培训系列之8质谱原理与真空检漏
真空泄漏检测方法
真空泄漏检测方法真空泄漏检测方法引言真空技术在许多应用领域扮演着重要角色,如航天、电子设备制造和化学工程等。
确保真空系统的安全和可靠运行对于这些领域至关重要。
而真空泄漏则是真空系统中常见的问题,因此采用适当的检测方法非常关键。
方法一:气泡检漏法气泡检漏法是一种常用的真空泄漏检测方法,主要用于大型真空系统或外部表面不易检测的装置。
具体步骤如下:1.将试件浸入具有良好润湿性的水槽中。
2.在试件表面均匀涂抹一层薄薄的肥皂水或其他可形成气泡的液体。
3.通过真空泵抽取系统中的气体,观察涂层表面是否冒泡。
4.如果在某些部位冒泡,说明该部位存在泄漏。
气泡检漏法的优点是操作简单,不需要专门的设备,但其缺点是不适用于高真空系统。
方法二:氦质谱检漏法氦质谱检漏法是一种高灵敏度的真空泄漏检测方法,适用于高真空和超高真空系统。
具体步骤如下:1.将氦气注入待检测系统。
2.使用气质谱仪检测系统中是否存在氦气泄漏。
3.如果氦气在某些部位检测到,则该部位存在泄漏。
氦质谱检漏法的优点是能够检测极小的泄漏量,缺点是设备价格较高,操作技术要求较高。
方法三:静态漏率检漏法静态漏率检漏法是一种常用的真空泄漏检测方法,适用于大型真空系统。
具体步骤如下:1.关闭真空系统的所有阀门,记录系统的初始压力。
2.在一定时间内观察系统的压力变化,计算泄漏速率。
3.如果泄漏速率超过设定的阈值,则说明系统存在泄漏。
静态漏率检漏法的优点是能够定量评估泄漏问题,缺点是需要较长的检测时间。
方法四:红外检漏法红外检漏法是一种适用于可见光透明材料的真空泄漏检测方法,如玻璃或有机材料。
具体步骤如下:1.使用红外摄像机或红外热像仪对待检测系统进行拍摄。
2.通过红外辐射检测系统中是否存在泄漏点。
3.如果出现辐射异常的区域,则可能存在泄漏。
红外检漏法的优点是无需接触待检测系统,可实时监测泄漏情况,缺点是需要专门的设备。
结论根据需求和实际情况,可以选择适合的真空泄漏检测方法。
真空检漏基本知识.
第四部分小结参加工作以来,就与氦质谱检漏仪密切相关,以前是学薄膜沉积的,在学专业课的时候学了一些有关质谱知识。
三年来,逐渐了解国内外各种HLD。
我觉得其原理大致相同,无非都是靠磁分析器偏转,有 90 度偏转的,如VARIAN,(最近推出的 VS 系统是 135 度偏转)有 180 度偏转的,如ALCATEL, LEYBOLD, INFICON,但 ALCATEL 的是纯 180 度偏转,而后两者是 180 双方向聚焦的,在磁钢上略有差别,后两者是 X,Y 双方向聚焦。
其实在HLD 的质谱室上,国内制造水平不必欧美差,只是在原材料及表面处理工艺上逊于欧美,所以国内的 HLD 发展缓慢。
另外由于国内制造的小型分子泵质量不敢恭维,国内各厂家都是通过购买进口分子泵来组装检漏仪产品。
如:合肥的皖仪等厂家。
分子泵开不同的口,可以得到不同的压缩比,所以国产 HLD 的指标受分子泵因素影响较大。
曾有一位做 HLD 的前辈说过, HLD 的发展很大成度上依赖于分子泵的发展。
再有就是自动化程度上,这方面比国外差太远。
INFICON 的液晶屏菜单设计的很不错,简洁清楚,什么画指标等都可以在仪器上显示,而 ALCATEL 就没有。
真空室检漏的原理和方法
真空室检漏的原理和方法
真空室检漏的原理是通过检测真空室内的气体流量或压力变化,来确定是否存在漏气现象。
如果真空室存在漏气,那么气体将从漏气处流入真空室,导致真空室内压力升高或降低,或者导致气体流量异常。
真空室检漏的方法有以下几种:
1. 压差法:将真空室密封后,测量其初始压力和经过一段时间后的压力,如果压力差超过了一定范围,则说明存在漏气。
2. 气泡法:在真空室内充入一定量的水或其他液体,然后密封真空室并抽真空,观察液体中是否出现气泡,如果有气泡出现则说明存在漏气。
3. 灵敏度法:利用高灵敏度的气体检测器检测真空室内的气体浓度,如果气体浓度超过了一定范围,则说明存在漏气。
