地层真厚度
地质学中一些公式

地学中常用公式一、平均品位的计算公式:1、算术平均:(X1+X2-……+Xn)/n X1、X2、X n为样品品位2、加权平均:(X l×L l+X2×L2+……+ X n×Ln)/(L l+L2+……+L n) X1、X2……X n。
为样品品位,L l+L2+……+Ln为样品长度3、几何平均为Xn2⨯1 X1、X2、Xn为样品品位X⨯n⨯X注:品位为正态分布时,处理特高品位时,可用此公式。
二、矿体厚度(Vm)、品位(Vc)变化系数:—X=(X1+X2+……+Xn)/n 计算矿体厚度、品位的平均值∑-σ计算均方差X(2nXi/(-=)1)厚度、品位变化系数:Vm或Vc=⨯σ100%÷X三、地质剖面岩石厚度计算公式:y=sinα·cosβ·cosγ±cosα·sinβα--导线坡度角β--地层倾角γ --导线方向与地层倾角的夹角地层倾向与坡向相反取正号,地层倾向与坡向相同取负号;真厚度=L×y四、钻孔矿体厚度的确定矿体的厚度是根据矿体露头上、坑道中和从钻孔中所获得的资料进行的。
(一)坑道中矿体厚度的测定当坑道所揭露的矿体与围岩的接触界线清楚时,取样和编录时可在矿体上用钢尺直接捌量出来。
厚度测量的次数决定于坑道的布置情况,如矿体是用穿脉坑道圈定的,则测量次数与穿脉坑道的数量相符。
如果矿体是用沿脉坑道圈定的,则厚度的测定按一定间隔在取样的位置进行测量。
如果矿体与围岩的界线不清时,矿体厚度的测定必须根据取样结果来确定。
(二)钻孔中矿体厚度的测定因为钻孔中所截穿的矿体均在地下深处、只能间接地去测定矿体的厚度。
当钻孔是垂直矿层钻进时,且岩心采取率为100%,可直接丈量岩心,取得厚度的数据。
若岩心采取率不高,除用钢尺丈量岩心长度外,还要按下式进行换算:m nL(11-9)式中: m ——矿体的厚度(米); L ——实测矿心长度(米)I n ——矿心采取率(%)。
大斜度井眼中地层真厚度的计算方法

将公式 ( )代人公 式 ( 1 5)中,可以得 到 :
= xi1一【× n3 0) s(。 。
cs ot a1
二 、虚 拟 钻 孑 方 位 与 地 层 走 向不 垂 直 L 时地 层视 厚度 的计 算 公 式
=
cs 1 ot ) a
cs 、 ot a
厶×s0 ) c (1 c ( ) s( ) ( oa 一o f ×iq ) i × s ) s, n n l
使用时 ,厚度只取正值 ,因此可将公式 ( )、 ( 合 6 7)
并为以下公式 :
参 考 文 献
[ 候 德 义 . 矿 勘 探 地 质 学 【 . 京 : 质 出版 社 ,9419 1 4 1 】 找 M】 北 地 18 : — 9 . 6
M=lln 1 c( 一On×n )c() () L ( () oa C()s i× s ) 1 ×s 1× s) S ix oO I 1 i3 (
e
0
图1 钻孔 的不 同铅 垂面 关系 示意 图
在 图 1 ,面AC 中 D与地 层 走 向垂 直 ,面A D与地 层 B 走 向不 垂 直 ,并 与地 层 走 向具 有 夹 角 y。下 面 分别 证 明
