三极管检验规范
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三极管检验规范
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第 1 页
第
文 件 编 号
号
三极管检验规范
版
本
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附表
序号
检验项目
缺陷内容 表面破损，规格、型号、标识错、漏，引脚严重氧化， 混料 表面脏污，标识不清晰，引线脚轻微氧化 外形尺寸及引脚尺寸严重超差且影响装配
判定 B
1
外观
C B C B B B B B B C
2
结构尺寸 外形尺寸及引脚尺寸严重偏差且不影响或断裂 Vbes参数超出规格范围
4
电气性能
Vces参数超出规格范围 BVceo参数超出规格范围 hFE参数超出规格范围 可焊性后,上锡面<80%
5
可焊性 可焊性后,上锡面80%~98%
检验项目 抽样方案 GB2828-03正常 检查一次抽样 GB2829-03一次 抽样 检查 水平 II II 判别 水平 AQL B=0.04 C=0.4 B=15 C=30 n=10，Ac=0，Re=1 n=10，Ac=1，Re=2 RQL 判定数组
5.1，5.4 5.2，5.3，5.5
8
处理方法:按《电子类元件检验标准总则》执行
拟制
审核
批准
第 2 页
第
号
第
3
页
第
文 件 编 号
号
三极管检验规范
1 2 3 4 4.1 4.2 4.3 4.4 4.5 5 5.1 5.2 5.3 5.4 5.5 6 7
版
本
号 年 第 页 月 共 日 页
生 效 日 期 页 次
目的：掌握三极管的检验标准，使来料质量更好的符合我公司的品质要求。 适用范围：讯歌科技所使用的三极管。 检验仪器和设备：半导体管特性图示仪、万用表、游标卡尺、锡炉。 检验项目及技术要求 外观:表面无破损，规格、型号标识清楚，无混料，引脚无氧化现象。 结构尺寸：各结构尺寸应符合装配或样品要求。 插件三极管引线脚抗折性：经抗折后，引脚无松动断裂现象。 电气性能：参见附表一。 可焊性：经焊接后，上锡面要求大于 98%。 检验方法 外观:目测法。 结构尺寸:试装或用游标卡尺测量。 插件三极管引脚抗折性:从引脚根部折引脚 900,来回折五次。 电气性能：电气性能测试参见《半导体管特性图示仪操作指导》 。 可焊性:将引脚在锡炉中浸锡 3-5S 后取出（锡炉温度为 245±5℃） 。 缺陷分类（见附表二） 抽样方案
三极管的检测方法与经验
三极管的检测方法与经验三极管是一种常用的电子器件，被广泛应用于电子电路中。
为了确保三极管的正常工作，我们需要对其进行检测。
以下将介绍三极管的检测方法与经验：一、外观检测方法：1.观察引脚：三极管一般有三个引脚，分别是基极（B）、发射极（E）和集电极（C）。
我们需要检查这些引脚是否完好无损，无断裂、弯曲等现象。
2.观察外壳：观察三极管的外壳是否有明显的损坏或变形。
如果外壳被烧焦或者熔化，很可能是因为三极管工作时发生了过热。
3.检查标记：三极管的标记通常会在外壳上或者引脚上，我们需要核对标记与规格书上的对应关系。
二、直流参数检测方法：1. 测量极间电阻：使用万用表的电阻档，分别测量基极与发射极之间的电阻（Rbe）和基极与集电极之间的电阻（Rbc）。
通常来说，Rbe应当大于Rbc。
2.测量电流放大倍数：将三极管与电源、电阻连接成一个简单的放大电路。
通过变化输入电压并测量相关的电流，可以计算出三极管的电流放大倍数（β）。
一般来说，β的值应该在规格书提供的范围内。
3. 测量饱和电压：通过各引脚电压差，可以测量三极管的饱和电压（Vce(sat)）。
根据规格书的要求进行判断。
4. 测量截止电流：将三极管与电源、电阻连接成一个简单的截止电路。
通过测量截止电流（Icutoff）来判断三极管的工作状态。
截止电流应当接近于零。
三、交流参数检测方法：1.测量输入电阻：在交流放大电路中，测量输入电阻可以用万用表的电阻档进行。
输入电阻的值应当在规格书提供的范围内。
2.测量输出电阻：在交流放大电路中，测量输出电阻可以通过变化输出电压并测量相关的电流，来计算输出电阻的值。
3.测量频率响应：通过输入不同频率的信号并测量输出信号的幅度，可以得到三极管的频率响应特性。
一般来说，三极管应当保持线性放大，即输出信号的幅度与输入信号的幅度成正比。
四、常见问题与经验：1.三极管引脚错误：在使用三极管时，经常会出现引脚接错的情况。
此时，应对三极管重新进行引脚标记，并按照正确的引脚连接。
MOS管和三极管检验标准与规范
√
锡炉
静电环
续表一:
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016-5-23
原材料名称：三极管
页码
4/4
4.特殊项目检验标准及检验方法
4.1三极管材质保证：同一材质物料,供应商须向我司提供原材料出厂材质证明书；每年核查一次，无材质证明书按MA判定处理。
4.2三极管例行检验,老化试验、耐温试验及以上带“★”项目供应商每半年提供一次检测报告于我司；
≤０.５欧合格
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
跨导
gm(s)
一般抽样
用ＵＩ9610ＭＯＳ管分选仪测试
1～4Ｖ合格
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
耐压
Ｖ（ＢＲ）ＤＳＲ（Ｖ）
一般抽样
用ＵＩ9610ＭＯＳ管分选仪测试
体积大的：≥600Ｖ
体积小的：≥70Ｖ
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
可焊性
1-2PCS
√
1.0以上
视力
静电环
引脚
一般抽样
正常光线下检查引脚表面
引脚光亮无氧化现象，无弯曲
现象
引脚灰暗氧化，有弯曲现象
√
1.0以上视力
静电环
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016
原材料名称：三极管
页码
Hale Waihona Puke 3/4检验项目抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
锡炉
静电环
续表一:
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016-5-23
原材料名称：三极管
页码
4/4
4.特殊项目检验标准及检验方法
4.1三极管材质保证：同一材质物料,供应商须向我司提供原材料出厂材质证明书；每年核查一次，无材质证明书按MA判定处理。
4.2三极管例行检验,老化试验、耐温试验及以上带“★”项目供应商每半年提供一次检测报告于我司；
≤０.５欧合格
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
