45nm工艺库的版图规则

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45nm工艺库的版图规则(ppt,课件)

45nm工艺库的版图规则(ppt,课件)

Rule
Value Description
METAL1.1 65 nm Minimum width of metal1
METAL1.2 65 nm Minimum spacing of metal1
通孔尺寸
Cut(通孔): overlap (复盖) :
65 x 65 5
minimum spacing(间距): 65
diff接触孔与poly间距: 35/90
Rule POLY.1 POLY.2 POLY.3 POLY.4 POLY.5 POLY.6
Value 50 nm 140 nm 50nm 70 nm 50 nm 75 nm
Rule ACTIVE.1 ACTIVE.2 ACTIVE.3 ACTIVE.4
Value 90 nm 80 nm 55 nm none
Description Minimum width of active Minimum spacing of active Minimum enclosure/spacing of nwell/pwell to active saveDerived: active must be inside nwell or pwell
PS=PD =105n×2+W
AS=AD =105n×W
重要
90 50
3 50
50

版图设计规则

版图设计规则

版图几何设计规则-注入区
PMOS
0.6
0.9
P+
0.6
Active
N-well
0.6
0.75
NMOS
0.9
版图几何设计规则-接触孔
定义了扩散区和poly之间的接触区域 最小接触孔:0.6×0.6 接触孔之间的最小距离:0.7 接触孔到有源区的距离:0.4 接触孔到poly的边沿距离:0.4 有源区接触孔到栅之间的距离:0.6 有源区外poly上的接触孔到有源区的距离:0.6 Poly1接触空到Poly2的距离:1.8
版图几何设计规则-N阱
划线槽
8.0
8.0
0.4 P+ P+ 4.8 1.8
N+ N+ N-well N-well 3.0 0.4 4.0
版图几何设计规则-Active
该mask定义了N沟道器件和P沟道器件以及扩 散的互连区域. Active作为互连的宽度:0.6 Active作为沟道的宽度:0.75 N+和N+ Active之间的距离:1.2 P+和P+ Active之间的距离:1.2 N+到N阱外衬底上P+的距离:1.2 N+到N阱内P+的距离:1.2
版图几何设计规则
版图几何设计规则
版图几何设计规则可看作是对光刻掩 模版制备要求. 一般来讲,设计规则反映了性能和成 品率之间可能的最好的折衷.规则越保 守,能工作的电路就越多(即成品率越 高);然而,规则越富有进取性,则电路 性能改进的可能性也越大,这种改进可 能是以牺牲成品率为代价的.

版图设计规则

版图设计规则

精选ppt
12
设计规则
3、最小交叠(minOverlap) 交叠有两种形式: a)一几何图形内边界到另一图形的内边界长度(overlap),
如图 (a) b)一几何图形外边界到另一图形的内边界长度(extension),
如图 (b)
精选ppt
13
TSMC_0.35μm CMOS工艺版图 各层图形之间最小交叠
TSMC的0.35μm沟道尺寸和对应的电源电压、 电路布局图中金属布线层及其性能参数
精选ppt
4
举例:工艺结构 •TSMC 0.35umCMOS工艺定义的全部工艺层
精选ppt
5
MIM:metal-insulator-metal
举例:工艺结构
•0.18um 工艺结构
HDP:high-density plasma
版图设计规则
精选ppt
1
版图概述
定义:版图(Layout)是集成电路设计者将设计 并模拟优化后的电路转化成的一系列几何图形, 包含了集成电路尺寸、各层拓扑定义等器件相 关的物理信息数据。
集成电路制造厂家根据这些数据来制造掩膜。 掩膜上的图形决定着芯片上器件或连接物理层
的尺寸。因此版图上的几何图形尺寸与芯片上 物理层的尺寸直接相关。
设计规则主要包括各层的最小宽度、层与层之 间的最小间距、最小交叠等。
精选ppt

