可靠性测试标准

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低温受控跌落 (参考项）
低温跌落试验 普通机型1.2米（2.4~2.8屏1.0米，2.8及以上屏0.6米） 超低端1.5米 -20 ℃（参考测试项，但是必须测试，有问题时需分析原因再确认 是否需改善）。 滚筒跌落 测试环境：室温（20~30℃） 测试方法：将电池装入手机，手机处于开机状态，将手机放入滚筒 内，设置滚筒的旋转频率为8~10次/min,跌落高度50cm，跌落次数 总计120次（60转），每30次（15转）进行外观、功能检查。
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反插拔测试 充电/数据 接口插拔耐久 性测试
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整机器件不能损坏 要求USB连接器配合的结构及功能均正常，I/O 接口无损坏，焊盘无脱落，充电及数据传输功 能正常，USB连接器弹片、塑胶均正常。数据 线插入I/O口时不会松动（可以承受得住手机 本身的重量）
数据线插拔试 测试环境：室温（20~30℃) 验 测试方法：将充电器接上电源，连接手机充电接口，等待手机至充 电界面显示正常后，拔除数据线插头。在开机不插卡状态下以15－ 20次/min的速度插拔USB 5000次（注：若数据线接口与充电接口 共用，则将插几个附配件的插拔试验在同一手机上测试）。 试产各阶段增加手工插拔测试(需用另外两台手机): 人工插拔进行 1000次插拔测试，完成后再进行5000次机器插拔测试，标准同上。 耳机插拔试验 测试环境：室温（20~30℃） 测试方法：将手机处于开机状态，然后将耳机插在耳机插孔内，插 拔5000 次，再人工热插拔300次。设备气压调节在0.5Mpa。以15 －20次/min的速度反复插拔测试，每插拔测试500次检查一次功 能，完成后再用人工进行热插拔300次，手工热插拔每隔20次检查 一下功能，对于圆孔接口，需进行手工插拔一次旋转一次测试。接 口共用时,几个附配件的插拨试验在同一手机上测试。 电池插拔 测试环境：室温（20~30℃） 测试目的：电池拆装寿命测试 测试方法：关机状态。将电池完全装入手机电池仓后再取出，插入 再拔出算一次，反复操作。试验次数：2000次，每100次检查开机 是否正常。速率：20次/分钟。 测试环境：室温（20~30℃） 测试目的：SIM卡插拔寿命测试 测试方法：关机状态。插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新装上， 以10－15次/min的速度反复做1000次，每插拔100次检查开机是否 正常，读卡信息正常。 测试环境：室温（20~30℃） 测试目的：存储卡插拔寿命测试 测试方法： A、非热插拔结构：插上存储卡， 以10－15次/min的速度反复 1000次，每插拔100次需开机进入卡内测试存储卡的数据能否正常 读取（读取/存储2-5个文件）。 B、热插拔结构：手机处于开机状态，插入存储卡，待手机监测到 卡后将卡拔出，待手机提示存储卡弹出后再插入，循环1000次，每 插拔100次需开机进入卡内测试存储的数据能否正常读取（读取/存 储2-5个文件）。 测试环境：室温（20~30℃） 测试方法：装入电池，将电池/电池盖以10－15次/min的速度反复 拆装2000次。每隔100次清除插拔留下的粉末。进行到1500次、 1800次和2000次时检查手机及电池/电池盖各项功能、及外观是否 正常。 拆装测试完成后，进行拉拔力测试判定。在电池盖上粘贴 或配置辅助着力点，平行于电池盖装配反方向推动或拉动着力点进 行测试。 注：（1）、电池盖无弹性结构的：在电池盖插拔前后均需测试电 池盖拉拔力（标准：试验前要 求2.3——4.0KG力；试验后要求不小于1.0KG力）。 （2）、有弹性结构电池盖插拔力标准为： A、双侧弹性臂：实验前最大拉拔力不大于3.0KG，实验后拉拔力不 小于1.0KG力，且实验前后衰减不大于30％。 B、单侧弹性臂：实验前最大拉拔力不大于4.0KG，实验后拉拔力不 小于1.0KG力，且实验前后衰减不大于50％。
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功能、外观及装配检 测应符合相应要求 要求拉断吊饰孔的拉力 ≥5kgf并且≤15kgf为合格
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按键帽拉拔力 插孔保护塞抗 拉（USB塞、T 卡塞等各类塞 子） 软压测试 按键耐久性
按键帽拉拔力 拉拔速度为0.5mm/s 1kgf，按键不允许脱胶 USB塞、T卡 打开保护盖,以1.2kgf的拉力垂直手机侧面拉保护盖的一端,保持10 塞等各类塞子 秒; 拉力试验 重复10次. 软压测试 25kgf,每分钟10~30次的频率 挤压样品2000次.每1000次检查下样品的机械电气性能.
