光滑塞规内校记录

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光滑极限量规教程（塞规-检具）

光滑极限量规教程（塞规-检具）第6章光滑极限量规6.1概述检验光滑工件尺寸时，可用通用测量器具，也可使用极限量规。

通用测量器具可以有具体的指示值，能直接测量出工件的尺寸，而光滑极限量规是一种没有刻线的专用量具，它不能确定工件的实际尺寸，只能判断工件合格与否。

因量规结构简单，制造容易，使用方便，并且可以保证工件在生产中的互换性，因此广泛应用于成批大量生产中。

光滑极限量规的标准是GB/T 1957-2006。

光滑极限量规有塞规和卡规之分，无论塞规和卡规都有通规和止规，且它们成对使用。

塞规是孔用极限量规，它的通规是根据孔的最小极限尺寸确定的，作用是防止孔的作用尺寸小于孔的最小极限尺寸；止规是按孔的最大极限尺寸设计的，作用是防止孔的实际尺寸大于孔的最大极限尺寸，如图6.1所示。

卡规是轴用量规，它的通规是按轴的最大极限尺寸设计的，其作用是防止轴的作用尺寸大于轴的最大极限尺寸；止规是按轴的最小极限尺寸设计的，其作用是防止轴的实际尺寸小于轴的最小极限尺寸，如图6.2所示。

图6.1塞规检验孔图6.2环规检验轴量规按用途可分为以下三类：1）工作量规工作量规是工人在生产过程中检验工件用的量规，它的通规和止规分别用代号“T”和“Z”表示。

2）验收量规验收量规量是检验部门或用户代表验收产品时使用的量规。

3）校对量规校对量规是校对轴用工作量规的量规，以检验其是否符合制造公差和在使用中是否达到磨损极限。

6.2量规设计6.2.1极限尺寸判断原则（泰勒原则）单一要素的孔和轴遵守包容要求时，要求其被测要素的实体处处不得超越最大实体边界，而实际要素局部实际尺寸不得超越最小实体尺寸，从检验角度出发，在国家标准“极限与配合”中规定了极限尺寸判断原则，它是光滑极限量规设计的重要依据，阐述如下：孔或轴的体外作用尺寸不允许超过最大实体尺寸。

即对于孔，其体外作用尺寸应不小于最小极限尺寸；对于轴，其体外作用尺寸不大于最大极限尺寸。

任何位置上的实际尺寸不允许超过最小实体尺寸。

量具内校规范 (2)

变更履历为了正确实施校准与计量分析活动，提高计量数据得信赖性，特制定本标准。

2 范围适用于公司内长度类量具（如卡尺、内径量表、高度尺）、塞规得内部校准。

3、职责：使用单位：负责送量具校验员：负责对量具进行校验并填写校验报告及制定校验计划4 校验仪器及设备外检合格得千分尺，外校合格得标准量块,三坐标测量机（可追溯符合国家或国际标准），大理石品台等。

5 校验5、1卡尺5、1、1 参考标准JJG 30-2012 通用卡尺检定规程5、1、2 环境条件5、1、2、1 温度: 20 ±5 ℃5、1、2、2 湿度: ≤80 %RH5、1、2、3 校准前应将标准器及被校仪器置于校准室内1小时以上；校准时需戴好细纱手套；5、1、3校正时机：依据校正计划（半年一次）与使用频率。

5、1、4校正项目：5、1、5 校验步骤：5、2 高度尺5、2、1 参考标准JJG 31-2011 高度卡尺检定规程5、2、2 环境条件5、2、2、1 温度: 20 ±5 ℃5、2、2、2 湿度: ≤80 %RH5、2、2、3 校准前应将标准器及被校仪器置于校准室内1小时以上；校准时需戴好细纱手套；5、2、3校正时机：依据校正计划（半年一次）与使用频率。

