寄生参数提取

寄生参数提取

寄生参数提取（Parasitic Parameter Extraction，PPE）是一种常用的电路测试技术，它通过分析从已经存在的物理结构中提取出的参数来发现和测量电路的功能模块。它主要应用于设计原理图上的电路元件的参数测试和识别，以及系统模块的研发及测试。由于参数提取不需要对电路进行任何修改，因此可以大大减少测试成本。

寄生参数提取的基本原理是，通过在电路中引入外部激励，使电路产生指定的反应，并通过测量这些反应来提取电路内部参数。首先，将外部激励注入到电路中，如信号源、时间域反射（TDR）、电容源或分立元件，然后测量电路反应，如电压、电流或开关时间，最后根据相关理论和算法，利用测量得到的参数求解电路内部参数。

当前，寄生参数提取技术已经广泛应用于IC与PCB的测试，可用于测量电容、电阻、耦合电容、直流偏置、单端高频等参数。特别是在复杂的IC和PCB设计中，可以减少测试时间和成本，提高效率。

在IC设计中，寄生参数提取技术可用于测量封装的静态参数，例如电容、电阻和直流偏置，以及动态参数，如感应和耦合电容。另外，它还可以用于测量组件内部电容和电阻的参数，从而提高了IC设计的准确性。

在PCB设计中，寄生参数提取技术可用于测量电缆、芯片或接口的参数，包括介电常数、阻抗、直流偏置电压和相关的单端高频参数等。此外，还可以用于PCB上的元件之间的连接参数测量，包括连接器、PCB芯片和电缆之间的耦合电容和直流偏置电压等。

由于寄生参数提取技术可以快速、准确地测量电路参数，因此被广泛应用于电子产品的测试和设计中，例如手机、电脑、汽车、航空航天等。随着科技的发展，寄生参数提取技术也在不断改进和发展，例如增加参数测量的精度和准确性，增加对复杂电路的测量能力，以及增加外部激励的种类等。