4. 声波法:利用声波检测器检测真空室周围是否存在异常的声波信号,如果存在异常信号则说明存在漏气。
以上是真空室检漏的原理和几种常见方法,不同的方法适用于不同的应用场景和检测对象,需要根据实际情况选择适合的检漏方法。
真空检漏概述
8放射性同位素检漏法——将少量的放射性材料放入被检件中并密封好,如有漏孔便会有射线泄露出来,从而在外面用特殊的射线探测仪指示出来。放射性同位素检漏法在背压检漏法中应用的相当成功。
9慢性气体的加速检漏法——将管子置于高压的氩气中,管内的压力上升率会比在空气中快得多,这便是慢性气体的加速检漏法的理论依据。
②真空检漏法——将被检漏真空容器和敏感元件,抽成真空状态,然后将示漏物质依次施加在可疑部位,若有漏孔,示漏物质将进入容器内,被敏感元件所发现。③背压检漏法——有三个步骤:充压,净化,检漏。
二:各种检漏方法
1静态升压法——把容器抽到一定的压力后,关闭阀门,隔离真空室和真空泵,测量容器内的压力变化。
一般常用的静态升压法有以下两种:①辅助真空罩法——可以排除放气的干扰;②压力平衡法——可以测量那些不能安装真空规管的被检件的漏率。
电气系统的核心是质谱室的供电和测量。辅助真空系统,它具有预抽被检件,保证检漏仪真空度,进行气体分流等功能。对于体积小,漏气小的系统可以不选用辅助真空系统,对于体积大,漏气大的系统需要选用辅助真空系统。
③氦质谱检漏仪的灵敏度:对于氦质谱检漏仪有三种灵敏度——漏率灵敏度,记作 ;分压比灵敏度,记作 ;检漏灵敏度,氦质谱检漏仪在实际检漏条件下所能达到的灵敏度,记作 。当氦质谱检漏仪安装在真空系统的不同位置时,所能达到的检漏灵敏度是不同的。
2气泡检漏法——在被检件中充入一定压力的示漏气体后放入水中,气体将通过漏孔进入水中,形成气泡,从而判断漏孔的有无及其位置和大小。属于压力检漏法。一般有以下两种:①水槽法——适用于小型器件;②皂膜法——适用于尺寸较大的器件。
3氨气检漏法——把被检件抽真空,在其外壁可疑位置上贴上显影带,然后在其内部充入高于大气压的氨气,当有漏孔时,氨气会漏出并进入显影带,使其变色。具体步骤为:清洁处理——贴显影带——充氨——排氨。
检漏短训班教材解读
吸入法检漏注意事项
• 判断被检件容许充多高压力的示漏气体 • 初检时应避充入过高压力示漏气体,因为被检 件如有大漏,示漏气体从被检件大量漏出,造 成较大浪费,应先充入低压力示漏气体,确定 无大漏时,再提高示漏气体压力,提高检漏灵 敏度 • 根据具体情况配制相应浓度的示漏气体,不提 倡用纯氦 • 注意场地通风
第三节 检漏法和仪器
• 一.检漏方法:充压法与真空法 充压检漏法是在被检件内充以高压示 漏气体,示漏气体从漏孔泄出,观察漏 孔处发生的现象查知漏孔的存在和大小。 真空检漏法是将被检件抽空,示漏气 体从外面漏入,进入与被检件连接的检 漏仪器的探头,仪器发生反应,判断漏 气情况
• 二.常用的检漏方法和仪器
漏率单位换算
1 Pa· l·s-1=7.5X10-3Torr·l·s-1
•
1Torr·l·s-1=133 Pa· l·s-1
• 对于不同气体漏率不同,如对氦气,在 分子流下,漏率为空气的2.7倍。
三.最大容许漏率
• 1、漏是绝对的,不漏是相对的,为了 得到低的极限压力,应尽量减少漏气, 但是要将所有漏孔都找出来做到绝对不 漏气,这既不可能亦无必要。实际上, 只要漏孔的漏气已足够小,平衡压力低 于真空系统工作所需压力,余下的漏孔 是允许的 • 2、真空系统正常工作所能允许的最大 漏气量,称最大容许漏率,简称容许漏 率。
真空检漏技术
第一节 序言
1、减少漏气获得所需真空,极限真空Pm
Pm=(Qd+QL)/S +P0 其中,S为抽速,Qd为放气速率,QL为漏 气率,P0为抽气泵达到的极限压力 2、泄漏造成的损失可能是严重的 3、检漏目的:根据要求确定是否有漏?漏 孔大小?漏孔位置? 4、检漏与相应的密封问题在设计,加工, 安装,调试和运行的阶段都必须予以重视。
真空检漏_图文.
