USB_Device Test Procedure
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TektronixP6248或其它差分探針*1
Tektronix P6245場效應管探針*2
Tektronix TCA to BNC電源適配器*3
TDS7000Deskew制具*1
(2)電流表*1
(3ห้องสมุดไป่ตู้1MUSB電纜*5
(4)電腦*1Windows2000 or XP,
configured with High-speed Electrical Test Tool Software , EHCI Driver Stack and Tektronix USB2.0 Compliance test software.
21.測試結果將顯示在示波器屏幕上﹐而且會記錄在一個HTML報告中﹐保存到硬盤。觀察Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall time和Eop width是否都PASS.
22.將S6回到原來位置﹐測試指示燈滅。
3-2 Device Full-speed Signal Quality Test
圖1Device High-speed Signal Quality Test
1.打開示波器﹐預熱20分鐘。
2.在示波器屏幕上選擇File → Run application → USB 2.0 compliance test package.
3.示波器﹐按下Default setup按鈕.
4.在applications menu bar選擇File→recall default
5.在Measurement select菜單下選High speed.
6.在Signal quality區域選擇測試內容﹕Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall time和Eop width.
7.在Device ID和Devicedescription對話框中分別輸入Device ID和Device描述。
12.將差分探針接到J36,正極連D+。
13.在電腦上運行High speed electrical test tool程序﹐
14.在主菜單界面選擇”device”,按下”test”按鈕。
15.在test界面﹐按下enumerate按鈕﹐連接的DUT將被識別出現在列表當中。
16.在device command下拉菜單中選TEST_PACKAGE.按下”execute”. DUT開始傳送測試包。
3.測試步驟
3-1. Device High-speed Signal Quality Test
將diff probe接到Channel 1,將兩個FET probe接到Channel 2和Channel 3.
FET probe必須經過校准來盡量減小誤差﹐而diff probe誤差則需要通過軟件來消除﹐在TDSUSB軟體開啟后﹐選擇:Utilities→Deskew,設置為Attenuation<÷1>.
7.按下Configure,然後選擇Tier 6, Up-streamandFar End.點選
Source,選擇所要用的Input Channel.
8.按下 按鈕,此時可看到Full-Speed的波形.
9.按下OK.
3-3 Inrush Current Test
1.先將治具Inrush Port的Switch切到DUT OFF.
1.第一層HUB必需用2.0的HUB.連接探針channel 1→D-, channel 2→D+, channel 3→D+.
i
2.執行HS Electrical Test Tool軟體.
3.選擇Device,按Test.
4.當測試畫面出現﹐按下enumerate按鈕﹐這將生成一個列表。所有連到Host controller的device將顯示在列表當中。
2.執行TDSUSB2軟體,選擇Inrush Current.
3.選擇Configure﹐輸入Vbus電壓,選擇Source﹐選擇所要用的
input Channel.
4.按下 按鈕.
5.將Trig Level往上調到適當的level (一般為一格).
6.將治具上的Switch切到DUT ON,此時應可看到波形.
USB Device Test Procedure
1.測試項目
(1) Device High speed signal quality
(2) Device Full speed signal quality
(3) Inrush current
2.測試設備
(1)數字示波器﹕
Tektronix TDS7404或7254數字示波器* 1
17.將S6打到test位﹐檢查測試指示燈點亮。
18.按下 按鈕﹐注意屏幕上有沒有顯示”clipping”,如果有﹐調節振幅直到”clipping”消失。波形未正確之前不要按”OK”.
19.觀察示波器上波形﹐被測端口此時正在傳送數據包。適當調節trigger level.
20.如果測試包顯示正常﹐按下ok.
8.按下”configure”按鈕﹐如果設備有電纜﹐選擇”upstream and far end”,如果沒有﹐選擇”near end”.
9.接5V電壓到測試制具上的J38.
10.檢查靠近J38的紅色電源指示燈是否點亮。
11.將device連到制具SQ部分的USB cable dongle,將電腦與制具上Init端口相連。
7.按下OK.
5.選中要測試的Device,在Device command下拉菜單中選擇Loop Device Descriptor,按下EXECUTE.
5.執行TDSUSB2軟體﹐選擇Full speed.