5、2、4 校正项目5、2、5 校验步骤：5、3光面塞规5、3、1 参考标准JJG 343-2012 光滑极限量规检定规程5、2、2 环境条件5、2、2、1 温度: 20 ±3 ℃5、2、2、2校准前应将标准器及被校仪器置于校准室内1、5小时以上；校准时需戴好细纱手套；5、2、3校正时机：依据校正计划（三个月一次）与使用频率。

、。

2019年最全仪器设备内校作业规程附内校记录表（汇编）

2019年最全仪器设备内校作业规程附内校记录表（汇编）图1 图2 图35.10.8本次校准的技术依据参考：JJG539-2016《数字指示称检定规程》；5.10.9校准完成后填写《校验记录表》；5.10.10校准不合格且不能使用的电子称由使用部门申请报废。

5.11 DC电源内校作业细则5.11.1 内校工具：外校合格的万用表，外校合格的电源；5.11.2 校准环境：温度20±10℃、湿度≤80%RH；将万用表进行预热。

一般预热30分钟即可；5.11.3查验被校电源的按键，线材，显示屏等各部件是否完好；5.11.4用外校合格的万用表与待校准电源的直流输出电压进行测量，直流输出电压的标准值（标准万用表测量结果）与量测值（被校准的电源显示值）之差即为偏差值。

偏差值应在该型号直流电源的电压显示精度范围内则合格。

5.11.5 如0～30V测量范围之可调直流电源，则可在其量程范围内均匀设置10V、20V、30V三个测量点来测量直流输出电压显示精度。

5.11.6被测电源与电压标准源并联在同一负载上（也可不使用负载），标准电表档位开关打在DC电压档。

通过调节被测电源的直流电压输出，观察其显示数字与标准电压源的显示数字，若两者间差异在被测电源的显示精度内，则合格。

如被测电源其电压显示精度为±0.01V；如调节被测电源电压为10.0V，则其显示精度为10+（±10*0.01±0.1）=10±0.2V;若此时标准电压源显示为9.8～10.2V，即合格；若标准电源显示为9.7V或10.3V，则不合格。

5.11.7使用外校合格之电流校准源对待校准之电源的直流输出电流进行测量，直流输出电流之标准值（标准电表测量结果）与量测值（被校准之电源显示值）之差即为偏差值。

偏差值应在该型号直流电源之电流显示精度范围内则合格。

5.11.8本次校准的技术依据参考：JJF1597-2016《直流稳定电源校准规范》；5.11.9校准完成后填写《校验记录表》；5.11.10校准不合格的电源由使用部门写维修单到设备部进行维修，修不好不能使用的电源由使用部门申请报废。

塞规环规检定规程修改版

为了对公司所需的各种环规和塞规进行有效地控制和管理，确保监测结果有效，为产品符合要求提供保证，特制定环规塞规检定规程，本规程适用于公司所需的环规和塞规
1、光滑塞规：首先观察塞规的形状，确认其是否有明显的变形或者磨损，若有明显的变形或者磨损立即停止使用，做报废处理；若没有明显的变形或者磨损，用检定合格的带表卡尺或者千分尺测量通端和止端的外径（至少测量4点），其通止端的尺寸范围应该符合表一的规定（其公差要求见表一）
2、螺纹塞规：先检查塞规通端和止端的牙型和表面状态是否完好，如果塞规的通端和止端的牙型和表面有明显的变形或者损伤应该停止使用该检具，重新更换。

