USB-chirp序列测试
usb插拔测试标准
usb插拔测试标准USB插拔测试标准。
USB（Universal Serial Bus）是一种广泛应用于计算机和电子设备之间连接的通用接口标准。
为了确保USB接口的稳定性和可靠性，进行USB插拔测试是非常必要的。
本文将介绍USB插拔测试的标准和方法，以及测试过程中需要注意的事项。
首先，进行USB插拔测试时，需要根据国际标准ISO 12485-2进行操作。
该标准规定了USB接口的插拔测试方法和要求，包括插拔次数、插拔速度、插拔角度等。
在进行测试时，应严格按照ISO 12485-2的要求进行，以确保测试结果的准确性和可靠性。
其次，进行USB插拔测试时，需要使用专业的测试设备和工具。
通常情况下，会采用插拔测试机或者自动化测试设备进行测试。
在选择测试设备时，需要考虑设备的精度、稳定性和适用范围，以确保测试结果的准确性和可靠性。
在进行USB插拔测试时，需要注意以下几点：1. 测试环境，测试环境应该保持干净、整洁，避免灰尘和杂物进入测试设备和接口，影响测试结果。
2. 测试频次，根据ISO 12485-2的要求，确定测试的插拔次数和频次，以确保测试结果的准确性和可靠性。
3. 测试速度，在进行插拔测试时，需要控制插拔的速度，避免过快或过慢导致测试结果不准确。
4. 测试角度，根据ISO 12485-2的要求，确定插拔的角度范围，以确保测试结果的准确性和可靠性。
5. 测试记录，在进行USB插拔测试时，需要详细记录测试过程中的各项数据，包括插拔次数、测试时间、测试环境等，以便后续分析和评估测试结果。
总之，USB插拔测试是确保USB接口稳定性和可靠性的重要手段，通过严格按照ISO 12485-2的标准和要求进行测试，使用专业的测试设备和工具，以及注意测试过程中的各项细节，可以确保测试结果的准确性和可靠性。
希望本文介绍的USB插拔测试标准和方法对您有所帮助。
usb接口测试标准
usb接口测试标准USB接口测试标准是指对USB接口进行测试时所遵循的一系列规范和要求。
USB接口是一种用于连接计算机和外部设备的通用接口标准，它可以实现数据传输、电源供应和设备控制等功能。
由于USB接口在计算机领域中应用广泛，因此对其进行测试是非常重要的，可以确保接口的稳定性和可靠性。
USB接口测试标准包括以下几个方面：1. 电气特性测试：主要测试USB接口的电压、电流、阻抗等电气特性是否符合规范要求。
这些测试可以通过使用专业的测试仪器来完成，例如示波器、信号发生器等。
2. 信号完整性测试：主要测试USB接口传输信号的完整性，包括信号的时钟频率、上升时间、下降时间、峰值电压等参数。
这些测试可以通过使用信号发生器和示波器来完成。
3. 功能性测试：主要测试USB接口是否能够正常地进行数据传输和设备控制。
这些测试可以通过使用专门的测试软件来完成，例如USB设备模拟器和数据包分析器等。
4. 兼容性测试：主要测试USB接口的兼容性，包括与不同操作系统、不同设备的兼容性。
这些测试可以通过使用各种设备和操作系统来完成。
5. 可靠性测试：主要测试USB接口在长时间使用和恶劣环境下的稳定性和可靠性。
这些测试可以通过使用长时间运行的测试设备和模拟恶劣环境来完成。
6. 安全性测试：主要测试USB接口是否存在安全隐患，例如是否容易受到黑客攻击或病毒感染等。
这些测试可以通过使用专门的安全测试工具来完成。
7. 性能测试：主要测试USB接口的传输速度和响应时间等性能指标。
这些测试可以通过使用专业的性能测试工具和设备来完成。
以上是USB接口测试标准的主要内容，通过对USB接口进行全面的测试，可以确保接口的质量和可靠性，提高用户体验。
同时，也可以帮助厂商识别并解决潜在问题，提高产品竞争力。
在进行USB接口测试时，需要遵循相关的标准和规范，并结合实际情况进行合理的测试方案设计和执行。
最全的USBType-C?互连一致性测试方案
最全的USBType-C®互连一致性测试方案USB-IF协会于2014年发布的Type-C接口是具有突破性的互连标准，其优异的性能、极简连接以及可扩展和多功能受到整个业内消费者的瞩目。
近几年Type-C技术更是凭借以下的诸多优点，在消费类电子行业得到蓬勃发展：·极简连接：相比之前A/B/Mini-B/Micro-B口可以实现约8.3mm x 2.5mm 小尺寸、扁平轻薄、支持正反连接。
·可扩展性：可用于不同终端设备诸如电脑，手机，显示器，U盘，扩展坞等等。
·多功能性：支持USB2.0、USB3.2、USB4、DP1.4a、DP 2.0/2.1、PCIe和PD功能。
·生态多样：包括芯片和终端产品，比如台式机及笔记本、手机、扩展坞、U 盘、显示器、嵌入式板卡、无源线缆、有源线缆等。
