基于温度补偿的低电阻测试仪校准
电阻应变片的温度补偿方法
电阻应变片的温度补偿方法被动温度补偿是通过改变电阻应变片的结构和材料，使得在不同温度下电阻值的变化被抵消或减小。
常见的被动温度补偿方法有：使用温度敏感电阻、电压系数为负的电阻、产生相反应变的电阻。
一种常用的被动温度补偿方法是使用温度敏感电阻来对电阻应变片的电阻值进行补偿。
温度敏感电阻的电阻值随温度的变化而变化，通过测量温度敏感电阻的电阻值并进行相应的修正，可以抵消电阻应变片的温度变化对测量结果的影响。
另一种被动温度补偿方法是使用电压系数为负的电阻来进行补偿。
电压系数为负的电阻在温度升高时电阻值减小，可以与电阻应变片的电阻变化相互抵消。
还有一种被动温度补偿方法是采用产生相反应变的电阻。
通过在电阻应变片的背面粘贴一个保持相对固定的应变的电阻片，当电阻应变片发生应变时，这个补偿片会产生与之相反的应变，从而抵消温度对电阻值的影响。
然而，被动温度补偿方法有一个缺点，即只能在特定的温度范围内进行补偿，而难以覆盖广泛的温度范围。
因此，为了实现更精确的温度补偿，还需要采用主动温度补偿方法。
主动温度补偿是通过测量环境温度，并根据温度对电阻应变片电阻值的影响进行数学模型计算，从而实现对测量结果的温度补偿。
主动温度补偿一般使用微处理器或芯片实现，通过内部的温度传感器测量环境温度，并根据预先设定的温度-电阻曲线进行计算，将温度补偿值加入到实际测量值中，从而得到更准确的测量结果。
主动温度补偿方法需要事先进行温度-电阻曲线的测量和建模工作，以获得相对精确的补偿结果。
同时，还需要考虑其他因素对温度补偿的影响，例如温度梯度、温度变化速度等。
总的来说，电阻应变片的温度补偿方法有被动温度补偿和主动温度补偿两种。
被动温度补偿方法通过改变电阻应变片的结构和材料来减小温度对电阻值的影响；主动温度补偿方法则通过测量环境温度并进行数学模型计算，来实现对测量结果的温度补偿。
在实际应用中，可以根据具体需求选择合适的温度补偿方法，以获得更精确的测量结果。
电阻测试仪使用方法说明书
电阻测试仪使用方法说明书一、概述电阻测试仪是一种用于测量电路中电阻值的设备，广泛应用于电子工程、电力系统、通信设备等领域。
本说明书旨在详细介绍电阻测试仪的使用方法，帮助用户正确、高效地操作设备。
二、设备介绍1. 外观描述电阻测试仪外观精致紧凑，有LCD显示屏、操作按键和测试接口。
设备采用优质材料制造，具有防震、防尘、防滑等特性，便于携带和使用。
2. 技术指标- 测量范围：0.01Ω - 10MΩ- 准确度：±1%- 工作电压：220V AC- 重复性：0.5%- 工作温度：0°C - 40°C三、操作步骤1. 准备工作确保电阻测试仪电源正常连接，并插入合适的电源插座。
待设备开机启动完成后，显示屏将会显示主界面。
2. 测试接线将待测试的电路中的电阻器按电阻值大小依次连接到电阻测试仪的测试接口上。
确保电路连接牢固、接触良好，避免松动或接触不良导致测试结果不准确。
3. 设置测试参数根据待测电路的特性，合理设置测试仪的参数。
通过操作按键，进入设置界面，选择合适的测量范围和精度，并根据需要设置温度补偿等功能。
确认设置后，返回主界面。
4. 进行测试按下“开始”按钮，电阻测试仪将开始自动进行测试。
待测试完成后，显示屏将显示测得的电阻值，并给出相应的测试结果。
用户可根据需要将结果记录下来或进行其他操作。
5. 关机测试完成后，根据需要选择合适的关机方式。
长按电源按钮进行强制关机，或通过菜单中的关机选项进行正常关机。
四、注意事项1. 在使用电阻测试仪前，确保自身安全，例如需要戴好绝缘手套，避免触电危险。
2. 在测试过程中，尽量避免与测试接线触碰，以免干扰测试结果。
3. 预热时间可能会影响测试结果。
在首次开机或长时间未使用后，建议进行一段时间的预热操作。
4. 若测试结果与预期不符，建议检查测试接线是否正确连接或考虑是否需要更换电阻器。
五、维护与保养1. 定期清洁电阻测试仪外壳，使用干净的柔软布进行擦拭，避免使用化学溶剂。
电阻测试标准
电阻测试标准电阻测试是电子产品生产过程中非常重要的一环，它可以帮助我们检测电路中的电阻值是否符合设计要求，保证产品的质量稳定性。
在进行电阻测试时，我们需要遵循一些标准和规范，以确保测试结果的准确性和可靠性。
首先，我们需要选择合适的测试仪器。
常用的电阻测试仪器有万用表、LCR表等。
在选择测试仪器时，需要考虑被测电阻的阻值范围、精度要求等因素，选择适合的测试仪器进行测试。
其次，需要注意测试环境的影响。
电阻测试通常需要在恒温恒湿的环境下进行，以减小环境因素对测试结果的影响。
另外，还需要注意防静电措施，避免静电对被测电阻造成影响。
在进行电阻测试时，需要注意以下几点：1. 确保被测电阻处于断开状态。
在进行测试时，需要将被测电阻从电路中拆除，以确保测试结果准确。
2. 清洁被测电阻。
在测试之前，需要确保被测电阻表面干净，无杂质，以确保测试接点良好。
3. 测试前校准测试仪器。
在进行测试之前，需要对测试仪器进行校准，以确保测试结果的准确性。
4. 选择合适的测试方法。
根据被测电阻的特点，选择合适的测试方法，如二线法、四线法等。
5. 多次测试取平均值。
为了确保测试结果的可靠性，通常需要进行多次测试取平均值，以减小测试误差。
在进行电阻测试时，还需要注意一些常见问题：1. 温度漂移。
一些电阻值会随着温度的变化而变化，需要在恒温环境下进行测试，或者进行温度补偿。
2. 电压漂移。
在进行测试时，需要注意电压漂移对测试结果的影响，选择合适的测试电压进行测试。
3. 湿度影响。
在高湿度环境下，一些电阻值会发生变化，需要注意湿度对测试结果的影响。
总之，电阻测试是电子产品生产过程中不可或缺的一环，正确的测试方法和标准能够保证产品质量稳定性，提高生产效率。