如果表面状况良好则用与之相配套的标准检具进行检验，如果塞规合格，则其通端应该能够顺利的完全通过标准检具，而其止端不能完全通过。

否则该塞规即判为不合格，应立即停止使用，做报废处理。

3、螺纹环规：先检查环规的内表面的螺纹沟槽里面是否有油污等杂质，在校准环规前应该先对环规进行清洁处理，以确保内螺纹清晰可见。

检查内螺纹的表面是否完整，有明显磨损，若有则该环规应立即停止使用，做报废处理。

若表面状况良好，则应用与之相配套的标准检具对其进行校准，若环规的通端能够完全通过标准检具，而止端不能够完全通过，则判定该套环规合格，能够使用。

否则该套塞规即判为不合格，应立即停止使用，做报废处理。

4、校准周期：光滑塞规，螺纹塞规和螺纹环规校准周期为6个月
表一：光滑塞规通端止端允差表H8级单位：㎜
相关表单：《检测设备台账》（ZZ/QR-7.6-01）
《检测设备周期检定计划表》（ZZ/QR-7.6-02）
《检测设备周期检定计录表》（ZZ/QR-7.6-03）。

计量器具内校规程

计测器内校管理程序1、硬度计的内校程序（1）、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV。

②布氐其计算符号为HB，③洛氐其计算机符号为HR三者之结构大致相同。

是由以下结构组成如图（一）所示：（2）、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。

（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。

（4）、校准步骤：（5）、判定标准：表示值误差不超过±0.02，即为合格。

（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。

②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

2、深度尺内校程序：（1）、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图（二）所示：（2）、校准基准：标准量块（外校合格的标准块）。

（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。

（4）、校准步骤：（5）、判定标准：表示值误差不超过±0.04MM即判为合格。

（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。

②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

3、高度尺内校程序：（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图（三）所示：（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。

（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。

（4）、校准步骤：（（6）、记录保存：①、校准合格后，贴上校准标签。

②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。

③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。

4、外径千分尺内校程序：（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。

自制塞规校验规程

自制塞规校验规程1.0目的为确保检验﹑测量和试验用的自制塞规能溯源至国家标准，保持其量值的准确可靠，规范内校操作，特制订本内校操作规范。

2.0范围本公司0-100㎜范围的自制塞规均适用。

3.0校验设备千分尺。

大理石平台。

工业酒精。

棉花棒。

棉纱手套、碎布。

使用时必须保证手、机工件的清洁。

所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格，每年需校准一次。

并在校准有效期内使用。

4.0环境条件室内温度要求控制在20±5℃，湿度控制在60±15 RH%。

5.0校验方法5.1外观：5.1.1要求：塞规表面应无锈蚀、碰伤或其它缺陷，不得有磁性，使用中及修理后允许有不影响使用准确度的外观缺陷。

5.1.2方法：目视5.2塞规圆度：5.2.1要求：塞规的圆度要求控制在0.005以内。

5.2.2方法：用外径千分尺对塞规的同一截面在相互垂直的两个方向进行检定,大于20mm的在45度四个方向进行检定,最大与最小检定之差的一半即为塞规此截面的圆度。

5.3尺寸误差：5.3.1要求：自制塞规通端基本尺寸应为被检尺寸下限尺寸,公差为+0.005/0mm自制塞规止端基本尺寸应为被检尺寸上限尺寸,公差为0/-0.005mm5.3.2方法：塞规以1级外径千分尺在塞规通端及止端的口部和根部沿不同方向测出的最大值即为检定尺寸。

5.4允收标准5.4.1塞规允收标准：塞规规格允收标准0.01～0.06以下±0.0050.06～0.1以下±0.0060.1～0.35以下±0.0080.35～0.65以下±0.0100.65～3.0以下±0.0155.4.2被校塞规各项要求均符合本指导书中相应项目的要求，则说明该塞规校准合格，否则为校准不合格。

合格的贴上绿色合格标签，不合格的注明不合格项，并贴上蓝色限用标签。

5.4.2计量校准不合格的允许降级处理或限制使用。

5.4.3校准证书及其原始记录资料至少保存3年。

光滑塞规光面塞规安全操作及保养规程

光滑塞规光面塞规安全操作及保养规程光滑塞规和光面塞规是在工业生产过程中常用的量具工具，因此保证光滑塞规和光面塞规的正确使用和保养，对于工业生产和质量控制非常重要。