45nm节点的应力工程和版图环境的影响

45nm节点的应力工程和版图环境的影响

特别地 ,S x和 S y分量 表现 x y
的依赖性 ,需要在单元级别上进 力模 拟,并表征对 迁移率提高的
: 引起 的应 变 境
! 中所示的应力分布不仅依赖于产
的工艺参数 ,而且也跟版 图的图 改变 S I T 或者 SGe源 / 区的体 i 漏 殳 变沟道 内的应力级别 ,因此 ,在
P oCE SN R S I G 工 艺 与 制造
M ANUF ACT URI NG
用于 H 的■啊墨 食Z艺 OT t铁 电常数的相对值 。 明显 , ) 很 在纵向拉应力下 , 在两个表面取 向中[1 ] 向都是最 优的。 10方 在空穴迁移率 中,10表面处于压应力状态 , (1) 在 【1】 l 1方向可以获得最高的压 电系数 ( 5 。 图 )
形 成 了依 赖 于 版 图 的非 均 匀 应 力 分 布 。 版 图 的 与
相关 f 生以及硅材料中各项异性的应力传导需要对
网表 进 行 基 于 实例 的考 量 , 考虑 对 每 个 晶 体 管性
能的改变 。
应力工 程的应 用
最初商业应用 。 最近 , 机械应力在 影 ̄MOS E FT
了引入硅 SGe ̄3 i j I 晶格失配形成 的压 大影响。 单元 中每个 晶体管来说 , h 对 上面标注的 和(1 ) 1 0表面取向中纵向  ̄ pE F T的 SD区域采用 e i 。 / SGe 数字是以不考虑版图效 应时的驱 动电流位基 准 , 拉应力都是最优的。 : ,由于没有应力工程技术可 以获 9 单轴应力 ,技术人 员只 能采用具 e 势应力方 向的应力分布 来近似理 Z 的效果 。然而 ,多种 无意 和有 力 复合之后的结果是三维的应 力分 ! 展示 了对 一个库单元模 拟的三个

掩膜版制造工艺_迎接45和32nm节点新挑战

掩膜版制造工艺_迎接45和32nm节点新挑战

掩膜版制造工艺:迎接45和32nm节点新挑战

whpzzseu123 发表于: 2007-7-06 10:18 来源: 半导体技术天地

掩膜版制造工艺:迎接45和32nm节点新挑战

随着集成电路制造工艺的飞速发展,45和32nm技术节点已成为近两年人们谈论的热点,作为集成电路制造工艺中最关键的光刻工艺首当其冲成为热点中的焦点。浸入式光刻(Immersion)、两次曝光技术(Double Patterning)、超紫外光刻(EUV)反复被人们提及,而作为光刻工艺三要素之一的掩膜版却往往容易被人们忽略。

从概念上讲曝光系统的工作原理与相机类似,通过一系列光学系统将掩膜版上的图形按照4:1的比例投影在晶圆上的光刻胶涂层上。从理论上讲,如果晶圆上的最小线宽(Critical Dimension)要达到45或32nm,掩膜版上的图形最小线宽(CD)只要达到180或128nm即可,与其他制作工艺相比,掩膜版的制造工艺相对要“容易”了很多。但掩膜版如同投影用的电影胶片的底片一样,它的技术水平直接影响着光刻技术的发展,特别是随着最小线宽的逐渐缩小,投影到光刻胶涂层上的图形对比度和图形失真等问题将越演越烈,掩膜版制造将如何从设备、工艺、版图设计等多方面着手以应对45和32nm工艺节点的新挑战?

掩膜版制造设备的最新进展

谈到掩膜版,首先要谈到掩膜版制造设备——图形发生器(Pattern Generator)。目前,掩膜版制造设备供应商主要有三家:Micronic、Jeol和NuFlare,制作工艺分为激光和电子束两种图形描绘方式,但两种方式各有利弊。采用激光来描绘图形的优势是速度快、效率高,但精度不如电子束扫描方式;而采用电子束描绘图形,虽然精度高,但描绘速度慢、生产效率低。由于两种方式的互补性,掩膜版制造商会分别购买两种设备,当制备线宽要求很高的电路图形时使用电子束扫描,对于线宽要求不是很高的电路图形则使用激光

半导体工艺中版图的designrule是怎么来的?

