XRD数据处理教程

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xrd的操作规程及注意事项

xrd的操作规程及注意事项

xrd的操作规程及注意事项:操作规程:1.打开空调,将室内温度调至24度左右,以确保仪器的稳定性。

2.打开循环水,确保仪器在工作过程中得到良好的冷却。

3.打开电脑,进入XRD操作软件,检查仪器状态。

4.根据测试需求,选择合适的扫描速度和步宽。

一般来说,步宽为0.02度,扫描速度默认为0.15 s/step。

在特殊情况下,可以改变步宽和扫描速度,但速度一般应在0.1-0.5 s/step范围内。

5.将待测样品放入样品台,并确保样品与样品台平齐。

对于粉末样品,应确保样品干燥、粒度合适且均匀。

对于不易研碎的样品,应先处理成与窗孔大小一致,磨平一面后再进行测试。

6.调整测试参数,开始测试。

在整个实验过程中,请不要关闭XRD Cammand软件。

7.测试完成后,及时将实验数据备份带走。

计算机将每半年进行一次数据清理,因没有及时备份而导致数据丢失的,责任由数据所有人承担。

注意事项:1.任何人使用时必须严格遵守XRD管理规章制度。

非管理员使用设备时,必须持有使用证,且严格按照XRD仪器操作规程进行操作。

未经仪器管理人员培训或未持有使用证,严禁擅自自行操作,否则追究责任。

2.严禁擅自插、拔各种电源插头、电缆、计算机接口等。

爱护仪器,做到轻拿轻放,避免仪器的元器件受到损伤。

3.任何人不得擅自更改系统的软、硬件设置,不要随意乱动功能键,不得擅自安装软件。

C盘和G盘是设备系统及其备份,严禁更改或者存放试验数据。

计算机只可用于测试和常用数据分析,禁止将计算机用作其他用途。

4.实验过程中,严禁非操作人员进入实验室。

进入实验室试验,应该使用鞋套或穿拖鞋,以防止灰尘对仪器精密度的影响。

实验完毕后,应及时将实验样品取走,将在实验过程中使用的工具规整的放回原位,清洁样品架,打扫台面和地面卫生,保持实验台和实验室内整洁。

5.出现任何突发问题,不要尝试自行解决,请及时联系仪器管理员。

XRD仪器操作范文

XRD仪器操作范文

XRD仪器操作范文XRD(X射线衍射)仪器被广泛应用于材料科学、地质学、化学和生物学等领域,用于确定晶体结构和分析样品的晶体结构信息。

操作XRD仪器需要一定的仪器知识和技巧。

下面将详细介绍XRD仪器的操作步骤,包括样品制备、仪器设置和数据分析。

一、样品制备1.准备样品。

首先,根据具体要求选择合适的样品。

样品可以是粉末、薄片或块状材料。

确保样品质量良好,具有足够的重现性。

2.样品制备。

对于粉末样品,先将样品细磨成细粉,可以使用研钵和研钉进行手工研磨,或者使用高能球磨机进行机械研磨。

对于薄片样品,需要先进行切割和打磨,确保表面光滑。

块状材料可以直接使用。

3.样品装填。

将制备好的样品放置在适当的样品支撑器中。

对于粉末样品,可以使用玻璃纸片、玻璃纤维滤膜或石英盖片作为支撑器。

对于薄片样品,将样品固定在适当大小的支撑器上。

对于块状材料,直接将样品放在支撑器上。

二、仪器设置1.打开仪器。

首先,确保X射线衍射仪器的安全使用和电源接通。

打开仪器电源,启动仪器。

2.样品安装。

根据仪器的不同型号,选择合适的样品安装方式。

对于粉末样品,使用样品支撑器架放在样品台上。

对于薄片样品,使用样品夹将样品固定在样品台上。

3.加载和调整样品位置。

将装有样品的样品支撑器放入样品台中,使用微调节装置调整样品位置,使其位于X射线束的正中央位置。

确保样品与X射线源之间的距离合适。

4.X射线管设置。

根据样品特性选择合适的X射线管电压和电流。

通常,较高的电压和电流可产生更强的X射线信号,但也会加大样品和探测器的热负荷。

根据样品的类型和要求进行合理设置。

5.选择扫描范围。

根据样品的特性选择适当的扫描范围。

如果已知样品中一些特定晶面的位置,则可以选择针对该晶面进行扫描。

否则,可以选择全角度扫描。

6.样品倾斜修正。

对于非理想样品,其中晶粒方向分布不均匀或有细微的倾斜,可以使用样品旋转台或倾斜台进行修正。

三、数据采集与分析1.开始扫描。

确认仪器设置良好后,可以开始进行数据采集。

xrd数据归一化处理

xrd数据归一化处理

xrd数据归一化处理