在进行电阻测试时，需要选择合适的测试仪器，注意测试环境的影响，以及一些常见问题，确保测试结果的准确性和可靠性。
常州安柏 AT510x电阻测试仪说明书
!$Instruments常州安柏精密仪器有限公司江苏省常州市天宁区荡南工业园 [213014]电话：400 600 1217*************/89966117/89966227销售服务电子邮件: *****************技术支持电子邮件: ****************©2005-2013 Applent Instruments, Inc.Rev.D6此说明书只对应于仪器固件RevD0以上版本。
[AT510PRO/510/510SE/510L/510M 电阻测试仪] 用户手册2 AT510x 用户手册安全须知当你发现有以下不正常情形发生,请立即终止操作并断开电源线。
立刻与安柏仪器销售部联系维修。
否则将会引起火灾或对操作者有潜在的触电危险。
●仪器操作异常。
●操作中仪器产生反常噪音、异味、烟或闪光。
●操作过程中，仪器产生高温或电击。
●电源线、电源开关或电源插座损坏。
●杂质或液体流入仪器。
安全信息为避免可能的电击和人身安全，请遵循以下指南进行操作。
免责声明用户在开始使用仪器前请仔细阅读以下安全信息，对于用户由于未遵守下列条款而造成的人身安全和财产损失，安柏科技将不承担任何责任。
仪器接地 为防止电击危险，请连接好电源地线不可在爆炸性气体环境使用仪器 不可在易燃易爆气体、蒸汽或多灰尘的环境使用仪器。
在此类环境使用任何电子设备，都是对人身安全的冒险。
不可打开仪器外壳 非专业维护人员不可打开仪器外壳，以试图维修仪器。
仪器在关机后一段时间内仍存在未释放干净的电荷，这可能对人身造成电击危险。
不要使用已经损坏的仪器 如果仪器已经损害，其危险将不可预知。
请断开电源线，不可再使用，也不要试图自行维修。
不要使用工作异常的仪器 如果仪器工作不正常，其危险不可预知，请断开电源线，不可再使用，也不要试图自行维修。
不要超出本说明书指定的方式使用仪器超出范围，仪器所提供的保护措施将失效。
声明：!$, 安柏标志和文字是常州安柏精密仪器有限公司已经或正在申请的商标。
PC36C直流电阻测试仪(有温度补偿)
PC36C直流电阻测试仪使用说明书邢台龙嘉电子设备科技有限公司一、用途PC36 C直流低电阻测试仪是一种由高稳定精密恒流源、带自校的高精度数字电压表和CPU 微处理器组成的5位半台式数字式直流电阻测试仪，其测量结果用6位VFD荧光显示。
该仪器具有价格低廉、测量精度高、性能稳、使用方便等特点，它适用于测量各种电线、电缆的电阻值、各类线圈、电动机、变压器绕组的电阻，特别是具有自校功能（用户备用BZ3标准电阻，就可以校准），提高仪器的精度，省去了操作人员的送检时间。
因此该仪器广泛应用工厂、科研单位的工作场地和实验室。
二、技术指标2．1 使用条件：2．1．1环境温度：20±15℃（校准温度：20±1℃）2．1．2相对湿度：不大于75％RH2．1．3供电电源：220V±10%，50Hz±1Hz2．1．4无剧烈震动和机械冲击2．1．5环境周围无强电磁场干扰2．1．6空气中不含腐蚀气体、灰尘和有害杂质2．1．7通风条件良好2．1．8总技术指标2．2 量程、测量范围、分辨力及基本误差产品在标准条件(20±1℃)下符合表 1规定表 1（温度补偿开关置断）2．3 温度的影响产品在(20±5℃)条件下，误差如表 2所示如用BZ3标准电阻进行现场标定，PC36c的精度可以大大提高2．4 温度附加误差产品在偏离20±1℃的情况下工作，环境温度每变化多端10℃所引起的附加误差应不超出基本误差值。
2．5 倍功率的影响（×0.707I、×1.414I）产品在(20±5℃)条件下，误差如表 2所示2．6 极性、量程过载指示2．6．1在电阻测量时不显示极性2．6．2当输入电阻值超过仪表测量范围时仪表显示 <LCE>2．7 采样速度：2～3次/s2．8 消耗功率：≤30W2．9 重量：≤7kg三、工作原理和特点本仪器是由5 1/2位，具有0.1μV 灵敏度的数字电压表和一个精密恒流源组成，如图 1所示：I 00.1m A ～10A图 1由精密恒流源流出的电流I 0在被测电阻R X 产生一电压降，同时用5 1/2位数字电压表去测试这个电压降，其测量结果用电阻值反应出来。
电阻测量的精度优化与误差源识别
电阻测量的精度优化与误差源识别电阻是电路中常见的基本元件之一，测量电阻的精度对于电路设计和仪器仪表的准确性至关重要。
然而，由于各种因素的影响，电阻测量中存在着一些误差源，影响了测量结果的准确性。
本文将探讨电阻测量的精度优化方法以及对常见误差源的识别。
一、电阻测量的精度优化为了提高电阻测量的精度，我们可以采用以下几种方法：1. 使用精度更高的测量仪器：选择具有更高精度的电阻测量仪器可以有效提高测量结果的准确性。
比如，使用示波器测量电阻时可以选择带有高精度数字化多用表(DMM)作为测量前端，以提高测量的准确性。
2. 保持温度稳定：电阻的电阻值与温度密切相关，温度变化会导致电阻值的变化，从而影响测量结果的准确性。
因此，在进行电阻测量时，应尽量保持测量环境的温度稳定，或者通过温度补偿来减小温度变化对测量结果的影响。
3. 使用四线测量法：四线测量法可以有效地减小测量电阻时由于接线电阻、电压降等因素引入的测量误差。
通过使用两组分离的引线，一组用于传递电流，另一组用于测量电压，能够准确测量电阻值而不受接线电阻的影响。
4. 校准与校验：定期对测量仪器进行校准和校验，以确保测量结果的准确性。
校准应由专业人士进行，以确保仪器的精度符合标准要求。
二、电阻测量误差源识别在电阻测量中，存在着一些误差源会导致测量结果的偏差，因此需要对这些误差源进行识别和补偿。