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1kgf，按键不允许脱胶 保护盖不应断裂或从手机中被拉出 。保护盖不能出现不能恢复变形
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机械电气功能正常。 手机按键弹性、导光效果及功能均正常。按键 外观无无弹性、下陷、裂纹等不良。 测试后拆机检查金手指pad位置，pad不能被击 穿
主/侧按键寿命 测试环境：室温（20~30℃ 试验 测试方法：将手机设置成开机状态固定在测试夹具上，600gf力， 以40~60 次/分钟的速度。主按键每个键必须测到，普通按键要求 达到30万次以上，超簿按键达到20万次（厚度小于等于1.5mm为超 薄按键），侧按键需达到5万次以上。每2小时检查手机按键弹性、 功能一次。滑盖机需滑开及合盖状态各一半，合盖状态验证上盖各 功能键寿命。 注：1、每次测试前需Βιβλιοθήκη Baidu试按键测试仪敲击力度，并严格控制测试 头到按键高度（约3mm） 2、每1小时检查一次打击头与按键的位置是否有偏差，如有需及 时调整。 反插拔测试 存储卡100次,SIM卡30次,IO口反插4kgf,电池不能反插
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常温受控（自 由）跌落
自由（或定 测试环境：室温（20~30℃） 向）跌落试验 测试条件：20mm厚大理石地板；跌落高度：0.8m为参考测试测试， 接收标准0.6m。与恒定湿热、冷热冲击串行测试（复用机测试）。 测试方法：对于直板手机，进行6个面的定向跌落测试，共跌落2轮 ，串行环测的机器在环测前后各跌落1轮，每次跌落之后进行外观 、结构和功能检查。试验从手机的最小面开始跌落（底部→右侧→ 左侧→顶部→反面→正面），每个循环中LCD 面为最后跌落面。跌 落结束后对外观、结构和功能进行检查 备注：80cm做参考但必须测试，60cm为最终判定标准。80cm fail 项需分析，很难改善的再通过60cm跌落做最终的判定。
2
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滚筒跌落
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判定标准：50cm不允许不开机失效，其他失效 供参考
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微跌测试（重 复跌落） 吊饰孔拉力
重复跌落（微 按HQ标准,并修改：4个侧面各500次，正反面各4000次，共1万次 跌）试验 吊饰孔拉力 对手机进行初检,保证测试前吊饰孔无破裂,将钢丝从手机吊饰孔中 穿过,手机处于正常悬挂状态,测量钢丝将吊饰孔拉断裂所需要的 力.