2021年9月，欧盟委员会正式提出一项议案，将USB Type-C®作为智能手机、平板电脑、耳机、便携式音响、摄像头和一些电子游戏机的标准接口，此举旨在减少充电器生产相关的浪费；2021年6月新的USB PD3.1规范，扩展PD3.0支持的供电最大供电瓦数100W到240W(EPR: Extended Power Range)，可以为游戏本、大显示器等装置供电。
这一系列新的法规的发布将更大地促进Type-C互连技术在整个行业的推广和普及。
USB Type-C®连接器和电缆组件简介USB用于连接和供电设备的几种电缆连接器类型包括：Type-A、Type-B、Micro-B、Mini-B 等。
与这些现有类型的USB电缆相比，USB Type-C®电缆具有对称和可逆的独特可用性优势。
任何使用计算机和外围设备的人都知道，USB 标准 A/B 连接器必须单向插入，并且可能需要尝试几次才能找到正确的方向。
USB Type-C®连接器更容易插入，因为它是对称的并且可以在任何USB Type-C®设备之间的任一方向插入。
USB-chirp序列测试
USBchirp信号测试1 信号及原理分析1.1 KJ信号说明USBchirp信号分为K信号和J信号。
根据USB速率将chirp信号做如下区别：RenGE注：不同的速率模式，对于K、J的形态定义是不同的。
DP表示D+ PIN，DM表示D- PIN。
SE0是一种D+和D-都为0电平的特殊状态。
多用于表示End-Of-Packet。
1.2 USB全速高速识别过程分析根据规范，全速（Full Speed）和低速（Low Speed）很好区分。
因为在设备端有一个1.5k的上拉电阻，当设备插入hub或上电（固定线缆的USB设备）时，有上拉电阻的那根数据线就会被拉高，hub根据D+/D-上的电平判断所挂载的是全速设备还是低速设备。
USB全速/低速识别相当简单，但USB2.0，USB1.x就一对数据线，不能像全速/低速那样仅依靠数据线上拉电阻位置就能识别USB第三种速度——高速。
因此对于高速设备的识别就显得稍微复杂些。
表1中图3展示了一个高速设备连接到USB 2.0的hub上的协商（negotiation）情形。
高速设备初始是以一个全速设备的身份出现的，即和全速设备一样，D+线上有一个1.5k的上拉电阻。
USB2.0的hub把它当作一个全速设备，之后，hub 和设备通过一系列握手信号确认双方的身份。
在这里对速度的检测是双向的，比如高速的hub需要检测所挂上来的设备是高速、全速还是低速，高速的设备需要检测所连上的hub是USB2.0的还是1.x的，如果是前者，就进行一系列动作切到高速模式工作，如果是后者，就以全速模式工作。
hub检测到有设备插入/上电时，向主机通报，主机发送Set_Port_Feature请求让hub复位新插入的设备。
设备复位操作是hub通过驱动数据线到复位状态SE0(Single-ended 0，即D+和D-全为低电平)，并持续至少10ms。
高速设备看到复位信号后，通过内部的电流源向D-线持续灌大小为17.78mA 电流。
usb接口测试标准
usb接口测试标准USB接口测试标准。
USB（Universal Serial Bus）是一种用于连接计算机与外部设备的通用接口标准。
USB接口测试是确保USB设备和主机之间正常通信的重要步骤。
USB接口测试标准是为了保证USB设备在各种环境下都能正常工作而制定的一系列规范和要求。
本文将介绍USB接口测试的标准内容及其重要性。
首先，USB接口测试标准包括物理层测试、传输层测试和协议层测试。
物理层测试主要包括信号完整性测试、电气特性测试、连接器测试等内容，旨在验证USB接口的物理连接是否良好。
传输层测试主要包括端点测试、带宽测试、传输速率测试等内容，用于验证USB接口的数据传输能力。
协议层测试主要包括协议兼容性测试、协议一致性测试等内容，用于验证USB接口是否符合USB协议规范。
其次，USB接口测试标准的重要性不言而喻。
首先，符合USB接口测试标准的设备能够保证与各种主机的兼容性，从而提高设备的通用性和适用性。
其次，通过严格的USB接口测试，可以有效提高USB设备的稳定性和可靠性，减少因接口问题导致的故障率。
此外，USB接口测试还可以有效减少设备的功耗和电磁干扰，提升设备的性能和用户体验。
总之，USB接口测试标准对于保证USB设备的质量和性能至关重要。
只有通过严格的测试，确保设备符合USB接口测试标准的要求，才能够让用户放心使用，并且能够在各种环境下正常工作。
因此，制定和遵守USB接口测试标准是每一个USB设备制造商和用户都应该重视的事情。
在实际的USB接口测试过程中，需要严格遵循相关的测试流程和标准要求，采用专业的测试设备和工具，进行全面而系统的测试。
只有这样，才能够保证USB设备的质量和性能达到标准要求，从而满足用户的需求。