真空检漏[简介]: 1.概漏的基本概念真空检漏就是检测真空系统的漏气部位及其大小的过程。
漏气也叫实漏,是气体通过系统上的漏孔或间隙从高压侧流到低压侧的现象。
虚漏,是相对实漏而言的一种物理现象。
这种现象是由于材料放气、解吸、凝结气体的再蒸发、气体通过器壁的渗透及系统内死空间中气体的流出等原因引起真空系统中气体压力升高的现象。
二、检漏仪器用于检漏的仪器有氦质谱检漏仪、卤素检漏仪、高频火花检漏器、气敏半导体检漏仪及用于质谱分析的各种质谱计。
这里主要介绍氦质谱检漏仪、卤素检漏仪、高频火花检漏器的工作原理、结构及国产检漏仪器的技术性能。
1.氦质谱检漏仪氮质谱检漏仪是用氦气为示漏气体的专门用于检漏的仪器,它具有性能稳定、灵敏度高的特点。
是真空检漏技术中灵敏度最高,用得最普遍的检漏仪器。
氦质谱检漏仪是磁偏转型的质谱分析计。
单级磁偏转型仪器灵敏度为lO-9~10-12Pam3/s,广泛地用于各种真空系统及零部件的检漏。
双级串联磁偏转型仪器与单级磁偏转型仪器相比较,本底噪声显著减小.其灵敏度可达10-14~10-15Pam3/s,适用于超高真空系统、零部件及元器件的检漏。
逆流氦质谱检漏仪改变了常规型仪器的结构布局,被检件置于检漏仪主抽泵的前级部位,因此具有可在高压力下检漏、不用液氮及质谱室污染小等特点.适用于大漏率、真空卫生较差的真空系统的检漏,其灵敏度可达10-12Pam3/s。
(1工作原理与结构氦质谱检漏仪由离子源、分析器、收集器、冷阴极电离规组成的质谱室和抽气系统及电气部分等组成。
①单级磁偏转型氦质谱检漏仪现以HZJ—l型仪器为例.介绍单级磁偏转型氦质谱检漏仪,其结构如图2所示。
在质谱室内有:由灯丝、离化室、离子加速极组成离子源;由外加均匀磁场、挡板及出口缝隙组成分析器;由抑制栅、收集极及高阻组成收集器;第一级放大静电计管和冷阴极电离规。
质谱室的工作原理如图3所示。
在离化室N内,气体电离成正离子,在电场作用下离子聚焦成束。
真空检漏基本知识
③ 结构简单、操作维修方便,成本低 由于上述要求有些是相互矛盾的,若想采用一种方法都能满足是不合实际 的。所以只要根据具体情况能够满足其主要要求的检漏方法就是较为适宜的。实 践证明,检漏人员的素质、工作经验也是选择检漏方法的重要依据之一。
2.对检漏人员的要求
① 具有高度的责任心和认真的工作态度; ② 具有丰富的检漏实践经验; ③ 具有一定的机械结构、物理、化学、材料及焊接等方面的知识; ④ 了解被检件结构及其运行工艺,熟悉所用检漏方法或仪器原理及性能; ⑤ 掌握所用示漏物质的检漏特性。 例如,氦气轻,采用喷吹法检漏时,应遵守从上至下和从近至远的原则(即 先从被检件上部顺序至下部和从靠近检漏仪顺序至远离的部位);采用吸枪法检 漏时,应遵守从下至上和从近至远的原则。但是,卤素气体重,除遵守从近至远 的原则外,在喷吹法和吸枪法中,应分别遵守从下至上和从上至下的原则。 检漏人员满足上述要求,就能解释和解决检漏工作中出现的形形色色的现 象,较好地完成判别漏气、找出漏孔及测定漏率的检漏任务。
2. 漏孔、漏率及其单位
真空技术中所指的漏孔,由于尺寸微小、形状复杂、形式多样,无法用几何 尺寸表示其大小。所以一般用等效流导或漏气速率(简称为漏率)表示漏孔的大 小。
用漏率表示漏孔大小时,如果不加特殊说明,则是指在漏孔入口压力为 1.01× 105Pa,出口压力低于 1.33× 103Pa,温度为 296 士 3K 的标准条件下,单 位时间内流过漏孔的露点温度低于 248K 的空气的气体量。
第二部分 检漏技术
1.检漏方法的选择
比较理想的检漏方法应满足下列要求: ① 合适的检漏灵敏度
在具体的检漏条件下,所选择方法的检漏灵敏度,通常高于最大容许漏 率 1~2 个数量级。 ② 反应时间和清除时间短 ③ 不仅能找出漏孔的位臵,而且还能测定漏率 找出漏孔位臵的方法有喷吹法和吸枪法。 喷吹法适用于可抽空的被检件。高频火花检漏器法、真空计法、固定式 卤素仪法和氦质谱仪法归于喷吹法。 吸枪法适用于不允许抽空、放气量大、复杂管道等被检件。气泡法、荧 光法,氨检漏法及吸枪式检漏仪法可归于吸枪法。 测定漏率的方法是测量示漏物质的漏率变化或浓度变化量。根据条件可采 用适当的方法。 ④ 品质优良的示漏物质 示漏物质具有在空气中含量少,灵敏度高,不腐蚀、不污染被检件、抽 气系统及检漏仪表,无毒、阻燃和防爆。 ⑤ 稳定性好、检漏范围宽
质谱基本原理
质谱基本原理质谱是一种用于分析化合物结构和确定化合物组成的重要技术,它在生物医药、环境保护、食品安全等领域有着广泛的应用。
质谱的基本原理包括样品的离子化、质谱仪的质量分析和信号检测三个方面。
首先,样品需要经过离子化处理,通常采用电离源将样品分子转化为离子。
电离源常用的有电喷雾电离源(ESI)和化学电离源(CI)。