6.在Signal quality區域選擇測試內容﹕Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall time﹐Eop width﹐Paired JK Jitter, Paired KJ Jitter, Consecutive Jitter和Cross Over。
Tektronix P6245場效應管探針*2
Tektronix TCA to BNC電源適配器*3
TDS7000Deskew制具*1
(2)電流表*1
(3ห้องสมุดไป่ตู้1MUSB電纜*5
(4)電腦*1Windows2000 or XP,
configured with High-speed Electrical Test Tool Software , EHCI Driver Stack and Tektronix USB2.0 Compliance test software.
21.測試結果將顯示在示波器屏幕上﹐而且會記錄在一個HTML報告中﹐保存到硬盤。觀察Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall time和Eop width是否都PASS.
22.將S6回到原來位置﹐測試指示燈滅。
3-2 Device Full-speed Signal Quality Test
圖1Device High-speed Signal Quality Test
1.打開示波器﹐預熱20分鐘。
2.在示波器屏幕上選擇File → Run application → USB 2.0 compliance test package.
3.示波器﹐按下Default setup按鈕.
4.在applications menu bar選擇File→recall default
5.在Measurement select菜單下選High speed.
6.在Signal quality區域選擇測試內容﹕Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall time和Eop width.
7.在Device ID和Devicedescription對話框中分別輸入Device ID和Device描述。
12.將差分探針接到J36,正極連D+。
13.在電腦上運行High speed electrical test tool程序﹐
14.在主菜單界面選擇”device”,按下”test”按鈕。
15.在test界面﹐按下enumerate按鈕﹐連接的DUT將被識別出現在列表當中。
16.在device command下拉菜單中選TEST_PACKAGE.按下”execute”. DUT開始傳送測試包。
3.測試步驟
3-1. Device High-speed Signal Quality Test
將diff probe接到Channel 1,將兩個FET probe接到Channel 2和Channel 3.
FET probe必須經過校准來盡量減小誤差﹐而diff probe誤差則需要通過軟件來消除﹐在TDSUSB軟體開啟后﹐選擇:Utilities→Deskew,設置為Attenuation<÷1>.
7.按下Configure,然後選擇Tier 6, Up-streamandFar End.點選
Source,選擇所要用的Input Channel.
8.按下 按鈕,此時可看到Full-Speed的波形.
9.按下OK.
3-3 Inrush Current Test
1.先將治具Inrush Port的Switch切到DUT OFF.
1.第一層HUB必需用2.0的HUB.連接探針channel 1→D-, channel 2→D+, channel 3→D+.
i
2.執行HS Electrical Test Tool軟體.
3.選擇Device,按Test.
4.當測試畫面出現﹐按下enumerate按鈕﹐這將生成一個列表。所有連到Host controller的device將顯示在列表當中。
2.執行TDSUSB2軟體,選擇Inrush Current.
3.選擇Configure﹐輸入Vbus電壓,選擇Source﹐選擇所要用的
input Channel.
4.按下 按鈕.
5.將Trig Level往上調到適當的level (一般為一格).
6.將治具上的Switch切到DUT ON,此時應可看到波形.
USB Device Test Procedure
1.測試項目
(1) Device High speed signal quality
(2) Device Full speed signal quality
(3) Inrush current
2.測試設備
(1)數字示波器﹕
Tektronix TDS7404或7254數字示波器* 1
17.將S6打到test位﹐檢查測試指示燈點亮。
18.按下 按鈕﹐注意屏幕上有沒有顯示”clipping”,如果有﹐調節振幅直到”clipping”消失。波形未正確之前不要按”OK”.
19.觀察示波器上波形﹐被測端口此時正在傳送數據包。適當調節trigger level.
20.如果測試包顯示正常﹐按下ok.
8.按下”configure”按鈕﹐如果設備有電纜﹐選擇”upstream and far end”,如果沒有﹐選擇”near end”.
9.接5V電壓到測試制具上的J38.
10.檢查靠近J38的紅色電源指示燈是否點亮。
11.將device連到制具SQ部分的USB cable dongle,將電腦與制具上Init端口相連。
7.按下OK.
5.選中要測試的Device,在Device command下拉菜單中選擇Loop Device Descriptor,按下EXECUTE.
5.執行TDSUSB2軟體﹐選擇Full speed.
6.在Signal quality區域選擇測試內容﹕Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall time﹐Eop width﹐Paired JK Jitter, Paired KJ Jitter, Consecutive Jitter和Cross Over。