虚拟钻孔方位与地层走 向垂直时地层 真厚度及不垂直时
2 8
信息 系统工 程 l2 1..0 0 6 12
图6 、图 7 、图 8 图9 达 了虚 拟 钻 孔 在A D面 上 时 、 表 B
CS l Ot aJ
的各种可能情况。首先我们计算虚拟钻孔在AB D面上时
的地 层 视厚 度 M 。
=
‘Xs()c()CS 1 s )t q) (  ̄  ̄oa一O pXoax () i s n ()c ( g
构造地质学考试名词解释

第一章绪论1.地质构造指组成地壳的岩层或岩体在内、外动力地质作用下发生变形和变位,如褶皱、节理、断层、劈理以及各种线理和面理构造等。
2.构造地质学研究地质构造的一门分支学科,主要研究由内动力地质作用形成的各种地质构造。
3.构造尺度在对地质构造进行观察研究时,可按规模大小划分为许多级别,称为构造尺度。
第二章4.岩层由两个平行或近于平行的界面所限制岩性基本一致的层状岩体叫做岩层,由沉积作用形成的岩层叫沉积岩层。
5.岩层的产状岩层的空间产出状态,常采用岩层面的走向、倾向和倾角三个要素的数值来表示。
6.走向岩层面与水平面相交的线叫走向线。
走向线两端所指的方向即岩层的走向。
7.倾向层面上与走向垂直并沿斜面向下所引的直线叫真倾斜线,倾斜线在水平面上的投影线所指的方向,就是岩层的真倾向,简称倾向。
8.倾角层面上真倾斜线与其在水平面上的投影线的夹角。
9.视倾向在层面上凡与该点走向线不直交的任一直线均为视倾斜线,其在水平面上投影线所指的倾斜方向,叫视倾向或假倾向。
10.视倾角视倾斜线和它在水平面上的投影线之间的夹角,叫视倾角或假倾角。
11.真倾角岩层的倾斜线及其在水平面上的投影线之间的夹角就是岩层的倾角,又称真倾角。
12.真厚度真厚度是指岩层顶、底面之间的垂直距离。
13.视厚度在与岩层走向斜交的剖面上或在与岩面不垂直的任何方向的非直立剖面上测得的顶、底界线之间的垂直距离都是视厚度。
14.“V”字形法则倾斜岩层露头界线分布形态较复杂,表现为与地形等高线呈交切关系,并有一定规律,即当其横过沟谷或山脊时,均呈“V”字形态,根据岩层产状、地面坡向和坡度角不同,“V”字形形态也有所不同,这种规律称为“V”字形法则。
15.露头宽度岩层顶、底面出露界线之间的垂直距离。
16.整合接触上、下地层在沉积层序上没有间断,岩性或所含化石都是一致的或递变的,其产状基本一致,它们是连续沉积形成的。
17.不整合接触上、下地层间层序有间断,先后沉积的地层间缺失了某些地层。
地层真厚度——精选推荐

2.2.2地层厚度表征地层厚度与深度参数很多,以地层厚度为例,操作流程如下:2.2.2.1从单井提取数据地层厚度表征1地层厚度提取选择“平面层”模块,连续选择“ 平面层井数据提取”,弹出对话框,选择“层属性提取”界面。
平面层选择相应层名,厚度属性选择“地层厚度”,结果属性选择“地层厚度”,点击“生成数据”完成。
右键点击平面层原始数据里的“井点:地层数据”,可以查看所提取数据。
