元器件的寿命推算

元器件的寿命推算

电子元器件的寿命特性实际上都可以用“浴盆形”曲线恰如其分地表示。本节讨论曲线的第一部分，钽电容即元器件的早期失效问题，它直接影响电子设备寿命的“夭折”或“早期失效”。经验表明，通常一台新制造的设备在其寿命周期的早期发生的故障较多，即在装配、测试和启动过程中出现的故障多于以后在现场使用时期的故障。其中一个重要的原因是从供应者得到的元器件常包含一些不耐用产品，这些不耐用产品会在部件或设备整机的初始试验中或在设备的初期使用中发生失效，引起设备故障。

为了消除或减少电子设备在早期使用中出现的故障，对电子元器件需要采用质量检验和筛选试验。质量检验就是通过目检和试验测试以减少元器件生产线中不合格产品的数量TDK电感筛选试验是通过施加应力的办法剔除劣质元器件以减少早期失效率，即在经过选择的情况下，使用一种预先规定的“老化”周期来筛选出不耐用的元件或器件。这种方法用于特别注重日靠性的场合。

可靠性筛选的目的是尽快地缩短早期失效期，将早期失效率减少到可接受的水平。元器件级的时间应力的应用。通过比较表明，可靠性筛选减少了元器件的失效率。它还表明在125℃进行1OOh筛选试验与100℃下进行240h筛选试验的失效率是相似的。

“筛选”的含义就是对电子元器件进行·种应力试验或多种应力试验，发现器件的固有薄弱环节KEMET（从而发现早期失效），而不损坏良好器件的整体特性。当这种试验用于由同样方法生产的一组同类器件时，可用来确定这一组中的较差器件而不损坏这组中“良品”器件的结构或完

成功能的能力。

筛选的原理是：如果应力水平选择适当，劣质器件发生失效，而优质器件则能通过。如果把发生失效的器件从该组中剔出，那么，剩下的器件就可以在正常额定工作条件下能经受逸种应力，因此认为它们的可靠性是可以接受的。

筛选可由元器件生产厂或用户在自己的试验设备上进行，也可以在独立的实验室进行。无论谁来进T491V107K006AT行筛选试验，用户首先应该熟悉卖方出售的元器件产品在正常生产中所使用的筛选试验的条件和功效。如果这样的筛选试验存在并且有效，则可根据需要确定是否要作更多的筛选试验来补充必要的试验。如果卖方的试验不令人满意，则筛选方案应该是一组根据实际使用条件设计的全面试验。

输出特性

a．SSR给出的最大额定输出电流一般指常温下或常温到高温下的最大额定输出电流，而且对大于10A的继电器还指带有规定散热器时的最大额定输出电流。对功率型SSR，当工作温度上升或不带散热器时，最大输出电流相应下降。对此，各种SSR蚜给出不带或带规定散热器的输出电流与环境温度的关系曲线（该曲线又叫热降额曲线）。

b．当负载很轻，T491C107K006A T即负载电阻或阻抗很大时，接通时的输出电流下降，该电流与关断状态下的漏电流之间的比值下降。对于交流SSR这时的漏电流可能会使接触器嗡嗡作响，或使电机继续运转；当输出电流小于最小额定电流时，SSR的直流失调电压和波形失真都会超过规定值，输出电流过小，也会使输出可控硅不能在规定的零电压范围内导通。

为了改善这种状况，可以在负载两端并联一定的电阻、阻容或灯泡。

如果已知或怀疑有特定的失效模式或机理时，应选择一些特定的筛选试验来检查验证这些不可靠因素。hymsm%ddz