半导体工艺中版图的designrule是怎么来的?

半导体工艺中版图的designrule是怎么来的?

转自:QST青软实训IC特训营

当我们在画集成电路Layout的过程中,设计规则是确保电路设计能成功,工艺能够量产的基础,它是连接半导体工厂与design house 之间的桥梁。那究竟该如何正确理解版图设计规则文件中的每条设计规则勒?对于一套成熟的半导体工艺来说,版图设计规则的制定大致基于以下5个方面的考虑:

1、光刻

2、器件

3、平坦化

4、可靠性

5、电路与产品

1 光刻

光刻过程中的曝光光源的波长以及与之相匹配的光刻胶共同决定了版图设计规则中的最小线宽与最小线距(比如金属的最小宽度与以及它们之间的距离)。对于波长来说,波长越短则曝光的分辨率越高,可以光刻得到的尺寸也就越小,所以波长限制了我们可以得到的最小线宽与最小线距。除了光源的波长外,光刻胶厚度也决定着最小线宽与最小线距,可以用图1-1所示的模型进行解释,如图1-1所示,光刻胶厚度与线宽的比值越大则光刻胶就越容易在wafer上发生倾倒(你完全可以把光刻胶想象成一堵墙,你觉得是低矮的墙越容易倒勒还是瘦高的墙越容易倒?),光刻胶的倾倒除了造成该区的显影失败之外,还会飘移到晶圆的其它区域,变成缺陷颗粒(缺陷粒子)而造成其它区堿的失效,所以在版图设计规则中制定最小线宽是为了保证光刻胶不倾倒而导致显影失败。另外在曝光后后续的刻蚀工艺中,光刻胶厚度与线距的比值越大就越不容易被刻蚀开来形成Space(这个是显而易见的),如果不能形成Space,其后果之一将会导致后端金

属的短路,因此最小线距这样的设计规则是为了保证光刻胶能解开。

45nm处理器优势和介绍

45nm处理器优势和介绍

45nm处理器优势和介绍

45nm工艺比目前的65nm工艺进步很多,最为明显的优势就是体积更小、整合晶体数量更多、功耗更低,应用在笔记本上意义很大。具体表现在以下五个方面:

1.相比65nm工艺,新45nm工艺中晶体管密度提升2倍以上,从而使得芯片体积更小,或者说单位面积可以容纳更多的晶体管。

2.相比65nm工艺,新45nm工艺中晶体管切换功率将降低30%以上。

3.相比65nm工艺,新45nm工艺中晶体管切换速度提升20%以上。

4.相比65nm工艺,新45nm工艺中源级-漏级漏电功率降低了5倍以上。

5.相比65nm工艺,新45nm工艺中栅极氧化物漏电功率降低10倍以上。

45纳米新型介质(右)与传统材料(左)的比较

在过往四十余年的时间中,业内均普遍采用二氧化硅做为制造晶体管栅介质的材料。而在65纳米制程工艺下,英特尔公司已经将晶体管二氧化硅栅介质的厚度压缩至1.2纳米,仅与五层原子的厚度相当,基本上达到了这种传统材料的极限。此时不但使得晶体管在效能增益以及

制程提升等方面遭遇瓶颈,过薄的晶体管二氧化硅栅介质亦使得其阻隔上层栅极电流泄漏的能力逐渐降低,导致漏电率大幅攀升。

英特尔45纳米Penryn家族处理器采用金属栅极来替代传统的多晶硅栅极,这样的目的就是可以避免耗尽导电信号区域的出现,也就是说其这样的设计可以真正让超薄的栅极栅介质层更薄,从而使得最终的效率更高,且漏电电流更小。英特尔的这种HK+MG(High-K+Metal Gate)可以使得不用更改太多的传统材料就可以实现更高的晶体管效率。在采用这种技术后,可以改善集成电路功耗,同时降低芯片的设计难度,并且可以大幅度提升晶体管切换速度。也让晶体管技术可以向更小的45nm、32nm制程发展。