跨导
gm(s)
一般抽样
用ＵＩ9610ＭＯＳ管分选仪测试
1～4Ｖ合格
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
耐压
Ｖ（ＢＲ）ＤＳＲ（Ｖ）
一般抽样
用ＵＩ9610ＭＯＳ管分选仪测试
体积大的：≥600Ｖ
体积小的：≥70Ｖ
不在范围内
√
ＭＯＳ管分选仪测试静电环
可焊性
1-2PCS
√
1.0以上
视力
静电环
引脚
一般抽样
正常光线下检查引脚表面
引脚光亮无氧化现象，无弯曲
现象
引脚灰暗氧化，有弯曲现象
√
1.0以上视力
静电环
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016
原材料名称：三极管
页码
Hale Waihona Puke 3/4检验项目抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
三极管来料检验标准
三极管来料检验标准
三极管是一种常见的半导体器件，广泛应用于电子设备中的放大、开关、稳压等功能。
为了确保生产出质量稳定的三极管产品，对来料进行严格的检验是非常重要的。
本文将介绍三极管来料检验的标准和方法，以帮助文档创作者更好地了解和掌握这一过程。
首先，对于三极管来料检验，我们需要关注以下几个方面：
1.外观检查。
外观检查是最基本的检验步骤之一。
我们需要检查三极管的外壳是否完整，有无损坏或变形，引脚是否齐全，焊接是否良好等。
同时，还需要检查产品标识是否清晰可见，以确保产品的可追溯性。
2.封装参数检查。
三极管的封装参数对其性能有着重要的影响，因此需要对封装参数进行检查。
这包括对封装材料、尺寸、引脚布局等进行检验，以确保符合相关标准要求。
3.电性能检查。
电性能是三极管最重要的指标之一。
在来料检验中，需要对三极管的电参数进行检查，包括静态特性和动态特性。
静态特性包括漏极电流、饱和电压等参数，而动态特性包括开关特性、频率响应等参数。
4.可靠性检查。
可靠性是三极管产品质量的重要保证。
在来料检验中，需要对三极管的可靠性进行检查，包括对温度、湿度、振动等环境条件下的性能进行测试，以确保产品在各种条件下都能正常工作。
综上所述，三极管来料检验标准涉及外观检查、封装参数检查、电性能检查和可靠性检查等多个方面。
只有严格按照相关标准进行检验，才能保证生产出质量稳定的三极管产品。
希望本文能够帮助文档创作者更好地了解和掌握三极管来料检验的标准和方法，以提高产品质量和生产效率。
三极管检验规范
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR 测试仪 数字万用表
检验时，必 须佩带静电
带。
二极管类型
检 测方法
LED 其它二极管
备注
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED 需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极 管不合格。 注：有标记的一端为负极。
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于 1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准（AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 MA
b. 测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位 和数字频率
计
电性检测方法
晶体
检 测方法
32.768KHz 16.934MHz 25.000MHz
三极管来料抽样检验规范
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（ISO9001-2015）
1.0目的
本检验规范的目的是保证本公司所购三极管的质量符合要求。
2.0定义
2.1缺陷类别分为：严重缺陷缺陷（CR ）、主要缺陷（MA ）和次要缺陷（MI ）；
2.2严重缺陷（CR ）：不符合安全规范或可能对使用者、维护者造成人身危害的缺陷；
2.3主要缺陷（MA ）：关键质量特性不合格，影响生产并可能导致故障或降低产品性能的缺陷；
2.4次要缺陷（MI ）：一般质量特性不合格，但不影响使用功能及性能的缺陷。
3.0检验条件
3.1光照度：300-400LX(相当于40W 日光灯500mm~600mm 距离的光源)
3.2检验距离：550mm-650mm
3.3检验人员视力要求在0.8以上
4.0抽样方案与判定标准
外观检验抽样方案按GB/T2828.1-2013标准，正常检验一次抽样方案，一般检验水平Ⅱ，AQL:致命缺陷（CR ）=0 重缺陷（MA ）=0.65 轻缺陷（MI ）=1.5。
尺寸及其他特性测试5-10PCS ，0收1退。
取样方式：采取分散取样方式，5箱以内，每箱都应取样；超出10箱，按（5+总箱数÷5）箱进行分散取样。
AVH-PZ-07 三极管检验规范
文件修订履历
版次
修订内容及原因
修订页次
修订日期
A0
初版发行
2018-10-19
1、目的
明确三极管来料品质验收标准，规范检验动作，使检验、判定标准能达到一致性；
2、范围
适用于本公司所有三极管来料检验;
3、工作程序
3.1检验条件：
a检验区域要求整齐清洁；
b环境温度25℃±5℃、湿度30%～70%；
c材料均在有静电防护的区域下检验；
d检验工具：卡尺、烙铁、显微镜、晶体管图示仪；
3.2检验内容:
检验
项目
抽样
计划
规格要求
缺点描述
判定
CR
MA
MI
一、
外观
GB/T 2828.1-2003一般
II级
CR=0
MA=0.4
MI=1.0
物料标识清楚，标签上所写内容与送检单&BOM表需求内容相符；检查产品的型号规格、包装、厂商、环保标示是否正确，以及外包装箱的外观是否完好无破损，无变形
√
生产D/C不能超过3年
D/C超出3年
√
二、
功能
量测
CR=0
MA=0.4
MI=1.0
按照承认书要求进行功能测试：CE极耐压VCEO、放大倍数HFE
测试功能异常
√
三、
关键
尺寸
5pcs/批
Acc=0
Rej=1
关键尺寸（厚度、长、宽）
尺寸超出公差范围
√
四、试组装
5pcs/批
Acc=0
Rej=1
将三极管与产品进行试组装，元件本体和PIN脚均不影响组装且不得与其他元件发生干涉
标识不清楚，厂商/型号不清楚，无相关标识
版次
修订内容及原因
修订页次
修订日期
A0
初版发行
2018-10-19
1、目的
明确三极管来料品质验收标准，规范检验动作，使检验、判定标准能达到一致性；
2、范围
适用于本公司所有三极管来料检验;
3、工作程序
3.1检验条件：
a检验区域要求整齐清洁；
b环境温度25℃±5℃、湿度30%～70%；
c材料均在有静电防护的区域下检验；
d检验工具：卡尺、烙铁、显微镜、晶体管图示仪；
3.2检验内容:
检验
项目
抽样
计划
规格要求
缺点描述
判定
CR
MA
MI
一、
外观
GB/T 2828.1-2003一般
II级
CR=0
MA=0.4
MI=1.0
物料标识清楚，标签上所写内容与送检单&BOM表需求内容相符；检查产品的型号规格、包装、厂商、环保标示是否正确，以及外包装箱的外观是否完好无破损，无变形
√
生产D/C不能超过3年
D/C超出3年
√
二、
功能
量测
CR=0
MA=0.4
MI=1.0
按照承认书要求进行功能测试：CE极耐压VCEO、放大倍数HFE
测试功能异常
√
三、
关键
尺寸
5pcs/批
Acc=0
Rej=1
关键尺寸（厚度、长、宽）
尺寸超出公差范围
√
四、试组装
5pcs/批
Acc=0
Rej=1
将三极管与产品进行试组装，元件本体和PIN脚均不影响组装且不得与其他元件发生干涉
标识不清楚，厂商/型号不清楚，无相关标识
三极管检验规范
三极管检验规范
1.0目的
规范三极管检验标准及检验方法，确保来料符合要求。
2.0范围
适用于小功率三极管的来料品质验证。
3.0定义
Na
4.0责任
4.1IQC负责来料检验；
4.2MRB负责异常物料的处置。
5.0参考：
QP－B－002品质管制程序
6.0程序
6.1抽样方案
依据MIL—STD—105E按LEVELⅡ级标准抽样，样品必须是随机从不同的最好
包装单元中抽取规定数量的样品，不允许只在一个包装单元中抽取样品，除非只
有一个包装单元。
特殊要求另有说明除外。
6.2检验项目及检验标准：
检验目
检验标准
AQL
检验方法
外
观
1、包装内（外）均须有正规标签，且标识一致；
2、表面平整光滑，无破损现象，封装牢固；
3、丝印标识清晰且与外标鉴一致，符合BOM要求；
4、引脚光洁平直，无弯曲、断痕、氧化脱皮现象。
1.0
20cm处目视检测
尺
寸
1、管身尺寸与样品相符，厚度允差±0.05mm;
2、引脚尺寸与样品相符，长度允差±0.1mm，
直径允差±0.05mm，间距允差±0.5mm
0.4
游标卡尺检测
特
性
1、电流放大系数β符合订单要求；
※2、极间反向电流，符合分供方技术资料（Icbo、Iceo）；
※3、极限参数符合分供方技术资料
（pcm）集电极最大耗散功率
（Icm）集电极允许过最大电流
U（br）ceo C-E极击穿电压
4、管脚可焊性良好。
0.4
△精确万用表测量β
△可焊性试验用锡炉检测
带※号表示此项暂不检测
1.0目的
规范三极管检验标准及检验方法，确保来料符合要求。
2.0范围
适用于小功率三极管的来料品质验证。
3.0定义
Na
4.0责任
4.1IQC负责来料检验；
4.2MRB负责异常物料的处置。
5.0参考：
QP－B－002品质管制程序
6.0程序
6.1抽样方案
依据MIL—STD—105E按LEVELⅡ级标准抽样，样品必须是随机从不同的最好
包装单元中抽取规定数量的样品，不允许只在一个包装单元中抽取样品，除非只
有一个包装单元。
特殊要求另有说明除外。
6.2检验项目及检验标准：
检验目
检验标准
AQL
检验方法
外
观
1、包装内（外）均须有正规标签，且标识一致；
2、表面平整光滑，无破损现象，封装牢固；
3、丝印标识清晰且与外标鉴一致，符合BOM要求；
4、引脚光洁平直，无弯曲、断痕、氧化脱皮现象。
1.0
20cm处目视检测
尺
寸
1、管身尺寸与样品相符，厚度允差±0.05mm;
2、引脚尺寸与样品相符，长度允差±0.1mm，
直径允差±0.05mm，间距允差±0.5mm
0.4
游标卡尺检测
特
性
1、电流放大系数β符合订单要求；
※2、极间反向电流，符合分供方技术资料（Icbo、Iceo）；
※3、极限参数符合分供方技术资料
（pcm）集电极最大耗散功率
（Icm）集电极允许过最大电流
U（br）ceo C-E极击穿电压
4、管脚可焊性良好。
0.4
△精确万用表测量β
△可焊性试验用锡炉检测
带※号表示此项暂不检测
三极管来料检验作业指导
1.3外观出现裂痕、破裂等。
1.4引脚端强度不符合要求。
1.5过波峰焊后，其外观和性能发生变化。
1.6性能指标超标。
2、轻缺陷
2.1外观不清洁、不光滑等。
2.2标志不清晰。
2.3可焊性不良。
二极管来料检验作业指导
产品名称
规格、型号
拟制
审核
批准
二极管
IN4148
李谨
陈红燕
一、目的：规范的目的是保证二极管类元器件质量符合要求
2.4引脚长短一致，封装无松动。
2.5可焊性良好。
3、性能检验
变压器的额定电流，额定电压、空载电流、负载损耗符合供方产品手册。
4、引出端强度
引脚弯曲、扭转、拉力应无松动，无可见损伤，测试性能仍符合允许值范围。
六、检验方法
1、所用仪器、仪表、工具：万用表、卡尺、稳压源一台、电烙铁
等。
2、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准，参照产品手册逐项检验。
六、缺陷分类判定
2、重缺陷
1.1型号规格和外形尺寸不符合设计文件。
1.2表面标志不符合规范。
1.3外观出现裂痕、破裂等。
1.4引脚端强度不符合要求。
1.5过波峰焊后，其外观和性能发生变化。
1.6性能指标超标。
2、轻缺陷
2.1外观不清洁、不光滑等。
2.2标志不清晰。
2.3可焊性不良。
变压器来料检验作业指导
2、外观检验
2.1规格型号、外形尺寸符合设计文件设计所要求有其产品手册。
2.2标识应正确、清晰、一致性应符合规范。
2.3外表应清洁、无缺角、破裂等不良现象。
2.4引脚长短一致，封装无松动。
2.5可焊性良好。
2功能检验:
1.4引脚端强度不符合要求。
1.5过波峰焊后，其外观和性能发生变化。
1.6性能指标超标。
2、轻缺陷
2.1外观不清洁、不光滑等。
2.2标志不清晰。
2.3可焊性不良。
二极管来料检验作业指导
产品名称
规格、型号
拟制
审核
批准
二极管
IN4148
李谨
陈红燕
一、目的：规范的目的是保证二极管类元器件质量符合要求
2.4引脚长短一致，封装无松动。
2.5可焊性良好。
3、性能检验
变压器的额定电流，额定电压、空载电流、负载损耗符合供方产品手册。
4、引出端强度
引脚弯曲、扭转、拉力应无松动，无可见损伤，测试性能仍符合允许值范围。
六、检验方法
1、所用仪器、仪表、工具：万用表、卡尺、稳压源一台、电烙铁
等。
2、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准，参照产品手册逐项检验。
六、缺陷分类判定
2、重缺陷
1.1型号规格和外形尺寸不符合设计文件。
1.2表面标志不符合规范。
1.3外观出现裂痕、破裂等。
1.4引脚端强度不符合要求。
1.5过波峰焊后，其外观和性能发生变化。
1.6性能指标超标。
2、轻缺陷
2.1外观不清洁、不光滑等。
2.2标志不清晰。
2.3可焊性不良。
变压器来料检验作业指导
2、外观检验
2.1规格型号、外形尺寸符合设计文件设计所要求有其产品手册。
2.2标识应正确、清晰、一致性应符合规范。