X射线衍射(XRD)数据归一化处理是将原始XRD数据进行标准化处理,以消除不同样品之间的差异,使得它们可以更好地进行比较和分析。

以下是一种常见的XRD数据归一化处理方法:
1. 找到基线:首先,在XRD图谱中找到不含有衍射峰的部分,即基线。

通常,基线位于2θ角度较低的区域,没有明显的衍射峰。

2. 去除背景:使用一个合适的算法或软件,将基线从整个XRD图谱中减去,以去除背景噪音。

这样可以使得衍射峰更清晰地显示出来。

3. 最大峰归一化:找到XRD图谱中最高的衍射峰,将其衍射强度设置为1。

然后,将其他衍射峰的强度与最高峰的强度进行比较,并进行相应的缩放,使得最高峰的强度为1。

4. 额外归一化步骤:根据需要,可以进行额外的归一化步骤。

例如,可以根据总强度或某些特定峰的强度进行归一化。

注意:归一化处理的具体方法可能因不同的实验目的和样品性质而有所不同。

因此,在进行归一化处理之前,最好参考相关的文献和实验室方法。

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明

软件界面
菜单栏
包含文件、编辑、视图等常用 菜单,方便用户进行操作。
工具栏
提供常用功能的快捷按钮,提 高用户的工作效率。
工作区
显示用户当前处理的数据和图 表。
状态栏
显示当前软件的状态和提示信 息。
02 XRD数据处理流程
数据导入
打开Origin8.0软件,选择 "File"菜单下的"Import"选项。
直观易用
软件界面友好,操作简单,用Leabharlann 可以快速上手。多平台兼容性
Origin8.0可以在多种操作系统上运行,方便用户在不同环境下使 用。
软件功能
数据导入导出
支持多种格式的数据导入导出,方便用户与其他 软件进行数据交换。
数据拟合
可以对XRD数据进行拟合,得到更好的数据处理 结果。
数据可视化
支持多种图表类型,方便用户对数据进行可视化 分析。
详细描述
确保数据处理方法正确,如平滑处理、背景扣除、峰拟合等步骤无误。样品应均匀一致,以提高定量 分析的准确性。实验条件应保持稳定,如温度、压力等参数应恒定,以确保实验结果的可靠性。
05 结论与展望
Origin8.0在XRD数据处理中的优势
高效的数据处理速度
Origin8.0具备强大的数据处 理能力,能够快速完成XRD数
据的导入、处理和分析。
丰富的数据处理功能
Origin8.0提供了多种数据处 理工具,如平滑、滤波、去卷 积等,方便用户对XRD数据进
行处理。
直观的用户界面
Origin8.0的用户界面友好, 易于上手,降低了使用门槛, 方便用户快速掌握数据处理方
法。
Origin8.0的局限性

XRD的处理流程

XRD的处理流程

1.(1)打开SearchMatch软件,点击File →Import →Profile Date 导
入要处理的XRD图,点击Settings→Restrictions→选择Must
Include→输入所要检测的元素(如Cu)确定即可→点击左上角的Card Retrieval (对照标准卡片),确定样品
(2)再次点击File →Export →保存如1trip.date(一般与样品编号一一对应),关闭SearchMatch
(3)以文本文档的形式打开1trip.date →将所有数据复制到Word 文档→选择所有数据→点击表格→转换→文本转换成表格,选择前两列所需数据,复制
(4)打开Microcal Origin软件,右击A(x) B(y)→Paste导入上述复制数据→点击左下角∕绘图→根据需求点击横纵坐标的数据范围和格式大小(双击坐标数据即可出现对话框进行设置)→点击输出压面,选择JPG格式保存(使用Word时即可插入该图片即可)
2.注意:如需处理多个图形,则需要在A(x) B(y)栏右击选择Insert
增加所需列数,例处理2个XRD图像,增加3列E.D.C,右击E →Set As →X(同理设置D和E,但D和E要设置相同),相应出现
E(X1),D(Y1),C(Y1),A(X2),B(Y2),根据要处理的图像相应的导入数据E(X1),D(Y1), A(X2),B(Y2) →右击C(Y1) →Set Column V alues 设置Col(c)= Col(d)+2000(根据需要选择任意数字)→OK ,选择E(X1), C(Y1),A(X2),B(Y2)列数据→单击左下角∕绘图,即可得到两个图
像,根据需求点击横纵坐标的数据范围和格式大小。