45NM纳米CPU制作工艺

45NM纳米CPU制作工艺

解析45NM纳米CPU制作工艺

CPU的发展史也可以看作是制作工艺的发展史。如果想要提高CPU的性能,那么更高的频率、更先进的核心以及更优秀的缓存架构都是不可或缺的,而此时自然也需要以制作工艺作为保障。几乎每一次制作工艺的改进都能为CPU发展带来最强大的源动力,无论是Intel还是AMD,制作工艺都是发展蓝图中的重中之重,如今处理器的制造工艺已经走到了45纳米的新舞台,它将为新一轮CPU高速增长开辟一条康庄大道。

很多用户都对不同的CPU的制作工艺非常熟悉,然而如果问他们什么是制作工艺,65纳米、45纳米代表的是什么,有什么不同,这些问题他们未必能够准确地解答,下面我们就一起来详细了解一下吧。

一、铜导互连的末代疯狂:45纳米制作工艺

几乎每一次制作工艺的改进都会给CPU发展带来巨大的源动力。以如今炙手可热的Pentium4为例,从最初的0.18微米到随后的65纳米,短短四年中我们看到了惊人的巨变。如今,45纳米制作工艺再一次突破了极限,这也被视为是铜导互连技术的最终畅想曲。

1.制作工艺的重要性

早期的微处理器都是使用0.5微米工艺制造出来的,随着CPU频率的增加,原有的工艺已无法满足产品的要求,这样便出现了0.35微米以及0.25微米工艺,不久以后,0.18微米、0.13微米以及90纳米制造的处理器产品也相继面世。另外一方面,早期芯片内部都是使用铝作为导体,但是由于芯片速度的提高,芯片面积的缩小,铝线已经接近其物理性能极限,所以芯片制造厂商必须找出更好的能够代替铝导线的新的技术,这便是我们常说的铜导技术。铜导线与铝导线相比,有很大的优势,具体表现在其导电性要优于铝,而且电阻小,所以发热量也要小于现在所使用的铝,从而可以有效地提高芯片的稳定性。我们今天所要介绍的65纳米技术也是向着这一方向发展。

nmos版图规则

nmos版图规则

Poly1 (GT):

This mask defines the areas form the gate, poly interconnects, and poly word lines in the array.

a. Poly1 width for interconnect 0.5

b. Poly1 space 0.5

c. Poly1 width for NMOS channel length

c.1 for normal threshold voltage NMOS & ROM code 0.5

c.2 for low threshold voltage NMOS 1.0

c.3 for depletion NMOS 2.0

d. Poly1 width for P channel length

d.1 for normal threshold voltage PMOS 0.55

d.2 for low threshold voltage PMOS 1.0

d.3 for depletion PMOS 2.0

e. Poly1 Overhang out of Active into field (ENDCAP) 0.55

f. Poly1 gate to related diffusion edge 0.5

g. Poly1 on field to Active edge 0.1

h. Poly1 width for resistor 1.0

i. Poly1 space for resistor 1.0

IC610系统的使用

IC610系统的使用

IC610设计系统使用指南

一、远程登录服务器的方法:

1 安装Xmanager X桌面服务器软件:

2 运行Xmanager-Passive程序,运行成功在桌面底部任务栏应该有X形图标:

3 拷贝(绿色,不需要安装)putty远程登录软件,运行之:

4 设置登录服务器的IP地址(10.22.68.163),注意只能在校园网内可以连接,公网不能连接:

5 设置X11使能:(connection-SSH-X11: Enable X11 forwarding打勾):

6 按Open以后进入登录窗口:

在光标处输入用户名(s学号: 如s084774408),回车,输入密码(注意密码不回显,也无星号显示)

登录成功:

7 接下来就可以运行软件了

8 运行nautilus 可以打开文件管理器

运行gterm可以打开另一个终端

二、进入IC设计系统和建立的方法

9 进入design/ic610/ 并运行icfb& 可以打开IC设计系统

cd design/ic610

icfb&

10 运行成功出现Virtuosoo的窗口(ICW):

11 ,打开库管理器

12 库管理器有三栏,分别是设计库(library)、设计单元(cell)、设计视图(View),一个设计库可以包含多个设计单元,每个单元又有多个视图:

13 选择菜单File→New→Library…,可以创建一个设计库:

14 在新建设计库的对话框中,输入设计的名字,选择存放的位置,即可OK

15 一般我们将新建的设计库与现有的工艺库相关联,也就是使用现有的工艺作为设计的基础,所以这里要选择Attach to an existing technology library这一项,即可OK。

英特尔45nm半导体工艺技术解析

英特尔45nm半导体工艺技术解析

英特尔45nm半导体工艺技术解析

2008/3/25/08:50 来源:电子工程专辑

在2007年12月国际电子元件会议(IEDM)举行前约一个月,美国EETimes 杂志曾提到,英特尔公司45nm工艺技术的主要特点是采用铪基高k介电材料,将氮化钛(TiN)用于PFET取代栅极,并将TiN阻挡层与一种功函数调整金属组成的合金用于NFET取代栅极。

英特尔公司的45nmHKMG(高k金属栅极)技术的一些重点在于:高k栅极先加工、金属栅后加工的集成方式;氧化铪栅极介电材料(1.0nmEOT);以及双带边功函数金属栅极(TiN用于PMOS,TiAlN用于NMOS)。栅极后加工集成是一个重点,需要在英特尔公司工艺流程中作进一步说明。

上面提到的“先加工”和“后加工”是指按照多晶硅积淀工艺形成高k栅极和金属栅极的顺序。目前众所周知的是,英特尔公司在45nm节点采用了一种栅极后加工或取代栅极工艺流程。但这也引发了对其语义的激烈争论:它究竟是“栅极”还是“后加工”。

取代栅极流程让英特尔公司能够复用过去多晶硅栅极技术中的许多工艺步骤和工具。曝光多晶硅并形成传统二氧化硅及氮化硅侧壁分隔层的工艺,在源/漏极形成及它们的轻掺杂延伸区域中均利用了已获验证的自对准工艺。一旦这些步骤完成,多晶硅就被除去,而功函数金属取而代之被积淀。

但在第一次多晶硅积淀之前有一些很有趣的事情发生。与IEDM发表的文章叙述相反,英特尔公司在牺牲的栅极多晶硅之前积淀了第一个功函数金属层。

图1:英特尔公司PenrynPMOS晶体管结构。

图2:晶体管的物理栅极长度(LG)测量。

版图设计基础

版图设计基础

• Diva DRC工具
是Cadence公司开发,嵌入版图设计工具 之中。可以在版图设计工具Virtuoso中,通 过单击图形界面中的Verify菜单,并点击其 中的DRC子菜单,就可以进行DRC检查
可以检查部分版图,也可以检查整个版图 及单独检查前一次DRC后做出改变的版图
常用于规模较小的集成电路版图检查
同层的多边形之间的最小距离有以下几种情况:平行线条之间的 最小距离,拐角之间的最小距离,垂直线条与拐角之间的最小距离
例:Min.space between two M1 region:0.23 μ 第一层金属之间的最小距离为0.23 μm
• 不同层的多边形之间的最小距离大多指的 是两个多边形的平行距离
例:Min.M1 Enclosure for V1:0.01 μm 第一层金属的边缘要超出通孔边缘0.01μm
• 交叠规则
• 两层之间交叠的最小尺寸。交叠规则定义 的两层为不同的层。
• 两层交叠,并且一层要伸出另一层的最小 尺寸
• 两层交叠,两层之间的最小尺寸
设计规则举例 • N阱层相关的设计规则及其示意图
为了工艺上按比例缩小或版图编辑的需要, 合并接触采用图4.9(a)所示的分离式接触结 构,而不采用图4.9(b)的合并长孔结构。
版图的验证
• 版图设计完成后,还需要进行一系列的检 查和验证。
• 版图的验证包括:设计规则检查(DRC)、 电学规则检查(ERC)、版图参数提取以 及电路图与版图一致性检查(LVS)