正确的操作和保养可以延长量具工具的使用寿命，提高生产效率，确保产品质量。

在本文中，我们将详细介绍光滑塞规和光面塞规的安全操作及保养规程。

光滑塞规的安全操作规程光滑塞规是一种用于测量孔径的精密工具，正确的操作可以确保测量结果的准确性。

以下是光滑塞规安全操作规程：步骤1：检查光滑塞规的准确性在使用光滑塞规之前，需要先检查塞规的准确性。

这可以通过参考塞规的标准尺寸进行比较来实现。

如果测量结果与标准尺寸存在较大误差，则说明光滑塞规存在问题。

建议定期检查光滑塞规以确保其准确性。

步骤2：选择正确的量程在使用光滑塞规时，需要选择正确的量程。

过大或者过小的量程都会导致测量结果不准确。

应根据待测孔径的大小选择合适的测量范围。

步骤3：正确放置光滑塞规正确放置光滑塞规非常重要。

在将光滑塞规放入孔内之前，应清洁孔壁以保证光滑塞规可以顺利插入。

塞规应垂直于孔壁放置，并轻轻旋转以确保安装到位。

步骤4：读取测量结果当光滑塞规正确安装到孔内后，需要通过读取刻度盘上的刻度线来确定测量结果。

应该注意不要太用力转动刻度盘，以防止将测量结果偏移。

步骤5：保护光滑塞规在使用过程中，应尽量避免碰撞或者摔落光滑塞规。

塞规应放置在干燥、清洁的地方，可以用特别设计的保护盒或者套子储存，避免防尘、防潮等。

光面塞规的安全操作规程光面塞规是用于测量零件的表面平整度和表面装配尺寸精度的工具。

以下是光面塞规安全操作规程：步骤1：检查光面塞规的准确性在使用光面塞规之前，需要先检查塞规的准确性。

这可以通过参考塞规的标准尺寸进行比较来实现。

如果测量结果与标准尺寸存在较大误差，则说明光面塞规存在问题。

建议定期检查光滑塞规以确保其准确性。

步骤2：选择正确的量程在使用光面塞规时，需要选择正确的量程。

过大或者过小的量程都会导致测量结果不准确。

光滑塞规的使用方法

光滑塞规的使用方法第一篇：光滑塞规的使用方法光滑塞规的使用方法光滑塞规是一种用来测量工件内尺寸的精密量具，光面塞规做成最大极限尺寸和最小极限尺寸两种。

它的最小极限尺寸一端叫做通端，最大极限尺寸一端叫做止端，在测量中通端塞规应通过小径，且止端塞规则不应通过小径。

光面塞规规格：Ф3—Ф500mm，特殊型号可以定做。

下面给大家介绍一下光滑塞规的使用方法：1、使用前先检查塞规测量面，不能有锈迹。

丕锋、划痕、黑斑等；塞规的标志应正确清楚。

2、塞规的作用必须在周期检定期内，而且附有检定合格证或标记，或其它足以证明塞规是合格的文件。

3、塞规测量的标准条件：温度为20°C，测力为0。

在实际使用中很难达到这一条件要求。

为了减少测量误差，尽量使用塞规与被测件在等温条件下进行测量，使用的力要尽量小，不允许把塞规用力往孔里推或一边旋转一边往里推。

4、测量时，塞规应顺着孔的轴线插入或拔出，不能倾斜；塞规塞入孔内，不许转动或摇晃塞规。

5、不允许用塞规检测不清洁的工件。

第二篇：使用方法第42卷第1期微电子学Vol.41, No.1 模板使用方法：请将文章拷贝到模板里，选择“格式”菜单中的“样式和格式”命令，然后再按本说明选择相应的格式。

