电源完整性分析(于争博士)

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电源完整性测试

电源完整性测试

电源完整性测试

刘婷婷;邓豹;韩嫚莉

【摘要】随着电子产品小型化以及复杂化的发展,电源完整性的设计已经成为了制约高速电路设计成败的关键因素之一.能够正确地测试到电源完整性参数对于产品调试来说是最根本、最重要的一部分.为了能够获取精确测试电源完整性参数,从测试设备以及被测物两个角度出发,结合原理分析以及建模仿真的方法,得出了电源完整性测试的正确方法,并且提供了测试步骤.

【期刊名称】《微型机与应用》

【年(卷),期】2015(034)008

【总页数】4页(P29-31,34)

【关键词】高速电路;电源完整性;仿真设计;信号完整性

【作者】刘婷婷;邓豹;韩嫚莉

【作者单位】中航工业西安航空计算技术研究所,陕西西安710065;中航工业西安航空计算技术研究所,陕西西安710065;中航工业西安航空计算技术研究所,陕西西安710065

【正文语种】中文

【中图分类】TN41

随着电子技术的飞速发展,电子元器件正朝着微型化、高集成度、多功能化、高功率密度的方向发展。后摩尔时代,集成电子器件的规模越来越大,一个芯片核中集成几十亿只晶体管,由此带来芯片的时钟频率不断提高,供电电压在不断降低,相

应的功率和电流量级显著提高。供电电路的品质或者说电源完整性的测试与验证,正愈来愈成为影响设计成败的关键因素。本文将结合仿真分析的方法,介绍一种电源完整性的测试方法。

电源完整性是指电源供给的准确性和稳定性。实际的电路设计中,由于晶体管的开关以及实际互连线的特性等原因导致电源在一定范围内波动。当实际供电值高于波动上限时,就会引起芯片工作的可靠性问题;当实际供电值低于下限时会导致芯片的工作性能降低甚至不能工作;当电压波动幅度较大时,可能会直接影响相关电路的信号质量[1]。基于上述这些问题,随着单板高速高密度的发展,电源完整性已经成为制约设计的一个重要因素。在硬件设计和调测过程中,必须首先保证电源电路高质量工作。高速电路的设计复杂性使得电源完整性的测试工作也变得很困难。电路中电源的可测试点繁多,对于只有几十毫伏的电源波动,不同的工程师也往往会得到不同的结果。因此如何采用正确的测试方法对电源完整性进行测试分析成为设计保证的前提。

于博士信号完整性分析入门(修改)

于博士信号完整性分析入门(修改)

于博士信号完整性分析入门

于争 博士

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什么是信号完整性?

如果你发现,以前低速时代积累的设计经验现在似乎都不灵了,同样的设计,以前没问题,可是现在却无法工作,那么恭喜你,你碰到了硬件设计中最核心的问题:信号完整性。早一天遇到,对你来说是好事。

在过去的低速时代,电平跳变时信号上升时间较长,通常几个ns。器件间的互连线不至于影响电路的功能,没必要关心信号完整性问题。但在今天的高速时代,随着IC输出开关速度的提高,很多都在皮秒级,不管信号周期如何,几乎所有设计都遇到了信号完整性问题。另外,对低功耗追求使得内核电压越来越低,1.2v内核电压已经很常见了。因此系统能容忍的噪声余量越来越小,这也使得信号完整性问题更加突出。

广义上讲,信号完整性是指在电路设计中互连线引起的所有问题,它主要研究互连线的电气特性参数与数字信号的电压电流波形相互作用后,如何影响到产品性能的问题。主要表现在对时序的影响、信号振铃、信号反射、近端串扰、远端串扰、开关噪声、非单调性、地弹、电源反弹、衰减、容性负载、电磁辐射、电磁干扰等。

信号完整性问题的根源在于信号上升时间的减小。即使布线拓扑结构没有变化,如果采用了信号上升时间很小的IC芯片,现有设计也将处于临界状态或者停止工作。

下面谈谈几种常见的信号完整性问题。

反射:

图1显示了信号反射引起的波形畸变。看起来就像振铃,拿出你制作的电路板,测一测各种信号,比如时钟输出或是高速数据线输出,看看是不是存在这种波形。如果有,那么你该对信号完整性问题有个感性的认识了,对,这就是一种信号完整性问题。