在电喷雾电离源中,样品通过高压气体雾化成微小液滴,然后通过高电压喷射出来,形成带电离子。
而在化学电离源中,样品分子与化学试剂发生化学反应,生成离子。
这样处理后的样品就可以进入质谱仪进行分析了。
其次,质谱仪的质量分析是质谱技术的核心部分。
质谱仪通常由离子源、质量分析器和检测器组成。
在离子源中,样品离子被加速形成能量较高的离子束,然后进入质量分析器。
质量分析器根据离子的质荷比对其进行分离和测量,最常用的质量分析器包括飞行时间质谱仪(TOF)、四极杆质谱仪和离子阱质谱仪。
不同的质谱仪有着不同的工作原理和适用范围,但都可以实现对样品离子的分析和检测。
最后,质谱仪通过检测器对质谱信号进行检测和记录。
检测器通常采用光电倍增管(PMT)或者光电二极管(PD)等器件,将离子信号转化为电信号进行放大和处理,最终形成质谱图谱。
质谱图谱可以通过质谱数据库进行比对和分析,从而确定样品的成分和结构。
总的来说,质谱技术的基本原理包括样品的离子化、质谱仪的质量分析和信号检测三个方面。
通过这些基本原理,质谱技术可以实现对样品的高灵敏度、高分辨率的分析,为化学、生物和环境领域的研究提供重要的技术支持。
真空检漏原理
真空检漏原理
真空检漏是指在一定的真空度下,通过检测被测物体的气密性能,以确定其是
否存在漏气现象的一种检测方法。
在工程领域中,真空检漏被广泛应用于航空航天、汽车制造、船舶制造、电子设备、医疗器械等行业。
下面将介绍真空检漏的原理和常见的检测方法。
首先,我们来了解一下真空检漏的原理。
真空检漏的原理是利用被测物体内部
的气体与外部的真空系统之间的气体流动来检测被测物体的漏气情况。
在真空系统中,被测物体内部的气体会通过漏洞或裂缝逸出到外部环境中,这种气体流动会导致真空系统内部的气压发生变化。
通过检测气压的变化,就可以确定被测物体是否存在漏气现象。
其次,我们来介绍一些常见的真空检漏方法。
真空检漏方法主要包括质谱检漏法、氦质谱检漏法、氦充入法和泡沫检漏法等。
其中,质谱检漏法是利用质谱仪对被测物体进行检测,通过检测气体分子的质量来确定漏气点的位置。
氦质谱检漏法是在被测物体内充入氦气,然后利用质谱仪检测氦气的流动情况,以确定漏气点的位置。
氦充入法是将被测物体充入氦气,然后利用氦气检测仪对漏气进行检测。
泡沫检漏法是将被测物体表面涂覆一层泡沫,通过观察泡沫的气泡情况来确定漏气点的位置。
总的来说,真空检漏是一种非常重要的检测方法,它可以帮助我们及时发现被
测物体的漏气问题,从而保障产品的质量和安全性。
在实际应用中,我们需要根据被测物体的特点和检测要求选择合适的检漏方法,并严格按照操作规程进行检测操作,以确保检测结果的准确性和可靠性。
希望本文可以帮助大家更好地了解真空检漏的原理和方法,为工程实践提供一定的参考价值。
培训系列之质谱原理与真空检漏
真空系统
保持质谱仪内部的 高真空状态,减少 背景干扰。
质谱分析的基本原理
01
02
03
04
电离过程
通过离子源对待测样品进行电 离,产生带电离子。
质量分离
通过分析器将不同质荷比的离 子分离。
检测与记录
检测器检测并记录离子的数量 和质荷比。
结果分析
对记录的数据进行分析,得出 待测样品的质谱图。
质谱的应用领域
重视人才培养,加强学术交流与 合作,为质谱原理与真空检漏技
术的未来发展提供人才保障。
THANKS
感谢观看
在航空航天领域,真 空检漏技术用于检测 飞机和卫星的燃料箱 、气瓶等关键部件的 密封性能。
在电子领域,真空检 漏技术用于检测电子 显微镜、电子束蒸发 器等高真空设备的密 封性能。
在冶金领域,真空检 漏技术用于检测各种 金属材料的真空热处 理和表面处理设备的 密封性能。
在化工领域,真空检 漏技术用于检测各种 化学反应釜、管道和 容器的密封性能,确 保生产过程中的安全 性和环保要求。
真空检漏设备的操作与维护
操作步骤 将待检漏设备放置在检漏台上,连接电源和气源。
打开检漏设备,设置适当的检漏参数。
真空检漏设备的操作与维护
• 进行检漏操作,观察设备反应,记录检漏结果。
真空检漏设备的操作与维护
维护要点
定期检查真空泵油位,保持正常运转。
清洁检漏设备的表面和气路系统,防止堵塞。
定期校准设备,确保检测精度。
04
实际操作与案例分析
质谱仪的操作与维护
操作步骤 开启质谱仪,检查电源连接是否正常。
打开气瓶,调节气体流量至适当值。
质谱仪的操作与维护
• 启动仪器自检程序,确保仪器正常工作。
培训系列之8质谱原理与真空检漏课件
•
实际的真空系统,如果
抽不到预定的极限真空,这
里面原因有三:泵工作不良,
即有效抽速不够;放气以及
漏气。必须首先排除前两个
原因,才能去找漏孔。