说明:提取数据时,平面层选择可以根据研究需要选择一个,也可以选择多个或者全部选择。
2地层厚度斜井校正储量计算参数,如有效厚度及含油饱和度的平面分布表征方法与前述的储层参数表征方法既有相似之处,又有较大的区别。
主要差别在于储层参数如孔隙度、渗透率主要受沉积相(或岩相)的控制,而有效厚度,在插值计算其平面分布时,要考虑储层(砂体)分布范围、断层边界以及油水界面的影响。
因此,储层参数的表征多注重于“相控插值”,而储量计算参数表征则需强调多边界的控制作用。
特别是对于断块油藏,在断块边界处,有效厚度与含油饱和度不为零值,其分布趋势为边界处突变;而对于油水边界处,有效厚度与含油饱和度为零值,其趋势是渐变的。
因此,对于断块油藏,必须特别标示断层位置。
本类插值计算的方法也很简便,在基本设置之上,选择“断层控制”即可。
在地层倾角较大时,需要对大斜度井计算的砂体垂直厚度(有效厚度)进行校正。
操作方法如下:在需要斜井厚度校正的平面层上点击右键弹出快捷菜单;选择“井点(斜井)厚度校正”下列菜单,弹出如下对话框,在属性列表中可以选择待校正属性(如有效厚度,砂体厚度),在“校正井选择”列表中可以自定义选择或按井组选择被校正井,然后点击“执行校正”按钮;执行校正后,系统弹出如下校正结果显示框,点击“结果保存”按钮可以保存校正结果。
说明:系统首先根据地层和斜井的相交状态计算出地层真垂厚,同时生成校正系数,然后根据所选属性值和校正系数的乘积可以计算出属性的校正值。
7-2第七章(地震薄层分析)

第七章
地震薄层分析
第四节 地震调谐原理的应用 一、在调谐厚度以上
波峰到波谷的时间间隔是
地层真厚度:
1 TH tV 2
TH 为地层厚度(m), 其中,
t 为时差, V 为地层速度
第四节 地震调谐原理的应用
二、在调谐厚度以下 时差值变得不灵敏, 但波峰到波谷的相对 振幅却是地层厚度的 函数,故可以用来估 算地层厚度:
地质工程专业2002级专业选修课
人: 刘 震
任课单位:资源与信息学院 2005 年 12 月
第七章
地震薄层分析
第三节 薄层地震调谐原理
一、楔状夹层地震响应特征
相 对 振 幅 曲 线 变 化
一、楔状夹层地震响应特征
5、调谐点的产生机理
相对振幅出现极大值的条件: 薄层顶底间距正好等于子波半周期
请同学们思考,并自己回答这个
问题。
第三节 薄层地震调谐原理 二、调谐与分辨率的关系
b 当薄层顶底双程时间差为: 2
相应的薄层厚度为:
1b V Z w V 22 4f 4
1、薄层的调谐厚度==子波的四分之一波长
第三节 薄层地震调谐原理 二、调谐与分辨率的关系
2、调谐厚度就是分辨率 调谐厚度以下,时差 不能分辨地层的真厚度 3、分辨率=四分之一波长 4、薄层的定义 地层厚度<四分之一波长
TH f ( Amp )
第七章 思考题
1、为什么说薄层的地震响应为子波的一阶导数? 2、为什么说薄层顶底间距正好等于子波半周期 时产生调谐? 3、为什么说地震垂向分辨率为四分之一波长? 4、地震垂向分辨率受哪些因素影响? 5、地震薄层调谐原理的应用意义是什么? 6、薄层的定义是什么?
下 课!