一种直接射频采样电路的设计

一种直接射频采样电路的设计

设计应用

一种直接射频采样电路的设计

王宁

(中国空空导弹研究院,河南洛阳

以下频带的直接射频(Radio Frequency,RF)采样电路,详细分析电路的各

个组成部分,并给出具体的器件选择。该设计基于TI公司的高速射频采样

平台,通过设计射频前端、高速时钟、JESD204B

路信号完整性进行仿真分析,从而实现了整个射频采样电路的功能。

直接射频(RF)采样;高速时钟;信号完整性;JESD204B;FPGA

A Design of Direct Radio Frequency Sampling Circuit

WANG Ning

(China Airborne Missile Academy, Luoyang

Abstract: Design a direct Radio Frequency(RF) sampling circuit that can cover the frequency band below

analyze each component of the circuit in detail, and give specific device selections. The design is based on TI

and Xilinx’s Kintex-7 series XC

放大,提高系统的增益和压低噪声系数。本设计选择

作为低噪放,采用两级放

ADC是射频采样电路的核心,实现了从射频信号到数字信号的转换,其性能直接决定了整个射频采样系统的性能,本根据Xilinx

资源及其他各部分电路功耗特性,选择凌特公司的LTM4644

电源的信号完整性分析流程

电源的信号完整性分析流程

电源的信号完整性分析流程

 同步开关输出(SSO)引起的同步开关噪声(SSN)一直是信号完整性(SI)领域几十年来的热门话题(见下图)。一些人认为只有使用晶体管级模型的SPICE仿真才能提供DDR4等存储器接口所需的精度,以仿真在地址和数据总线上同时驱动多个信号。而即使使用SPICE仿真器和晶体管级模型,互连模型也需要包括信号、电源和地之间相互作用的细节。有些人认为这种模型只能使用矢量网络分析仪(VNA)从物理测试平台中提取。但是,如果您用一块生产好的PCB来执行物理模型提取,那幺您已经处于产品开发周期晚期了,而大多数设计团队都希望在设计周期的早期进行这些仿真,以帮助优化电源分配网络、信号布线和内存控制器选择。

 Cadence® Sigrity™团队一直在推广兼顾电源的信号完整性分析方法。现在,我们又有了一些新的成果。然而,在进一步讨论之前,您可能需要花一些时间来阅读我们的白皮书“应对’兼顾电源’挑战的内存接口设

计”(https://cadence/content/dam/cadence-www/global/en_US/documents/tools/ic-package-design-analysis/sigrity-power-aware-tp.pdf),从而了解一下我们的流程。

 这篇白皮书回顾了兼顾电源的信号完整性分析流程,该流程提取了系统的互连模型(如封装模型、PCB模型、连接器模型等),然后将它们与IBIS (5.0+)器件模型级联,组成时域仿真系统。Sigrity SystemSI™多年来一直

OrCAD中文教程

OrCAD中文教程

于博士信号完整性研究网

OrCAD Capture CIS

作者:于争 博士

2009年4月28日

目录

1 建立工程及设置......................................................................................................................- 1 -

2 工程管理器..............................................................................................................................- 4 -

3 原理图页相关操作..................................................................................................................- 5 -

4 创建元件库..............................................................................................................................- 6 -

5 元件库编辑一些知识技巧......................................................................................................- 9 -

电源完整性分析

电源完整性分析

电源完整性分析

姓名:郝晓飞

班级:电研-10

一、基本概念

电源完整性,简称PI(power integrity).目前,对于信号完整性的分析,除了要考虑反射,串扰以及电磁干扰(EMI)外,电源完整性的分析被人们越来越多的关注,可靠稳定的电源供应成为设计者们研究的一个重要方向。在以往对信号完整性分析时,一般都假设电源处于绝对稳定的状态,但是随着系统设计对仿真精度的要求不断提高,这种假设越来越不能被接受,因此,PI应运而生。信号完整性主要与传输线上的质量相对应,电源完整性主要与高速电路系统中电源和地的质量相对应。在对高速电路进行仿真时,往往因信号参考层的不完整性造成信号回路路径变化多端,从而引起信号质量变差和产品的EMI性能变成,并直接影响信号完整性。为了提高信号质量、产品的EMI性能,人们开始研究为喜好提供一个稳定、完整的参考平面,随即提出了电源完整性的概念。

