均值、方差、标准差为:
离差。样本方差定义为离差平方和除以n-1,用s2表
示。样本方差的正算术平方根称为样本标准差,即
为s。
s
s2
1 n 1
n i 1
( xi
x)2
西格玛管理的含义
西格玛管理是通过过程的持续改进,追求卓越质量, 提高顾客满意度,降低成本的一种质量改进方法。 ▪1.质量特性满足顾客的需求,充分考虑利益和成本 两个方面。 ▪2.在正确定义顾客满意和忠诚的质量基础上,形成 质量特性的过程和结果要避免缺陷和风险,使其差 错只有百万分之三点四。
点就在于P(Process 过程)。
SPC的企业应用理论
▪ 以下图标是SPC的概率统计理论在企业中的应用解释:
每件产品的尺寸与别的都不同
范围
范围
范围
范围
但它们形成一个模型,若稳定,可以描述为一个分布
范围
范围
分布可以通过以下因素 形状
或这些因素的组合
控制图
▪ 控制图(control)是对过程质量特性值进行测定、记录、 评估,从而监察过程是否处于控制状态的一种统计方 法设计的图。图中有中心线(CL ,Central Line)、上 控制限(UCL , Upper control limit)和下控制限 (LCL ,Lower Control Limit),并有按时间顺序抽取的 样本统计量数值的描点序列。
控制图的原理
▪ 小概率事件在一次试验中几乎不可能发生,若发生则 判断异常。控制图是假设检验的一种图上作业,在控 制图上每描一个点就是做一次假设检验。
▪ 常规控制图的实质就是区分偶然因素和异常因素。
偶然因素和异常因素
▪变差:过程的单个输出之间不可避免的差别称为变 差。变差的原因可分为偶然因素(普通原因)和异 常因素(特殊原因)。
▪偶然因素是过程固有的因素,始终存在,对质量影 响微小,但难以排除。
▪异常因素非过程固有,有时存在,有时不存在,对 质量影响大,但不难排除。一旦发生异常波动,就 应该尽快找出原因,采取措施加以消除。
如果仅存在变差的普通原因, 随着时间的推移,过程的输 出形成一个稳定的分布并可 预测。
范围
如果存在变差的特殊 原因,随着时间的推 移,过程的输出不 稳定。
六西格玛统计含义 4
σ控制与企业PPM的关系
PPM 1,000,000
100,000
10,000 1,000
100 10 1
1
2
3
4
Sigma 的个数
5
6
第三章 控制图方法论
不含未知参数
▪ 描述样本集中位置的统计量有:样本均值、样本中位 数、样本众数等。
▪ 描述样本分散程度的统计量有:样本极差、样本方差 与标准差、样本变异系数等。
统计基础知识—描述样本集中位置 的统计量
▪样本均值:样本均值也称样本的平均数,记为x 它是样本数据x1,x2,…xn的算术平均值:
~x ▪样本中位数:样本x 中1n位in数1 x是i 表述数据集中位置 的另一个重要的度量,用符号Me或 表示。样 本中位数的定义为有序样本中位置居于中间的 数值。
过程控制状态
范围 不受控
(存在特殊原因)
受控 (消除了特殊原因)
时间
两类错误
▪第一类错误:虚发警报(false alarm) 过程正常, 由于点子偶然超出界外而判异,于是就犯了第一类 错误。通常将犯第一类错误的概率记为α。第一类 错误将造成寻找根本不存在的异因损失。
▪第二类错误:漏发警报(alarm missing) 过程异常, 但仍会有部分产品,其质量特性值的数值大小仍位 于控制限内。如抽到这样的产品,点子仍会在界内, 从而犯了第二类错误。通常犯第二类错误的概率记 为β。第二类错误将造成不合格品增加的损失。
概率基础知识—分布
连续随机变量的分布: 下图是连续随机变量的分布图,纵轴是:“单位长 度的概率”,即概率密度。横轴是随机变量。最后 形成的曲线成为概率密度曲线,图中阴影部分面积 即为X在区间(a,b)上的取值概率。
ab
概率基础知识—均值
均值:用来表示分布的中心位置,用E(x)表示。 如E(x)=5表示随机变量X的平均值为5。其计算 公式如下:
P(x)
μ μ+σ
概率基础知识—标准正态分布
▪ 在正态分布概率密度函数中,μ为正态分布的均值,σ 为正态分布的标准差。当μ=0且σ=1时,正态分布称为 标准正态分布。记为N(0,1)。
▪ 正态分布的计算可以转化为标准正态分布来计算:
▪设X~N(μ,σ2), 则
~N(0,1)
U x
概率基础知识—中心极限定理
SPC统计过程控制 (Statistical Process Control)
第一章 统计过程控制基础知识
来源
随着工业化发展,人们对产品质量控制的重心从检 验控制转向统计控制;
上世纪二十年代初,美国贝尔电话实验室成立两个课 题组:产品控制组和过程控制组。以休哈特为领导的课 题组进行过程控制研究。
▪定 变理量1,:假设如X其1,共X2同,…分X布n是为n正个态相分互布独N立(同μ分,σ布2),的则随样机 本的均值X仍为正态分布,其均值仍为μ,方差
2
2
X
n
▪定 独理立2同(分中布心的极随限机定变理量),:其设共X同1,X分2,布…为Xn非是正n个态相分互布 或未知,但其均值μ和方差σ2都存在,则当n足够 大时,样本的均值X仍为正态分布均值仍为μ,方 差
▪1 对产品的质量有把握(通常,控制图的控制界限 都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格 品)。
▪2 在控制状态下,过程的变异最小 ▪3 推行SPC能够保证全过程的预防。一道工序达到
控制状态称为稳定工序,每道工序都达到控制状态 称为全稳生产线。SPC之所以能够保证实现全过程 的预防,依靠的就是全稳生产线。
▪ 过程输出分布越集中,则输出落在规范下限和规范上限 外的概率就越小,过程输出出现缺陷的可能性就越小。以 下是无偏移各西格玛水平Z0对应的过程出现缺陷的概率:
六西格玛统计含义 2
µ


99.7%


σσ
95.4% 68.2%
六西格玛统计含义 3
▪实际上,过程的输出质量特性的分布中心与目标值 完全重合的可能性很小,而且由于过程在长期运行 中总会受到来自人、机、料、法、测、环(5M1E) 方面的影响,使过程输出的分布中心偏离目标值。 因此,在计算过程长期运行中出现缺陷的比率时, 一般将正态分布的中心向左或向右移动1.5σ,在有 偏移的情况下,西格玛水平记为Z。从以下表格可 以看出,通常所说的六西格玛质量水平对应于 3.4ppm,缺陷率。
▪ E(x)=
xi pi
i
若X是离散分布
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