地层厚度及物源区分析

由沉积体系展 布可见, 重矿物谱 系群的空间分布 区恰好与3个主要 的扇三角洲前缘 分布区重叠,这 种现象表明重矿 物的分布完全受 沉积体系控制, 是沉积水动力学 与重力分异作用 共同作用的结果。
2.4.3.2 碎屑岩类分析法
• 2.4.3.2.1 砂岩
砂岩的研究在沉积学领域一直占有重要的地位。本世纪60年代板块构造 理论的兴起,为地质各学科注入了新的生机。进入70年代,砂岩与板块构造 的关系研究便应运而生。它将砂岩碎屑组分的物源意义与一定板块构造背景 下的沉积盆地类型紧密地联系在一起,并将砂岩成因的大地构造属性分析拓 展到与全球构造相对应的更为广阔的应用领域。由于是建立在岩石薄片的微 观鉴定和样品点统计基础上的模型分析,而研究对象为宏观的大地构造分区 及较大尺度的物源区,因此有人将这种研究方法喻为大地构造的“指纹”分 析法。
石、独居石
透闪石、普通角闪石、透辉
石、普通辉石、斜方辉石、
橄榄石、黑云母
b.单颗粒重矿物含量比值的源区意义
• (2) Morton等认为水动力 条件和埋藏成岩作用是影 响物源信息的两个主要因素。 因此,在相似水动力条件下 和成岩作用下,稳定重矿物 的质量比值能更好的反映物 源特征,将这些比值称为重 矿物特征指数
自20世纪80年代中期,Dickinson、Crook及Valloni等根据已经构造背景的 现代和古代砂岩样品的统计分析,各自制定出了较为系统的碎屑组分-物源 区-板块构造三位一体的分类方案,提出了专用于砂岩构造背景分析的“碎 屑模型”和“颗粒指数”概念。目前,Dickinson的碎屑模型板块构造物源区 的研究,已成为应用最广的方案之一。他的物源区类型划分考虑了不同板块 构造基本单元的特点,3个一级物源区既是砂岩碎屑最常出现的场所,又与 活动差异明显的各种板块构造沉积盆地相对应;7个次级物源区类型及其碎 屑模型是基本物源区特征的具体表述,也是进行板块构造物源区判别的主要 依据。
大斜度井中非平行地层几何真厚度计算方法

[7]
使用模式识别自动化结构解释,
将水平井中的自然伽马( GR) 模式与 TST 域的垂
直导眼井中的 GR 模式进行匹配,讨论求取地层
真厚度的方法。
界面倾斜方向称为倾向,在数值上与走向相差 90°。
真倾角:在垂直地质界面走向的横剖面上所
测定的此界面与水平参考面之间的两面角,也就
是倾斜线与其水平投影线之间的夹角。
第 41 卷 第 4 期
2023 年 8 月
江 西 科 学
JIANGXI SCIENCE
Vol. 41 No. 4
Aug. 2023
doi:10. 13990 / j. issn1001-3679. 2023. 04. 015
大斜度井中非平行地层几何真厚度计算方法
胡雪琴1 ,王 港2 ,秦 臻2∗ ,王众鑫3 ,苏可嘉4 ,
列式公式负厚度的识别和负号应用问题并将其统
一,编制响应的电算程序等。 江明
[4]
地层真厚度的几何计算公式。
1 地层厚度的基本概念
介于在地质剖面方面的就是岩层的
真厚度。 但在石油勘探开发中,将钻井井斜校正
到垂深后,部分学者认为地层顶底界面垂深之差
true thickness of non -parallel formations using information such as logging depth, formation dip an收稿日期:2023-04-01;修订日期:2023-05-13
作者简介:胡雪琴(2000—) ,女,硕士研究生,主要从事地理学及地质学相关的研究工作。
视倾角:真倾向与视倾向之间夹角在倾斜面
上斜交走向线所引的任一直线均为视倾斜线,如,
《计算机地质制图》教学中“倾角”的运用

《计算机地质制图》教学中“倾角”的运用摘要:运用计算机绘制常用地质图件,是对地学类本科生的基本专业技能培养。
通过对矿用基础图件绘制时角度换算关系的梳理,文章认为地层倾角是地质图件绘制过程的一种基础参数计算和分析方法,在柱状图、地质剖面图及煤层底板等高线图的绘图和分析中均发挥着重要作用。