Origin处理xrd数据简单使用说明

Origin处理xrd数据简单使用说明

利用Origin软件, 可以对XRD数据进 行快速、准确的处 理,提高实验效率 。
Origin软件还支持 多种输出格式,方 便用户将处理结果 导出并应用于其他 领域。
Origin软件安装与启动
下载和安装Origin软件
访问Origin官网,下载最新版本的Origin软件安装包。 打开安装包,按照提示进行安装。 安装完成后,打开Origin软件,开始使用。
结果展示:将分 析结果以图表、 表格等形式呈现, 便于理解与交流
数据处理结果的导出和保存
单击此处添加标题
导出数据:Origin支持多种格式导出数据,如Excel、CSV等,方便用户 进行进一步的分析和处理。
单击此处添加标题
保存数据:Origin提供了多种保存选项,用户可以将数据保存到本地硬盘 或云存储中,以便随时进行数据分析和处理。
打开Origin软件, 导入XRD数据
选择数据,点击 “拟合”按钮
在弹出的对话框 中选择合适的拟 合函数
调整拟合参数, 点击“确定”完 成拟合
解析结果的分析和解读
确定晶体结构: 通过拟合结果确 定样品的晶体结 构类型
定量分析:根据 解析结果计算各 相的相对含量
确定晶体取向: 分析不同晶面的 相对强度,确定 晶体的择优取向
Origin软件的背景和功能
Origin软件的起源和历史 Origin软件的主要功能和特点 Origin软件在科研领域的应用和影响 Origin软件的未来发展和趋势
Origin软件在XRD数据处理中的应用
Origin软件是一款 功能强大的数据分 析和可视化工具, 广泛应用于XRD数 据处理。
Origin软件提供了 丰富的数据处理和 分析功能,包括数 据导入、数据清理、 数据变换等。

XRD基本分析过程

XRD基本分析过程

XRD数据处理过程:首先:然后右键把所有的对号都选上:然后点Chemistry在出来的元素周期表中,双击一定存在的,单击可能存在的。

然后点OK,OK(是否去除背景其实此时不太影响,因为你已经固定元素了。

实际上我通常选择不扣除背底。

)进来之后它默认的也是FOM从小到大排序的,FOM越小的拟合的越好。

下一步是双击第一行的数据,弹出对话框:点击Lines选项这里面的hkl就是对应的晶面指数了。

比如第一个在20.884度位置,对应的晶面指数就是(110)晶面这样的话对一个结果的基本分析就出来了。

还要说明一点的是,可以多个数据一起看,具体如下:在打开的对话框里全选时候,按ADD就会出现三个图叠加的图再点 setup在出来的打印对话框里点那个,color print,这个的目的只是看看我的三个样拟合的怎么样,不能作为文献使用。

下一步就是用Origin8作图了,作图之前,先把数据都倒入一个EXCLE表格中。

找到Data,从下面的5,422开始复制,复制全部数据。

粘贴到新建的EXCLE里,但是,复制的数据都进入了同一列中:它们都在A列,没在B列。

此时,左键点击A列,在点击上面菜单栏的数据,点击数据里面的分列选项:第一个对话框选择下一步,第二个对话框将“逗号”选上然后点下一步,点完成。

此时A列就是横坐标,B列是纵坐标,今后在复制的时候,其他几组的横坐标列就可以删除了,因为都是一样的。

将3组数据全部导入。

导入后如下图:但是这些数据在Origin里面作图仍然会是重叠在一起的,所以我根据最高峰的三分之二高度左右,在后面两列数据中整体加1000,这样,就可以在同一张图中出现三行了。

然后关闭并保存好这个表。

然后打开Origin8先把这3行删掉:右键DELETE把excle保存成03格式,直接拖进来。

并且删掉不必要的列,整理一下,如图。

然后点击菜单栏中的PLOT,LINE将A设成X轴,BEG都设成Y轴,就OK了出来的是这个图:然后就点就可以了,注意修改出图的路径。

XRD精修教程

XRD精修教程

XRD精修教程By Maolin Xiang本教程以FeCr2O4样品的XRD数据为例。

将FeCr2O4XRD数据的txt文件打开,删除前面的样品信息,只保留衍射角度和对应峰值,并在数据home位置加上数据行数,保存。

如图一、二所示。

图一样品原始数据图二数据更改后图二中,第一行为样品名称,可不写。

第二行为数据行数,如本样品从10度测量至90度,每隔0.02度采集一个数据点,故共有(90-10)/0.02+1=4001行。

4001与下面衍射数据之间不能有空格回车,否则,PowderX打开为乱码。

打开(PowderX)软件,然后选择文件打开刚刚保存的FeCr2O4.txt文件。

如图三、四所示。

图三PowderX软件界面图四PowderX导入文件界面,文件类型选择All Files(*.*).在图四中选择需要导入的FeCr2O4.TXT文件,得到如图五所示结果。