通常以静态升压法来找出哪种因素起主导作用。即 把容器抽到一定压力后,将阀门关闭,让容器与泵隔开, 然后测量容器中的压力变化,给出压力—时间曲线。由 于容器的漏气与出气情况不一样,所以曲线也不一样, 如上图所示。
•
在分子流状态下为
•
qLHe/qLair=√(Mair/MHe)=2.7
• 可见用氦气检漏时,只是对分子流漏孔才会
有好处。
培训系列之8质谱原理与真空检漏
1.4 最大允许漏率的计算
•
要求装置或真空系统绝对不漏气不仅是不可
能的,而且也是不合理的。只要漏孔漏率足够小,
即漏入的气体量无害于真空装置或真空系统的正
培训系列之8质谱原理与真空检漏
1.1 检漏的意义及其重要性
•
理想的真空室应永远保持它同抽气真空系统
断开时的真空度(压力)。而实际上,任何真空室
在离开抽气系统之后,其压力总要上升。压力的
升高是由于漏孔的漏气、室壁表面放气和通过室
壁材料渗透进入的气体产生的。
•
从物理过程来看,真空系统就是在一面抽气
一面漏气的条件下工作的,两者最后达到动态平
培训系列之8质谱原理与 真空检漏
2023/11/12
培训系列之8质谱原理与真空检漏
东北大学第八期
《真空技术》培训系列之
• 一. 真空技术概况 (巴德纯) • 二. 真空工程理论基础 (张世伟) • 三. 干式真空泵原理与技术基础 (巴德纯) • 四. 真空系统组成与设计基础 (刘坤) • 五. 真空获得设备原理与技术基础 (张以忱) • 六. 真空测量技术基础 (刘玉岱) • 七.真空镀膜技术基础 (张以忱) • 八. 质谱原理与真空检漏 (刘玉岱) • 九. 真空冶金技术基础 (王晓冬) • 十. 真空与低温技术及设备 (徐成海)
质谱原理学习(通俗版)精选全文
8-2 质谱仪器原理
质谱过程
高速电子 撞击 气态分子 得到 阳离子
顺序谱图
按质荷比m/z
导 入
质量分析器
峰位置
峰强度
定性分析 结构分析
定量分析
8-2 质谱仪器原理
仪器构造
真空系统
进样 系统
离子源
质量 分析器
检测器
1.间歇式进样 2.直接进样 3.气相色谱
1.电子轰击 2.化学电离 3.场致电离 4.激光
➢分子离子:样品分子失去一个电子电离所产生的离子。
8-2 质谱仪器原理
2、离子源(电离室)
场致电离源 (Field Ionization; FI)
电压:7-10 kv;d < 1 mm; 强电场将分子中拉出一个电子; 分子离子峰强;碎片离子峰少; 不适合化合物结构鉴定;
场解析电离源(Field Desorption Ionization; FD)
四极滤质器 (Quadrupole Mass Filter, QMF)
➢ 只有合适质荷比的离子(共振离子)才能通过电极间隙 而进入检测器;
➢ 采用电压扫描或频率扫描,就可检测出不同质荷比的离子。
✓ 电压扫描:保持直流电压和射 频电压的比值及射频频率不变, 改变直流和射频电压的大小。
✓ 频率扫描:保持电压不变改变 射频电压的频率。
8-2 质谱仪器原理
2、离子源(电离室)
离子源是质谱仪的心脏,作用主要是将试样中的原子、 分子电离成离子,并使离子加速、聚焦为离子束,离子束 通过狭缝进入质量分析器。 其性能影响质谱仪的灵敏度和分辨率。
➢ 硬电离方法:给样品较大能量的电离方法, 适用于难电离的稳定物质。
➢ 软电离方法:给样品较小能量的电离方法, 适用于易破裂或易电离的样品。
真空知识及漏率及检漏培训(CSG)
1.扩散泵。 2.离子泵。 3.分子筛泵。 4.钛泵。 5.低温泵。 6.水环泵。 7.往复泵。
真空检漏
· 真空检漏 真空检漏就是检测真空系统的漏气部位及 其大小的过程。
漏气对镀膜线生产的影响
1.工艺参数难以调整。 2.工艺重复性不好。 3.理化指标,超标。 4.影响均匀性。 5.可钢产品,钢化出问题。 6.脱膜。
检漏的方法
1.气泡检漏:将空气压入被检容器,然后将其浸 入水中或者对其可凝表面涂上肥皂液,观察气泡 确定漏孔位置。 2. 充压检漏法: 在被检件内部充入一定压力的示 漏物质, 如果被检件上有漏孔, 示漏物质便从漏孔 漏出。 3.氦质谱检漏仪。 4.氨捡漏法。 5.高频火花检漏器 6.用于质谱分析的各种质谱计
1.成都A线捡漏。 粗检。材料漏:KF16。 气泡法不漏,就不漏吗?(工艺气) 精检。 2.天津A捡漏。(检漏精度) 3.成都A 地震后,镀膜线的怪现象。
对检漏人员的要求
1.检漏技术主要依赖于操作员的技术和机敏性,操作员需要极大的耐 心来查找是否存在漏孔以及最终定位漏孔。操作员在检漏过程中必须 认真细致。具有高度的责任心和认真的工作态度; 2.具有丰富的检漏实践经验; 3.具有一定的机械结构、物理、化学、材料及焊接等方面的知识; 4. 了解被检件结构及其运行工艺, 熟悉所用检漏方法或仪器的原理及 性能; 5.掌握所用示漏物质的检漏特性。 例如, 氦气轻, 采用喷吹法检漏时, 应遵守从上至下和从近至远的原则 (即先从被检件上部至下部和从靠近检漏仪顺序至远离的部位) ; 采用 吸枪法检漏时, 应遵守从下至上和从近至远的原则。但是, 卤素气体 重, 除遵守从近至远的原则外, 在喷吹法和吸枪法中, 应分别遵守从下 至上和从上至下的原则。