文章提出将地层倾角作为贯穿《计算机地质制图》课程中的一条主线,运用这一主线将三大类型常用图件的绘制方法串联起来授课,可在训练学生图件绘制基本功的同时,强化分析能力,同时二者能够相辅相成,共同提高该课程的教学效果。
关键字:地质制图;教学;倾角;课程主线地质图件是地质现象变化规律或趋势的直观展现方式,借助专业绘图软件进行地质制图,能够发挥计算机制图高效便捷、易于更新修改、色彩丰富、符号规范、便于存储和共享的优势,同时还能够实现手工绘图难以实现的数据分析、三维可视化功能。
因此,在信息技术大发展的背景下,掌握常用地质图件的编制方法,是地学专业本科生的一项基本技能。
然而,地质制图不是简单的画画图就行,还需要培养学生一定的分析和计算能力。
从地质图件绘制过程中所涉及的分析和计算来看,地层倾角计算是最基础也是最重要的计算模型。
在地质图件中所涉及的常用换算一般均和倾角相关,比如,对于柱状图编绘时地层真厚度的计算、剖面图绘制时的视倾角换算、以及基于底板等高线进行煤层产状计算、断层产状计算,都需要运用真倾角和视倾角的换算关系。
一、地层倾角模型一般来说,由于学生在构造地质学等先修课程中对倾角的计算方法已经有了一定的了解,因此教学环节可从倾角的构成着手,逐步深入。
依据倾角的定义,若为岩层真倾角,为导线方向的视倾角,为导线方向与岩层走向的夹角,此时视倾角与真倾角有如下关系:(1)这个关系学生应该已经掌握,只需在课堂上回顾和强化即可。
二、地质剖面图中倾角的运用1. 地层真厚度计算在钻孔柱状图以及地质剖面图绘制中,均需要进行地层真厚度计算。
以地质剖面图为例,还需要分别针对不同的地质现象,调整计算模型。
地层描述

路基填筑土:沥青路面,厚0.00~0.00m,黑色,砂砾石基层,厚0.00~0.00m,青灰色,砾径大小不一,磨圆度、分选性一般,最佳含水量4.7%,素填土,厚0.00~0.00 m,岩性为低液限黏土,潮湿,密实。
粘土:黄褐色、青灰色,层顶埋深0.0-0.0,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m。
钙质结核,无摇震反应,稍有光滑,干强度中等,韧性中等-高。
该层在场地内均有分布。
可塑-硬塑湿-饱和粉质粘土:黄褐色、青灰色,层顶埋深0.0-0.0,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m。
含少量的铁,锰质结核,无摇震反应,稍有光滑,干强度中等,韧性中等,含少量砾石和钙质结核。
该层在场地内均有分布。
可塑-硬塑湿-饱和粉土:土黄色,层顶埋深0.0-0.0m,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m,摇振反应中等,无光泽反应,干强度、韧性低,孔隙发育一般,含少量砾石。
该土层在场地内均有分布。
稍密-中密稍湿-湿。
黄土状粉土:黄褐色,层顶埋深0.0-0.0,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m。
孔隙较发育,无明显层理。
摇震反应中等,无光泽反应,干强度及韧性低,粘粒含量较少,具有湿陷性。
该土层在场地内连续分布。
中密-密实干-稍湿粉细砂:黄褐色、青灰色,层顶埋深0.0-0.0m,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m。
级配不良,颗粒大小均匀。
主要成分以石英、长石为主,含少量砾石,局部夹薄层粉土。
该层在场地内均有分布。
稍密-中密稍湿-饱和中粗砂:黄褐色、青灰色,层顶埋深0.0-0.0m,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m。
级配一般,颗粒大小不均匀。
