等离子体增强化学气相沉积设备PECVD配置和技术指标
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等离子体增强化学气相沉积设备(PECVD)配置和技术指标
1.系统描述
1.1设备主要功能及特点
设备利用平板电容式辉光放电原理,将通入沉积室的工艺气体解离并产生等离子体,被解离的基团在等离子体中重新发生化学反应,在具有一定温度的基片上沉积形成薄膜。经外加电磁场,可根据工艺调节等离子体的密度和能量,精确控制薄膜的生长速率和微结构。
1.1.1可生长材料(可选配):
❖硅基(Si)薄膜:非晶硅(a-Si)、多晶硅(poly-Si)、氧化硅(SiO x)、氮化硅(Si x N y)等
❖碳基(C)薄膜:石墨、类金刚石(DLC)、碳纳米管(CNTs)、碳纳米线(CNWs)等
❖硅锗合金(SiGe)、钨硅合金(WSi2)、W、SiC
1.1.2上下极板间距1~6cm范围内在线可调。
1.1.3系统采用计算机控制,液晶显示屏、鼠标键盘操作,Windows会话界面,操作简单
方便,并支持自动控制和手动控制两种方式,可实现真空系统及工艺过程全自动化操作。
1.2系统组成及设备结构
设备主要由高真空沉积室、真空获得系统、真空测量系统、电源系统、气路系统、恒压系统、电气控制系统、自动控制系统、报警系统等部分组成。
1.2.1高真空沉积室
真空沉积室采用SS304优质不锈钢制造,桶形卧式结构,上升盖形式。放电电极采用平行平板电容式结构,上部为带有喷淋式多层匀气盘的射频阴极,下部为可加热的阳极工件台。上下电极间距可在线自动调节,调节范围1~6cm。
1.2.2真空获得系统
样片室为低真空系统,由一台直联旋片式真空泵抽气。
真空沉积室通过一台分子泵及一台直联旋片式真空泵组成抽气系统,将真空室抽至高真空,分子泵与真空室之间由一台超高真空气动插板阀连接。直联旋片式真空泵出气口带有N2稀释管道。
1.2.3真空测量系统
系统配有一台数字显示复合真空计,低真空、高真空数据分别由电阻规和电离规测量。
1.2.4恒压系统
腔体开有一个旁路抽口,通过一个碟型压力调节阀连接至罗茨泵,经进口薄膜规测量,由恒压控制软件控制,用于在薄膜沉积时维持压力恒定。
1.2.5电源系统
设备配置一台500W射频(13.56MHz)电源及自动匹配器,射频输出功率采用全自动控制。
1.2.6样片加热系统
采用铠装加热器,加热温度~600℃,PID自动测温、控温,多段控温模式,控温精度±1%。
1.2.7气路系统
设备标准配置采用4台质量流量控制器控制4路气体进气,通过选配最多可加至6路气体。气体管路采用1/4英寸316L不锈钢硬管,管路接头连接形式采用VCR 或双卡套密封。
设备配置一个电磁充气阀,可连接干燥N2用于解除真空。
1.2.8自动控制系统
自动控制系统采用PLC、工控机、上位机控制软件共同控制,配置液晶显示屏,由无线鼠标键盘操作,Windows风格会话界面,操作简洁直观。操作者可选择全自动及非全自动模式。
系统开放了工艺编程端口,用户可根据实际使用需求设置不同的工艺参数,即可实现真空系统及工艺过程全自动化操作。
系统配有设备运行参数记录功能,可对设备的每一步操作进行数据采集,实时
监控设备运行状态。
1.2.9安全保护及自动报警系统
设备设有互锁、异常断电自动记忆、自动工艺编程校验等安全保护措施,使非恶意的人为操作失误不会导致系统硬、软件的损坏。系统支持诸如缺水故障、分子泵故障、通讯故障等情况下的自动报警。
2.主要技术指标
2.1真空室数量:单室,不锈钢桶形卧式结构,上掀盖形式
2.2极限真空:优于6.67×10-5Pa(环境湿度≤55%,系统经烘烤除气)
2.3系统漏率:优于6.67×10-7Pa·L/s。
2.4升压率:停泵关机12小时后真空度小于5Pa。
2.5抽气速率:短暂开腔后,由大气抽至5×10-3Pa时间小于15分钟,抽至5×10-4Pa时
间小于40分钟。
2.6可沉积材料:
❖硅基(Si)薄膜:非晶硅(a-Si)、多晶硅(poly-Si)、氧化硅(SiO x)、氮化硅(Si x N y)等
❖碳基(C)薄膜:石墨、类金刚石(DLC)、碳纳米管(CNTs)、碳纳米线(CNWs)等
❖硅锗合金(SiGe)、钨硅合金(WSi2)、W、SiC
2.7沉积速率:0.1~100nm/min(视具体工艺)
2.8薄膜不均匀性:Φ150mm范围内优于±5%
2.9沉积室规格:Φ360×230mm
2.10工件台尺寸:Φ200mm
2.11匀气盘尺寸:Φ150mm
2.12上下电极间距:1~6cm范围内自动在线可调
2.13样片大小及数量:最大Φ150mm尺寸样片1片
2.14射频电源:1
3.56MHz,500W,自动匹配
2.15气路:标准4台MFC控制4路气体单独进气,最多可选至6路。1/4英寸316L不锈
钢硬管,VCR或双卡套密封。
2.16主工艺气体配置(可选配):
硅基(Si)薄膜:SiH4、CH4、H2、N2O、CO2、NH3、N2、Ar、B2H6、PH3
碳基(C)薄膜:CH4、C2H2、H2、Ar
其他:WF6、GeH4
工件台加热:铠装加热器,加热温度~600℃,PID自动测温、控温,多段控温模式,控温精度±1%
2.17保修期:整机保修叁年,终身维修服务。
3.设备配置