下面列举了一些常见的电阻测量误差源：1. 引线电阻：引线电阻是由于电阻测试仪器的测试引线存在一定的电阻值而引起的误差。
这种误差可以通过使用四线测量法进行抵消，或者在测量结果中进行引线电阻的补偿计算。
2. 温度影响：电阻值与温度密切相关，温度的变化会导致电阻值的变化。
如果在测量过程中温度发生变化，会引入测量误差。
可以通过采用温度传感器进行温度补偿，或者进行温度校正来减小温度影响。
3. 稳定性问题：电阻器本身的稳定性也可能引起测量误差。
长时间使用后，电阻器的电阻值可能会发生变化，导致测量结果的不准确。
PC36c直流电阻测试仪
PC36c直流电阻测试仪使用说明书上海汉仪电气科技有限公司一、用途PC36 c直流低电阻测试仪是一种由高稳定精密恒流源、带自校的高精度数字电压表和CPU 微处理器组成的5位半台式数字式直流电阻测试仪，其测量结果用6位VFD荧光显示。
该仪器具有价格低廉、测量精度高、性能稳、使用方便等特点，它适用于测量各种电线、电缆的电阻值、各类线圈、电动机、变压器绕组的电阻，特别是具有自校功能（用户备用BZ3标准电阻，就可以校准），提高仪器的精度，省去了操作人员的送检时间。
因此该仪器广泛应用工厂、科研单位的工作场地和实验室。
二、技术指标2．1 使用条件：2．1．1环境温度：20±15℃（校准温度：20±1℃）2．1．2相对湿度：不大于75％RH2．1．3供电电源：220V±10%，50Hz±1Hz2．1．4无剧烈震动和机械冲击2．1．5环境周围无强电磁场干扰2．1．6空气中不含腐蚀气体、灰尘和有害杂质2．1．7通风条件良好2．1．8总技术指标2．2 量程、测量范围、分辨力及基本误差产品在标准条件(20±1℃)下符合表 1规定2．3 温度的影响产品在(20±5℃)条件下，误差如表 2所示如用BZ3标准电阻进行现场标定，PC36c的精度可以大大提高2．4 温度附加误差产品在偏离20±1℃的情况下工作，环境温度每变化多端10℃所引起的附加误差应不超出基本误差值。
2．5 倍功率的影响（×0.707I、×1.414I）产品在(20±5℃)条件下，误差如表 2所示2．6 极性、量程过载指示2．6．1在电阻测量时不显示极性2．6．2当输入电阻值超过仪表测量范围时仪表显示 <LCE>2．7 采样速度：2～3次/s2．8 消耗功率：≤30W2．9 重量：≤7kg三、工作原理和特点本仪器是由5 1/2位，具有0.1μV灵敏度的数字电压表和一个精密恒流源组成，如图 1所示：I00.1m A～10A图1由精密恒流源流出的电流I0在被测电阻RX产生一电压降，同时用5 1/2位数字电压表去测试这个电压降，其测量结果用电阻值反应出来。
低电阻校准方法
低电阻校准方法
低电阻校准方法是用来校准电阻器或测量电路中的低电阻的方法。
下面是一种常见的低电阻校准方法：
1. 准备一系列已知准确值的标准电阻，这些标准电阻可以是实验室测量设备中的校准电阻或者去认证的商业标准电阻。
2. 将待校准的电阻器或测量电路中的低电阻与标准电阻进行串联连接，构成一个电阻网络。
3. 通过电流引线输入电流，并使用相应的测量设备测量电压。
4. 根据欧姆定律，根据测量的电压和输入的电流计算待校准的电阻值。
5. 将计算得到的待校准的电阻值与对应的标准电阻进行比较，判断是否需要进行校准。
6. 如果需要校准，调整待校准的电阻器或测量电路中的低电阻以匹配标准电阻的值。
7. 重复以上步骤，直至待校准的电阻器或测量电路中的低电阻与标准电阻的值相匹配。
需要注意的是，在进行低电阻的校准时，需要考虑接触电阻的影响。
接触电阻是指电阻器与测量电路之间的接触点的电阻，
它可能会对测量结果产生影响。
因此，在进行低电阻的校准时，需要使用四线法或其他减小接触电阻的方法，以确保准确度。
CH2515 系列精密电阻测试仪 使用说明书
CH2515系列精密电阻测试仪使用说明书USER MANUAL简体中文版Simplified Chinese2020第二版Rev1.1常州市贝奇电子科技有限公司前言感谢您购买常州市贝奇电子科技有限公司的产品！使用前请仔细阅读本说明书。
公司说明本说明所含资料受到版权保护，未经贝奇电子科技有限公司预先授权，不得将说明内任何章节影印、复制或翻译成其它语言。
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在本章您将了解以下内容：●公司说明●安全须知●安全信息●有限担保和责任范围安全须知本说明书中记载了安全操作本仪器，保持仪器的安全状态所需要的信息和注意事项。
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如果测量方法有误，有可能导致人身事故和仪器的故障。
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万一发生事故，除了本公司产品自身的原因以外概不负责。
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●仪器操作异常。
●操作中仪器产生反常噪音、异味、烟或闪光。
●操作过程中，仪器产生高温或电击。
●电源线、电源开关或电源插座损坏。
●杂质或液体流入仪器。
警告：本仪器严禁被测件带电测试!安全信息仪器上的符号表示注意和危险。
仪器上有该符号或显示时。
电导率测量仪温度补偿检定方法及其问题 测量仪常见问题解决方法
电导率测量仪温度补偿检定方法及其问题测量仪常见问题解决方法电导率测量仪温度补偿的检定方法及问题。
使用电导率仪的用户都知道这一点，溶液的电导率与温度紧密相关，由于温度发生变化时，电解质的电离度、溶解度、离子迁移速度、溶液黏度等都会发生变化，电导率也会变化。
温度上升，电导率增大。
而此刻电导率仪的温度补偿功能就是为了克服温度的影响。