综上所述，USB接口测试标准是保证USB设备质量和性能的重要保障，只有严格遵守相关的测试标准和要求，才能够确保USB设备在各种环境下都能够正常工作。
希望本文对USB接口测试标准有所帮助，谢谢阅读。
usb c测试标准
usb c测试标准USB-C测试标准。
USB-C是一种新型的连接标准，它为用户带来了更快的数据传输速度和更高的充电功率。
然而，随着USB-C的普及，如何确保产品的质量和性能成为了厂商和消费者关注的焦点。
因此，制定USB-C测试标准显得尤为重要。
首先，USB-C测试标准应该包括对连接器的物理性能进行测试。
这包括插拔次数、插拔力度、连接器的耐久性等方面。
只有通过对连接器物理性能的测试，才能确保USB-C接口在长时间使用中不会出现连接不稳定、接触不良等问题。
其次，USB-C测试标准还需要对数据传输性能进行测试。
USB-C接口支持的数据传输速度更高，因此需要对数据传输的稳定性和速度进行测试。
在测试中需要考虑不同设备之间的数据传输，以及在不同环境下的数据传输稳定性。
另外，USB-C接口还支持快速充电功能，因此USB-C测试标准还需要对充电性能进行测试。
这包括充电速度、充电功率、充电稳定性等方面。
只有通过对充电性能的测试，才能确保USB-C接口在充电时不会出现过热、过载等问题。
除了以上的测试内容，USB-C测试标准还应该包括对兼容性的测试。
USB-C接口可以支持多种功能，如视频输出、音频输出等，因此需要对不同设备之间的兼容性进行测试，以确保不同设备之间可以正常连接和使用。
最后，USB-C测试标准还需要对安全性进行测试。
USB-C接口在数据传输和充电时都存在一定的安全隐患，因此需要对接口的安全性能进行测试，以确保在使用过程中不会出现安全问题。
综上所述，USB-C测试标准应该包括对连接器的物理性能、数据传输性能、充电性能、兼容性和安全性等方面的测试。
只有通过全面的测试，才能确保USB-C 接口的质量和性能达到标准，并为用户带来更好的使用体验。
USB 2.0测试
USB 2.0Pre-Compliance Physical Layer TestingBrief Introduction to USB 2.0fFour wire system (D+, D-, VBUS, GND)f USB2.0 provides the following speed selectionsfSelf powered and Bus powered devices VBUS supplies power to devices that driver their primary power from the host or hub. f The USB-IF has instituted a certification and marking program–Persuade developers to fully test their USB devices. –New USB trademark logo that indicates a device is certified and conforms to all applicable USB 2.0 specifications.500 ps 480 Mbps High Speed4 –20 ns 12 Mbps Full Speed75 to 300 ns 1.5 Mbps Low SpeedRise Time Data RateUSB2.0一致性测试4Three categories of Compliance testing 0Physical layer (Electrical Test)0Protocol layer0Interoperability testing0USB 2.0 legacy tests0Signal Quality Test0Droop & Drop Test0Inrush Current Test0HS Specific Tests0Chirp Test0Monotonic Test0Receiver sensitivity Test0Impedance Test (TDR)USB2.0 信号质量测试信号质量测试包括：f眼图测试(Eye-Diagram testing)f信号速率(Signal Rate)f包结尾宽度(End of Packet Width)f交叉点电压范围(Cross-over voltage range (for LS and FS)) f JK抖动(JK jitter)f KJ抖动(KJ jitter)f连续抖动(Consecutive jitter)f单调性测试(Monotonic test (for HS))f上升与下降时间(Rise and Fall