图五PowderX打开FeCr2O4的衍射图样在软件界面选择文件,另存为FullProf(.dat)文件,如图六、七所示。

图六PowderX文件另存为图七然后将文件保存到相同盘符路径。

修改系统日期至2008年5月,因为本人电脑上所装软件为2008年版本。

若FindIt软件版本较高,则不需更改系统时间。

点击打开软件,界面如图八所示。

图八FindIt软件界面选择Type中的第二项,即Exclusive AND,然后在主界面选择样品组成元素。

如FeCr2O4,则选择Fe、Cr、O元素,然后点击右下角的Search,得到搜索结果。

如图九、十所示。

图九选择元素后界面图十搜索结果界面用打开原始XRD 数据文件FeCr 2O 4.raw 。

然后找出FeCr 2O 4的标准谱线,如图十一。

图十一 FeCr 2O 4的XRD 与标准谱找到图十一中的FeCr 2O 4的标准谱的CSD#,如图十一放大位置所示。

然后在图十中选择与CSD#相同的CCode ,并勾选。

本样品无相同号,故选取最近年号,则为2004年的CCode 为171121的选项。

XRD数据分析教程(Highscore 和Jade)

XRD数据分析教程(Highscore 和Jade)
1、点击Option中“Calculate Lattice”,输入计算晶胞参数所需参数
选择 晶系

d
(hkl)
a 显示 结果
b
c
2θ 、d、(hkl) 如何得到?
2、寻峰找2θ和晶面间距d
3、点击“View”,输出寻峰报告,可见2θ、晶面间距d、半高宽FWHM; 点击寻峰报告中峰位,在途中可现实此封位置(图中红线),此处比 Highscore便于观察半个峰的位置
一、Jade软件——物相检索
1、打开文件(ASC格式)
2
2、物相鉴定——选择物相种类及所含元素,选择完毕点击“OK”
3
3、得到可能的物质,此处比对峰位不方便,利用Highscore逐一比对峰位
优点:匹对物质较为准确, 有标准物质晶胞参数
4、双击下列任意物质,会出现此物质标准PDF卡片
二、Jade——晶胞参数
4、寻峰得到2θ和晶面间距d,标准卡片中得到(hkl),输入参数得到样品 晶胞参数
三、Jade——晶粒尺寸
谢乐公式:D=kλ/βcosθ
D:晶粒尺寸;λ:X射线波长;
β:衍射峰值半高宽的宽化程度;
θ:布拉格角;K:Scherrer 常数(已知)

计算晶粒尺寸(方法一)(拟合后size & strain plot 才可以按)
6、拟合完成后,点击“View”中显示拟合报告
7、与标准PDF卡片比对,点击去除手动添加的峰和标准卡片中不存在的峰,即可显示 结晶度
1、平滑,去除噪音干扰引起
6
2、调整基线扣除背底
7
3、点击整体拟合键,若出现以下情况,说明一次拟合峰数太多,可选择区域分开拟合
8
4、拖动鼠标,选择区域(蓝色部分)显示部分衍射峰,点击整体拟合键

XRD数据分析 全面详细教学教材

XRD数据分析  全面详细教学教材

二、Search Match检索工具进行物相
点击Search Match 进行分析
进行峰对比:
进行第二种物相分析
同样进行峰对比
初步确定物相为: Sr(SO4)ICSD Number: 028055 Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 ICSD Number: 040874
三、从findit软件中找到相应的cif 文件
XRD数据分析 全面详细
一、利用Origin绘图
1)数据的导入
选择曲线
结果
修改X轴
修改Y轴
寻峰
设置找峰范围:
将2theta角变成d值:
选取首列并编辑公式:
输入公式:
显示结果:
复制结果:
undo
粘贴至第三列:
隐藏数据列表:
将Y轴表头改为intensity 将X轴表头改为2theta
5、用Materials studio绘出球棒形 晶体结构
输入晶胞参数:
Sr(SO4)的球棒模型为:
此课件下载可自行编辑修改,仅供参考! 感谢您的支持,我们努力做得更好!谢谢
结果:
4.3修微结构
4.4修原子位子
两种物相每个原子都要改
4.5修择优取向
பைடு நூலகம் Sr(SO4) , weight %: 60.28361 +- 0.43405727
• Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 weight %: 39.71639 +0.43405727
输入第一种物相的含有的元素Sr、S、O
Sr(SO4)的球棒模型为:
同样Na2Zr(Si3O9)(H2O)2 的球棒模型为:
cif文件的输出:
cif文件为
四、运用maud 进行精修