一、什么是电导率测量仪的温度补偿功能：将溶液在实际温度下的电导率值转换为参考温度（一般为25℃）下的电导率值，使得溶液在不同温度下的电导率具有可比性，现在市场上所使用的电导率仪都有温度补偿功能，以充分各行各业比对或掌控指标的需要。
本文以使用电导率仪时，检定过程中需要的温补功能说明，简要的分析讨论。
在检定过程中加添这一检定项目也很有必要。
实现电导率仪温度补偿的检定有两种方法，一种是温补前的KMR为定值，一种是温补后的KMV为定值，两种方法依据的原理相同，实在的检定步骤依据仪器设计的不同也可分为两种方法。
检定过程中，我们还发觉温度设置会影响电导池常数，分析表明电导率仪的温度补偿本质上和电导池常数补偿是相同的，当仪器的温度补偿缺失或存在故障时，可以利用电导池常数的补偿来实现电导率的温度补偿。
二、温度补偿的检定方法及问题对于电导率大于110—4Scm—1的强电解质，电导率值与温度存在线性关系：KT=K0〔1（T—T0）〕（1）；在检定过程中，只要测得不同温度下的电导率值，通过JJG376—2023中的式（5）可求出仪器的温度系数，从而实现对电导率仪温度补偿系数的检定。
将电导率仪常数Kcell设为 1.00cm—1，输入某一信号的电导率值（如50Scm—1），调整温度传感器模拟电阻，使温度示值为25℃和15℃（35℃），再分别读取对应电导率仪测量值KMR和KMV。
问题：1）.国产电导率仪都是手动温度补偿，温度系数无法设置，其默认值为2.00%/℃。
对于这类仪器，当温度设置为25℃时，为不补偿状态，测得的电导率为KMR，而其他温度下测得的电导率值为补偿后的电导率值KMV，可实现温度补偿的检定。
JB3245低电阻测试仪说明书
JB-3245使用说明书安全须知当你发现有以下不正常情形发生,请立即终止操作并断开电源线。
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否则将会引起火灾或对操作者有潜在的触电危险。
●仪器操作异常。
●操作中仪器产生反常噪音、异味、烟或闪光。
●操作过程中，仪器产生高温或电击。
●电源线、电源开关或电源插座损坏。
●杂质或液体流入仪器。
安全安全信息为避免可能的电击和人身安全，请遵循以下指南进行操作。
免责声明用户在开始使用仪器前请仔细阅读以下安全信息，对于用户由于未遵守下列条款而造成的人身安全和财产损失，江柏电子科技将不承担任何责任。
仪器接地为防止电击危险，请连接好电源地线不可在爆炸性气体环境使用仪器不可在易燃易爆气体、蒸汽或多灰尘的环境使用仪器。
在此类环境使用任何电子设备，都是对人身安全的冒险。
不可打开仪器外壳非专业维护人员不可打开仪器外壳，以试图维修仪器。
仪器在关机后一段时间内仍存在未释放干净的电荷，这可能对人身造成电击危险。
不要使用已经损坏的仪器如果仪器已经损害，其危险将不可预知。
请断开电源线，不可再使用，也不要试图自行维修。
不要使用工作异常的仪器如果仪器工作不正常，其危险不可预知，请断开电源线，不可再使用，也不要试图自行维修。
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JB-3245使用说明书JB-3245 直流超低电阻测试仪简体中文版Simplified ChineseJune, 2013第一版Rev1.0.0k上海江柏电子科技有限公司©2013 JB Technologies.，Ltd有限担保和责任范围上海江柏电子科技有限公司保证您购买的每一台CHT3540B在质量和计量上都是完全合格的。
此项保证不包括保险丝。
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电测仪表的温度补偿及改值探究
[5] 孟 庆 焜 .配 电 自 动 化 系 统 在 智 能 电 网 中 的 应 用 和 发 展 [J].中 国 新 技 术 新 产 品 ,2010(12):23-24.
10V
100 V
图 3 选定线路图
b 将 这 块 电 流 表 通 1m A 左右的电流，在指针指向满刻度时测
参考文献
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具有综合的分析能力可以有效的对负荷的实时特性进行分析，对 不 同 类 型 的 供 电 负 荷 规 律 进 行 统 计 和 总 结 ，为 电 力 管 理 系 统 获 取 重要的参考数据提供技术支持。
[2] 赵 禾 杰 .智 能 电 网 环 境 下 配 电 自 动 化 技 术 的 发 展 和 应 用 [J]. 中 国 科 技 成 果 ,2〇15(18):69-71.
[3] 亓 曙 光 ，孙 雯 ，武军.智 能 电 网 配 电 自 动 化 技 术 发 展 问 题 探 析 [J].军民两用技术与产品,2016(20).
〇引言
例 如 ：一 块 1. 5 级 、1mA的电流 表 ，内 阻 为 50 Q ，其温度补
电流表电压表在测量过程中，应尽量减少误差提高测量准确 度 ，对被测线路的影响越小越好。本文将讨论当直流电压表或电 流 表 在 受 周 围 温 度 变 化 时 ，引 起 的 温 度 附 加 误 差 如 何 得 到 补 偿 ， 并 且 如 何 扩 大 直 流 电 压 表 的 量 程 范 围 ，使 仪 表 能 够 更 好 地 服 务 于
一种基于温度补偿的电流传感器校准系统及方法[发明专利]
![一种基于温度补偿的电流传感器校准系统及方法[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/cdc28c7151e79b8969022699.png)
专利名称：一种基于温度补偿的电流传感器校准系统及方法专利类型：发明专利
发明人：段晚晴,古颖,王鸿新,苏建明,戴汶清,陈薇,戴伟,吴海益,黄海强,郭智,刘晓银,邬智江,林远仕