主要成分以石英、长石为主,含少量砾石,局部夹薄层粉土、粉细砂。
该层在场地内呈不连续分布,局部缺失。
中密-密实稍湿-饱和砾砂:黄褐色、青灰色,层顶埋深0.0-0.0m,层底埋深0.0-0.0m,层厚0.0-0.0m。
级配一般,颗粒大小不均匀,一般粒径2-5mm,最大粒径20-25mm。
岩土专业考试常用地质计算(视倾角真倾角换算,钻孔中矿体厚度计算)

1. 真倾角与视倾角换算真倾向与视倾向之间夹角在倾斜面上斜交走向线所引的任一直线均为视倾斜线,视倾斜线(HD,HC)与其在水平面的投影线(DO,CO)的夹角,叫视倾角。
视倾角总是小于真倾角真倾角与视倾角之间的关系, 可由下列公式表示和换算:tanβ=tanα cosω tga= tg β/cos ωβ为视倾角,α为真倾角,ω真倾向与视倾向间的夹角例题:现场量取岩层产状为倾向85度,真倾角a 为30度,剖面方向110度,则剖图面上绘制的视倾角β是多少?视倾角真倾角视倾角ω= 12+17=29tanβ=tanα cosω=tan 43 cos 27=0.816Β=39.2解:真倾向与视倾向间的夹角 ω =110-85=25视倾角tg β = tg a × cos ω = tg 30 × cos 25 β=27.62①垂直钻孔求岩层真厚度矿体真厚度M=视厚度L ×cos (倾角α)a 岩层真倾角 θ岩芯倾角 ②钻孔方位与矿体倾向一致,且钻孔倾角大于矿体倾角,钻孔方位与矿体走向垂直矿体真厚度M=视厚度L ×cos (顶角γ+ 倾角α)③钻孔方位与矿体倾向一致,且钻孔倾角α小于矿体倾角β 钻孔方位与矿体走向垂直α=90-γ θ=β-α矿体真厚度M=视厚度L ×sin θ ④钻孔方位与矿体倾向相反,钻孔方位与矿体走向垂直矿体倾角大于钻孔天顶角时:矿体真厚度M=视厚度L ×cos (倾角α-顶角γ)矿体倾角大于钻孔 天顶角时: 矿体真厚度M=视厚度L ×cos(倾角α-顶角γ)水平厚度=视水平厚度×sinβ真厚度=水平厚度×sinα垂直厚度=水平厚度×tgα=真厚度÷ cosα(α为矿体倾角)(β为矿体走向与穿脉方向的锐夹角)例:某金矿3号矿体走向100 °,穿脉CM18方位45 °,从4.2米至13.3米为矿层,(由编录资料结合勘探线剖面得知)该处矿体倾角为65 °,计算矿体的真厚度、水平厚度、垂直厚度为多少?解:水平厚度=视水平厚度×sinβ=(13.3-4.2)×sin(100-45)=7.45米真厚度=水平厚度×sinα= (13.3-4.2)×sin(100-45)×sin65=6.76米垂直厚度=真厚度÷cosα=6.76 ÷cos65=15.99米4.勘探线剖面(探槽)真厚度计算真厚度计算公式:D = L(Sinα×Cosβ×Sinγ±Cosα×Sinβ)式中D:地层真厚度(m)L:斜距(m)α:岩层(矿体)真倾角(°)β:地形坡度角(±°)γ:剖面导线与地层(矿体)走向线的锐夹角(°)(注:当坡向与岩层倾向相反时,公式中用加号计算;当坡向与岩层倾向相同时,公式中用减号计算。
地质编录

•
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•
剖面位置:经野外剖面踏勘后,将确定的剖面位置及起、止点标注 在手图上。剖面通过区如遇大片复盖,天然障碍或因构造破坏造成 测制意义不大的地段,则需平移,平移应按一定的标志层或实测顺 层追索为准,一般平移距离不大于500m,否则应另行测制剖面。
•
对一些面积大但矿体厚度小的沉积矿产,当 矿区地质图比例尺较小时(如1:10000和 1:25000),应考虑增加较大比例尺的矿体地质图 (或矿床地质图),其勘探线剖面图的比例尺亦 应调大。 实测剖面的分层精度可根据剖面的比例尺大 小确定。凡在剖面图上宽度达1mm的地质体均应 划分和表示,对于一些重要的或具特殊意义的地 质体,如标志层、化石层、矿化层、火山岩中的 沉积岩夹层等,如厚度达不到图上1mm,也应将 其放大到1mm表示。