times)测试环境需求f500 MHz PC with Windows 2000 (English) or XP OS f High-Speed Host Controllerf USB-IF furnished Test Mode Softwaref Good quality USB cablesf Good quality USB Hub– 1.1 –Belkin F5U100 / F5U101– 2.0 –Belkin F5u221 / IOGer GUH-204 ‘Gold’ATEN UH-204 ‘Gold’f Mouse (any listed on USB-IF mouse)当DUT为Host时所测试的信号均为Host设备发出，其信号方向为下行(Down Stream)测试项1. Signal Quality–High speed test 480Mbit/S–Full speed test 12Mbit/S–Low speed test 1.5Mbit/S2. Droop( 压 落)3. Chirp (Shake Hands)Host High-Speed Signal Qualityconnector ,测Host High-Speed Signal Qualityf Win 2K (英文版) or XP PC 运行HSElecticalTestTool软件,选择HOST 然后按TEST.f进入下一个窗口在Port Control 内选择Test_packet, 在Port 内选择所要测试的Port 然后按EXECUTE.f Scope 执行TDSUSB2 软件,选择High Speed 然后将Signal quality 的六个项目全部点选.f Eye diagram, Signal rate, Rise time, Fall Time, EOP Width, Monotonic.f按下Configure 点选Configure 然后选择Tier 6, Down-stream, Near End. 点选Source 选择所要用的Input Channel.f点选RUN 的符号此时可看到TEST_PACKET 的波形f按下OK 既可完成测试Host High-Speed Signal QualityHost High-Speed Signal QualityRUNHost High-Speed Signal QualityÅWaveform Eye Diagram ÆHost High-Speed Signal Quality f Results: SummaryHost High-Speed Signal Quality f Results: DetailsReport GeneratorUtilities ÆReport GeneratorSelect 1. Tektronix Specific2. Plug-fest Specific3. CSV FormatFile nameHost Full-Speed Signal Quality1.1 HubSwitch set to INIT此connector直接,接到Hub1Host Full-Speed Signal Qualityf Win 2K ( ) or XP PC 不 执行HSElecticalTestTool软f测试 , Switch 切 INITf Scope 执行TDSUSB2 软 选择Full Speed 将Signal quality 项 选.f Eye diagram, Signal Rate, Rise time, Fall Time, EOP Width, Paired JK Jitter, Paired KJJitter, Consecutive Jitter, Cross Overf Configure 选Configure 选择Tier 6, Down-stream, Far End. 选Source 选择Input Channel.f 选RUN 时 Full-Speedf OK 测试Host Full-Speed Signal QualityHost Full-Speed Signal QualityÅWaveform Eye DiagramÆHost Low-Speed Signal Quality此connector直接,接到待测口Host Low-Speed Signal Qualityf Win 2K (英文版) or XP PC 不可执行HSElecticalTestTool软件f执行TDSUSB2 软件,选择Low Speed 然后将Signal quality 的九个项目全部点选.f Eye diagram, Signal Rate, Rise time, Fall Time, EOP Width, Paired JK Jitter,Paired KJ Jitter, Consecutive Jitter, Cross Overf按下Configure 点选Configure 然后选择Tier 6, Down-stream, Far End。