jade6处理xrd数据的方法

jade6处理xrd数据的方法

jade6处理xrd数据的方法Jade 6 是一款常用的 XRD(X 射线衍射)数据分析软件,可以用于处理和分析 XRD 数据。

下面是一些常见的 Jade 6 处理 XRD 数据的方法:1、打开数据文件:在 Jade 6 中,选择“File”菜单下的“Open”选项,导入需要分析的XRD 数据文件。

2、进行背景拟合:选择“Analysis”菜单下的“Background”,在弹出的对话框中设置背景拟合参数,包括起始角度、结束角度、背景平滑程度等。

3、进行峰拟合:选择“Analysis”菜单下的“Peak”,在弹出的对话框中设置峰拟合参数,包括峰的起始角度、结束角度、峰高、峰宽度等。

4、进行晶胞参数拟合:选择“Analysis”菜单下的“Cell”,在弹出的对话框中设置晶胞参数拟合参数,包括晶胞体积、晶胞形状、晶胞内原子位置等。

5、进行相分析:选择“Analysis”菜单下的“Phase”,在弹出的对话框中输入已知相的化学式和晶体结构等信息,进行相分析。

6、进行对称性分析:选择“Analysis”菜单下的“Symmetry”,在弹出的对话框中输入晶体对称性信息,进行对称性分析。

7、进行晶体结构解析:选择“Analysis”菜单下的“Structure”,在弹出的对话框中输入晶体结构解析所需的信息,如晶胞参数、原子位置等。

8、进行可视化处理:选择“View”菜单下的“Visualization”,在弹出的对话框中进行可视化处理,如绘制衍射图谱、显示晶体结构等。

9、保存结果:选择“File”菜单下的“Save As”,将分析结果保存为 Jade 6 的专有格式或其他常用的数据格式。

以上是 Jade 6 处理 XRD 数据的一些常见方法,根据具体需求和分析目的的不同,还可以使用其他功能和参数进行更深入的分析和处理。

MDI_Jade最完整教程(XRD分析)

MDI_Jade最完整教程(XRD分析)

MDI Jade最完整教程(XRD分析)MDI Jade是一款用于X射线衍射(XRD)数据分析的软件,它可以用于晶体结构分析、晶体学参数计算、晶体定量分析等多种应用。

本教程将为您介绍MDI Jade 的基本操作和XRD数据分析的流程。

一、MDI Jade的基本操作1. 打开MDI Jade软件,点击“File”菜单,选择“Open”打开需要分析的XRD 数据文件。

2. 在“Tools”菜单下,选择“Calibrate”进行仪器校准。

选择“Standard”选项卡,输入标准样品的晶格参数和探测器参数,点击“Calibrate”按钮进行校准。

3. 在“Tools”菜单下,选择“Background Subtraction”进行背景去除。

选择“Linear”或“Spline”方法进行背景去除。

4. 在“Tools”菜单下,选择“Peak Fitting”进行峰形拟合。

选择“Profile”选项卡,选择峰形函数,点击“Fit”按钮进行峰形拟合。

5. 在“Tools”菜单下,选择“Quantitative Analysis”进行定量分析。

选择“Standard”选项卡,输入标准样品的化学成分和晶格参数,点击“Calculate”按钮进行定量分析。

二、XRD数据分析的流程1. 样品制备:将需要分析的样品制备成粉末状,保证样品的均匀性和细度。

2. XRD实验:使用XRD仪器对样品进行测量,得到XRD数据。

3. 仪器校准:使用标准样品进行仪器校准,保证XRD数据的准确性和可靠性。

4. 背景去除:对XRD数据进行背景去除,消除背景干扰。

5. 峰形拟合:对XRD数据进行峰形拟合,确定样品的晶体结构和晶格参数。

6. 定量分析:根据峰形拟合结果,进行定量分析,确定样品的化学成分和相对含量。

7. 结果分析:根据定量分析结果,分析样品的物理性质和化学性质,得出结论。

总之,MDI Jade是一款功能强大的XRD数据分析软件,可以帮助研究人员快速准确地分析XRD数据,为材料研究和制备提供重要的支持。

MDI-Jade最完整教程(XRD分析)

