2.2、测厚仪工作原理
测厚仪原理
测厚仪原理
测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，可以测量各种物质的厚度，如金属、塑料、玻璃等，主要用于测量压力容器、管道、汽车零部件和机械零件等的厚度。
测厚仪的原理是利用传感器来测量物体的厚度。
传感器是测厚仪的核心部件，它可以根据物体的厚度来发出信号，测厚仪接收到这些信号后，根据信号的大小来计算物体的厚度。
传感器的类型有很多种，如电容式传感器、电容传感器、激光传感器、超声波传感器等。
激光传感器是最常用的测厚仪传感器，它通过一个激光发射装置将一个激光束发射出去，然后将激光束反射回来，通过控制发射激光束的时间间隔，可以计算出物体的厚度。
超声波传感器是一种非接触式传感器，它通过发射和接收超声波来测量物体的厚度，可以测量非金属材料的厚度，如塑料、木材、玻璃等，超声波传感器的精度较高，但是它比激光传感器的价格更高。
测厚仪的传感器是它检测物体厚度的关键，通过不同类型的传感器，可以检测出金属、塑料、玻璃等物体的厚度，测厚仪也可以用于检测其他材料的厚度，如塑料、木材、玻璃等。
光学薄膜测厚仪的工作原理
光学薄膜测厚仪的工作原理
光学薄膜测厚仪的工作原理如下：
1. 光源发射：光学薄膜测厚仪一般使用单色光或白光作为光源。
光源发出的光经过准直系统使其成为平行光束。
2. 光束分裂：光束经过分光器或分束器进一步将其分成两束光线，其中一束作为参考光线，另一束作为测试光线。
3. 反射与透射：测试光线照射到待测薄膜表面上，一部分光线被反射回来，另一部分光线穿透薄膜，但在传播过程中会因折射而改变方向。
4. 干涉现象：参考光线和测试光线在接近薄膜表面的位置发生干涉现象。
由于两束光线的光程差不同，导致干涉的强度和相位发生变化。
5. 探测器接收：探测器接收反射光和透射光的干涉信号，并将其转换为电信号传输给计算机或显示器进行处理。
6. 信号分析与计算：计算机或显示器通过分析接收到的干涉信号，计算得出薄膜的厚度。
根据输入的参数和光学薄膜的特性，可以对薄膜的厚度进行精确测量和分析。
通过以上工作原理，光学薄膜测厚仪可以非接触地测量薄膜的厚度，具有高精度、快速、无损伤等特点，广泛应用于光学薄膜领域。
超声波测厚仪的原理介绍 测厚仪工作原理
超声波测厚仪的原理介绍测厚仪工作原理超声波测厚仪是接受新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。
可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精准明确测量。
本测厚仪接受脉冲反射超声波测量原理，适用于超声波能以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。
此仪器可对各种板材和各种加工零件作精准明确测量。
可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
注意事项a.电源电压低时，在液晶屏幕左侧显示低电压符号，此时为了保证仪器的正常测量使用，请您适时更换电池。
b.在不需要背光的时候，尽量不要长时间开启背光，以免过快消耗电池的电量。
c.传感器表面为丙烯树脂，对粗糙表面的重划很敏感，因此在使用中尽量轻按。
d.在测量以后尽量适时将传感器表面的耦合剂和标准试块，被测物体表面的耦合剂清理干净。
e.被测物体表面温度不超过60度，以免导致传感器不能正常测量。
f.仪器长时间不使用时应将电池取出，以免电池漏液导致仪器损坏。
g.尽量避开油污，潮湿，碰撞。
h.插拔传感器时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转传感器头部，以免损坏传感器电缆线芯。
工作原理超声波测厚仪紧要有主机和探头两部分构成。
主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头；产生超声发射脉冲波，脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示厚度数值；它紧要依据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。
超声波测厚仪，在接受国内外先进技术的基础上，运用单片机技术研制的一种低功耗低下限袖珍式的智能测量仪器，接受高精度计时芯片，测量辨别率达到0.001mm。
漆膜测厚仪技术参数都有哪些？漆膜测厚仪低电压提示，接受了磁感应测厚方法。
测厚仪的工作原理
测厚仪的工作原理
测厚仪是一种用于测量物体厚度的设备。
其工作原理基于声波传播和测量的原理。
测厚仪的工作原理如下：
1. 发射声波：测厚仪通过探头发射声波脉冲，这些声波会穿过被测物体并反射回探头。
2. 接收声波信号：探头能够接收经过物体反射回来的声波信号。
探头内置的接收器会记录下这些信号。
3. 计算时间差：通过测量声波从探头发射到被测物体和反射回探头所需的时间，测厚仪能够计算出声波在物体内传播的时间。
4. 计算厚度：测厚仪利用声波在物体内传播的速度和时间差，计算出被测物体的厚度。
它基于声波在材料中传播速度恒定的原理进行计算。
测厚仪工作原理的优势在于它能够非破坏性地测量出物体的厚度，适用于各种不同类型的材料。
同时，由于声波传播速度的恒定性，测厚仪能够提供高精确度的测量结果。
此外，测厚仪还具有便携性和操作简单的特点，使其在各个领域得到广泛应用。
测厚仪的相关原理介绍
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可丈量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。
覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可丈量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。
固然钢铁基体亦为导电体，但这类任务仍是采用磁性原理丈量较为合适。
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。
测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。
这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间间隔的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
因为这类测头专门丈量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。
非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。
与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。
与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，答应误差1%，量程10mm的高水平。
磁感应丈量原理采用磁感应原理时，利用从测头经由非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。
也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。
一般要求基材导磁率在500以上。
假如覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。
当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。
早期的产品采用指针式表头，丈量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。
近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制丈量信号。
还采用专利设计的集成电路，引入微机，使丈量精度和重现性有了大幅度的进步（几乎达一个数目级）。
现代的磁感应测厚仪，分辨率达磁感应测厚仪_电涡流丈量原理_磁吸力丈量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um，答应误差达1%，量程达10mm。
电磁测厚仪原理
电磁测厚仪原理
电磁测厚仪是一种基于电磁原理工作的非接触式厚度测量设备,广泛应用于钢铁、化工、航空航天等行业。
它的工作原理主要依赖于电磁感应和涡流效应。
1. 电磁感应原理
当探头线圈通以高频交流电流时,会产生交变磁场。
当探头靠近导电性金属材料时,会在金属材料中感应出涡流。
金属材料中的涡流会与探头线圈的磁场相互作用,从而影响探头线圈的电感量。
2. 涡流效应
当导电性材料置于交变磁场中时,会在材料内部产生环形电流,即涡流。
涡流的大小与所测材料的导电率、磁导率、测量频率等因素有关。
同时,涡流会产生自身磁场,与原始激励磁场相互作用,从而影响线圈的阻抗。
3. 工作原理
测厚仪通过对涡流信号的分析来确定目标测量材料的厚度。
当探头靠近待测物体时,合适的激励频率和已知标准块厚度下的基准信号,经过比较和计算处理,便可输出被测物体的准确厚度值。
探头设计、信号处理电路、温度补偿等都是影响测量精度和重复性的重要因素。
电磁测厚仪适用于多种导电性金属材料的厚度测量,在
无损检测领域发挥着重要作用。
测厚仪原理
1, 测厚仪的原理射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：I=Ir*EXP（-UX）,Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。
一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
测厚仪主要类型激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。
X射线测厚仪：适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。
激光测厚仪的工作原理
激光测厚仪的工作原理哎呀，说起激光测厚仪，这玩意儿可真是个神奇的小工具。
你可能会想，一个测量厚度的机器有啥好说的，对吧？别急，听我慢慢道来。
首先，咱们得知道，这激光测厚仪，它可不是那种普通的尺子，也不是那种一按就“哔哔”响的电子尺。
它用的是激光，对，就是那种在科幻电影里，外星人用来扫描地球的高科技玩意儿。
想象一下，你手里拿着个激光测厚仪，对着一块钢板，一按按钮，一束激光“嗖”地一下就射出去了。
这束激光，它不是直接照到钢板上那么简单，它得反射回来，然后被机器接收。
这就有点像你对着山谷喊话，然后等着回声一样。
这个反射回来的激光，它的时间，就是关键了。
因为光速是恒定的，所以激光从发出去到反射回来的时间，就能算出距离。
但是，这个距离，是激光从机器到钢板表面，再从钢板表面反射回来的总距离。
所以，要得到钢板的厚度，就得把总距离除以2，因为钢板的厚度就是激光走过的一半距离。
说到这儿，你可能会觉得，这有啥难的，不就按个按钮，等个结果吗？但你得知道，这激光测厚仪，它得精确到微米级别，也就是说，它得能测量出比头发丝还细的厚度差异。
这可不是开玩笑的，得靠机器内部的超级精密的电子设备和算法来实现。
我记得有一次，我在工厂里看到师傅用激光测厚仪测量钢板。
那钢板，看起来挺厚的，但师傅说，这厚度得精确到小数点后三位，差一点都不行。