申请号：CN202010519138.8
申请日：20200609
公开号：CN111638480A
公开日：
20200908
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明公开了一种基于温度补偿的电流传感器校准系统及方法，所述系统包括直流电流源、标准电流表、误差计算装置、杜瓦、待测的电流传感器，以及用于测量现场温度的温度传感器；所述杜瓦的顶部外壁上设置有第一供电端底部外壁上设置有第二供电端，杜瓦内设置有多根并联的超导线带材，每一根超导线带材的第一端均贯穿杜瓦的顶部与所述第一供电端连接，第二端均贯穿杜瓦的底部与所述第二供电端连接；第一供电端通过标准电流表与所述直流电流源的负极连接，第二供电端与所述直流电流源的正极连接。
本发明对于不同温度下电流传感器的输出的电流值进行温度补偿，再对补偿后的电流值进行校准，有利于确保电流传感器在特定温度区间测量的准确性。
申请人：广东省计量科学研究院(华南国家计量测试中心)
地址：510405 广东省广州市广园中路松柏东街30号
国籍：CN
代理机构：成都巾帼知识产权代理有限公司
代理人：邢伟
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pt100校准方法
pt100校准方法PT100校准方法1. 什么是PT100温度传感器？PT100是一种常用的温度传感器，它基于铂电阻的电阻-温度关系。
在它的名称中，“PT”代表铂材料，“100”代表其在0℃时的阻值为100欧姆。
2. PT100的校准意义准确的温度传感器对于许多应用至关重要，尤其是在工业控制和实验室测试中。
因此，校准PT100传感器至关重要，以确保准确的温度测量。
3. PT100校准方法以下是几种常用的PT100校准方法：零点校准零点校准是通过将PT100传感器暴露在已知温度的环境中进行的。
校准时，将PT100放置在一个已知温度稳定的环境中，例如一个恒定的温度水槽中。
然后，读取PT100的温度测量值，并与已知的环境温度进行比较。
如果存在偏差，可以通过调整温度传感器读数来修正。
两点校准两点校准是通过在两个已知温度点上进行校准来完成的。
一般情况下，这些已知温度点应该分别处于PT100传感器的工作范围的两个极限。
读取PT100传感器在这两个已知温度点上的测量值，并根据实际的温度值进行修正。
多点校准多点校准是通过在多个已知温度点上进行校准来完成的，以获得更准确的温度测量结果。
通常，多点校准包括在传感器的工作范围内选择多个温度点，并读取PT100在这些点上的测量值。
然后，使用插值或曲线拟合方法，根据已知温度和测量值之间的关系对传感器读数进行修正。
4. 结论PT100温度传感器的校准是确保准确温度测量的关键。
零点校准、两点校准和多点校准是常用的校准方法。
选择适当的校准方法取决于应用的要求和可用的资源。
准确的PT100校准可以提高温度测量的精度，从而确保工业控制和实验室测试的可靠性和准确性。
5. 校准方法的选择选择适合的校准方法需要考虑以下因素：•实验条件：校准环境应具备稳定的温度，并且能够提供已知温度的水槽或其他设备。
•仪器设备：校准所需的设备包括温度测量仪器、稳定的温度源和校准品，确保这些设备具备准确度和稳定性。
电阻应变测试技术中的温度补偿功能辨析
电阻应变测试技术中的温度补偿功能辨析张开银;熊驷东【摘要】针对基于温度应变补偿的结构电阻应变测试技术,分析了结构温度应变的产生原理与结构温度应变的补偿原理,辨析了结构温度应变与补偿块温度应变二者的相互关联与差异.在此基础上,指出了基于温度应变补偿模式的结构电阻应变测试技术的错误在于:概念上混淆了结构的温度应变与补偿块的温度应变,导致了结构温度应变的错误补偿.同时,给出了正确实现工程结构应变测试的环境条件,以最大限度地保证了结构应变测试数据的客观性与可靠性.【期刊名称】《力学与实践》【年(卷),期】2015(037)006【总页数】4页(P686-689)【关键词】工程结构;应变测试;温度应变;温度补偿;电阻应变测试技术【作者】张开银;熊驷东【作者单位】武汉理工大学交通学院,武汉 430063;武汉理工大学交通学院,武汉430063【正文语种】中文【中图分类】TP212.1在结构受力状态分析中，常常辅之以结构的应变测试.目前，尽管结构有限元分析在航空航天、机械工程、桥梁工程等诸多工程领域得到了十分普遍的应用，并能得到令人满意的计算结果，结构应变测试仍然是获取工程结构受力状态最客观、最可靠的技术手段.结构计算和结构试验相互印证，互为依存.鉴于电阻应变测试技术具有“适用范围广、测试精度高、使用便捷、成本低廉”等一系列优点，其已成为当今工程技术人员藉以了解结构受力状态重要的试验方法之一.结构应变测试的目的，就是获取机械作用力下结构的真实应变响应.处于自然环境中的工程结构，其应变响应测试数据不可避免地受到环境温度变化所带来的污染.为了有效地从复杂的结构应变成分中分离出结构的机械应变，一般采用所谓的“温度应变补偿”的方法来解决.简而言之，选择一块与被试验结构具有相同材料的物块，在其表面粘贴好与工作片同一类型的温度应变补偿片（构成温度补偿块），并将温度补偿块放置于试验结构工作应变片相同的温度环境之中（避免补偿片受到机械作用力）；然后通过应变测试仪，从所获取的结构应变总量中自然剔除温度应变成分——即温度应变补偿，以尽可能地保证结构应变测试结果的可靠性［1-3］.自从这一基于温度应变补偿模式的电阻应变测试技术问世以来，在全球范围内迅速得到了推广应用.整个结构工程领域异常活跃，完成了无以数计的结构受力状态测试.成千上万的工程结构检测评估报告，似乎足以证明电阻应变测试技术的可行性、可靠性与科学性.