Intel65nm工艺实现及45nm工艺预览

Intel65nm工艺实现及45nm工艺预览

Intel 65nm工艺实现与45nm工艺预览

作者濮元恺 2006年8月

一, 工艺的提升带来了什么

那些说摩尔定律“脑死亡”的人应该清醒的了,虽然我自己也曾对摩尔定律的未来抱有很大的怀疑和迷茫,但Intel正用实际行动一次次证明自己。high-k方面的突破,应变硅技术上升级,晶体管结构上的创新……一个个激动人心的技术,印证了Intel在半导体制造技术的足迹。下面将结合最近收集到的材料,和大家一起了解Intel的65nm与未来的45nm工艺。文中出现的技术词汇不单独注解,而是在原文里整体说明,希望本文能给硬件技术爱好者在晋级道路上提供一些帮助。

1, Intel的全盘计划

这张图片就是Intel的CPU整体计划,它是一项粗略的计划。

P1262是我们熟悉的采用90nm制造的Pentium 4处理器,第一批产品在2003年末出厂,典型代表是Pentium 4 Prescott。P1262延续了上一代Pentium 4的NetBrust(网络爆发)架构,在频率方面疯狂飙升,而且90nm工艺内有一些问题没有很好地解决。P1262计划预期达到的频率是4.0GHz,实际最后一款产品止步于3.8 GHz。

P1264是我们正在经历的时代,周期同样是2年。我们熟悉的产品是Core微架构的Conroe处理器,采用65nm工艺制造,功耗控制表现优秀,性能强大。

P1266是未来45nm工艺制造的处理器,它将从2007年持续到2009年,产品的名称和型号我们还不知。然后由32nm工艺的P1268接替它继续实现摩尔定律。

版图设计中的设计规则

版图设计中的设计规则

《集成电路设计基础》
40
单元和单元库的建立
在版图设计阶段,无论是全 定制还是半定制版图设计一定 都会用到单元或单元库。
《集成电路设计基础》
41
全定制设计方法
所谓全定制设计方法就是利用 人机交互图形系统,由版图设计 人员从每个半导体器件的图形、 尺寸开始设计,直至整个版图的 布局布线。
《集成电路设计基础》
《集成电路设计基础》
44
半定制标准单元示意图
《集成电路设计基础》
45
单元库与工艺数据
每一单元库都应与一定的工艺数据相联 系,这些数据放在所谓“工艺文件 (Technology File)”中。 无论建立标准单元库还是布局布线阶段, 都要用到Technology File。可以存在系 统中的隐含文件或任一指定文件中。根 据需要此文件也可重新命名或进行编辑。
布线规则
(3)压点离开芯片内部图形的距离 不应少于20μ m,以避免芯片 键合时,因应力而造成电路损 坏。 (4)布线层选择。
《集成电路设计基础》
Leabharlann Baidu36
布线规则
《集成电路设计基础》
37
版图设计及版图验证
版图设计一般包括:
基本元器件版图设计 布局和布线 版图分析与检验
《集成电路设计基础》
38
版图设计及版图验证
由于这些连线也要有一定的芯片面积,所 以在布局时就要留下必要的布线通道。

工艺库说明

工艺库说明

工艺库说明

工艺库是采用0.18um的工艺,下面是调用工艺库名称及尺寸范围,工艺库的调用模型的名称可以自己进工艺库里面改,比如说我这里用的是nmos18表示nmos管,供给电压为1.8V。