二、电源完整性的起因

造成电源不稳定的根源主要在于两个方面:一是器件高速开关状态下,瞬态的交变电流过大;二是电流回路存在电感。

从表面形式上来看又可以分为三类:同步开关噪声(SSN),有时被称为Δi噪声,地弹(Ground bounce)现象也可归于此类;非理想电源阻抗影响;谐振及边缘效应。

电源完整性的作用是为系统所有的信号线提供完整的回流路径。但是随着科技的发展往往电源完整性得不到实现,其破坏电源完整性的主要因素只要有以下几种:地弹噪声太大,去耦电容设计不合理,回流影响严重,多电源、地平面的分割不当,地层设计不合理,电流分配不均匀,高频的趋肤效应导致系统阻抗变化等等。

电源完整性分析的十个经验

电源完整性分析的十个经验

电源完整性分析的十个经验

电源完整性分析的十个阅历“在数字设计中,有三种频繁的电源:、线性电源和电源分布网络。”是德科技数字测试业务部大中华区市场经理杜吉伟表示,“随着电路速度加快,工程师分为两大类:一类是正遇见电源完整性问题的,另一类是即将遇到电源完整性问题的。”对于开关电源和线性电源的测试,杜吉伟认为有两项测试向来没有普及:一是电源纹波抑制比,二是控制环路波特图测试。他共享了这一容易但工程师未必认识的测试技术和计划。对于一次和二次电源,纹波噪声等的要求越来越严格。工程师濒临两个问题,一是手边的测试工具(比如1:1、10:1探头、各种不同前端附件、用过的、没用过的、不同衔接方式和衔接环境)有没有得到最大化的优化用法?发挥了最大的功效,对于个别要求严格的场合,假如现有工具不满足测试需求,目前有什么最新技术和产品解决,能解决到什么程度?杜吉伟从内部架构和示波器探头的角度研究了Keysight在电源完整性方面的十个测试技巧和技术以及最新产品。他指出,假如测量范围允许,最好选用1:1的探头,由于10:1探头会将本底噪声放大。此外,他还研究了在2GHz 频宽内,信号幅度小于10mV,甚至是1mV、10uV的测试。iTech电源测试解决计划可测试超过40项的电源参数不管是开关电源、各种、充电器还是任何一种电源,都需要经过各种测试和认证才干进入市场。输入、输出、庇护、时序/动态、稳定性等都是企业关注的重要参数,需要通过测试表现出电源的性能是否符合要求。艾德克斯(iTech)中国部技术支持工程师Serina表示,艾德克斯的电源测试解决计划不仅能够在功能与精度等方面满足传统测试计划可以满足的测试需求,还解决了传统测试计划所存在的缺陷。该公司针对更高端的测试需求举行了变革与创新,如可用于桌面用法的电源测试系统、模块化设计的电源测试计划等。中国电子创新信息网艾德克斯提供的电源测试解决计划是集高精准、全方位、完整性等独特优势于一身的。该公司测试解决计划能够测试超过40项常规以及特别的电源参数。艾德克斯提供系

基于LVDS电路的电源完整性分析 邢荣峰

基于LVDS电路的电源完整性分析 邢荣峰

基于LVDS电路的电源完整性分析邢荣峰

摘要:如果PCB电路的故障是由电源完整性方面的问题引起的,那么对该PCB

电路的调试将非常困难,且其故障很难定位。通过电源完整性仿真可以很方便地

寻找其问题所在。以LVDS传输电路为例,阐述了分析频段的确定方法,进行了

谐振分析和阻抗分析,查明了设计存在的问题。

关键词:谐振分析;阻抗分析;分析频段

电源配送网络(Power Delivery Network,PDN)与印制线路板(Printed Circuit Board,PCB)上的各种器件都有着直接的连接关系,设计不合理的PDN系统会给PCB电路带来致命的隐患[1]。通过电源完整性(Power Integrity,PI)仿真,可以