2.3外表应清洁、无缺角、破裂等不良现象。
2.4引脚长短一致，封装无松动。
2.5可焊性良好。
2功能检验:
三极管检验规范
(4).失效率：额定工作条件下，三极管使用的失效率要求≤100PPM。
九、检验项目、缺陷等级（详见下表）
检验项目、缺陷等级
项目
来料检验的项目
不定期抽检的项目
样品验证的项目
缺陷的等级
致命缺陷
严重缺陷
轻缺陷
1
放大倍数
√
√
√
2
击穿电压
√
√
√
3
引脚的耐焊性
√
√
√
4
高温试验
√
√
√
5
低温试验
√
√
√
6
温度循环试验（8）、温度循环试 Nhomakorabea：三极管放入恒温箱中将温度调到-55±3℃（30min）转到125±3℃（30min）循环5次，高低温转换时间小于1min，在常温下放置2h，测试结果表明其特性变化符合我司产品要求。
（9）、引脚耐焊性：在锡炉温度为260℃±5℃的条件下，持续时间10s±1s，浸入深度距样品本体根部2mm±0.50mm处，测试结果表明其外观、性能特性变化均符合我司产品要求。
十、相关文件：
《三极管物料承认书》
《进料检验管理程序》
《不合格品管理程序》
十一、相关记录：
《来料检查报告》
《供应商纠正和预防措施要求表》
√
√
√
7
寿命试验
√
√
√
8
振动试验
√
√
√
9
失效率
√
√
√
10
外观
√
√
√
11
可焊性
√
√
√
12
尺寸
√
√
√
13
九、检验项目、缺陷等级（详见下表）
检验项目、缺陷等级
项目
来料检验的项目
不定期抽检的项目
样品验证的项目
缺陷的等级
致命缺陷
严重缺陷
轻缺陷
1
放大倍数
√
√
√
2
击穿电压
√
√
√
3
引脚的耐焊性
√
√
√
4
高温试验
√
√
√
5
低温试验
√
√
√
6
温度循环试验（8）、温度循环试 Nhomakorabea：三极管放入恒温箱中将温度调到-55±3℃（30min）转到125±3℃（30min）循环5次，高低温转换时间小于1min，在常温下放置2h，测试结果表明其特性变化符合我司产品要求。
（9）、引脚耐焊性：在锡炉温度为260℃±5℃的条件下，持续时间10s±1s，浸入深度距样品本体根部2mm±0.50mm处，测试结果表明其外观、性能特性变化均符合我司产品要求。
十、相关文件：
《三极管物料承认书》
《进料检验管理程序》
《不合格品管理程序》
十一、相关记录：
《来料检查报告》
《供应商纠正和预防措施要求表》
√
√
√
7
寿命试验
√
√
√
8
振动试验
√
√
√
9
失效率
√
√
√
10
外观
√
√
√
11
可焊性
√
√
√
12
尺寸
√
√
√
13
三极管检验方法
2.1.2检验方法：目测法。
2.2外形尺寸
2.2.1技术要求：符合规格书的规定尺寸。
2.2.2检验方法：用游标卡尺测量。
2.3电气性能
2.3.1放大系数
a、技术要求：在产品规格书的规定条件下，符合容许值。
b、检验方法：用晶体管测试仪进行测量。
2.3.2集电极—发射极饱和电压
a、技术要求：在产品规格书的规定条件下，符合容许值。
b、检验方法：用晶体管测试仪进行测量。
2.3.3基极—发射极饱和电压
a、技术要求：在产品规格书的规定条件下，符合容许值。
b检验方法：用晶体管测试仪进行测量。
2.3.4耐焊接热
a、技术要求：无可见损伤、标志清楚；容量变化小于±10%。
b、检验方法：浸入温度为260±5℃的熔锡内，外保留1.5mm—2.0mm距离主体边缘，浸入时间5±0.5秒。
三极管检验规范
编制日期
审核日期
批准日期
修订记录
修订状态修改内容源自修改人批准人日期1、目的：本标准规定了三极管的检验要求和检验方法。
2、检验项目和检验方法
2.1外观和标志
2.1.1技术要求：外包装箱应标明产品编号、型号、生产日期、数量、制造商名称等；三极管表面不应有锈蚀、裂痕、压痕和其它机械性损伤；标志应清晰、正确、牢固。
重缺陷：0.065轻缺陷：0.65
4、缺陷分类
4.1重缺陷：错料、混料，来料裂、变形，电性能不符合，引脚不上锡。
4.2轻缺陷：尺寸略超差，但不影响使用；外观轻微缺陷，但不影响使用。
2.4可焊性
a、技术要求：导线上沾锡面积≥90%。
b、检验方法：导线须浸入助焊剂后再浸入235±5℃的熔锡内，距离主体2.0—2.5mm,浸入时间2±0.5秒。
2.2外形尺寸
2.2.1技术要求：符合规格书的规定尺寸。
2.2.2检验方法：用游标卡尺测量。
2.3电气性能
2.3.1放大系数
a、技术要求：在产品规格书的规定条件下，符合容许值。
b、检验方法：用晶体管测试仪进行测量。
2.3.2集电极—发射极饱和电压
a、技术要求：在产品规格书的规定条件下，符合容许值。
b、检验方法：用晶体管测试仪进行测量。
2.3.3基极—发射极饱和电压
a、技术要求：在产品规格书的规定条件下，符合容许值。
b检验方法：用晶体管测试仪进行测量。
2.3.4耐焊接热
a、技术要求：无可见损伤、标志清楚；容量变化小于±10%。
b、检验方法：浸入温度为260±5℃的熔锡内，外保留1.5mm—2.0mm距离主体边缘，浸入时间5±0.5秒。
三极管检验规范
编制日期
审核日期
批准日期
修订记录
修订状态修改内容源自修改人批准人日期1、目的：本标准规定了三极管的检验要求和检验方法。
2、检验项目和检验方法
2.1外观和标志
2.1.1技术要求：外包装箱应标明产品编号、型号、生产日期、数量、制造商名称等；三极管表面不应有锈蚀、裂痕、压痕和其它机械性损伤；标志应清晰、正确、牢固。
重缺陷：0.065轻缺陷：0.65
4、缺陷分类
4.1重缺陷：错料、混料，来料裂、变形，电性能不符合，引脚不上锡。
4.2轻缺陷：尺寸略超差，但不影响使用；外观轻微缺陷，但不影响使用。
2.4可焊性
a、技术要求：导线上沾锡面积≥90%。
b、检验方法：导线须浸入助焊剂后再浸入235±5℃的熔锡内，距离主体2.0—2.5mm,浸入时间2±0.5秒。
三极管检验规范
文件编号
QA-WI-578
版本
A/0
页序
3of3
检验
项目
检验标准
缺陷判定
检验方法
Min
Maj
Cri
特性
1．电路良好,无损坏,(断路或短路)
2．引脚极性分布正确,符合零件规格书要求
3．集电极-发射极和集电极-基极击穿电压,集电极-发射极饱和压降,集电极-发射极穿透电流,额定工作电流,电流放大系数均符合零件规格书要求
5．引脚无变形、压痕、披锋等迹象
×
×
×
×
×
以内臂长在70%左右对照样品目视检验
尺寸
1．体长、宽、厚符合国际标准件要求
2．引脚尺寸规格符合零件规格书要求
3．允许公差按零件规格书要求检测,若无要求时则
*一般情况下,尺寸公差:±0.1mm
×
×
×
参照样品检验，用游标卡尺、千分尺测量
制定
审核
批准
标准
三极管检验规范
标准
三极管检验规范
文件编号
QA-WI-578
版本
A/0
页序
1of3
版本
首版发行
制定
审核
日期
A/0
版本变更
批准:生效-578
版本
A/0
页序
2of3
1.0目的
规范三极管的检验内容与方法，以确保来料品质符合产品生产要求。