工艺里面的数值可以自己修订,但是如果要流片的话必须要和工厂的工艺库一样。具体尺寸说明如下,

调用名称调用类型基本的宽长范围

nmos18TT L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=4.2nm,vdd=1.8V

pmos18TT L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=4.2nm,vdd=1.8V

nmos18SS L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=4.45nm,vdd=1.8V

pmos18SS L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=4.45nm,vdd=1.8V

nmos33TT L:500nm-50um,W:800nm-

100um,tox=7nm,vdd=3.3V

pmos33TT L:500nm-50um,W:800nm-

100um,tox=7nm,vdd=3.3V

nmos18FF L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=3.5nm,vdd=1.8V

pmos18FF L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=3.5nm,vdd=1.8V

nmos18SNFP L:240nm-50um,W:240nm-

100um,tox=4.2nm,vdd=1.8V

pmos18SNFP L:240nm-50um,W:240nm-

版图设计规则

版图设计规则
实际上有源区掩膜板的意义在于作为制 造硅局部氧化(LOCOS)和薄氧(封闭图形 内形成薄氧,封闭图形外形成LOCOS)。
版图层次定义
Pwell Active Poly P+ implant N+ impant Omicontact Metal
active
有源区
Nwell
版图层次定义
有源区
生长薄氧氮化硅用于应力释放
Nwell
active
poly
版图层次定义
MASK poly
Poly
场氧
场氧
光刻胶 poly
PNwweellll
P-type Si
场氧 SiO2
SiO2
版图层次定义
MASK poly
Poly
场氧
场氧
光刻胶 poly
场氧 SiO2
PNwweellll
P-type Si
SiO2
版图层次定义
Poly
版图层次定义
P+/N+扩散区
Pwell Active Poly P+ implant N+ impant Omicontact Metal
Nwell
active
poly
P+ implant
版图层次定义
MASK P+
P+/N+扩散区
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35
50
PS=PD =105n×2+W AS=AD =105n×W
55
重要
单位:nm
90 3 50
50 50
W L Poly伸出有源区 扩散层伸出poly
最小尺寸 90 50 50 105 50
Poly与有源区间距
扩散层与阱边缘间距
55
50
55
Contact hole and Via hole (接触孔和通孔)
Rule ACTIVE.1 ACTIVE.2 ACTIVE.3 ACTIVE.4
Value 90 nm 80 nm 55 nm none
Description Minimum width of active Minimum spacing of active Minimum enclosure/spacing of nwell/pwell to active saveDerived: active must be inside nwell or pwell
Rule VIA1.1 VIA1.2 VIA1.3 VIA1.4
Value 65 nm 75 nm none none
Description Minimum width of via1 Minimum spacing of via1 saveDerived: via1 must be inside metal1 saveDerived: via1 must be inside metal2
Rule METALINT.1
Value 70 nm
Description Minimum width of intermediat e metal Minimum spacing of intermedi ate metal Minimum enclosure around via 1 on two opposite sides Minimum enclosure around via [2-3] on two opposite sides Minimum spacing of metal wider than 90 nm and longer than 900 nm Minimum spacing of metal wider than 270 nm and longer than 300 nm Minimum spacing of metal wider than 500 nm and longer than 1.8um Minimum spacing of metal wider than 900 nm and longer than 2.7 um
um 0.070 0.070 0.035/0
Rule IMPLANT.1 IMPLANT.2 IMPLANT.3/4 IMPLANT.5
Value 70 nm 25 nm 45 nm none
Description Minimum spacing of nimplant/ pimplant to channel Minimum spacing of nimplant/ pimplant to contact Minimum width/ spacing of nimplant/ pimplant Nimplant and pimplant must not overlap
Contact to Poly
Rule 5.1 5.2 5.3 Description Exact contact size Minimum poly overlap Minimum contact spacing um 0.065x0.065 0.005 0.075
5.4
Minimum spacing to gate of transistor
METAL1.6
METAL1.7 METAL1.8 METAL1.9
270 nm
500 nm 900 nm 1500 nm
Minimum spacing of metal wider than 270 nm and longer than 300 nm
Minimum spacing of metal wider than 500 nm and longer than 1.8um Minimum spacing of metal wider than 900 nm and longer than 2.7 um Minimum spacing of metal wider than 1500 nm and longer than 4.0 um
相同阱
0 or 135
不同阱
0 or 225
gatepolys fieldpolys 140
Poly
50
Well 200
75