真空检漏的原理和方法
专业的心
做专业的事
3.高频火花检漏器 . 高频火花检漏器是个高频高压对地放电器件,可以用于真空检漏。 (1)工作原理与结构 图9示出一种电容,电感串联谐振式高频火花检漏器的原理图。接通K,当 接触器CD闭合时,电流流经L1、CD,电流很大,L1产生足够大的电磁力吸 引CD断开,于是形成L1、C、L2的回路。由于阻抗增加,电流减小导致电磁 力下降。从而使CD重新闭合。如此反复,在L2上施加高频脉冲电压,因此高 压线圈L3便感应出高频高压脉冲电压。而L3的一端对地放电产生高频火花击 穿现象。这就是高频火花检漏器的工作原理。 (2)玻璃真空系统的检漏 将高频火花检漏器的放电簧F沿着已抽空的玻璃系统外表面慢慢移动,没 有漏孔时放电火花束呈杂乱分散状态,当遇到漏孔时火花束集中成一条细束 ,且指向系统上亮点(漏孔内空气电离率远远大于玻璃的结果),该亮点就是漏 孔的位置。 (3)金属真空系统的检漏 各种气体和蒸汽的辉光放电颜色如表3。选用表中示漏物质施加在金属真空 系统的可疑处,用高频火花检漏器激发系统上玻璃质规管或盲管内的气体, 使之放电,观察放电颜色的变化便可实现检漏。这种方法的工作压力为 5×10-1~102Pa,检漏灵敏度为10-3Pam3/s。
专业的心
做专业的事
专业的心
做专业的事
4.漏孔的气流特性 气体流经漏孔的过程是很复杂的,可能包含有粘滞流、过渡流及分子流三 种流动状态。主导流动状态与漏孔的几何尺寸、气体的种类、漏孔两端的压 力及环境温度有关。设环境温度T=296K,入口压力p2=1.01×105Pa,出口压 力p1《p2,漏孔长L,直径d的均匀圆截面导管型漏孔,其对空气的漏率及可 视流动状态见表2。
电子、电器配套玻璃专业国际化公司
Total Glass Solutions For Electron And Electric Appliance
真空计的检漏及区分 真空计是如何工作的
真空计的检漏及区分真空计是如何工作的真空计(Vacuum Gauge),又称规,是测量真空度或气压的仪器。
一般是利用不同气压下气体的某种物理效应的变化进行气压的测量。
1、用电离计检漏时,示漏物质应选用电离效果与残余气体有可能大差异者,电离效果包括电离率及电离电位两者的综合结果,一般用氢,氦,二氧化碳等。
2、用热真空计检漏时,示漏物质可用氢,二氧化碳,丙酮。
乙醚。
酒精等。
一般说来,用气体喷吹用液体覆盖为好,由于液体往往会堵塞漏孔,还会污染真空系统或器件,热真空计由于惯性大,反应慢,检漏时巡喷速度不宜过快,并认真察看,认真判别是系统的压强波动,仪器的漂移或是真正存在漏孔。
只有示漏物质离开后,仪器指示恢复原状的,才是真正的漏孔。
热真空计检漏,要在它的测量范围的真空度下,才能有效,即只适用于10—1——10—3托的真空度范围。
它哪呢过检出最小漏孔为1*10—5托升/秒。
电离计的反应热真空计快,但因示漏气体在真空系统中建立充分分压需要较长时间,故巡喷速度亦不能太快。
电离计能检漏的压力范围,大致同于其测量范围,故各种类型电离计各有其检漏的压力范围。
电离计能检的最小可检漏孔约为1*10—6——1*10—7托升/秒。
在真空计检漏中,即使示漏气体对着漏孔喷吹。
或者示漏液体涂于漏孔,实际上都不可避开要夹带有空气进去,即示漏物质并没有彻底取代空气。
带进去的空气一方面冲淡了示漏物质的作用,另一方面还会引起不必要的读数波动,由于混进的空气重量时大时小。
真空计是一种常用的测量仪器,一般是利用不同气压下气体的某种物理效应的变化进行气压的测量,产品被广泛用于多个领域中。
真空计的产品种类浩繁,用户应当如何分类呢?下面我就来实在介绍一下真空计的分类方法,希望可以帮忙到大家。
按真空度刻度方法分类(1)真空计:直接读取气体压力,其压力响应(刻度)可通过自身几何尺寸计算出来或由测力确定。
真空计对全部气体都是精准的且与气体种类无关,属于真空计的有U型镑压力计、压缩式真空计和热辐射真空计等。
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针对不同检漏对象选择合适的方法,以解决主要矛盾
为原则。
o
那么,检漏方法如何选择呢?主要根据被检真空
系统(或设备)的容许漏气量qL,另外再结合具体情况
来选择相应的方法。但应注意到总的容许漏气量是几
个或多个单独漏隙的漏量之和,要想找到每个单独漏
隙,必须选用检漏灵敏度qLdmin比允许漏率qLp值低1~