2.0范围
仅适用于非贴片型三极管的一般检验。
×
×
×
用晶体管特性图示仪、万用表、晶体管测试仪测量
实验
可焊性:*表面光泽,无毛刺/凹凸点
*表面着锡均匀,无发黑或不沾锡
×
锡槽法可焊性实验(温度380℃±20℃)
QA-WI-578
版本
A/0
页序
3of3
检验
项目
检验标准
缺陷判定
检验方法
Min
Maj
Cri
特性
1．电路良好,无损坏,(断路或短路)
2．引脚极性分布正确,符合零件规格书要求
3．集电极-发射极和集电极-基极击穿电压,集电极-发射极饱和压降,集电极-发射极穿透电流,额定工作电流,电流放大系数均符合零件规格书要求
5．引脚无变形、压痕、披锋等迹象
×
×
×
×
×
以内臂长在70%左右对照样品目视检验
尺寸
1．体长、宽、厚符合国际标准件要求
2．引脚尺寸规格符合零件规格书要求
3．允许公差按零件规格书要求检测,若无要求时则
*一般情况下,尺寸公差:±0.1mm
×
×
×
参照样品检验，用游标卡尺、千分尺测量
制定
审核
批准
标准
三极管检验规范
标准
三极管检验规范
文件编号
QA-WI-578
版本
A/0
页序
1of3
版本
首版发行
制定
审核
日期
A/0
版本变更
批准:生效-578
版本
A/0
页序
2of3
1.0目的
规范三极管的检验内容与方法，以确保来料品质符合产品生产要求。
2.0范围
仅适用于非贴片型三极管的一般检验。
×
×
×
用晶体管特性图示仪、万用表、晶体管测试仪测量
实验
可焊性:*表面光泽,无毛刺/凹凸点
*表面着锡均匀,无发黑或不沾锡
×
锡槽法可焊性实验(温度380℃±20℃)
IQC检验三极管检验规范
目检
数量检验
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。
目检 点数
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； 外观检验 c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； MA d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超 过 0.5mm ,且未露出基质, 可接受；否则不可接受； e. Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。 电性检验 无
尺寸参考 尺寸检验 MA a.长度不符合规格要求不可接受. 卷尺 Mechanical Drawing of Cable a. 排线的接线方式错不可接受; 电性测试检 验 MA b. 排线接触不良或不能运行不可接受; c. IDE 排线的传输速率不符合要求不可接受. a.与公端对插,插拔力不符合规格要求的不可接受.( 拉力测 拉力测试检 验 MA 试: 用标准 Box Header 与排线对插好，用拉力计测出其 实际操作 每批取 10pcs 送 QA,请 QA 的同 事帮助测试
检验方式
目检 目检 点数
备注
数量检验
外观检验
MA
d. 过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮; e. 针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少； f. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈; g. 针脚端部成蘑菇状影响安装. a.PIN 上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入
目检
每 LOT 取 实际操作 5~10PCS 在小 锡炉上验证上 锡性 针脚露出机板 卡尺 长度的标准为 0.5mm~2.0m m 范围内。
（六） 三极管检验规范
1. 目的 2. 适用范围 3. 抽样计划 4. 允 收 水 准 （AQL） ） 5. 参考文件 检验项目
三极管的检验标准
a)高温试验:将三极管置于85±2℃的高温条件下100小时，取出恢复2小时，其外观与电性能都要符合产品规格书的要求。
高温箱
S-2
b)低温试验：将三极管置于-40±2℃的低温条件下100小时，取出恢复2小时，其外观与电性能都要符合产品规格书的要求。
低温箱
c)稳态湿热：将三极管置于温度为40±2℃，相对湿度为90%--95%的环境下100小时，取出擦干表面的水滴，让其恢复2小时，其外观与电性能都要符合产品规格书的要求
a)引脚抗拉力强度:将三极管固定好,任取一引脚,沿轴线的方向施加10N的拉力10S,其引脚无机械损伤,引脚与本体无松动,无位移或脱落现象.
b)引脚抗弯曲强度:将三极管固定好,任取一引脚向相反的方向弯曲(每一次都与水平线成90度)4次.引脚无机械损伤,引脚与本体无松动或脱落现象.
拉力计
S-2
★7
环境试验
潮湿箱
d)高低温冲击：按如下顺序：以高温85±2℃放置2h，室温室温25℃放置5min为一个循环，进行5个循环后，让其恢复2h后，外观与电性能要符合产品规格书的要求。
高低温箱
e)耐电压试验：在85±2℃的高温下，将三极管与一个合适的负载串联起来，通其额定电流96小时，取出恢复后，其外观与电性能要符合产品规格书的要求。
晶体管测试仪
S-2
4
可焊性
将三极管的引脚插入235℃±5℃的锡炉中2-3S,沾锡面积应大于总面积的90%,取出后其性能要符合产品规格书的要求.
放大镜锡炉
S-2
5
耐焊
将三极管的引脚插入260℃±5℃的锡炉中5-10S,三极管的外观应没有变化,取出后其电性能要符合产品规格书的要求.
放大镜锡炉
S-2
6
机械性能
高温箱
S-2
b)低温试验：将三极管置于-40±2℃的低温条件下100小时，取出恢复2小时，其外观与电性能都要符合产品规格书的要求。
低温箱
c)稳态湿热：将三极管置于温度为40±2℃，相对湿度为90%--95%的环境下100小时，取出擦干表面的水滴，让其恢复2小时，其外观与电性能都要符合产品规格书的要求
a)引脚抗拉力强度:将三极管固定好,任取一引脚,沿轴线的方向施加10N的拉力10S,其引脚无机械损伤,引脚与本体无松动,无位移或脱落现象.
b)引脚抗弯曲强度:将三极管固定好,任取一引脚向相反的方向弯曲(每一次都与水平线成90度)4次.引脚无机械损伤,引脚与本体无松动或脱落现象.
拉力计
S-2
★7
环境试验
潮湿箱
d)高低温冲击：按如下顺序：以高温85±2℃放置2h，室温室温25℃放置5min为一个循环，进行5个循环后，让其恢复2h后，外观与电性能要符合产品规格书的要求。
高低温箱
e)耐电压试验：在85±2℃的高温下，将三极管与一个合适的负载串联起来，通其额定电流96小时，取出恢复后，其外观与电性能要符合产品规格书的要求。
晶体管测试仪
S-2
4
可焊性
将三极管的引脚插入235℃±5℃的锡炉中2-3S,沾锡面积应大于总面积的90%,取出后其性能要符合产品规格书的要求.