MDI-Jade最完整教程(XRD分析)

►PDF 菜单:
▪ PDF-Setup 命令:这个命令的作用是导入ICDD PDF 卡片索引。在拥有一个MDI Jade 软件的同 时,你必须拥有一套ICDD PDF 卡片库。在Jade 作物相检索前,必须导入ICDD PDF卡片索引。这 个命令打开PDF-Setup 对话框,建立PDF 卡片索 引。
► 注意: (1)该命令保存的是窗口中显示的图谱,如果窗口中显示的是
某一个图谱的一部分,那么,保存的只有那么一部分。保存前注意设置
显示为Full Range(View-Zoom Window菜单)。

(2)如果保存前作过平滑处理(smooth),则保存的数据为平
滑后的数据而非原始数据。
基本功能操作
峰形拟合:衍射峰一般都可以用一种“钟罩函数”来表示,拟合的意义就是 把测量的衍射曲线表示为一种函数形式。在作“点阵常数精确测量”、“晶 粒尺寸和微观应变测量”和“残余应力测量”等工作前都要经过“扣背 景”——图形拟合”的步骤。常用工具栏中的拟合命令将全谱拟合,但有时 因为窗口中峰太多,计算受阻而不能进行,此时,需要用到手工拟合按钮。 拟合方法在“拟合”一节作祥细介绍。
► File菜单 :
▪ 在这一菜单中,主要命令包括读入数据文件的两种方式Patterns和 Thumbnail。
▪ 另一个特别有用的命令是Save。这个命令具有下级菜单,其中主要的是: ▪ Save-Primary Pattern as *.txt:将当前窗口中显示的图谱数据以文本格
式(*.txt)保存,以方便用其它作图软件如Origin作图和作其它处理。
►因此,通过实验测量或理论计算,建立一个 “已知物相的卡片库”,将所测样品的图谱 与PDF卡片库中的“标准卡片”一一对照, 就能检索出样品中的全部物相。

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明

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2021/10/10
二、导入标准PDF卡片
1. 在Origin8.0软件的工具 栏中单击 工具,弹 出如右图所示窗口,选 中处理过的PDF文本文 件,点击“打开”按钮
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弹出的图形如下图所示
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2021/10/10
2.选中生成的标准图样 (折线),右击,选 择“Change Plot to-
Origin8.0简单使用说明
制作者:D308 时间:2012年4月
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目录
导入XRD文本数据 绘出XRD衍射图样 标准PDF卡片的导入 作出标准衍射图样 衍射图样的加工与修改
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导入XRD文本数据
导入单个文本数据 导入多个文本数据
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即将PDF卡片导入了Excel工作表中,其效果 如下图所示
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6. 删除多余的几列,只保留I(f)和2-Theta两列, 并调换两列
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7.将经上述步骤处理后的PDF卡片另存为txt格式 即可
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8.打开保存过后的PDF文本文件,检查是否修改 完全
Column/Bar”
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效果如下图所示
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3.改变柱状图的粗细程度:双击柱状图,选择 “Spacing”,在Gap Between Bars(in %)下拉 框中选择100,点击“OK”按钮
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2021/10/10
如图所示
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xrd的处理流程[整理版]

xrd的处理流程[整理版]

1.
(1)打开SearchMatch软件,点击File →Import →Profile Date 导入要处理的XRD图,点击Settings→Restrictions→选择Must Include→输入所要检测的元素(如Cu)确定即可→点击左上角的Card Retrieval (对照标准卡片),确定样品
(2)再次点击File →Export →保存如1trip.date(一般与样品编号一一对应),关闭SearchMatch
(3)以文本文档的形式打开1trip.date →将所有数据复制到Word 文档→选择所有数据→点击表格→转换→文本转换成表格,选择前两列所需数据,复制
(4)打开Microcal Origin软件,右击A(x) B(y)→Paste导入上述复制数据→点击左下角∕绘图→根据需求点击横纵坐标的数据范围和格式大小(双击坐标数据即可出现对话框进行设置)→点击输出压面,选择JPG格式保存(使用Word时即可插入该图片即可)
2.注意:如需处理多个图形,则需要在A(x) B(y)栏右击选择Insert
增加所需列数,例处理2个XRD图像,增加3列E.D.C,右击E →Set As →X(同理设置D和E,但D和E要设置相同),相应出现
E(X1),D(Y1),C(Y1),A(X2),B(Y2),根据要处理的图像相应的导入数据E(X1),D(Y1), A(X2),B(Y2) →右击C(Y1) →Set Column V alues 设置Col(c)= Col(d)+2000(根据需要选择任意数字)→OK ,选择E(X1),
C(Y1),A(X2),B(Y2)列数据→单击左下角∕绘图,即可得到两个图像,根据需求点击横纵坐标的数据范围和格式大小。