7、实测剖面小结
• • • • • • • • • • • • • • 实测剖面工作结束后,应编写剖面小结,内容如下: 一、前言 叙述目的;剖面线位置、方向、坐标、测量方法;工作起止时间、工作单位、 主要工作人员;完成主要工作量:剖面长度、工程工作量、标本及样品数量、 剖面施测过程中的质量检查情况等。 二、地质成果 主要总结与成矿作用有关的地层、岩浆岩、构造。 1、地质背景:综述测区与成矿作用有关地层、岩浆岩、构造及矿产特征。 2、地层:依地层年代由老至新对剖面进行分层叙述。每一时代中地层可按地层 组合单位叙述其组合特征,再按不同岩性分层或填图单元详述岩性特征、接触 关系,特别是不整合接触或断层接触关系及标志层特征和分层的识别标志。 3、岩浆岩:岩浆岩形态、产状、岩性(岩相)组合、穿插关系、接触蚀变类型 及矿化情况。 4、构造:包括断裂及褶皱,分别描述其类型、性质、规模、形态、产状、对地 层或矿层破坏,以及控矿特征等。 5、矿产:含矿层、矿体及矿化线索应作详细叙述。 6、标志层特点及填图单元初步划分意见 7、新发现、新进展及新认识。 三、存在问题及建议 编写剖面小结时,不同矿区可根据实际情况,对剖面小结的内容作适当调整。
岩层真厚度在EXCEL上的一个简单计算公式

岩层真厚度在EXCEL上的一个简单计算公式: by comparing the existing several common reallythickness formula, find out a accurate and simplecalculation formula H = L x | Si n a x Cos B x Cos(入-phi) + Cos a x Sin B | . Use of EXCEL the form function relation, and write a program to get automatic calculation of the formula. One L-wire oblique distance;Alpha rock dip Angle; Beta terrain gradient Angle (plus or minus); 入-rock tendency; Azimuth Angle © -wires.Keywords: rock thickness, true thickness, slope to.、八、一前言迄今为止,关于地层真厚度的计算公式相关论文较多,各种公式形式和参数的选择也不尽相同。
本着公式准确且简单,参数为野外原始数据的原则,笔者对现在常用的几种真厚度公式进行了类比分析,数据验证、图解推导等工作。
现将文中出现的几种公式中参数统一定义,并明确其取值范围,见表1。
入一岩层倾向;8 —测线倾向方位角(坡向);© —导线前进方向(方位角);L—导线斜距;a —岩层真倾角;B —地形坡度角;B ‘一地形正坡角;Y—导线与地层走向的锐夹角;e —导线与地层倾向的锐夹角。
表1真厚度公式参数取值范围参数单位取值范围L (m) > 0入、3、©( ° ) 0 〜360B ( °) -90 〜90a、丫、e、(3 ( ° ) 0 〜90一、岩层真厚度计算的原始公式H =L X( Sin a x Cos 3 x Sin 丫土 Cos a x Sin 3 )(岩层倾向与地面坡向相反时用“ +”,相同时用“ -” ) “该公式最早是由苏联列昂托夫斯基提出《武汉地质学院,1979》” [6]。
测井方法原理复习思考题

测井方法原理复习思考题(电法部分)一、名词解释1、频散2、地层因素3、电阻增大系数4、自然电位5、静自然电位 6、扩散电动势 7、扩散吸附电动势 8、均匀各向同性的介质 9、径向阶跃介质 10、纵向阶跃介质 11、电位电极系 12、底部梯度电极系 13、梯度电极系的电极距 14、电极系互换原理 15、电极系的探测深度 16、视电阻率 17、高侵与低侵 18、标准测井 19、传播效应20、介质极化 21、介电常数二、选择与填空1.测井技术的发展经历了个阶段,分别是。