放大镜锡炉
S-2
5
耐焊
将三极管的引脚插入260℃±5℃的锡炉中5-10S,三极管的外观应没有变化,取出后其电性能要符合产品规格书的要求.
放大镜锡炉
S-2
6
机械性能
三极管进料检验规范
针脚弯曲90度2-3次不折断。
不能弯曲，或轻易折断。
MAJ
放大倍数
万
用
表
8050放大倍数在280—350之间。
9014放大倍数在300—400之间。
超出BOM要求放大倍数。
MAJ
CEU/CBU
直接装机板作实验，不击穿，正常。
工作不正常，烧毁。
MAJ
ห้องสมุดไป่ตู้制订：
审核：
批准：
文件编号
YXD-WI-PZ-009-18
制定日期
2008-3-20
文件名称
三极管进料检验规范
页次
1
版本
A/1
1．目的用途：严格检验，控制不良品使用，保证来料满足产品质量要求。
2．适用范围：本厂所用的三极管8050、9014等。
3．抽样依据：按《抽样作业办法》正常Ⅱ级水准，CRI=0 , MAJ=0.65 , MIN=1.5。
4．作业内容
项目
内容
工具
检验标准、技术要求
缺陷描述
阶层
包
装
标识
目视
外包装有明确的标贴，注明产品名称、规格、数量、日期等。
标识不清楚，不能辩认。
MIN
物料
目视
包装统一，干净整洁，无破损，不影响搬运、储存，无错装、混装、少装。
包装不统一，有脏污、潮湿、破损，影响搬运、储存。
MIN
外
观
印字
目视
印字清楚，型号、规格，放大倍数范围能辩认。
不能辩认规格、型号，放大倍数范围。
MIN
针脚
目视
针脚光亮，无生锈，平直。
不光亮，生锈，弯曲。
MIN
结
构
针脚
不能弯曲，或轻易折断。
MAJ
放大倍数
万
用
表
8050放大倍数在280—350之间。
9014放大倍数在300—400之间。
超出BOM要求放大倍数。
MAJ
CEU/CBU
直接装机板作实验，不击穿，正常。
工作不正常，烧毁。
MAJ
ห้องสมุดไป่ตู้制订：
审核：
批准：
文件编号
YXD-WI-PZ-009-18
制定日期
2008-3-20
文件名称
三极管进料检验规范
页次
1
版本
A/1
1．目的用途：严格检验，控制不良品使用，保证来料满足产品质量要求。
2．适用范围：本厂所用的三极管8050、9014等。
3．抽样依据：按《抽样作业办法》正常Ⅱ级水准，CRI=0 , MAJ=0.65 , MIN=1.5。
4．作业内容
项目
内容
工具
检验标准、技术要求
缺陷描述
阶层
包
装
标识
目视
外包装有明确的标贴，注明产品名称、规格、数量、日期等。
标识不清楚，不能辩认。
MIN
物料
目视
包装统一，干净整洁，无破损，不影响搬运、储存，无错装、混装、少装。
包装不统一，有脏污、潮湿、破损，影响搬运、储存。
MIN
外
观
印字
目视
印字清楚，型号、规格，放大倍数范围能辩认。
不能辩认规格、型号，放大倍数范围。
MIN
针脚
目视
针脚光亮，无生锈，平直。
不光亮，生锈，弯曲。
MIN
结
构
针脚
三极管检验标准
3、引脚电镀良好，无氧化、锈迹、污物等；
C
4、批量一致性好，无混料等。
A
目视 目视
目视
尺寸
符合规格书要求。
B 用游标卡尺测量、用印制板进行试装（对照样品）
电性能
放大倍数--Hfe：符合规格书要求
集电极－基极截止电流Icbo：ICBO应符合产品规格书要求
饱和电压
饱和电压--Vces：符合规格书要求
A 输入条件Vce,Ic后，用晶体管测试仪测出hFE， A 输入测试条件Vcb,Ic=0后，用晶体管测试仪测出截止电流Icbo A 输入条件Ie,Ic后，用晶体管测试仪测出Vces
A
焊锡槽温度调定于235±5℃（无铅为260±5℃），先将被测样品 引线浸入助焊剂中，然后将引线沿轴线方向浸入熔化焊锡内，时 间2～3S，浸入长度应离器件本体1.5~2.0mm，取出后用放大镜观
有铅调温焊锡槽 （或无铅调温焊锡槽）
放大镜
察。
★
附着力 (贴片三极管)
贴片三极管不允许从印制板上脱落
A
将贴片三极管焊在印制板相应焊盘上，沿贴片三极管轴线垂直方 向施加5N拉力10±1S
普通三极管
项目类别
检测项目及技术要求
质量 特性
检验方法
包装 外观
1、产品包材完好，包装应防潮，包装袋上应标明物料编码、数 量、名称、规格型号、生产日期、状态及生产厂家．
C
环保产品，必需在包装上标有 标识或“RoHS” 或认可的环保标识 。
A
1、器件无明显损伤，表面无油污，批峰等现象；
C
2、器件标识清晰，完整，型号规格符合样品或规格书要求； C
A 实验恢复后，按要求检查外观，测试电性能
电热鼓风干燥箱
三极管检验标准
Pin脚有氧化、吃锡不良。
V
Pin脚不能有弯曲成螺旋状、折痕 现象。
Pin脚有弯曲成螺旋状、折 痕现象。
V
本体丝印字体清晰易辩识，不能 有模糊不清。
无法辩识。
V
尚可辨识。
V
6
尺寸及 封装
符合设计要求。
卡尺
温度在260±10C，时间2S,锡 点圆润有光泽、稳固，上锡率〉95%
目视
标识不准确。
V
4
标识 附着力
标识清晰，用浸酒精的棉球擦拭 三次后无变化。
试验
经测试后，标识不清。
V
5
外观
本体无变形、破损、污迹、缺Pin现象。
目视
本体有变形、破损、污迹、 缺Pin现象。
V
本体Pin脚不能有歪斜、残缺、 断裂现象。
有歪斜，但影响插件。
V
Pin脚残缺、断裂现象。
V
Pin脚无氧化、吃锡良好。
三极管检验标准
文件名称
三极管检验标准
生效日期
页码
1of1
使用状态
文件编号
版本
A/ 0
审核
拟定
目的
确保本公司电子兀器件---三极管品质符合客户要求。
范围
适应于电子兀器件---三极管进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次H级正常检验；CR=0;MA=1.0;Ml=2.5。
检验环境
在正常光源条件下，距离30cm远检验，以及适宜的角度检验产品。
恒温
铬铁
锡点不圆且有气泡，不牢固。
V
8
耐焊 接热
温度在260±10C，浸锡时间5S后，外观、电气与机械性能良好。
恒温
铬铁
V
Pin脚不能有弯曲成螺旋状、折痕 现象。