他拿着激光测厚仪，对准钢板，一按，屏幕上就显示出了数字。
那数字，小数点后三位，看得我眼花缭乱。
师傅说，这机器可不简单，得经常校准，要不然测量结果就不准了。
你看，这就是激光测厚仪的工作原理，简单说，就是发射激光，测量反射回来的时间，然后计算出厚度。
但是，这背后的技术，可不简单。
它得精确，得可靠，还得稳定。
就像我们的生活，看似简单，其实背后有无数的细节和努力。
所以，下次你再看到激光测厚仪，别小看它，它可是个精密的小家伙，背后藏着不少的科学和智慧呢。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
2.2、测厚仪工作原理对于X射线，在其穿透被测材料后，射线强度I的衰减规律为式中 I0———入射射线强度；μ———吸收系数；h———被测材料的厚度。
当μ和I0一定时，I仅仅是板厚h的函数，所以测出I就可以知道厚度h。
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。
由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。
一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。
在检测任一特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。
当安全快门打开，X射线将从X射线源和探头之间的被测钢板中通过，被测钢板将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。
如果改变被测钢板的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。
参考资料：楼上没有给出公式，就等于没有说出重点，因此不要轻易的COPY。
简单的说，就是射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：I=Ir*EXP（-UX）,Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。
一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
射线检测仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温湿度记录仪温度记录仪分享举报|83 次阅读 | 0 个评论测原理作者：allen1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。
它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。
X射线是一束光子流。
在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。
具有波粒二象性。
从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。
因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。
简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。
另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。
同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。
标识射线的波长是不连续的。
它取决于靶面的材料。
它通常用于对材料的化学成分进行定性分析。
在无损检测探伤中，一般用前者。
X射线具有很强的穿透能力。
在媒体的界面，它的折射率很小，几乎为1。
从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。
由韧致辐射产生的X射线，具有连续谱线。
它的波长取决于电场的电压和场内的电子流。
其强度表示为：其中，K----系数；i------管电流； U-----管电压；Z-----靶的原子序数。
穿透物体后，射线的强度为：I1=Io X exp(-ud)，射线入射强度减弱一半的吸收物质厚度称为半价层。
宽容度（L）指胶片有效密度范围对应的曝光范围。
在胶片特性曲线上，就用接近在线部分的起点和终点在横坐标上相对应的曝光量对数表示，显然梯度大的胶片其宽容度必然小。
线型象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区一端（被检区长度的l／4部位）。
金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直，钢丝置于外侧。
当射线源一侧无法放置象质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但象质指数应提高一级，或通过对比试验，使实际象质指数达到规定的要求。
象质计放在胶片一侧工件表面上时，应附加“F”标记以示区别。
中心透照环焊缝时，每隔如”放置一个象质计。
多个管子接头在一张底片上同时显示时，至少应放一个象质计，且置于最边缘的那根管子上。
象质计的线径d与线号《象质指数》之间的关系：d＝ de，z＝ 6－10lgd金属丝象质计的相对灵敏度： S = A X 10O％，如一底片上可识别的最小线径，照厚度。
射线照相对比度公式：射线照相对比度（底片对比度）D是主因对比度tri和胶片对比度r共同作用工件表面距离，Q－I件表面至胶片距离。
为保证射线照相的清晰度，标准对透照距离的最J前防限制：象质等级透照距离（焦点至工件表面距离）入K值为了评价X射线在胶片上的成像质量，人们通常用像质计作为检测标准。