2个数量级(相当有10~100个漏孔)的方法,即
培训系列之8质谱原理与真空检漏
2.1 真空检漏法
o
将被检件与检漏器(通常指检漏器的传感器)相
连,并将被检件抽真空,在被检件外施加示漏物质。
如果存在漏孔,示漏物质就会通过漏孔进入被检件
和检漏器,由检漏器测出示漏物质的存在和多少,
从而可以判定漏孔的位置和漏率。这种方法称为真
空检漏法。
o
真空检漏法分为:静态升压法、动态法和探索
培训系列之8质谱原理与真空检漏
1.2 漏气判断和漏孔表示法
o (1)直线a,压力保持不变,说明既不漏气也不放气。容器
真空度抽不上去的原因是泵工作不良造成的。
o (2)曲线b,压力开始上升较快,而后上升速度惭渐减慢呈
现水平态。这说明主要是放气,因为不论是蒸气源的放气 或材料放气,在达到一定的压力后都有饱和的趋势。如果 是蒸汽,最后达到其饱和蒸汽压。
过渡流和分子流三种流动状态。为了使问题简化,
可以假定漏孔为一圆截面的毛细管。其流导可用
克努曾半经验公式进行计算。克努曾半经验公式
不适用湍流,却适用于粘滞流、过渡流和分子流,
但要求压差不能太大。而漏孔两端压差太大,所
以克努曾公式不能直接应用,故在圆截面漏孔中
取一微长度元ΔL,其两端压差为Δp, 这样就
o (4)检漏范围宽,从大漏到小漏都能检测,以减少 设备数量及费用;
o (5)结构简单、使用方便,对被检件要求不太苛刻;
o (6)能无损检漏,检漏无油化、以免油污染被检件。
培训系列之8质谱原理与真空检漏
1.5 对检漏方法的要求及选择
o
然而,上述要求往往是相互矛盾的。要求一种检
漏方法同时满足上述所有要求是不可能的。所以只能
满足了上述条件,并令漏孔长为1cm,经分析可
得到如下结论:
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1.3 漏孔气流特性
o 当qL>10-6 Pam3s-1时,此时主要是粘滞流。 o 当qL<10-9 Pam3s-1时,其流动主要是分子流。
o 不同种类气体通过漏孔漏率也不相同。如同 一漏孔的氦漏率与空气漏率的比值,在粘滞流状 态下为
分仅由于漏气作用(此时放气已达饱和),所以呈直线。 o 在判定确实有漏气之后.就可着手找漏孔的位置。
培训系列之8质谱原理与真空检漏
1.2 漏气判断和漏孔表示法
o
真空技术中所指的漏孔是极其微小的。漏孔截面形
状不规则,漏气路径也各式各样。漏孔的大小是不可能
也没有必要以漏孔的几何尺寸表示,因为漏孔的最本质
1.4 最大允许漏率的计算
o
假设这种静态系统的真空度不是靠继续抽气
(即无消气剂和钛泵)来维持,而是靠降低器件的漏
气和材料放气来达到的话,刚封离时压力pi要远低 于器件工作的最高压力pωmax,以保证器件寿命τ较
长。那么,其允许漏率为
o
qLp=0.1×V·(pωmax-pi)/τ
o
式中pi —— 刚封离时压力
培训系列之8质谱原理与 真空检漏
2020/11/11
培训系列之8质谱原理与真空检漏
东北大学第八期
《真空技术》培训系列之
o 一. 真空技术概况 (巴德纯) o 二. 真空工程理论基础 (张世伟) o 三. 干式真空泵原理与技术基础 (巴德纯) o 四. 真空系统组成与设计基础 (刘坤) o 五. 真空获得设备原理与技术基础 (张以忱) o 六. 真空测量技术基础 (刘玉岱) o 七.真空镀膜技术基础 (张以忱) o 八. 质谱原理与真空检漏 (刘玉岱) o 九. 真空冶金技术基础 (王晓冬) o 十. 真空与低温技术及设备 (徐成海)
o
实际的真空系统,如果
抽不到预定的极限真空,
这里面原因有三:泵工作
不良,即有效抽速不够;
放气以及漏气。必须首先
排除前两个原因,才能去
找漏孔。
通常以静态升压法来找出哪种因素起主导作用。即
把容器抽到一定压力后,将阀门关闭,让容器与泵隔开, 然后测量容器中的压力变化,给出压力—时间曲线。由 于容器的漏气与出气情况不一样,所以曲线也不一样, 如上图所示。
o (3)斜线c,压力直线上升,这说明是漏气。漏气率正比于
内外压力差。外部是大气压,内部压力很低,后者与前者 相比可忽略不计.故漏气率就正比于大气压,是一常数, 压力呈直线上升。
o (4)曲线d,压力开始上升很快.后来变得较慢,但不出现 饱和迹象。这是曲线b和曲线c的叠加,即同时存在放气和 漏气。曲线d的前部分由于放气作用使之呈曲线;而后部
o
qLHe/qLair=ηair/ηHe=0.93
o
在分子流状态下为
o
qLHe/qLair=√(Mair/MHe)=2.7
o 可见用氦气检漏时,只是对分子流漏孔才会
有好处。
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1.4 最大允许漏率的计算
o