USB测试方案_YY
自动报告生成
4自动相差校正，保证测量的精确性 自动相差校正 相差校正， 4联机帮助提供了帮助功能 联机帮助提供了帮助功能
二期星日 月 年
16
2009 12 22
Confidential
USB 2.0 Customers
Computers Semi-conductors Consumer Electronics Peripherals
具有USB功能的设备是PC行业内增长最快的细分市场之一
2000年 月美国零售数据) 2000年4月美国零售数据)
(来源 – PCห้องสมุดไป่ตู้Data
具有USB功能的PC将从1996年仅600万台PC，增长到2003年底的7亿台
2000年 (来源 – Dataquest 2000年8月)
USB Implementers Forum公司 (USB-IF) 在COMDEX上宣布了两个受商 标保护的新型徽标及徽标使用要求的一致性测试。(来源 – USB-IF 2000年 USB- 2000年
USB2.0 Compliance Test Solution from Tektronix
Tektronix (China) Co.Ltd 余洋 yang.yu@
二期星日 月 年
1
2009 12 22
Confidential
Agenda
USB Introduction& Compliance Testing USB Compliance Testing from Tektronix USB Compliance Testing
Confidential
Host Full-Speed Signal Quality
转 Tektronix USB 测量知识
信号质量测试要求带宽在 2.5 GHz 以上的实时示波器 (如 DPO7254)和单端(低速和全速)探头，差分(高速)探 头(如分别对应的 P6243*1、P6245*1 和 P6248*1 以及 TAP2500 和 TAP1500)。此外，这一测试要求测试软件 和测试夹具，如 TDSUSB2 一致性测试软件。
一般来说，可以预计在插入设备时会急剧吸收电流。在 急剧吸收电流之后，会出现陡峭程度相对下降的衰落， 如图 4 所示。可能会在电流曲线中观察到小的驼峰或微 扰，具体视设备复位时间而定。
在理论上，检查浪涌电流需要计算特定时间周期上的电 流积分(以示波器上两个垂直光标位置为界)。USB 2.0 规范规定，对 5.15 V 的 VBUS 值，设备吸收的总电荷应 小于等于 51.5 uC。(这一测试的放弃极限是小于 150 uC)。
USB 2.0 高速测试
从本质上看，USB 2.0设备一致性测试全面遵守USB 1. 1 设备一致性测试协议，增加的主要内容是 USB 2.0 高 速模式。高速模式给 USB 设备设计增加了全新的复杂 度。USB 2.0 高速测试包括接收机灵敏度、CHIRP、单 调性和阻抗测试。
接收机灵敏度测试
为提高在噪声环境中操作的强健性，在信号电平大于等 于指定电平时，USB 2.0 高速设备必须对 IN* 数据包给 予应答 N A K s * 。这一测试要求把 D U T 置于 T e s t _SE0_NAK 模式下。然后用来自信号发生器的信号代替 主机，继续传送 IN 数据包。信号幅度以等于或高于 150 mV 的电平出现在 DUT 上。在这些电平水平上，DUT 必 须处于非静噪模式，对 IN 包应答 NAKs。然后幅度降低 到<100 mV，在这种电平水平上，DUT 必须静噪，不会 对 IN 令牌应答 NAKs。
USB chirp序列测试
USBchirp信号测试1 信号及原理分析1.1 KJ信号说明USBchirp信号分为K信号和J信号。
根据USB速率将chirp信号做如下区别：1.2 USB全速高速识别过程分析根据规范，全速（Full Speed）和低速（Low Speed）很好区分。
因为在设备端有一个1.5k的上拉电阻，当设备插入hub或上电（固定线缆的USB设备）时，有上拉电阻的那根数据线就会被拉高，hub根据D+/D-上的电平判断所挂载的是全速设备还是低速设备。
USB全速/低速识别相当简单，但USB2.0，USB1.x就一对数据线，不能像全速/低速那样仅依靠数据线上拉电阻位置就能识别USB第三种速度——高速。
因此对于高速设备的识别就显得稍微复杂些。
表1中图3展示了一个高速设备连接到USB 2.0的hub上的协商（negotiation）情形。