Pin脚有弯曲成螺旋状、折 痕现象。
V
本体丝印字体清晰易辩识，不能 有模糊不清。
无法辩识。
V
尚可辨识。
V
6
尺寸及 封装
符合设计要求。
卡尺
温度在260±10C，时间2S,锡 点圆润有光泽、稳固，上锡率〉95%
目视
标识不准确。
V
4
标识 附着力
标识清晰，用浸酒精的棉球擦拭 三次后无变化。
试验
经测试后，标识不清。
V
5
外观
本体无变形、破损、污迹、缺Pin现象。
目视
本体有变形、破损、污迹、 缺Pin现象。
V
本体Pin脚不能有歪斜、残缺、 断裂现象。
有歪斜，但影响插件。
V
Pin脚残缺、断裂现象。
V
Pin脚无氧化、吃锡良好。
三极管检验标准
文件名称
三极管检验标准
生效日期
页码
1of1
使用状态
文件编号
版本
A/ 0
审核
拟定
目的
确保本公司电子兀器件---三极管品质符合客户要求。
范围
适应于电子兀器件---三极管进料入库检验。
抽样标准
MIL-STD-105E单次H级正常检验；CR=0;MA=1.0;Ml=2.5。
检验环境
在正常光源条件下，距离30cm远检验，以及适宜的角度检验产品。
恒温
铬铁
锡点不圆且有气泡，不牢固。
V
8
耐焊 接热
温度在260±10C，浸锡时间5S后，外观、电气与机械性能良好。
恒温
铬铁
晶体三极管-来料检验规范
★
3.不同规格型号混装。
★
外
观
1.表面脏污。
目测
★
2.丝印不良，模糊、不清晰。
★
3.引脚氧化。
★
4.表面损伤，破损。
★
5.引脚断裂。
★
6.混料，混有其它规格型号。
★
性能
1.放大倍数等级不符要求。
晶体管测试仪
★
见技术要求及仪器操作规程
2.极间短路，开路。
★
3.引脚极性与要求不符。
★
4.耐压不符要求。
★
可焊性
可焊性不符要求（技术要求中未注明试验条件时，以温度235℃,时间为3S试验）。
锡炉
★
见仪器操作规程
试装
实装不符要求（使用对应的PCB进行试装）。
★
附注:
拟制:
审批:
日期:
5.本检验规程未尽项目，需检验可参照国标要求。当检验规范的检验项目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。
6.来料规格型号与BOM及封样不符时，缺陷类别为重缺陷（MA）。
7.表示选定项目。
检验项目
品质现象描述
检验手段及工具
缺陷类别
备注
CR
MA
MI
包装
1.包装无标识，外标识与实物不一致。
目测
★
2.包装箱破损及严重脏污，包装不良。
IQC物料检验规范
主题
晶体三极管
版本：1.0
第1页共1页
文件编号：
说
明
1.目的：规范物料检验，保证产品质量。
2.范围：适用于IQC物料检验。
3.抽样标准：依据GB2828-2003II级一次抽样，致命缺陷（CR）AQLO.I；重缺陷（MA）AQL0.4；轻缺陷（MI）AQLl.5‹,
3.不同规格型号混装。
★
外
观
1.表面脏污。
目测
★
2.丝印不良，模糊、不清晰。
★
3.引脚氧化。
★
4.表面损伤，破损。
★
5.引脚断裂。
★
6.混料，混有其它规格型号。
★
性能
1.放大倍数等级不符要求。
晶体管测试仪
★
见技术要求及仪器操作规程
2.极间短路，开路。
★
3.引脚极性与要求不符。
★
4.耐压不符要求。
★
可焊性
可焊性不符要求（技术要求中未注明试验条件时，以温度235℃,时间为3S试验）。
锡炉
★
见仪器操作规程
试装
实装不符要求（使用对应的PCB进行试装）。
★
附注:
拟制:
审批:
日期:
5.本检验规程未尽项目，需检验可参照国标要求。当检验规范的检验项目在技术要求中未作规定时，可不作检验要求。
6.来料规格型号与BOM及封样不符时，缺陷类别为重缺陷（MA）。
7.表示选定项目。
检验项目
品质现象描述
检验手段及工具
缺陷类别
备注
CR
MA
MI
包装
1.包装无标识，外标识与实物不一致。
目测
★
2.包装箱破损及严重脏污，包装不良。
IQC物料检验规范
主题
晶体三极管
版本：1.0
第1页共1页
文件编号：
说
明
1.目的：规范物料检验，保证产品质量。
2.范围：适用于IQC物料检验。
3.抽样标准：依据GB2828-2003II级一次抽样，致命缺陷（CR）AQLO.I；重缺陷（MA）AQL0.4；轻缺陷（MI）AQLl.5‹,
三极管检验规范
a.影响装配； b.不影响装配； a.不可辩别规格型号； b.可辩别规格型号；
D.管脚不可有氧化；
卡尺 抽样 5PCS
尺寸在SIR相关参数的范围内； A..PN结不可开路;
万用表
依照AQL B.PN结不可短路; 抽样
C.HFE应在 SIR范围内;
a.影响上锡； b.不影响上锡； 超出公差； PN结电阻非常大; PN结电阻非常小; 超出公差;
b.料号与产品或进料单不一致；
目视
B.包装箱及内包装方式需符合要求且能有效 a.包装箱破旧；
保护产品.必须用保利龙胶袋包装；
b.因包装方式不符要求致使产品受损
C.防潮性能应良好；
防潮性不良 ；
A.规格型号需与样品一致,且不可有断脚； 不符合要求
B.引脚变形；
目视 依照AQL
抽样 C.丝印需清晰可辩；
判定 CRJ MAJ MIN
ˇ ˇ
ˇ ˇ ˇ ˇ ˇ
ˇ ˇ
ˇ ˇ
ˇ ˇ
ˇ
ˇ视 查询SAP
无环保标识或漏贴标识
v
物质环保资料符合规定期限
查询SAP显示检测报告已超期
v
核准
审核
作成
文件名称 制定日期
20xx-xx-xx
xxxxx有限公司
三极管检验规范
版本
1.0
文件编号 页次
3-PE-11 1-1
材料名称
三极管
料号
通用
NO. 一、
二、 三、 四、 五、
检验 项目
检查 方式
规格要求
缺点描述
包装
外观 尺寸 性能
A.产品票需标识清楚,内装物料及进料单都 a.产品票未标识清楚；
应相符；
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盘中取 3~5pcs 元件进行检测；AQL 不变。检验方法见＂LCR 数字电桥测试仪操作 指引＂ 和＂
数字万用表操作指引＂。
（三） 插件用电解电容.