借助于一块所谓的“温度应变补偿块”，真能如愿以偿地剔除结构应变响应中的结构温度应变吗？在温度应变补偿模式的电阻应变测试技术问世初期，这一疑虑也许被反复提出、反复拷问过.历经半个多世纪的应用，结构工程师对这一温度补偿的电阻应变测试技术早已深信无疑了，无论如何也不会提出如此幼稚的问题.在大量工程结构应变测试的实践背景下，本文分析了结构温度应变的产生原理与结构温度应变的补偿原理，探讨了结构的温度应变与补偿块的温度应变，辨析了二者的相互关联与差异.在此基础上指出：基于温度应变补偿模式的结构电阻应变测试技术之原理是不正确的：其问题的实质在于概念上混淆了结构的温度应变与补偿块的温度应变，并在结构测试应变响应数据的温度应变处理上，错误地使用了补偿块的温度应变.进而给出了正确实现结构应变测试的环境条件，以最大限度地保证结构应变测试数据的客观性与可靠性.当结构（弹性体）内的温度场发生改变时，其上每一部位都将由于温度的升高或降低（温度梯度）而趋于膨胀或收缩（大多数材料具有热胀冷缩现象），即温度应变.但是，由于结构的外在约束和内部联系，这种膨胀或收缩并不可能自由地发生，于是便产生了应力，即温变应力［4-6］.图1所示的结构，在A,B和C三点附近区域内分别发生了ΔTA，ΔTB和ΔTC的温度变化，产生了温度梯度.那么，C点处的结构温度应变效应分别来自于：A点附近区域温度变化ΔTA对C点处的结构温度应变贡献，B点附近区域温度变化ΔTB对C点处的结构温度应变贡献，以及C点附近区域温度变化ΔTC对C点处的结构温度应变贡献，其可表示为由弹性理论可知，C点处结构的温度应变εtC，与结构温度分布、几何形状、约束形式、材料弹性模量和材料热膨胀系数等因素均有关系.由此可知，结构上任一部位的温度变化（温度梯度），都将对结构上各点产生温变应变，附加温度应力；或者说，结构上任一点的温变应变，都是来自于结构上各部位温度变化的贡献.在结构应变测试时，结构工作片的应变响应数据中，正是包含了这部分温度变化引起的、与结构约束有关的、真正应该补偿的测点处的结构温度应变.电阻应变测试技术的优势，就在于结构温度应变的补偿功能.为此，不妨探究一下结构温度应变补偿原理的实质.同样对于图1所示的结构，在结构C点处粘贴一电阻应变计R1（工作片），同时在C点附近放置一粘贴有应变片R2的温度应变补偿块（补偿片），并保证其与结构C点处于完全相同的温度环境之中.然后利用电阻应变仪，将各传感元件形成一惠斯顿桥路（R3和R4为固定电阻），如图2所示.当结构A,B和C三点附近区域内分别发生ΔTA，ΔTB和ΔTC的温度变化时，C点处的结构温度应变由式（1）表示；而自由伸展的温度应变补偿块，其温度应变为式中，α为补偿块材料热膨胀系数.显然，C点处的结构温度应变不同于补偿块的结构温度应变.尽管补偿块和C点处的结构具有相同的材料，温度环境基本一样，但必须清楚地认识到：C点处的结构温度应变还受到结构上其他部位温度变化和结构约束等因素的影响.有别于，这是一个非常重要的概念.所谓温度应变补偿，就是试图从测试结构的应变响应中补偿结构的温度应变，而实际上补偿的却是补偿块的温度应变.结构温度应变与补偿块温度应变概念上的混淆，是其错误产生的根源.毫无疑问，这样所获取的结构应变响应，自然不同于工程结构机械作用力下的真实应变.为更加清晰地认识测点处的结构温度应变与补偿块的结构温度应变，以及结构温度应变补偿的功能，不妨考察两个最为简单的结构.例1图3所示的矩形等截面悬臂梁AB，在其底部C点处粘贴一电阻应变计R1（工作片），同时在C点附近放置一粘贴有应变片R2（补偿片）的温度应变补偿块（与悬臂梁AB材料相同）；然后利用电阻应变仪，将各传感元件R1，R2，R3和R4形成图2所示的惠斯顿桥路（R3和R4为固定电阻）.当悬臂梁内部温度发生变化时（顶层纤维沿纵向均温升ΔT，而底层纤维沿纵向温度均保持不变），由于梁结构内部相互约束，其顶层纤维纵向伸长产生压应力，底层纤维纵向也伸长产生拉应力；而补偿块的温度应变为零.若悬臂梁没有受到外力作用，由于应变片R2的温度应变补偿功能，电阻应变仪的期待测试结果应该为零；而事实上，应变仪的显示应变值却是一拉应变.例1表明，对于非均匀温度梯度场下的静定结构，结构温度应变补偿是无效的. 例2图4所示的短棒AB，被约束在刚性槽内.在短棒AB中部C点处粘贴一电阻应变计R1（工作片），同时在C点附近放置一粘贴有应变片R2（补偿片）的温度应变补偿块（与短棒AB材料相同）；然后利用电阻应变仪，将各传感元件R1，R2，R3和R4形成图2所示的惠斯顿桥路.当环境温度变化ΔT时（短棒AB和补偿块处于完全相同的温度环境中），由于刚性槽的约束，短棒AB温度应变为0（结构温度应力不为0）；而补偿块的温度应变为αΔT（α为补偿块材料热膨胀系数）.若短棒AB没有沿轴向的外力作用，由于应变片R2的温度应变补偿功能，电阻应变仪的期待测试结果应该为零；而事实上，电阻应变仪的显示应变值却是-αΔT.例2表明，对于静不定结构，结构温度应变补偿也是无效的.通过对结构温度应变与补偿块温度应变的比较分析，结构电阻应变测试技术中的温度应变补偿功能之弊端显而易见.在长达50多年的时间内，全世界工科类高等院校几乎半数以上的学生系统学习过电阻应变测试技术的原理，接受过相应实验的训练.同时，结构工程领域的研究人员和结构工程师利用结构电阻应变测试技术，完成了大量的结构研究试验和结构检测试验.可以说，结构电阻应变测试技术，正是借助于结构温度应变补偿这一便捷与高效的优势，使其成为世界范围内最活跃、最广泛、最有力的结构试验技术之一.然而，也正是在结构温度应变补偿上，结构测点温度应变概念被曲解，取而代之是盗名的补偿块的温度应变.结构测点温度应变和补偿块温度应变的混淆，正是温度应变补偿模式的电阻应变测试技术错误运用至今之根本.所谓结构温度应变补偿，必须保证补偿块的温度应变始终等于结构测点处的温度应变.