查明PDN系统中潜在的问题,达到降低研发成本、缩短设计周期的目的。

1电源完整性

PI指的是电源波形的质量,它与信号完整性(Signal Integrity,SI)相互影响

相互制约。从广义上来说,PI属于SI研究范畴之内,新一代的信号完整性分析必

须建立在可靠的电源完整性分析的基础上[2]。

PI主要研究的对象是PDN。PDN是电路系统中最复杂的互连结构,它的作用

主要包含两个方面:1)为负载提供干净的供电电压;2)为信号提供低噪声的返

回路径[3]。如何保证PDN系统满足负载芯片对电源的要求,就是PI所要解决的

问题。PI仿真则是提高PDN系统设计质量的有效手段。

2分析频段选择

PCB电路包含各种各样的信号,从直流到交流,从低频到高频,这些信号都

携带着丰富的频率分量。对信号进行描述时通常会用到两个重要的量:上升沿和

电源完整性总结

电源完整性总结

1、电源系统噪声余量分析

绝大多数芯片都会给出一个正常工作的电压范围,这个值通常是±5%,。老式的稳压芯片的输出电压精度通常是±2.5%,因此电源噪声的峰值幅度不应超过±2.5%。精

度是有条件的,包括负载情况,工作温度等限制,因此要有余量。

电源噪声余量计算

比如芯片正常工作电压范围为3.13V 到3.47V 之间,稳压芯片标称输出3.3V。安装到电路板上后,稳压芯片输出3.36V。那么容许电压变化范围为3.47-3.36=0.11V=110mV。稳压芯片输出精度±1%,即±3.363*1%=±33.6 mV。电源噪声余量为110-33.6=76.4 mV。

2、电源噪声是如何产生

第一,稳压电源芯片本身的输出并不是恒定的,会有一定的波纹。

第二,稳压电源无法实时响应负载对于电流需求的快速变化。稳压电源芯片通过感知其输出电压的变化,调整其输出电流,从而把输出电压调整回额定输出值。

第三,负载瞬态电流在电源路径阻抗和地路径阻抗上产生的压降,,引脚及焊盘本身也会有寄生电感存在,瞬态电流流经此路径必然产生压降,因此负载芯片电源引

脚处的电压会随着瞬态电流的变化而波动,这就是阻抗产生的电源噪声。

3、电容退耦

采用电容退耦是解决电源噪声问题的主要方法。这种方法对提高瞬态电流的响应速度,降低电源分配系统的阻抗都非常有效。

3.1、从储能的角度来说明电容退耦原理

当负载电流不变时,其电流由稳压电源部分提供,即图中的I0,方向如图所示。此时电容两端电压与负载两端电压一致,电流I c 为0,电容两端存储相当数量的电荷,其电荷数量和电容量有关。当负载瞬态电流发生变化时,由于负载芯片内部晶体管电平转换速度极快,必须在极短的时间内为负载芯片提供足够的电流。但是稳压电源无法很快响应负载电流的变化,因此,电流I0 不会马上满足负载瞬态电流要求,因此负载芯片电压会降低。但是由于电容电压与负载电压相同,因此电容两端存在电压变化。对于电容来说电压变化必然产生电流,此时电容对负载放电,电流I c 不再为0,为负载芯片提供电流。只要电容量C 足够大,只需很小的电压变化,电容就可以提供足够大的电流,满足负载态电流的要求。

Cadence-PDN电源完整性分析

Cadence-PDN电源完整性分析

Cadence PDN电源平面完整性分析

——孙海峰 随着超大规模集成电路工艺的发展,芯片工作电压越来越低,而工作速度越来越快,功耗越来越大,单板的密度也越来越高,因此对电源供应系统在整个工作频带内的稳定性提出了更高的要求。电源完整性设计的水平直接影响着系统的性能,如整机可靠性,信噪比与误码率,及EMI/EMC等重要指标。板级电源通道阻抗过高和同步开关噪声SSN过大会带来严重的电源完整性问题,这些会给器件及系统工作稳定性带来致命的影响。PI设计就是通过合理的平面电容、分立电容、平面分割应用确保板级电源通道阻抗满足要求,确保板级电源质量符合器件及产品要求,确保信号质量及器件、产品稳定工作。

Cadence PCB PDN analysis电源平面分析主要可以解决以下几个问题:

板级电源通道阻抗仿真分析,在充分利用平面电容的基础上,通过仿真分析确定旁路电容的数量、种类、位置等,以确保板级电源通道阻抗满足器件稳定工作要求。

板级直流压降仿真分析,确保板级电源通道满足器件的压降限制要求。

板级谐振分析,避免板级谐振对电源质量及EMI的致命影响等。

那么Cadence PCB PDN analysis如何对PCB进行电源平面完整性的分析?接下来,我将以一个3v3如下图所示的电源平面为例,来进行该平面的电源平面分析。