1. 目的
作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
2. 适 用 范 适用于本公司所有 CABLE 类之检验。
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准（AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5 参考文件 无
MA
d. 过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
e. 针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少；
f. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;
g. 针脚端部成蘑菇状影响安装.
a.PIN 上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入
MA
现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉 5 秒钟
左右后拿起观看 PIN 是否 100%良好上锡；如果不是则拒收)
目检
检验时，必
c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
MA
10 倍以上的放 须佩带静电
d. 元 件 封 装 材 料 表 面 因 封 装 过 程 中 留 下 的 沙 孔 ， 其 面 积 不 超 过
大镜
带。
0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 《LCR 数字电桥操作指引》
件
《数字万用表操作指引》
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是 否都
MA
正确,任何有误,均不可接受。
目检
可焊性检验
a.Pin 上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将 PIN 沾上现使 用
MA
之合格的松香水，再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿起观看 PIN
实际操作
是否 100%良好上锡；如果不是则拒收)
备注
每 LOT 取 5~10PCS 在 小锡炉上验 证上锡性
3欢迎。下载
精品文档
尺寸规格检验
MA
a. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验 外观检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
目检
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
点数
受。
a. 极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受； b. 电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受； MA c. 本体变形，破损等不可接受； d.Pin 生锈氧化，均不可接受。
MA
a. 针脚不能与标准 PCB 顺利安装;
b. 针脚露出机板长度小于 0.5mm 或大于 2.0mm;
目检
实际操作 卡尺
每 LOT 取 5~10PCS 在小 锡炉上验证上
锡性
针脚露出机板 长度的标准为 0.5mm~2.0mm
范围内。
（七）CABLE 类检验规范
1. 目的
作为 C 人员检验 CABLE 类物料之依据。
确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检 点数
备注
6欢迎。下载
外观检验
焊锡性检验 安装检验
精品文档
a. Marking 错或模糊不能辩认；
b. 塑料与针脚不能紧固连接；
c. 塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
目检
数量检验
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接 受；
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可
接
受。
目检 点数
外观检验
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件 《数字频率计操作指引》
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都
MA
目检
正确,任何有误,均不可接受。
目检
每 LOT 取 5~10PCS 在小 锡炉上验证上
锡性
电性检验
a. 晶体不能起振不可接受； MA
b. 测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位 和数字频率
计
电性检测方法
晶体
检 测方法
4欢迎。下载
精品文档
32.768KHz 16.934MHz 25.000MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体， 看
划
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
精品文档
外观检验
尺寸检验 电性测试检
验 拉力测试检
验
备注
a. 五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；
b.塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良；
1.目检
c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不 2.按前后左右
参考 Mechanical
可接受；
上下各轻摇 3
MA
Drawing of
5. 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验 外观检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
目检
（五） 三极管检验规范
1. 目的
作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
数量检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检 点数
备注
外观检验
a. 字体模糊不清，难以辨认不可接受； b. 有不同规格的晶体混装在一起，不可接受； MA c. 元件变形，或受损露出本体等不可接受； d.Pin 生锈氧化、上锡不良，或断 Pin，均不可接受。
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件
《LCR 数字电桥操作指引》、 《数字电容表操作指引》。
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 MA
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准（AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 都正 MA
（二） 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)
1. 目的
便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。
2. 适 用 范 适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准 （AQL）
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
24.576MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机 显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规 格范围内，则该晶体不合格。
数字万用表操作指引＂。
（三） 插件用电解电容.
1. 目的
作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
2. 适 用 范 适用于本公司所有 CABLE 类之检验。
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准（AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5 参考文件 无
MA
d. 过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
e. 针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少；
f. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;
g. 针脚端部成蘑菇状影响安装.
a.PIN 上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入
MA
现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉 5 秒钟
左右后拿起观看 PIN 是否 100%良好上锡；如果不是则拒收)
目检
检验时，必
c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
MA
10 倍以上的放 须佩带静电
d. 元 件 封 装 材 料 表 面 因 封 装 过 程 中 留 下 的 沙 孔 ， 其 面 积 不 超 过
大镜
带。
0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 《LCR 数字电桥操作指引》
件
《数字万用表操作指引》
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是 否都
MA
正确,任何有误,均不可接受。
目检
可焊性检验
a.Pin 上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将 PIN 沾上现使 用
MA
之合格的松香水，再插入小锡炉 5 秒钟左右后拿起观看 PIN
实际操作
是否 100%良好上锡；如果不是则拒收)
备注
每 LOT 取 5~10PCS 在 小锡炉上验 证上锡性
3欢迎。下载
精品文档
尺寸规格检验
MA
a. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验 外观检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
目检
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
点数
受。
a. 极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受； b. 电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受； MA c. 本体变形，破损等不可接受； d.Pin 生锈氧化，均不可接受。
MA
a. 针脚不能与标准 PCB 顺利安装;
b. 针脚露出机板长度小于 0.5mm 或大于 2.0mm;
目检
实际操作 卡尺
每 LOT 取 5~10PCS 在小 锡炉上验证上
锡性
针脚露出机板 长度的标准为 0.5mm~2.0mm
范围内。
（七）CABLE 类检验规范
1. 目的
作为 C 人员检验 CABLE 类物料之依据。
确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检 点数
备注
6欢迎。下载
外观检验
焊锡性检验 安装检验
精品文档
a. Marking 错或模糊不能辩认；
b. 塑料与针脚不能紧固连接；
c. 塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
目检
数量检验
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接 受；
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可
接
受。
目检 点数
外观检验
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件 《数字频率计操作指引》
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否都
MA
目检
正确,任何有误,均不可接受。
目检
每 LOT 取 5~10PCS 在小 锡炉上验证上
锡性
电性检验
a. 晶体不能起振不可接受； MA
b. 测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位 和数字频率
计
电性检测方法
晶体
检 测方法
4欢迎。下载
精品文档
32.768KHz 16.934MHz 25.000MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体, 再接通电源开机; 在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体， 看
划
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
精品文档
外观检验
尺寸检验 电性测试检
验 拉力测试检
验
备注
a. 五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；
b.塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良；
1.目检
c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不 2.按前后左右
参考 Mechanical
可接受；
上下各轻摇 3
MA
Drawing of
5. 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验 外观检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
目检
（五） 三极管检验规范
1. 目的
作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
数量检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检 点数
备注
外观检验
a. 字体模糊不清，难以辨认不可接受； b. 有不同规格的晶体混装在一起，不可接受； MA c. 元件变形，或受损露出本体等不可接受； d.Pin 生锈氧化、上锡不良，或断 Pin，均不可接受。
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件
《LCR 数字电桥操作指引》、 《数字电容表操作指引》。
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 MA
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准（AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
包装检验
根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 都正 MA
（二） 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)
1. 目的
便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。
2. 适 用 范 适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。
围
3. 抽 样 计 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
划
4. 允 收 水 准 （AQL）
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
24.576MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机 显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规 格范围内，则该晶体不合格。