双晶探头调校方法

双晶探头探伤方法

将探头连接到仪器上，按进入参数菜单，用或者

方向键将光标移动至“工作方式”，按将工作方式由单晶方式改为双晶方式，按返回探伤界面。

按键，此时屏幕下方提示“请输入材料声速：5940m/s”，按，又提示“请输入起始距离：50mm”，此时将50改为25，再按，再提示“请输入终止距离：100mm”，此时将100改为50按。这时进入自动校准过程。

将CSK-ⅠA试块平放，再将探头平放在T=25mm的大平面上，再按住调节零偏，将两次反射波移动到屏幕上的闸门内（一次波移到闸门1中，二次波移到闸门2中），再按键将波形自动增

益到80%波高，在按，仪器就开始自动校准，当仪器屏幕上显示“自动校准完毕”后，调校工作结束，可以进行探伤。

注：1.双晶探头的最大灵敏度在焦点处

2.双晶探头适合寻找在焦距范围内的厚度的工件的缺陷

3.双晶探头也是用半波法来确定缺陷的边缘的