对图中3v3电源平面进行完整性分析,具体步骤将作详细解析。

在对该电源平面进行分析之前,我们需要首先确定PCB参数的精确,如:电源平面电平Identify DC Nets、PCB叠层参数Cross-Section等,这些参数都必须和PCB板厂沟通(板厂对叠层参数生产能力不同),在此基础上精确参数方能得到精确的分析结果。这些参数也可以在PDN Analysis分析界面上点击Identify DC Nets,Cross-Section来调整优化。

信号完整性与电源完整性的仿真分析与设计.doc

信号完整性与电源完整性的仿真分析与设计.doc

信号完整性与电源完整性的仿真分析与设计

信号完整性是指信号在通过一定距离的传输路径后在特定接收端口相对指定发送

端口信号的还原程度。在讨论信号完整性设计的性能时,如果指定不同的收发参考端口,就要用不同的指标来描述信号还原程度。通常情况下指定的收发参考端口是发送芯片输出处及接收芯片输入处的波形可测点,此时,主要使用上升/下降及保持时间等指标来描述信号还原程度。当指定的参考收发端口是信道编码器输入端及解码器输出端时,就要用误码率来描述信号还原程度。电源完整性是指系统供电电源在经过一定的传输网络后在指定器件端口相对该器件对工作电源要求的符合程度。同样,对于同一系统中的同一个器件,如果指定的端口不同,那么对正常工作的电源要求也不同。通常情况下指定的器件参考端口是芯片电源及地连接引脚处的可测点,此时该芯片的手册中应给出该端口处的相应指标,常用的有纹波大小或电压最大偏离范围。

一个典型背板信号传输的系统示意图如图1所示。本文中系统一词包含信号传输所需的所有相关硬件及软件,包括芯片、封装与PCB板的物理结构,电源及电源传输网络,所有相关电路实现以及信号通信所需的协议等。在设计时,需要硬件提供可制作的支撑及电信号有源/无源互联结构;需要软件提供信号传递的传输协议以及数据内容。但是,由于这些支撑与互联结构会对电信号的传输呈现出一定的频率选择性衰减,因此,会对信号及电源的完整性产生影响。同时,在相同的传输环境下,不同传输协议及不同数据内容的表达方式具有不同的适应能力,因此,需要进一步根据实际的传输环境来选择或优化可行的传输协议及数据内容表达方式。

电源完整性基础讲解

电源完整性基础讲解

电源完整性基础讲解

1.从信号完整性角度分析电源

将SI以大类来看,其SI&PI&EMI三者的关系:

2.电源完整性系统框图

3.电源分配网络PDN讲解:

电源完整性(PI)更关注于电源路径及终端,也就是电源分配网络(PDN)。从源端稳压模块(VRM)经过路径(单层直达或过孔转换的几个层面),到达终端,最终流向使用芯片或经过线缆到使用设备。

电源路径与信号路径是有区别的,电源分配网络中一个电源路径可以在一个节点分成多个路径,或者说转换成多个电源,终端挂多个元器件,可以理解为一对多。

而信号路径只能一对一。

既然电源分配网络是为终端设备提供所需电源,那就是有要求,就需要对电源分配网络管控。如信号路径,除了保证返回电流,还要尽量保证返回路径的低阻抗。由于是一对多的情况,这样的管控,才能保证返回电流不相互重叠,不会发生地弹,即尽量避免开关噪声(SSN)。

基本要求是,保证供电电压稳定,至少能够维持在一个很小的容差范围内,通常在+/-5%以内。电源的测试中有纹波测试,这个纹波测试标准就是+/-5%。讲到返回电流,这里就要分为直流部分和交流部分。

直流部分:

终端设备需要稳定的电压输出,电源分配网络互连之间串联电阻的存在,直流部分通过,就会产生压降,通常称为IR 压降。当电流发生波动时,压降也会随之波动,从而影响终端设备的识别。之前的USB设备好像最低电压值4.75 V。

交流部分:

当交流电流通过电源路径时,电源分配网络上也将产生电压降,这个压降会随着频率发生变化:

电源路径的不同(层数&Shape宽度等),造成的压降变化是不同的,输出稳定电压到终端的难度很大,我们所要做的只是保证电压的变化在一定的

电源完整性设计

电源完整性设计

电源完整性设计

在电路设计中,一般我们很关心信号的质量问题,但有时我们往往局限在信号线上进行研究,而把电源和地当成理想的情况来处理,虽然这样做能使问题简化,但在高速设计中,这种简化已经是行不通的了。尽管电路设计比较直接的结果是从信号完整性上表现出来的,但我们绝不能因此忽略了电源完整性设计。因为电源完整性直接影响最终PCB板的信号完整性。电源完整性和信号完整性二者是密切关联的,而且很多情况下,影响信号畸变的主要原因是电源系统。例如,地反弹噪声太大、去耦电容的设计不合适、回路影响很严重、多电源/地平面的分割不好、地层设计不合理、电流不均匀等等。

(1)电源分配系统

电源完整性设计是一件十分复杂的事情,但是如何近年控制电源系统(电源和地平面)之间阻抗是设计的关键。理论上讲,电源系统间的阻抗越低越好,阻抗越低,噪声幅度越小,电压损耗越小。实际设计中我们可以通过规定最大的电压和电源变化范围来确定我们希望达到的目标阻抗,然后,通过调整电路中的相关因素使电源系统各部分的阻抗(与频率有关)目标阻抗去逼近。

(2)地反弹

当高速器件的边缘速率低于0.5ns时,来自大容量数据总线的数据交换速率特别快,当它在电源层中产生足以影响信号的强波纹时,就会产生电源不稳定问题。当通过地回路的电流变化时,由于回路电感会产生一个电压,当上升沿缩短时,电流变化率增大,地反弹电压增加。此时,地平面(地线)已经不是理想的零电平,而电源也不是理想的直流电位。当同时开关的门电路增加时,地反弹变得更加严重。对于128位的总线,可能有50_100个I/O线在相同的时钟沿切换。这时,反馈到同时切换的I/O驱动器的电源和地回路的电感必须尽可能的低,否则,连到相同的地上的静止将出现一个电压毛刷。地反弹随处可见,如芯片、封装、连接器或电路板上都有可能会出现地反弹,从而导致电源完整性问题。

电源完整性分析与设计

电源完整性分析与设计

的 电压 。多数数字 电路元器件对工作 电压都 是 当该谐振位置有激励源时 ,就会发生谐振 ,如
有 一 定 要 求 的 , 电源 波 动 范 围 需要 满 足 其可 接 果 参 考 回路 正 好 经 过 平 面 谐 振 点时 ,就 会 将 谐
受的正常工作 电压范 围。电源之所 以波 动的主 要原 因就是其传输线 、平面存在 阻抗 ,使得 在 瞬间 电流通过 的时候产生压 降和 电压摆 动。而
减 小 等原 因,使 得 电源完 整性 的 问题 凸显 出 来 ,如 E MC噪声变大 、芯片 的使用寿命变短、 P C B板 的可靠 性和 安全 性变 差等 ,从 而在 某
的 正 常 工 作 电压 ,为 此 控 制 该 阻 抗 ( 电 源 目标 阻 抗 )也 就 成 了最 主 要 的 目 的 。
4 电源系统 的设 计方法分析
影 响电源 供 电系统 特性 的 因素通 常有 : 电源地平面的结构 ,叠层方式 ,电源模块 的输 出, 管脚和 过孔的位置以及 去耦 元件的布局等 ,
其 中 电容 是 p c b 中最 为 常 见 的去 耦 元 器件 , 如
( 3 )选择 电容时,要采 用多种 容量的选
体 的分析方法 由于建模较为 复杂,本文不做详
细解释 )
电源 目标阻抗 z 定义:
5 小结
电源完 整性 在设 计时 的注 意点 简单 的 归 纳 下:

信号完整性揭秘:于博士SI设计手记

信号完整性揭秘:于博士SI设计手记

目录分析
在当今的高科技时代,信号完整性已成为电子工程领域中至关重要的一部分。 本书《信号完整性揭秘:于博士SI设计手记》旨在帮助读者深入理解信号完整性 的基础知识,通过于博士的SI设计手记,带领读者走进信号完整性的世界,掌握 解决信号完整性问题的关键方法。
本书首先从数字信号的特征和传输线的基本概念开始,深入剖析了数字信号 的特性,包括幅度、时间、相位等。还详细介绍了传输线的种类、特性阻抗、传 播速度等基本概念。这些基础知识是理解信号完整性问题的关键。
值得一提的是,这本书并非单纯的理论堆砌,而是基于博士多年来的实际工 程设计和科研经验总结而成的。它为我们提供了一个个实际案例的分析,让我们 在理解理论知识的也能看到这些理论知识在实际中的应用。这种写法使得这本书 极具实用性和参考价值。
《信号完整性揭秘:于博士SI设计手记》是一本非常值得一读的书籍。它既 适合电子工程领域的专业人士阅读,也适合对信号完整性感兴趣的读者阅读。通 过这本书,我们能够更深入地理解信号完整性的原理和技术,从而为我们的生活 和工作带来更多的便利和效益。
电源完整性是信号完整性的重要组成部分。本书最后介绍了电源完整性的基 础知识,包括电源分配网络的设计、电源噪声的来源和抑制方法等。这些知识将 帮助读者在解决电源问题时更加得心应手。
通过对于博士SI设计手记的深入剖析,我们可以看到,《信号完整性揭秘: 于博士SI设计手记》不仅提供了丰富的理论知识,还通过实例和设计指南帮助读 者更好地理解和应用这些知识。这本书无疑为电子工程领域的专业人员提供了一 本宝贵的参考书籍,无论是在学术研究还是在工程实践中,都将发挥重要的作用。 这本书也适合作为本科生和研究生的教材或参考书籍,帮助他们在学习过程中掌 握信号完整性的关键知识。
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电源完整性设计

作者:于博士

一、为什么要重视电源噪声

芯片内部有成千上万个晶体管,这些晶体管组成内部的门电路、组合逻辑、寄存器、计数器、延迟线、状态机、以及其他逻辑功能。随着芯片的集成度越来越高,内部晶体管数量越来越大。芯片的外部引脚数量有限,为每一个晶体管提供单独的供电引脚是不现实的。芯片的外部电源引脚提供给内部晶体管一个公共的供电节点,因此内部晶体管状态的转换必然引起电源噪声在芯片内部的传递。

对内部各个晶体管的操作通常由内核时钟或片内外设时钟同步,但是由于内部延时的差别,各个晶体管的状态转换不可能是严格同步的,当某些晶体管已经完成了状态转换,另一些晶体管可能仍处于转换过程中。芯片内部处于高电平的门电路会把电源噪声传递到其他门电路的输入部分。如果接受电源噪声的门电路此时处于电平转换的不定态区域,那么电源噪声可能会被放大,并在门电路的输出端产生矩形脉冲干扰,进而引起电路的逻辑错误。芯片外部电源引脚处的噪声通过内部门电路的传播,还可能会触发内部寄存器产生状态转换。

除了对芯片本身工作状态产生影响外,电源噪声还会对其他部分产生影响。比如电源噪声会影响晶振、PLL、DLL的抖动特性,AD转换电路的转换精度等。解释这些问题需要非常长的篇幅,本文不做进一步介绍,我会在后续文章中详细讲解。

由于最终产品工作温度的变化以及生产过程中产生的不一致性,如果是由于电源系统产生的问题,电路将非常难调试,因此最好在电路设计之初就遵循某种成熟的设计规则,使电源系统更加稳健。

二、电源系统噪声余量分析

绝大多数芯片都会给出一个正常工作的电压范围,这个值通常是±5%。例如:对于3.3V 电压,为满足芯片正常工作,供电电压在3.13V到3.47V之间,或3.3V±165mV。对于1.2V 电压,为满足芯片正常工作,供电电压在1.14V到1.26V之间,或1.2V±60mV。这些限制可以在芯片datasheet中的recommended operating conditions部分查到。这些限制要考虑两个部分,第一是稳压芯片的直流输出误差,第二是电源噪声的峰值幅度。老式的稳压芯片

的输出电压精度通常是±2.5%,因此电源噪声的峰值幅度不应超过±2.5%。当然随着芯片工艺的提高,现代的稳压芯片直流精度更高,可能会达到±1%以下,TI公司的开关电源芯片TPS54310精度可达±1%,线性稳压源AMS1117可达±0.2%。但是要记住,达到这样的精度是有条件的,包括负载情况,工作温度等限制。因此可靠的设计还是以±2.5%这个值更把握些。如果你能确保所用的芯片安装到电路板上后能达到更高的稳压精度,那么你可以为你的这款设计单独进行噪声余量计算。本文着重电源部分设计的原理说明,电源噪声余量将使用±2.5%这个值。

电源噪声余量计算非常简单,方法如下:

比如芯片正常工作电压范围为3.13V到3.47V之间,稳压芯片标称输出3.3V。安装到电路板上后,稳压芯片输出3.36V。那么容许电压变化范围为3.47-3.36=0.11V=110mV。稳压芯片输出精度±1%,即±3.363*1%=±33.6mV。电源噪声余量为110-33.6=76.4mV。

计算很简单,但是要注意四个问题:

第一,稳压芯片输出电压能精确的定在3.3V么?外围器件如电阻电容电感的参数也不是精确的,这对稳压芯片的输出电压有影响,所以这里用了3.36V这个值。在安装到电路板上之前,你不可能预测到准确的输出电压值。

第二,工作环境是否符合稳压芯片手册上的推荐环境?器件老化后参数还会和芯片手册上的一致么?

第三,负载情况怎样?这对稳压芯片的输出电压也有影响。

第四,电源噪声最终会影响到信号质量。而信号上的噪声来源不仅仅是电源噪声,反射串扰等信号完整性问题也会在信号上叠加噪声,不能把所有噪声余量都分配给电源系统。所以,在设计电源噪声余量的时候要留有余地。

另一个重要问题是:不同电压等级,对电源噪声余量要求不一样,按±2.5%计算的话,1.2V电压等级的噪声余量只有30mV。这是一个很苛刻的限制,设计的时候要谨慎些。模拟电路对电源的要求更高。电源噪声影响时钟系统,可能会引起时序匹配问题。因此必须重视电源噪声问题。

三、电源系统的噪声来源

电源系统的噪声来源有三个方面:

第一,稳压电源芯片本身的输出并不是恒定的,会有一定的波纹。这是由稳压芯片自身

决定的,一旦选好了稳压电源芯片,对这部分噪声我们只能接受,无法控制。

第二,稳压电源无法实时响应负载对于电流需求的快速变化。稳压电源芯片通过感知其输出电压的变化,调整其输出电流,从而把输出电压调整回额定输出值。多数常用的稳压源调整电压的时间在毫秒到微秒量级。因此,对于负载电流变化频率在直流到几百KHz之间时,稳压源可以很好的做出调整,保持输出电压的稳定。当负载瞬态电流变化频率超出这一范围时,稳压源的电压输出会出现跌落,从而产生电源噪声。现在,微处理器的内核及外设的时钟频率已经超过了600兆赫兹,内部晶体管电平转换时间下降到800皮秒以下。这要求电源分配系统必须在直流到1GHz范围内都能快速响应负载电流的变化,但现有稳压电源芯片不可能满足这一苛刻要求。我们只能用其他方法补偿稳压源这一不足,这涉及到后面要讲的电源去耦。

第三,负载瞬态电流在电源路径阻抗和地路径阻抗上产生的压降。PCB板上任何电气路径不可避免的会存在阻抗,不论是完整的电源平面还是电源引线。对于多层板,通常提供一个完整的电源平面和地平面,稳压电源输出首先接入电源平面,供电电流流经电源平面,到达负载电源引脚。地路径和电源路径类似,只不过电流路径变成了地平面。完整平面的阻抗很低,但确实存在。如果不使用平面而使用引线,那么路径上的阻抗会更高。另外,引脚及焊盘本身也会有寄生电感存在,瞬态电流流经此路径必然产生压降,因此负载芯片电源引脚处的电压会随着瞬态电流的变化而波动,这就是阻抗产生的电源噪声。在电源路径表现为负载芯片电源引脚处的电压轨道塌陷,在地路径表现为负载芯片地引脚处的电位和参考地电位不同(注意,这和地弹不同,地弹是指芯片内部参考地电位相对于板级参考地电位的跳变)。

四、电容退耦的两种解释

采用电容退耦是解决电源噪声问题的主要方法。这种方法对提高瞬态电流的响应速度,降低电源分配系统的阻抗都非常有效。

对于电容退耦,很多资料中都有涉及,但是阐述的角度不同。有些是从局部电荷存储(即储能)的角度来说明,有些是从电源分配系统的阻抗的角度来说明,还有些资料的说明更为混乱,一会提储能,一会提阻抗,因此很多人在看资料的时候感到有些迷惑。其实,这两种提法,本质上是相同的,只不过看待问题的视角不同而已。为了让大家有个清楚的认识,本文分别介绍一下这两种解释。

4.1从储能的角度来说明电容退耦原理。

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