“文章篇名”选样式中的｛中文题名｝“作者姓名”选样式中的｛中文作者名｝“作者单位”选样式中的｛中文作者单位｝摘要（选样式中的｛摘要｝）：摘要内容选样式中的｛中文摘要内容｝关键词（选样式中的｛摘要｝）：关键词内容选样式中的｛中文摘要内容｝中图分类号：（根据《中国图书馆分类法（第四版）》，可在学校图书馆或因特网上查到）文献标识码：A文章编号（选样式中的｛编号｝：1004-3365（2012）“英文题名”选样式中的｛英文题名｝“作者英文名”选样式中的｛英文作者名｝“英文作者单位”英译文选样式中的｛英文作者单位｝Abstract（选样式中的｛abstract｝）：“英文摘要内容”选样式中的｛英文摘要｝Key words（选样式中的｛abstract｝）：“英文关键词”选样式中的｛英文摘要｝EEACC（选样式中的｛abstract｝）:1“一级标题”选样式中的｛一级标题｝“正文”选样式中的｛正文｝2.1“二级标题”选样式中的｛二级标题｝3.1.1 “三级标题”选样式中的｛三级标题｝“表题“选样式中的｛表题｝“表格”选样式中的｛表格｝“图题“选样式中的｛图题｝参考文献（选样式中的｛文献｝）：[1] “参考文献内容”选样式中的｛文献内容｝作者简介：姓名（选样式中的｛作者简介｝）作者简介内容（选样式中的｛作者简介内容｝）注意：请在图题和表题下面加上对应的英译文。