高速设备初始是以一个全速设备的身份出现的，即和全速设备一样，D+线上有一个1.5k的上拉电阻。
USB2.0的hub把它当作一个全速设备，之后，hub 和设备通过一系列握手信号确认双方的身份。
在这里对速度的检测是双向的，比如高速的hub需要检测所挂上来的设备是高速、全速还是低速，高速的设备需要检测所连上的hub是USB2.0的还是1.x的，如果是前者，就进行一系列动作切到高速模式工作，如果是后者，就以全速模式工作。
hub检测到有设备插入/上电时，向主机通报，主机发送Set_Port_Feature请求让hub复位新插入的设备。
设备复位操作是hub通过驱动数据线到复位状态SE0(Single-ended 0，即D+和D-全为低电平)，并持续至少10ms。
高速设备看到复位信号后，通过内部的电流源向D-线持续灌大小为17.78mA 电流。
因为此时高速设备的1.5k上拉电阻还未撤销，在hub端，全速/低速驱动器形成一个阻抗为45欧姆(Ohm)的终端电阻，2电阻并联后仍是45欧姆左右的阻抗，所以在hub端看到一个约800mV的电压（45欧姆*17.78mA），这就是Chirp K信号。
关于USB高速（HighSpeed）和中速（FullSpeed）的区分
关于USB高速（HighSpeed）和中速(FullSpeed)的区分USB中区分当前设备是低速还是中速（初始时，高速也被当做中速）的方法是检查D+ 或者D- 上的电阻。
如果发现时中速设备，还要有额外的动作来区分是中速还是高速设备。
具体的做法是：“主机识别一个中速设备是否支持高速。
要知道一个设备是否支持高速，需使用两个特殊的信号状态。
在Chirp J 状态时只有D+线会被驱动，在Chirp K 状态时只有D-线会被驱动。
在重置期间，支持高速的设备会送出一个Chirp K。
高速的集线器检测到该Chirp后，会反映遗传的交替Chirp K与J。
当设备检测到KJKJKJ的样式后，它会移除它的中速上升，然后在高速执行所有的通信。
如果集线器没有对设备的Chirp K做出相应，设备知道它必须继续使用中速通信。
高速的设备必须能够在中速时，相应检测设备的请求”【注释1】使用Ellisys USB 分析仪查看，其中的一个例子：Mass-storage USB 2.0 HS.ufo 可以看到这样一个握手。
上面的解释是“High speed Detection HandshakeHigh speed Detection Handshake state detectedStatusThe handshake completed successfully.When does this state occur?All high speed devices start at full speed to ensure USB 1.1 backward compatibility. If the upstream port(device) supports high speed signaling, it will generate a Chirp K state on the bus after Reset. If the downstream port (host) also supports high speed signaling, it will generate Chirps to change the link speed into high speed. If the downstream port (host) does not support high speed signaling, it will never see the upstream port (device) Chirp and the link speed will stay at full speed.”可惜的是无法看清楚具体的电气特性。
USB信号完整性测试讲解
USB信号完整性测试讲解USB 2.0 信号完整性测试需要使用示波器，大部分示波器使用大同小异，本文详细讲解USB2.0的信号完整性测量过程。
测试工具用于高速USB信号质量测试工具包括：1)使用SMA线缆的测试装置，如下图：该设备包括两个RF SMA (m) 垂直50 ohm 终端连接器和两个4 英寸USB A-B 电缆(E2646-61601)、一个USB 2.0 插头和USB 2.0 微型插头之间的转接插头，以及一条从主机端口给该装置供电的电缆。
下图为高速信号质量测试装置有连接SMA 电缆。
2)使用测试探头，如下图探头包括一对差分引线3)测试电缆：4)测试设备（主机）可以从USB Implementers Forum 网站的开发人员工具页下载高速电气测试工具包软件(USBHSET)。