80
Active N+,P+ 90
75
Metal1
Poly 35 Metal2 65 M1 or M2 35 35 65
65
con/via1
70
Implant可与well同样大小
Select
Rule
4.1 4.2 4.3 4.4
Description
Minimum select spacing to channel of transistor to ensure adequate source/drain width Minimum select overlap of active Minimum select overlap of contact Minimum select width and spacing (Note: P-select and N-select may be coincident, but must not overlap) (not illustrated)
NCSU PDK45nm 版图规则
工艺流程
• 与版图的对应关系 • 了解一定的工艺流程背景知识有助于画好 版图
gate-oxide TiSi2 AlCu SiO2 Tungsten
poly
p-well n-well
SiO2 p+
n+
p-epi p+
VDD M2Leabharlann Baidu
VDD
M4 Vin Vout Vout2
0.035
Contact to Active
Rul e 6.1 6.2 6.3 6.4 Description Exact contact size Minimum active overlap Minimum contact spacing Minimum spacing to gate of transistor um 0.065x0.065 0.005 0.075 0.035
POLY.6
75 nm
Minimum Minimum spacing of field poly
50 50
140
70
50
75
Rule WEL L.1 WEL L.2 WEL L.3 WEL L.4
Valu e none 225 nm 135 nm 200 nm
Description saveDerived: nwell/pwell must not overlap Minimum spacing of nwell/pwell at different potential Minimum spacing of nwell/pwell at the same potential Minimum width of nwell/pwell
Lambda
3 2 1.5 4
Metal2
Rule 9.1 9.2 9.3 9.4
Description Minimum width Minimum spacing Minimum overlap of via1 Minimum spacing when either metal line is wider than 10 lambda
Metal1
Rule 7.1 7.2 7.3 7.4 Description Minimum width Minimum spacing Minimum overlap of any contact Minimum spacing when either metal line is wider than 10 lambda um 0.065 0.065 0.035/0
M1
M3
设计规则
• lamda规则
– 最小尺寸以lamda的倍数来规定
• 微米规则
– 直接用具体的微米、纳米等单位来规定
• Grid
– 由具体工艺规定 – 分辨率 – 0.18mm工艺为45nm,45nm工艺为2.5nm – 版图中所绘制的矩形、互连线等尺寸必须是它 的倍数
1)Intra-Layer Design Rules 层内设计规则 单位:nm
可获得的Contact hole and Via hole metal1/diff 接触孔 metal1/poly 接触孔 metal1/metal2 通孔 metal2/metal3 通孔
通孔尺寸 Cut(通孔): overlap (复盖) : 65 x 65 5 65 35/90
minimum spacing(间距): diff接触孔与poly间距:
METALINT.2
70 nm
METALINT.3
35 nm
METALINT.4
35 nm
METALINT.5
90 nm
METALINT.6
270 nm
METALINT.7
500 nm
METALINT.8
900 nm
METALINT.9
1500 nm
Minimum spacing of metal wider than 1500 nm and longer than 4.0 um
Description Minimum width of metal1 Minimum spacing of metal1 Minimum enclosure around contact on two opposite sides Minimum enclosure around via1 on two opposite sides Minimum spacing of metal wider than 90 nm and longer than 900 nm
Rule POLY.1 POLY.2 POLY.3 POLY.4 POLY.5
Value 50 nm 140 nm 50nm 70 nm 50 nm
Description Minimum width of poly Minimum spacing of poly AND active Minimum poly extension beyond active Minimum enclosure of active around gate Minimum spacing of field poly to active
CONTACT.6
CONTACT.7
35 nm
90 nm
Minimum spacing of contact and gate
Minimum spacing of contact and poly
Rule METAL1.1 METAL1.2 METAL1.3 METAL1.4 METAL1.5
Value 65 nm 65 nm 35 nm 35 nm 90 nm
70
重要
最小宽度 Poly 50 metal1 65 有源区(扩散区,N+,P+) 90 Contact or Via Hole 65
最小间距 75/140 65 80 65
2)Inter-Layer Design Rules 层间设计规则
Transistors
单位: nm
50 70 50 65 90 5
Rule CONTACT.1 CONTACT.2 CONTACT.3 CONTACT.4 CONTACT.5
Value 65 nm 75 nm none 5 nm 5 nm
Description Minimum width of contact Minimum spacing of contact saveDerived: contact must be inside active or poly or metal1 Minimum enclosure of active around contact Minimum enclosure of poly around contact
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