塞规校验指导书

塞规校验指导书标编号版本题页次生效日期审核批准1. 目的: 确保公司所使用之塞规符合工艺要求, 保证塞规使用精度, 使其误差在允许范围内。

2. 适用范围: 适用于本公司所有外购、自制塞规。

3. 检定标准器: 外径千分尺(外校合格); 相关图纸资料。

4. 检定条件: 温度20?C ±5?C; 相对湿度60%±20%。

5. 标准要求依据: 参考GB1957-81光滑极限量规标准; 根据公司实际情况, 采用IT7公差等级。

6. 检定步骤:6.1 检定前将千分尺测量面清理归零及待检塞规表面清洗干净。

6.2 外观6.2.1 要求: 塞规通、止端作用测量面必须光滑、无锈蚀，碰伤变形凸凹、划伤等影响外观及使用之缺陷。

规格标称字体应清淅无误。

6.2.2 方法: 目视。

6.3 通端外径检测6.3.1 要求: 实测误差值在允许范围内。

(见表1)6.3.2 方法: 用外径千分尺在垂直于轴线的两个截面上成90?两个直径方向(即"+"字位)全量程检测，在前、中、后三点部位检定，取最大示值为实测值。

实测误差值＝实测值－标称值6.4 止端外径检测6.4.1 要求: 实测误差值在允许范围内。

(见表1)6.4.2 方法: 用外径千分尺在垂直于轴线的两个截面上成90?两个直径方向(即"+"字位)端头1mm 范围内检定, 取最大示值为实测值。

实测误差值=实测值-标称值7. 结论7.1 若6.2不合格, 则该塞规不合格。

7.2 若6.3不合格, 则该塞规不合格。

7.3 若6.4不合格, 则该塞规不合格。

8. 检定记录与标识8.1 登记计量仪器台帐管理。

(见COP11.1)8.2 建立塞规检定履历卡记录检定结果。

(见附表)8.3 根椐检定结果制作相应标识。

(见COP11.1)8.4 周期检定不合格填写报损单并于计量仪器台帐注销。

(见COP11.1)9.检定周期9.1 规定周期3个月/次。

光滑塞规内校记录

六点数据差值范围小于0.004mm 单个数据判定基准：基本尺寸不大于8mm，（+0.002，-0.002）；基本尺寸大于8mm，（+0.002，-0.003）。
测量点示意图
A B C
A B C
综合判定处置检查员 □使用 □报废
□合格核准
□不合格Biblioteka □降级（黄色标签：过程降级使用，不作为检具）
注：1.本校验仅针对公差带大于0.01mm的光滑塞规，公差带小于等于0.01mm的，由品质经理另行决定判定基准。记录存档品质部两年。 QMS-FR-QCM-026-00
测量平均值
测量结果
测量点 A2 B2 C2
测量结果
判定
备注
六点数据差值范围小于0.003mm 单个数据判定基准：基本尺寸不大于8mm，（+0.002，-0.001）；基本尺寸大于8mm，（+0.003，-0.002）。
止端检查测量点 A1 C1
测量平均值
测量结果
测量点 A2 C2
测量结果
判定
备注
LOGO
内部编号名型称号
量检具内校记录
（光滑塞规）
出厂编号启用日期检定周期量校准环境程
生产厂商显示精度
校准日期校准地点 ℃ （要求：20± ℃）环境湿度 2 %RH（要求：50±20 %RH）环境温度 □符合 □不符合被校量检具及内校用量检具必须在校准地点至少等温两小时量检具是否校验合格 □符合 □不符合内校用量检具名称量检具校准记录通端检查测量点 A1 B1 C1

光滑塞规25.4h7标准

光滑塞规25.4h7标准
光滑塞规是一种定值量具，为保证其量值准确、使用可靠，特制订了相关标准。

以下是光滑塞规25.4h7标准的部分内容：- 技术要求：尺寸公差等级为IT0～IT2；当尺寸公差小于等于0.001毫米时，圆度和圆柱度误差应在其尺寸公差范围内；当尺寸公差小于等于0.002毫米时，圆度和圆柱度误差应小于等于0.001毫米；当尺寸公差大于0.002毫米时，圆度和圆柱度误差为塞规尺寸公差的50%。

- 检定项目和检定条件：包括外观、硬度、表面粗糙度、圆度和圆柱度、尺寸等项目。

光滑塞规的标准可能会因不同地区或行业而有所差异，建议根据实际情况选择合适的标准。

尺类内部校准指导书

修订记录
NO
版本
修订内容
日期
修改
做成
确认
承认
日期
日期
日期
作业指导书
生效日期：
文件名
尺类内部校准指导书
作业名称
部门别
文件版次
文件编号
作业指导书
实验室
A/0
1.目的
对内校仪器进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2.范围
本准则适用于各种卡尺、刚尺、卷尺、塞规等内部校准。
3.应用文件
3.1文件管制作业程序
3.2测量与监控装置控制程序
3.3量测仪器免校(NCR)准则
4.程序
4.1校准用基准设备：外校合格的尺寸标准件
4.2环境条件：
温度：25±5℃；湿度：65±20%。
5.校准步骤
5.1检查外观是否有变形、磨损，刻度是否清晰。
5.2使用尺寸标准件对所测仪器经常使用的量程范围内的所选测试点分别作三次量度测试，取平均值记录在内校报告内。
5.3所有检定值的误差在±0.08mm以内，判校准(检定)合格。
6.表单
《内校报告》

光滑环规校验原始记录

报告编号：样Байду номын сангаас名称委托单位生产单位
样品校准前状态本次校准技术依据
名称
测量范围
测试原始记录
样品标识号：
共页第页
光滑环规
型号规格
仪器编号
准确度等级
/
样品校准后状态
参照 JJG343-2012 光滑极限量规检定规程
本次校准所用仪器设备
准确度等级/ 最大允许误差
证书编号
有效期至
使用前状态
使用后状态
校准地点校准环境条件校准过程中异常情况说明校准结果：
序号
编号
本所长度实验室
温度： ℃
相对湿度： / %
标称值（mm）
外观
备注实测值 (mm)
本次校准测量结果的扩展不确定度：U= m； k=
备注
1. 外观: 合格 ∨ 不合格 ×
校准：
校核：
校准日期：