xrd晶胞参数数据处理

xrd晶胞参数数据处理

xrd晶胞参数数据处理XRD晶胞参数数据处理X射线衍射(X-ray diffraction,简称XRD)是一种常用的材料表征手段,可以通过分析材料的晶体结构信息来揭示材料的性质。

而晶胞参数是描述晶体结构的重要参数之一,它包括晶胞的晶格常数和晶胞的几何参数。

在XRD实验中,通过对X射线衍射图谱的处理和分析,可以得到晶胞参数的精确数值。

XRD实验通常需要使用X射线衍射仪进行测量。

首先,样品会受到入射X射线的照射,然后样品中的晶体结构会对入射X射线进行衍射。

衍射过程中,入射X射线的波长和样品的晶胞参数有关,因此通过测量衍射角度和计算衍射峰的位置,可以确定晶胞参数的数值。

在XRD实验中,常用的衍射峰分析方法有峰位分析和峰形分析。

峰位分析可以通过测量衍射峰的位置来确定晶胞参数的数值。

对于立方晶系的晶体,可以利用布拉格方程(nλ = 2d sinθ)计算晶胞参数。

其中,n为衍射阶数,λ为入射X射线的波长,d为晶面间距,θ为衍射角。

通过测量不同衍射阶数的衍射峰位置,并代入布拉格方程,可以得到晶胞参数的数值。

对于其他晶系的晶体,需要根据不同的晶体结构类型进行相应的分析和计算。

除了峰位分析,峰形分析也是XRD实验中常用的方法。

峰形分析可以通过观察衍射峰的形状和宽度来获得晶体结构的信息。

衍射峰的形状和宽度受到晶体的晶胞参数、晶体的缺陷和应力等因素的影响。

通过对衍射峰的形状和宽度进行分析,可以获得晶胞参数的精确数值,并进一步了解晶格中的缺陷和应力情况。

在进行XRD数据处理时,需要使用专门的数据处理软件或编程语言来进行计算和分析。

常用的软件包括Origin、X'Pert HighScore、FullProf等。

这些软件可以自动识别衍射峰并进行拟合,从而得到晶胞参数的数值。

此外,还可以通过与已知晶体结构进行比对和匹配,进一步验证晶胞参数的准确性。

XRD晶胞参数数据处理是一项重要的工作,它可以通过对X射线衍射图谱的分析和计算,获得材料的晶胞参数信息。

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明

Origin8.0处理xrd数据简单使用说明Origin80 处理 XRD 数据简单使用说明在材料科学、化学等领域,X 射线衍射(XRD)技术是一种非常重要的分析手段,用于研究物质的晶体结构、成分等。

而 Origin80 是一款功能强大的数据处理软件,能够帮助我们对 XRD 数据进行有效的分析和处理。

接下来,我将为您详细介绍如何使用 Origin80 处理 XRD 数据。

一、软件的打开与数据导入首先,打开 Origin80 软件。

在菜单栏中选择“File”(文件),然后点击“Import”(导入),会出现多种数据导入选项。

对于 XRD 数据,通常我们选择“Single ASCII”(单个 ASCII 文件)或者“Multiple ASCII”(多个 ASCII 文件),这取决于您的数据是单个文件还是多个文件。

找到您存放 XRD 数据的文件夹,选中要导入的数据文件,点击“Open”(打开)。

在弹出的对话框中,根据数据的格式设置相应的参数,如列数、分隔符等。

设置完成后,点击“OK”,数据就会被成功导入到 Origin80 中。

二、数据的初步处理数据导入后,我们需要对其进行初步的处理,以便更好地分析。

1、坐标轴设置双击坐标轴,会弹出“Axis Dialog”(坐标轴对话框)。

在“Scale”(刻度)选项卡中,可以设置坐标轴的范围、刻度间隔等。

对于 XRD数据,通常 X 轴表示角度(2θ),范围根据数据的实际情况设置,一般从 10°到 80°或 90°。

在“Title &Format”(标题和格式)选项卡中,可以设置坐标轴的标题、字体、大小等。

2、数据的平滑处理为了减少数据的噪声,我们可以对数据进行平滑处理。

在菜单栏中选择“Analysis”(分析),然后点击“Signal Processing”(信号处理),再选择“Smoothing”(平滑)。

在弹出的对话框中,选择合适的平滑方法和参数,点击“OK”即可。

(完整版)XRD操作流程

(完整版)XRD操作流程

(完整版)XRD操作流程XRD操作流程1.打开循环水系统:水温默认值在17,如果超过20,表示设备出现故障,禁止继续使用;水压默认值在0.3,不能超过0.4,否则禁止使用。

