基于ADμC7020的高速误码测试仪

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bte r rv l e c n b e e d f o i e it r ,a d AD/ 0 0 c lu a e h i e r rr t n e d tt h o u e o t i ig L b i r o a u a e n r a r m t r g se s n s  ̄ C7 2 ac lt s t e b t ro a e a d s n si o t ec mp t rc n an n a
速/ 电擦 除 存 储 器 F ah和 8 KB R ls AM ,串 行 接 口包 括 UART、 P 、 S I 2个 IC、 于 下 载/ 试 的 J 用 调 TAG 端 口、 4个 定 时 器 、1 个 通 用 IO 引 脚 、 内 可 编 程 逻 辑 阵 列 4 / 片 ( L 。C P A) PU 时 钟 高 达 4 Hz 可使 用 片 内 晶 体 振 荡 器 5M ,
基 于 A C 0 0的 高 速 误 码 测 试 仪 D ̄ 7 2
潘 冬
( 1泰瑞 创科 技 公 国 内 外 高速 误 码 测 试仪 价 格 昂贵 、 针 系统 复 杂 的 现 状 , 用 ADI公 司 的 ARM7 采 TDMI微 控 制 器 AD# 7 2 C 0 O和
ADu 0 0a dt evru lisr me tL b W id ws CVI i0 0 icu e r g a C7 2 n h i a n tu n a n o / t .S5 4 n ld sap o r mma l atr e e ao n h c e u cin,h bep te ng n r tra d c e k rfn t o te
价 格 昂 贵 , 且 系统 复 杂 。所 以 , 于 国 内通 信 行 业 , 发 并 对 开

sedP ) 品 线 的 产 品 。采 用 其 已 通 过 市 场 验 证 的 p e HY 产 D P L技 术 , SL 同时 在 数 据 发 送 和 接 收路 径 提 供 信 号 抖 动
消 除 功 能 的 1 / P收 发 器 。S5 4 0 Gb sXF iO O支 持 3种 不 同 的模拟与数字信 号质 量监测 功 能 , 别 是 模拟 信号 L 分 0s
中 图分 类 号 :TN9 1 7 1. l
文 献 标 识 码 :B
Hi e d Bi Ero t gh Sp e t r rRa e TeserBas d o t e n AD ̄ 0 0 C7 2

Pa Dong n
( ihua g Trx n nc Sc n i o I .,Che du 61 63,Chi ) ng 00 na Absr c :H ih s e d i r or a e e t r r xp nsv a d c m plx. The a r pr s n s sm p e ow o tde in sn t DI ta t g p e bt e r r t t se s a e e e ie n o e p pe e e t a i l ,l c s sg u ig he A AR M 7 TDM I c r A DuC7 0 a d oe 02 n Si c n l o La or t re XFP ta c i r i b a o is r ns eve 8i04 5 0. T h s s e c nsss e y tm o it of 5 0, m ir on r le Si04 c oe t ol r
来 越 高 。虽 然 国 内外 仪 器 仪 表 厂 , 安 捷 伦 ( i n ) 泰 如 Agl t 、 e
克 ( k rnx 等 推 出 了 各 种 高 速 误 码 测 试 仪 , 是 大 多 Te to i) 但
S5 4 iO O是 Sl o b rtre 司 高 速 物 理 层 ( ih ic nLa o aois公 i hg —
通 过 AD ̄ 0 0计 算 得 到 误 码 率 , 通 过 IC 接 口 与 L bW id ws C 构 成 的 上 位 机 进 行 通 信 。 C7 2 并 a n o / VI 关 键 词 :AD ̄ 0 0 S5 4 ; 码 率 ; a id ws/ C7 2 ; i0 0 误 L bW n o CVI
W i o s C y tm. n w / VI se d s
Ke rs ywod :AD ̄ 7 2 ;S 5 4 ;bter rrt ;La id ws CVI C 0 0 iO O i ro ae bW n o /
长期 平 均 误 码 率 , 称 误 码 率 ( i E r rRae B 简 Bt ro t , ER) ,
和 片 内 P I。 L
是 光 通 信 网络 及 设 备 的 重 要 指 标 之 一 。 目前 光 通 信 网 络
及 设 备 正 朝 着 小 型 化 、 频 率 、 速 率 、 容 量 的 方 向 发 高 高 大 展 , 作 为 测 量 仪 器 的误 码 测试 仪 速 率 及 功 能 的 要 求 也 越 对
Sl o b rtre ic nLa o aois公 司 生 产 的 XF 收 发 芯 片 S5 4 , 计 一 种 简 易 、 成 本 的 误 码 测 试 系 统 。 系 统 由 S5 4 、 i P io o 设 低 iO 0 AD“ 7 2 C 0 0和 虚 拟 仪 器 L bWid ws C 组 成 。S5 4 a n o / VI io o具 有 可 编 程 的 伪 随 机 码 比 特 流 生 成 和 比 较 功 能 , 出误 码 值 , 读
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