通过上述分析不难发现：只是那些处于同一均匀温度梯度场内的静定结构有可能满足.而对于工程结构，既不可能是静定的，也不可能处于同一均匀温度梯度环境之中.事实上，结构温度应变的获取，其技术难度本身并不亚于结构机械应变的测试，结构温度应变补偿亦不可能，基于温度应变补偿模式的结构应变测试技术自然也就不复存在.那么，为什么电阻应变测试技术能在世界范围内被工程界普遍接受、广泛应用，且经久不衰呢？追溯一下电阻应变测试技术温度补偿原理的背景，就不难理解.在结构应变测试技术提出的早期，对于实验室内的小型简单结构，上述条件比较容易满足.因此，结构电阻应变测试技术迅速走出了实验室.不过，此时的温度应变补偿块已经完全失去了温度应变补偿的功能.对于如此简捷高效而充满活力的测试技术，结构工程师是不遗余力地将其推广应用于各个领域工程结构的应变测试中.可稍有不慎，忽视了其适用条件.对于任一大型工程结构，既不可能是静定的，也不可能处于同一均匀温度梯度环境之中，温度补偿的结构电阻应变测试技术自然不能适用.如此不求甚解，生搬硬套，其后果可想而知.其实，它告诫自然科学工作者和工程技术人员一个基本而重要的事实：基础理论知识的重要性与严谨性.基础理论知识在向工程应用转化的过程中，要特别注意其适用条件——只有深刻地理解，才能正确地运用.那么，如何实现大型工程结构的结构应变测试呢？对于像桥梁、高楼、船舶、大坝等类结构物，结构应变测试中要保证测点处的结构温度应变恰好等于补偿块的温度应变，这几乎是不可能的.但是，如果能够选择一个环境温度相对稳定的试验时间段，这就相当于把整个结构放置于一个超大的、均匀的、稳定的温度场中，避免了结构在试验过程中温变应变的产生.这时的温度补偿片，仅仅起到了平衡测试电桥的功能（而并非温度应变补偿）.这是大型工程结构电阻应变测试简便而可行的方法，肯定地说：结构电阻应变测试技术应用是有条件的.否则，必然自食其果.顺便指出，为保证结构运营安全，有些大型结构（如桥梁、高楼、大坝等）构建了结构健康在线监测系统；而基于温度应变补偿模式的结构应变测试子系统，其所获取的结构应变响应自然包含了环境温度在内的各类载荷作用，对于其应变响应数据的分析，只能自圆其说了.本文通过分析结构温度应变的产生原理与结构温度应变的补偿原理，分别探讨了源于结构的温度应变与源于补偿块的温度应变，辨析了二者的相互关联与差异.在此基础上，指出了基于温度应变补偿模式的结构电阻应变测试技术原理是错误的，其问题的实质在于概念上混淆了测点处的结构温度应变与补偿块的温度应变，导致了结构温度应变的错误补偿.同时，给出了正确实现工程结构应变测试的客观环境条件，以保证结构应变响应数据的客观性与可靠性.论文研究工作得到如下结论：（1）结构上任一点的温度应变，是结构上各部位温度变化贡献的叠加；（2）一般情况下，结构测点处的温度应变，有别于测点同一环境温度下补偿块的温度应变；（3）基于温度应变补偿模式的结构应变测试技术错误在于：概念上混淆了结构的温度应变与补偿块的温度应变，导致了结构温度应变的错误补偿；（4）结构温度应变补偿是不可能的，基于温度应变补偿模式的结构应变测试技术不复存在；（5）大型工程结构应避开环境温度产生的结构温度应变，其结构应变测试试验是可行的.【相关文献】1天津大学材料力学教研室.电阻应变仪测试技术.北京：科学出版社，1980.151-1532张如一，沈观林，李朝弟.应变电测与传感器.北京：清华大学出版社，1999.25-343南秋明，梁磊.FBG传感器温度性能及温度补偿实验.河南科技大学学报，2007，28（6）：13-154徐芝纶.弹性力学（第4版）.北京：高等教育出版社，2006. 120-1445滑广军，王建强，徐东喜等.应变温度补偿方法的改进.湖南工业大学学报，2008，22（2）：74-776王景波.温度对梁跨结构应变测试结果的影响.交通科技与经济，2008，45（2）：16-17。
电阻应变片测量中温度误差的补偿方法
R1 R2
=
△R2t/ △R1t/
R2 R1
而其中 ( △R1t) = - ( △R2t)
3 、小结
311 温度变化引起应变片敏感栅电阻变
化而产生附加应变和试件材料与敏感栅材料
的线膨胀系数不同 ,使应变片产生附加应变
等两个原因是造成应变片温度误差的主要原
因。
312 这里介绍的温度误差补偿方法 ,由于
△1t1 ———温度变化 △t 时应变丝的膨胀 量;
△1t2 ———温度变化 △t 时试件的膨胀量 ; 如果β丝 和β试 不相等 ,则从式 (6) 、(7) 可 知 , △1t1和 △1t2也就不相等 。但是 ,应变丝和 试件是粘连在一起的 ,若β丝 <β试 ,则应变丝 被迫从 △1t1拉长至 △1t2 ,这时就使应变丝产
No. 1 Vol . 9
Journal of Hulunbeir College Published in Mar. 2001
电阻应变片测量中温度误差的补偿方法
梁立凯
抚顺职工大学 辽宁抚顺市 113008
摘 要 :电阻应变式传感器的实际工程中应用较广 ,但是由于温度变化引起应变片电阻变化对测量精
参数和试件的线膨胀系数 ,就在测量中对其 产生影响较大的环境温度变化 ,探讨补偿方 法。
2 、温度误差的补偿方法 温度误差的补偿方法 ,基本上分为桥路 补偿和应变片自补偿两种 。 211 桥路补偿法 桥路补偿法也称补偿片法 。应变片通常 是作为平衡电桥的一个臂测量应变的 ,利用 电桥的和差特性 ,电桥的输出反映相邻桥臂 电阻值变化相减的结果 ,如图 1 (a) 所示 , R1 为工作片 ,R2 为补偿片 。 工作片 R1 粘 贴在被测工作的 需要测量的部位 , 补偿片 R2 粘贴在 一块不受力的与 被测试件的相同 的材料上 ,这块 材料自由地放在 试件上或附近 ,如图 1 ( b) 。当温度发生变化 时 ,工作片 R1 和补偿片 R2 的电阻都发生变