2.打开XRD测试仪:开关在仪器侧面,此时仪器正面的power指示灯会亮起,当代半分钟机器自检过程,然后方可打开计算机。

3.打开PCXRD软件:会弹出软件的主界面。

4.打开display & setup/初始化:会出现一个对话框,同时检测样品室的门是否关闭,若关闭,对话框中的小方框显示绿色,否则是红色。

如果样品已经放好,在门关闭的状态下点击OK便可后续的测量级分析。

这里要注意的是,从点击OK时起,直到测试结束为止,display这个对话框不能关闭。

(right calib是用来将XRD的测试角度归零的,一次测试多个样品的时候需要用到这个功能)。

5.放样品:将样品放进卡槽,样品与卡槽之间放入极少量的橡皮泥,大玻璃板盖在样品上面将橡皮泥压平。

放入样品室时,先将弹簧片压下,再将卡槽推到最里面。

探测器上有3个狭缝,其中最右边的可以更换,有0.3和0.15两种,其中0.3表示射线入射强度大。

6.打开Right gonio condition/设定参数:弹出对话框后双击蓝色横条,其中,测试角度范围、步距、扫描速度以及狭缝宽度是可以更改的,其他保持不变。

参数设定好后,点击OK,在弹出的对话框中输入便于分辨的文件名,点击new,然后点击close。

在下面方框旁边点击append,这样,上面新建的文件就会调用到下面的方框中。

7.打开Right gonio system/扫描样品:在条件设定的对话框中,选择好要进行分析的样品。

点击start,这样测试界面就会出现样品名称。

再点击start,开始扫描。

8.打开XRD Data/保存数据:数据的地址是C盘/xddat/standard,在没进行处理的情况下,自己先前命名好的文件夹中只有两个文件,将整个文件夹拖拽到XRD:Basic process对话框,点击Go会处理出。

MDIJade最完整教程XRD分析

MDIJade最完整教程XRD分析

MDIJade最完整教程XRD分析在材料科学领域,X 射线衍射(XRD)技术是一种极其重要的分析手段,它能够帮助我们了解材料的晶体结构、物相组成等关键信息。

而MDI Jade 软件则是处理和分析XRD 数据的常用工具之一。

接下来,就让我们一起深入探索 MDI Jade 软件在 XRD 分析中的完整教程。

首先,我们要获取 XRD 数据。

这通常是通过 X 射线衍射仪对样品进行测试得到的。

得到的数据可能是以文本格式(如txt )或者特定的仪器数据格式保存。

打开 MDI Jade 软件后,第一步是导入数据。

在“File”菜单中选择“Read”,然后找到您保存的 XRD 数据文件并打开。

导入数据后,我们需要对数据进行初步的处理和优化。

在“Edit”菜单中,可以选择“Preferences”来设置一些基本的参数,比如坐标轴的范围、刻度等,以便更好地展示和分析数据。

接下来,进行寻峰操作。

在“Analyze”菜单中选择“Find Peaks”,软件会自动检测出数据中的峰位。

您还可以根据实际情况调整寻峰的灵敏度和阈值等参数,以获得更准确的峰位信息。

得到峰位信息后,我们可以进行物相鉴定。

MDI Jade 软件拥有一个强大的物相数据库。

在“Search/Match”菜单中选择“Setup”,设置好搜索条件,如元素组成、晶系等,然后点击“Search”进行搜索匹配。

软件会给出可能的物相,并根据匹配度进行排序。

对于确定的物相,我们可以进一步查看其详细信息。

在搜索结果中选中相应的物相,点击“View”可以查看该物相的晶体结构、晶格参数等详细信息。

除了物相鉴定,我们还可以利用 MDI Jade 进行定量分析。

这需要先建立标准曲线或者使用已知含量的样品进行标定。

然后,通过软件提供的定量分析功能,计算出样品中各物相的相对含量。

在分析过程中,有时候需要对数据进行平滑处理,以减少噪声的影响。

在“Process”菜单中选择“Smooth”,可以选择不同的平滑方法和参数。

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