线型像质计的摆放，应在射线源一边。
灵敏度的计算为：m=di/DpX100%射线照相影响质量的基本因素有：①黑度，黑度与照相灵敏度 S三大要素（照相对比度面D，不清晰度U和颗粒度Gr）的关系。
照相对比度照相不清晰度Un，m，u 照相颗粒度r胶片种类，V，显影胶片固有不清晰度产生的主要原因：由于照射到胶片上的射线在乳剂层科发出的电子的散射而产生的。
固有不清晰主发取决于射线的能过，其次取决于胶片路和显影条件。
射线底片上细节影象的可识别性与图象的大小、胶片的粘度、底片黑皮、观条件及观片者等因素有关。
底片黑度增大时，4hat增大，胶片的粒度越小，散射线是射线与物质作用产生。
物质的厚度越大，射线的照射面积越大，试件内部产生散射线越大，n值越大，底片对比度D便减小。
凡是被射线照射到的物体，例如试件、暗袋、桌面、墙壁、地面，甚至空气都成为散射源。
其中最大的散射源往往是试件本身。
要想完全排除散射线的影响是不可能的，只能在实际透照过程中根据具体情况加以限制，一般可采取下列措施：①限制辐射场：将辐射场缩小到所进行的射线透照工作所必需的程度，可以有效地限散射线的控制措施：选择合适的射线能量，使用铝箔增感屏，其次还有：①背防护板；②错罩和光栅；③厚度）悄物；④滤板；⑤遮蔽物；③修磨试件。
一次透照范围内试件的最大厚度与最小厚度之比民＞ 1.4，属于大厚度比工件，即变截面工件，对射线照相质量的不利影响主要表现在两个方面：①因厚度差较大导致底片黑度差较大，而底片黑度过低或过高都会影响用相灵敏度；②厚度变化导致散射I增大，产生边蚀效应。
为此，可采用特殊技术措施；适当提高管电压技术，双胶片技术补偿技术。
适当提高管电压技术是透照变截工件最常采用的，也是最简便的方法。
可获得更；m－n在X射线照相中，在能穿透工件的前提下，尽可能选择较低管电压，从而得到较大的衰减系数和较小的散射比，即14rtl值尽可能大，以便提高射线照相灵敏度。
①一般说来，射线源都有一定的几何尺寸，当缺陷尺寸比焦点尺寸d大得多时，焦点对透照底片对比度D的影响可忽略不计。
②当缺陷尺寸f（小于焦点尺寸）时，就会出现由焦点尺寸f引起的透照几何条件的影响，此时底片对对比度必须进行修正。
③当金属丝（缺陷）直径d减少时，会使d’用变大，（d＞1），形状修正系数。
急剧减小。
因此，要考虑修正系数。
对凸D的影响。
当d’大时，金属丝的“几何因素修正系数。
”随几何间距与金属丝直径比值d’用的急剧增大而减小。
对细小缺陷（或细金属丝）来说，由于的较小，D也较少，所以在底片上较难识辩其影象。
问题：A：正在工作的一台X射线机窗口的辐射场内的射线剂量率为40R／min?M，无遮挡，不计空气吸收和散射线的情况下，距焦点 20米处的射线照射剂量率为多少 R／min？以19ImR为射线工作人员一天的安全剂量限度，距焦点20米处，一分钟内的射线剂量是安全剂量的多少倍？在该处停留的时间为多少秒下，才能保证不超过射线工作人员一天的安全剂量？（两位有效数字）。
解：①P1＝40R／min，R1=1M，R2＝20M，由距离平方反比公式：P1：P2 = （R2：R1）2得：P2=0.1（R/min）2：100/19 = 5.33：t = 19/100/60 = 11.4秒B：对某射线源铅的半价层为lmm，若采用铅做防护层，已知该防护层两侧射线剂量率分别为3.62R/h及10mR/h，求此防护层的厚度？解：D=0.693/u （D半价层）得：u = 0.693mm-1I = I0 X e-ud d = Ln（3620/10）/ 0.693 = 8.5mmC：有一混凝土防护墙的探伤室，装一台Ir192 r射线机，经测试，操作室内最大剂量率为0.066Rem/h，要使剂量率降至2.1mRem/h，求还需加衬多少mm厚的铅板（u=1.386cm-1）？解： P = P0 X e-ud 得：d = Ln（P0/P）/ u = Ln（66/2.1）/ 0.1386 = 25mmX射线数字成像概述：实时成像系统及工业CT数字射线照相系统是在普通的工业电视系统上，增加了计算机图象处理的结果。
通常它由如下部分组成：(见下图）X射线机头及高压发生器; 高压控制柜图象增强器---模拟或数字式工作平台; 信号采集卡; 计算机; 图象处理软件闭路监视系统; 环境监视器系统; 报警式自动门等组成.像采集基本知识:视频采集, 即将视频转换成PC机可使用的数字格式。
专业图象采集卡是将视频信号经过AD转换后，经过PCI总线实时传到内存和显存。
在采集过程中，由于采集卡传送数据采用PCI Master Burst方式，图象传送速度高达33MB/S，可实现摄像机图像到计算机内存的可靠实时传送，并且几乎不占用CPU时间，留给CPU更多的时间去做图像的运算与处理。
图象速率及采集的计算公式帧图像大小(Image Size)∶W×H(长×宽)---您必须首先了解∶需要采集多大的图象尺寸?颜色深度∶d(比特数)---希望采集到的图象颜色(8Bit灰度图象?还是16/24/32Bit真彩色?)帧速∶f---标准PAL制当然就是25帧，非标准就没准了！500-1000帧都有可能数据量∶Q(MB)---图象信号的数据量采样率∶A(MB)---采集卡的采样率，通过其产品手册可知计算公式∶ Q=W×H×f×d/8判断标准∶如果A>Q×1.2，则该采集卡能够胜任采集工作。
视频源∶使用各种图象采集卡，首先需要您提供采集或压缩用的视频源。
视频源可以是∶VCD影碟机、已有的录像带、摄录机、LD视盘、CCD摄像头、监视器的视频输出等等。
●一台摄录机和使用摄录机录制的录像带.●一台盒式录像机或磁带录像机和已录制的录像带.● LD光盘播放机LD光盘或VideoCD播放机和VCD●摄录机或CCD摄像机●在工业影像中，视频源常常是CT、X光机、超声、内窥镜、甚至MRI核磁共振等等。