要求装置或真空系统绝对不漏气不仅是不可
能的,而且也是不合理的。只要漏孔漏率足够小,
o
不同真空系统允许漏率也是不同的,下面分两种情况
进行讨论。
o
(1)动态真空系统允许漏率:
o
所谓动态真空系统是指工作时,泵仍然对它进行抽气
的系统,如真空熔炼炉、真空镀膜机和粒子加速器等。这
些动态系统是靠泵抽气来维持工作压力的。一般说来,对
气密性要求低些。
o
设真空装置最大工作压力为pωmax,泵对被抽容器(真
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1.1 检漏的意义及其重要性
o
理想的真空室应永远保持它同抽气真空系统
断开时的真空度(压力)。而实际上,任何真空室
在离开抽气系统之后,其压力总要上升。压力的
升高是由于漏孔的漏气、室壁表面放气和通过室
壁材料渗透进入的气体产生的。
o
从物理过程来看,真空系统就是在一面抽气
一面漏气的条件下工作的,两者最后达到动态平
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真空检漏
o 1 检漏概述 o 2 检漏方法 o 3 检漏仪
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1 检漏概述
o 1.1 检漏的意义及其重要性 o 1.2 漏气判断和漏孔表示法 o 1.3 漏孔气流特性 o 1.4 最大允许漏率的估算 o 1.5 对检漏方法的要求和选择 o 1.6 检漏技术中的几个概念
o (7)信噪比:定义为I/In,其中In表示在一定条 件下本底信号在一定时间内的最大波动量;I表示在
一定条件下,检漏方法或仪表指示的平均值。 o (8)虚漏:由于设计和操作不妥,在系统内形成贮
存气源的洞穴,其内气体慢慢地释放出来而形成漏气, 称为虚漏。
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2 检漏方法
o 2.1 真空检漏法 o 2.2 充压检漏法 o 2.3 背压检漏法 o 2.4 各种检漏方法比较
o
τ—— 器件寿命
o
V —— 器件的体积
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一些真空设备的允许漏率
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1.5 对检漏方法的要求及选择
o
一般说来,理想的检漏方法应满足下述要求:
o (1)检漏灵敏度高、反应时间短(3s以内)和稳定性 好;
o (2)能定出漏孔的位置和漏率;
o (3)示漏物质在空气中含量低,不腐蚀零件,不堵 塞漏孔,不污染环境,不影响人身安全并且还要易于 得到;
称密闭容器或封离容器。这种系统的特点是要求极
限压力低,在与泵隔离之后的相当长时间内,其真
空度仍能满足要求。如电真空器件中的电视显象管、
示波管和超高频管等。由于这些器件体积小,要求
寿命长,所以对漏气和放气要求很严。对于材料出
气,在管子设计与制造时已作了考虑,这里只谈漏
气一题。
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1.4 最大允许漏率的计算
o
如果设计人员只给出允许的总气载qtot,而
没有具体指明允许漏率qLp的值,一般认为,最
大允许漏率比总气载低一个数量级,即
o
qLp=0.1×qtot
o
并以此为收据,对每个零件的容许漏率进行
分配,易检漏件要求高些,难于检漏件要求就低
些。
培训系列之8质谱原理与真空检漏
1.4 最大允许漏率的计算
o
实际上,我们所使用的真空系统大多数是满足或接
近漏孔漏率定义所规定的条件。如果不满足上述条件
(如:环境温度变化、压差不是标准大气压或使用空气
以外的气体)时.就必须对漏率加以修正。
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1.3 漏孔气流特性
o
出于漏孔很微小,漏孔两端的压差很大,气
体通过漏孔的过程是很复杂的,其中包括粘滞流、
般是指系统上存在的漏孔的漏率远小于允许的漏率或
检漏仪的最高灵敏度而言。
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1.1 检漏的意义及其重要性
o
检漏的任务是:用适当方法迅速判断漏气是否为
主要矛盾;确定漏率,以便确定它是否在允许的范围
内;选择合适的检漏方法并找出漏孔的确切位置,以
便进行修补。
o
应当指出,只有当系统上所有漏孔的总漏率超
空室)的有效抽速为Se,则真空容器的允许漏率为
o
qLp=0.1×pωmax Se
o
式中pωmax —— 真空装置最大工作压力