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实 际情 况 ， 介 绍 了一 种 由 Ｐ Ｌ Ｃ控 制 、 触 屏 操 作 的 自动 校 直 测控 系统 。在系统 控 制 、 硬 件设 汁 和软 件 设计 等 方 而
—
直流 低 电阻测 试 仪 是 采用 四端 测 量 法 ， 专 门用 于测
量直流低电阻值的仪器 ， 其测量原理如下 图 １ ：
２ ０ ） ］＝ ９ ． ９ ６ ０ ｍ Ｑ。
圈 １
测量 电路提 供恒 定 的测 试 电流 ， 电流 流 过被测 电阻 ， 产 生 电压 降 被显示 器 采 用或 经 过 Ａ ／ Ｄ转 换进 入 Ｃ Ｐ Ｕ处 理 系统 ， 遵 从 欧姆 定律 直接 显示 。 但是 ， 在 实 际计量 过程 中 ， 我们 经常 碰 到很多 低 电阻 测试 仪都 带 温度 补偿 功能 ， 开 与不 开温度 补偿 ， 对 被测 值 有很 大影 响 。那 么对 于 带 温 度补 偿 的低 电阻 测 试 仪 ， 该
钮， 其 读 数也是 直 接换 算到 ２ ０ ℃ 时铜丝 的数 值 。
３ 现场 计量
在进 行现 场计 量 时 ， 小 量 程 我 们 主要 选 用 标 准 电 阻
进行量值传递 ， 常见标准电阻一般都是锰铜电阻 ， 其温度 特性 曲线 是二 次 的 ， 其 表达 式 为
Ｒ ／ Ｒ ２ ０ ＝１ ＋ （ ｔ 一２ ０ ） ＋卢（ ｔ 一２ ０ ） ２ ， 、 分 另 ０
的 出现 。Βιβλιοθήκη 常见 的带 温度 补 偿 的低 电 阻测 试 仪 有 两 种 ， 一 种 是
内置温度探头 ， 只需将温度补偿开关打开， 即可 自动进行
换算 ； 另 一种 不带 温度 探 头 ， 只 有 温度 调 节 旋 钮 ， 测 试 时
需要 根据 环 境 温 度 值 （ 需 另配温 度计 ） ， 来 调 节 温 度 旋
为一 次项 系数 和二 次 项 系数 ， 单位为 ｐ ｐ ｍ ／ Ｃ， ｐ ｐ ｍ ／ Ｃ 。 ， 数 量级 为百 万分 之 一 ， 如一个标称值为 １ ｍ Ｉ ｔ的标 准 电阻 ， ＇ 受温 度波 动 ， 其 电阻值 影 响不 超 过 １ ０～ｍｆ ｔ ， 相 比被检 仪
器准确度等级可以忽略不计 。 因此 在现 场计 量 时 ， 我 们 不 用 考 虑标 准 器 随 温度 影
蒋嘉 乐等 砖 亍 输 出袖 校 氮溉 控 系统 设 计
冈， 通 没置 弹细 步骤请 参 号 义献 ［ １ ４ ］ ［ １ ５ ］
通过 实验 中对 系统 的模 拟 仿 真 ， 初步证明 了南 Ｐ Ｌ Ｃ
控制 、 触 摸屏 操作 的 转 子轴 校 机 不 仪 突 破 了 传 统 的轴 校 直Ｔ 艺 、 提 高 ｒ设 备 的 ｆ ｛ 动 化程 度 ， 而且 显著 改善 了产
＾ 质量 和 降低 了劳 动 者 劳 动强 度 ．
屏 的实 物连 接 ：
７为 Ｐ Ｉ Ｃ与 触 摸
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宗 金朝 ： 基 于 温度 补 偿 的低 电 ． 阻测 试仪 莜 礁
基 于 温 度 补 偿 的 低 电 阻测 试 仪 校 准
宗 金 朝
（ 常州市计量测度技术研 究所 ， 江苏 常 州 ２ １ ３ ０ ０ ０ ）
摘 要： 本文介绍 了带温度补偿 的低 电阻测试仪 的校准方法 。 文献标识码 ： Ａ 国家标准学科分类代码 ： ４ ６ ０ ． ４ ０ ２ ５
如何 进行 校 准 呢？
２ 理论 分析
表１ ２ ０ ％铜电阻换算 系数
因为铜丝合格 的判断标准是 以温度 为 ２ ０ ￣ Ｃ 而定 ， 但 在实 际测 试 中 ， 环 境温 度很 难控 制 到如此 精确 ， 如 果是 常
规 的低 电阻测 试仪 ， 则 必须 知道 环境 温度 ， 根 据公 式进 行 换算 ， 比较繁 琐 ， 所 以就有 了带 温度 补偿 的低 电阻测 试仪
一
一 ～ 觑雌 一 一 一 一 一 ～ 一 艄 一 一 ～ 一 一 一 一 ～ 一 ～ 一 一 一 ～ 一 嚣 ～ ～ 一 ～ 一 一 一 一 一 ～ 一 一
图 ７ 买 物 图
５ 结束 语 本文结 合 电机转 子 轴变 形 问题及 当前 校直 机行 业 的
Ｚ ｏ ｎ ｇ Ｊ ｉ ｎ ｃ ｈ ａ ｏ
１ 概 述
较敏 感 ， 铜 电阻温 度 系数如 表 １ 。 可 以看 出 ， 铜 的 电阻值 随着 温度 的 上升 而减 小 ， 其校 准系数公 式 为： ＝２ ５ ４ ． ５ ／ （ ２ ３ ４ ． ５＋ｔ ）＝１／ ［ １＋ ０ ． ０ ０ ３ ９ ３ （ ｔ一２ ０ ） ］ ， 如一段铜丝在 ２ １ ℃ 时， 电 阻 值 为 １ ０ ｍ ｌ ￣ ， 那 么换算 成 ２ ０ ℃， 电阻 值 为 １ ０／ ［ １＋ ０ ． ０ ０ ３ ９ ３ （ ２ １
关键词 ： 温度补偿 ； 低 电阻测试仪 ； 校准方法 中图分类号 ： Ｔ Ｎ ３ ７ ３
ＤＯ Ｉ ： １ ０ ． １ ５ ９ ８ ８ ／ ｊ ． ｃ ｎ ｋ ｉ ． １ ０ ０ ４—６ ９ ４ １ ． ２ ０ １ ７ ． ０ ２ ． ０ ３ ６
Ｃａ ｌ ｉ ｂ ｒ ａ ｔ ｉ ｏ ｎ ｏ ｆ Ｌｏ ｗ Ｒｅ ｓ ｉ ｓ ｔ ａ ｎ ｃ ｅ Ｔｅ ｓ ｔ ｅ ｒ Ｂａ ｓ ｅ ｄ ｏ ｎ Ｔｅ ｍｐ ｅ ｒ ａ ｔ ｕｒ ｅ Ｃｏ ｍｐ ｅ ｎ ｓ ａ ｔ ｉ ｏ ｎ
带 温 度 补偿 的 低 电阻 测 试 仪 大 多 由 电线 电缆 厂 使 用， 而 电线 电缆厂 测试 产 品是铜 丝 ， 铜 的电 阻值对 温度 比
收 稿 日期 ： ２ ０ １ ６—１ １— ２ １
响 的变化 ， 对 于有 温度 补偿 功 能 的低 电阻测试 仪 ， 应 先把 （ 下转 第 ８ ７页 ）