WG730、WG700可靠性测试标准
No.HQ
试验名称
1 2 3 高温运行测试 低温运行测试 高温存储测试
DOOV
试验名称 详细试验方法 试验数量 （HQ）
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试验数量 判断标准 （DOOV）
8 8 3 各种机械电气性能指标正常 各种机械电气性能指标正常 手机的射频性能指标满足要求，功能正常，外 壳无变形，起泡，发霉，裂纹，变色；实验前/ 后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有 变异。 备注：接收标准是24小时，朵唯测试48小时， 48小时若有fail，需分析原因，根据fail现象 和分析结果，讨论是否要改善。 手机的射频性能指标满足要求，功能正常，外 壳无变形，起泡，发霉，裂纹，变色；实验前/ 后确认按键导光效果、LCM显示效果等是否有 变异。 备注：接收标准是24小时，朵唯测试48小时， 48小时若有fail，需分析原因，根据fail现象 和分析结果，讨论是否要改善。
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整机耐汗液试 验
整机耐汗液试 测试条件：55℃，95%RH 验 测试方法：把4pcs无尘布分别放于PH值为4.7的酸性溶液、PH值为 8.2的碱性溶液中充分浸透，然后将样品完全包裹起来，并确保无 尘布与样品表面充分接触，并用塑料袋密封好，然后放在高温高湿 （温度55℃，相对湿度95%）测试环境中（不能将样品堆放，侧面 或正面并排放置），48小时后，将样品从测试环境中取出，并且放 置2小时后，检查样品表面是否腐蚀、变色等。并测试油漆、电镀 附着力。 带触摸屏的机器，人汗测试用整机，需将人工汗涂到触摸屏缝隙四 周。先做2天，2天后检查触摸屏和其它所有部件是否有异常；再做 8天，检查触摸屏外观、功能是否有异常，检查触摸屏功能时确保 水汽已干。（试行）
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手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正 常，可正常拨打电话；实验前/后确认按键导光 效果、LCM显示效果等是否有变异
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恒定湿热 （即：高温高 湿）试验
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手机功能正常，外壳无变形，起泡，发霉，裂 纹，变色；实验前/后确认按键导光效果、LCM 显示效果等是否有变异。
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盐雾试验
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2
各种机械电气性能指标正常
高温运行测试 55℃ 2h后3次开关机，开机再放置20h，在2h内测试，试验后常温 放置2h测试性能并记录 低温运行测试 -20℃ 2h后3次开关机，开机再放置20h，在2h内测试，试验后 常温放置3h测试性能并记录
高温贮存试验 测试条件：70±2°C 试验方法：不装电池将手机放入温度试验箱内的架子上。按平均值 不大于3℃/min的变化速度逐步升温到+70℃，温度稳定后持续24个 小时之后取出，并在常温下放置2小时，恢复至常温，然后进行结 构，功能检查，检查无异常则继续试验到48小时。对于翻盖手机， 应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将 一半样品滑开到上限位置 低温贮存试验 测试条件：−40±3°C 试验方法：不装电池，将手机放入温度试验箱内的架子上。按平均 值不大于1℃/min的变化速度逐步降温到-40℃，温度稳定后持续24 个小时，取出并在常温下放置2小时，恢复至常温，然后进行外观 、结构、功能检查，检查无异常则继续试验到48小时。对于翻盖手 机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机， 应将一半样品滑开到上限位置
2
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静态沙尘测试 随机振动 正弦振动
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LCD中无灰尘进入，PCB 允许 指标、电气、机械性能正常 指标、电气、机械性能正常
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工作冲击
工作冲击
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指标、电气、机械性能正常
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载重测试 扭曲测试