2.电磁测井中,采用的电学性质表征参数有。
3.在现有的电磁测井方法中,电信号的频率由低到高依次是。
4.不同岩石电阻率不同,岩石电阻率大小主要取决于下列因素。
5.阿尔奇地层因素实验——选一块孔隙度为F、不含泥质的岩样,改变岩样孔隙中水的电阻率,测试发现。
6.在自然电位测井中,自然电位由等三种电动势构成。
7.在相同情况下,含泥质地层的自然电位负异常幅度纯地层的自然电位负异常幅度。
8.在普通电阻率测井中,当仪器从低阻地层穿过界面到高阻地层,经过界面时,其测井响应出现极大值,那么,这种仪器的电极系是。
9.在普通电阻率测井中,当仪器从高阻地层穿过界面到低阻地层,经过界面时,其测井响应出现极大值,那么,这种仪器的电极系是。
10.微梯度探测深度,主要反映的电阻率,微电位探测深度,主要反映电阻率。
11.深、浅侧向电极系的尺寸完全一样。
它们的不同之处在于就构成了浅侧向电极系。
这样,深、浅侧向的是相同的,且受影响基本一样。
12.在普通电阻率测井与侧向测井中,所测到的视电阻率是由构成的。
13.感应测井横向积分几何因子的物理意义是。
14.感应测井纵向积分几何因子的物理意义是。
15.在感应测井中,所测到的视电导率是由构成的。
16.RLLD表示,RLLS表示,RILD 表示,RILM表示。
17.应用感应测井资料确定地层厚度时,一般采用确定地层的厚度,即当地层厚度大于3m时,所确定的厚度地层真厚度,当地层厚度小于3m时,所确定的厚度地层真厚度。
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2.2.2地层厚度表征
地层厚度与深度参数很多,以地层厚度为例,操作流程如下:
2.2.2.1从单井提取数据地层厚度表征
1地层厚度提取
选择“平面层”模块,连续选择“ 平面层井数据提取”,弹出对话框,选择“层属性
提取”界面。
平面层选择相应层名,厚度属性选择“地层厚度”,结果属性选择“地层厚度”,点击“生成数据”完成。
右键点击平面层原始数据里的“井点:地层数据”,可以查看所提取数据。
说明:提取数据时,平面层选择可以根据研究需要选择一个,也可以选择多个或者全部选择。
2地层厚度斜井校正
储量计算参数,如有效厚度及含油饱和度的平面分布表征方法与前述的储层参数表征方法既有相似之处,又有较大的区别。
主要差别在于储层参数如孔隙度、渗透率主要受沉积相
(或岩相)的控制,而有效厚度,在插值计算其平面分布时,要考虑储层(砂体)分布范围、断层边界以及油水界面的影响。
因此,储层参数的表征多注重于“相控插值”,而储量计算参数表征则需强调多边界的控制作用。
特别是对于断块油藏,在断块边界处,有效厚度与含油饱和度不为零值,其分布趋势为边界处突变;而对于油水边界处,有效厚度与含油饱和度为零值,其趋势是渐变的。
因此,对于断块油藏,必须特别标示断层位置。
本类插值计算的方法也很简便,在基本设置之上,选择“断层控制”即可。
在地层倾角较大时,需要对大斜度井计算的砂体垂直厚度(有效厚度)进行校正。
操作方法如下:
在需要斜井厚度校正的平面层上点击右键弹出快捷菜单;
选择“井点(斜井)厚度校正”下列菜单,弹出如下对话框,在属性列表中可以选择待校正属性(如有效厚度,砂体厚度),在“校正井选择”列表中可以自定义选择或按井组选择被校正井,然后点击“执行校正”按钮;
执行校正后,系统弹出如下校正结果显示框,点击“结果保存”按钮可以保存校正结果。
说明:系统首先根据地层和斜井的相交状态计算出地层真垂厚,同时生成校正系数,然后根据所选属性值和校正系数的乘积可以计算出属性的校正值。
c地层真厚度计算
操作方法如下:
选择相应平面层,右键弹出下拉菜单,选择“井点地层真厚度计算”,弹出对话框,在对话框中选择所有井,执行即可。