载重测试 扭曲测试
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测试过程中手机不能关机 ，测试完成后手机机械电气功能正常 手机机械电气功能正常
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1、样品表面允许轻微变色、发白，接收直径小 于0.5mm的麻点（0.2-0.5的麻点允许3个，小 于0.2的麻点不计数），不允许起泡（用手指 可以抠掉），不得有漆膜脱落、分离等明显异 常。允许出现可用绒布抹掉的浅灰斑。难判断 或特殊材料，判断标准可以参考品质限度样品 。 2、测试后附着力达3B（脱落面积5％～15％） 。 3、镜片背面丝印：变色、脱落，只做参考，但 是恒定湿热、冷热冲击测试必须通过。 4、带触摸屏的整机，除了以上检查外，还需检 查触摸屏功能是否正常，是否有明显腐蚀。 （碱性测试作为试行） 1、样品表面允许轻微变色、发白，接收直径小 于0.5mm的麻点（0.2-0.5的麻点允许3 个，小于0.2的麻点不计数），不允许起泡 （用手指可以抠掉），不得有漆膜脱落、分离 等明显异常。难判断或特殊材料，判断标准可 以参考品质限度样品。 2、测试后附着力达3B（脱落面积5％～15％）
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耐化妆品测试
耐化妆品测试 测试环境：55℃，95%RH测试方法：先用棉布将样品表面擦拭干 净，将凡士林护手霜(或SPF8的防晒霜)均匀涂在样品表面上，将样 品放在测试环境中（不能将样品堆放，侧面或正面并排放置），保 持48H后将样品取出，然后用棉布将化妆品擦试干净，检查样品表 面喷漆。并测试油漆的附着力。 耐化妆品测试用整机，需将人工汗涂到触摸屏缝隙四周。先做2 天，2天后检查触摸屏和其它所有部件是否有异常；再做8天，检查 触摸屏外观、功能是否有异常。（试行） 砂尘测试 随机振动 正弦振动 15~35℃,2kg/m3沙尘量,2m/s风速8h F=20-1000Hz,1000-2000Hz;PSD:0.04g²/Hz,-6dB/Oct 测试周期:每轴向2个小时 1.频率范围：10-55-10Hz； 2.振幅：1.52mm； 3.扫描频率：1oct/min; 4.轴向:三个轴向,每轴向2个小时 1) 半正弦波， 500 m/s2，11ms 或300 m/s2，18ms（设备无法满足时使用）； 2) 冲击次数：6个方向，每个方向冲击3次，共18次; 70kgf的压力，承受2秒钟 开机状态下承受数值为其厚度 （取mm为数值单位）的0.12倍，单位为N.m的扭矩 （最大不超过2 N.m，最小不小于0.5 N.m）,扭曲1000次；
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判定标准：（1）小于3.0寸屏 a、跌落完后检查,不允许出现屏裂现象，所有 功能检测正常，外观不允许出现油漆成块脱落 或明显裂纹，不允许外观件脱落、起翘等现象 （允许电池盖、电池脱落），不允许出现五次 以上的掉电或不识别SIM、T卡。 b、离壳判定：非卡扣脱落的离壳不允许；卡扣 脱落的，则30cm跌落6面2轮确认，不允许30cm 跌落离壳。 c、拆机检查内部无元器件松动、脱落、破 裂；，及其它结构器件可复原故障和撞伤等。 （2）大于3.0寸屏，LCD裂、TP裂允许各1pcs 。其它问题按（1）进行判定。 （大于3.0寸屏的自由跌落测试和判定作为试 行。） 机械（可恢复）电气功能正常。
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低温存储测试
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温度冲击
温度冲击试验 测试条件：低温：-40℃ ；高温：+70℃（IML工艺为65℃） 试验方法：使用高低温冲击箱，手机不带电池，先放置于高温箱内 持续1小时后，在3分钟内迅速转入低温箱并持续1小时后，再3分钟 内迅速回到高温箱。此为一个循环，共循环20次。实验结束后将样 机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复2小时后进行外观、机械 和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手 机，应将一半样品滑开到上限位置。 恒定湿热试验 测试条件：55℃，90-95%RH 试验方法：不装电池，手机处于关机状态，放入温湿度实验箱内的 架子上，持续48个小时之后取出，常温恢复2小时，然后进行外观 、结构和功能检查。对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半 样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。 盐雾试验 35℃ >85%RH,PH=6.5-7.2,5%Nacl 锌合金烤漆、电镀，盐雾测试24小时，其它电镀件测试48小时,附 着力>4b