USB设备高速信号质量测试流程操作1.在设备高速信号质量测试装置上，将TEST 开关(S1) 置于ON 位置。
验证黄色TEST LED 亮起。
2.在示波器前面板上，按下[Analyze] 分析键。
3.在"分析菜单"中，按下功能软键，选择USB 信号质量。
4.按下测试软键，选择设备高速信号质量测试。
5.按设置软键。
在"USB 信号质量"菜单中：a)按下测试连接软键，选择是使用单端（带SMA 电缆）还是差分探头连接。
b 如果使用差分连接，请按下源软键，选择连接到差分探头的模拟输入源通道。
b)如果使用单端（SMA 电缆）连接，请按下DP SMA 软键，选择连接到D+信号的模拟输入源通道。
然后，按下DN SMA 软键，选择连接到D- 信号的模拟输入源通道。
在4 通道示波器上，将强制您对D+ 和D- 信号使用不同的通道对。
这将提供最大采样率。
（通道1 和2 是一对，通道3 和4是另一对。
）通道示波器不支持使用单端SMA 电缆连接进行高速测试，因为采样率不符合所需的5 GSa/s。
c)按下测试类型软键，选择近端或远端。
关于usb inrush current test 日记 -回复
关于usb inrush current test 日记-回复什么是USB inrush current test？USB inrush current test（USB开机电流测试）是一项用来确定USB设备开机时瞬态电流峰值的测试方法。
在开机瞬间，设备电源电压从低到高的变化会导致瞬态电流峰值出现，如果超出了USB接口允许的电流限制范围，就可能会导致设备或者USB接口的损坏。
为什么需要USB inrush current test？在日常使用中，USB接口已经成为了广泛使用的设备连接方式之一，我们使用USB数据线连接电脑、手机、相机、键盘、鼠标等各种设备。
当我们插入USB设备时，设备可能会产生较大的电流峰值，此时如果超过了USB接口的电流限制，就会导致设备不能正常工作，甚至可能损坏设备或者USB接口。
为了确保USB设备和USB接口的安全性和稳定性，进行USB inrush current test是必不可少的。
如何进行USB inrush current test？USB inrush current test一般需要使用专业的测试仪器进行测量。
测试仪器一般会提供不同的测试模式和电流限制范围选择，根据待测试设备的特点和具体规格，选择合适的测试模式和电流限制范围。
下面是具体的测试步骤：1.连接测试仪器：首先，将待测试设备通过USB数据线连接到测试仪器上。
确保连接稳定可靠，不会出现接触不良或者松动等情况。
2.设定测试参数：根据测试需求，设定测试仪器的测试模式和电流限制范围。
一般情况下，可以选择连续测试模式或者单次测试模式，具体取决于测试需求和测试仪器的功能。
3.开始测试：在设置好测试参数后，点击开始测试按钮，测试仪器会开始记录待测试设备的开机瞬态电流峰值。
在测试过程中，需要保持设备处于常规开机状态，不要做其他操作。
4.记录测试结果：测试完成后，测试仪器会给出测试结果，包括设备开机时的瞬态电流峰值。
根据具体的测试需求，可以记录测试结果并进行分析。
关于usb inrush current test 日记 -回复
关于usb inrush current test 日记-回复什么是USB浪涌电流测试USB浪涌电流测试（Inrush Current Test）是一种用来评估USB设备启动时的电流峰值的测试方法。
USB接口设备通常会在启动时短暂地产生大电流峰值，这可能会对电源设备造成不稳定的影响。
因此，进行USB浪涌电流测试是确保设备能够正常运行且不对其他设备造成干扰的重要步骤。
为什么进行USB浪涌电流测试在进行USB浪涌电流测试之前，首先我们需要明白为什么会有浪涌电流的产生。
当USB设备插入主机或充电器时，其中的某些元件(如电容和继电器)需要短时间内充上电，以确保设备的正常运行。
这个过程通常会在几毫秒内完成，期间会产生额外的大电流峰值，即浪涌电流。
这种浪涌电流可能会对设备电源和其他连接设备产生不良的影响。
如果设备能够正常处理这一峰值电流，并保持稳定的供电，那么设备就能在启动时正常运行，且不对其他设备产生干扰。
因此，进行USB浪涌电流测试是确保设备质量和稳定性的重要环节。
如何进行USB浪涌电流测试进行USB浪涌电流测试时，需要遵循一系列的步骤：1. 准备测试设备和工具：需要准备好电流表、USB接口测试设备、电源设备等工具。
2. 设定测试环境：将USB接口测试设备连接到待测试的USB设备上，然后将电流表连接到电源设备上。
3. 测试前准备：确保所有设备的电源被打开且处于正常工作状态。
确保测试环境安全，并准备记录相关测试数据。
4. 进行测试：启动USB设备，并同时监测电流表上显示的电流数值。
记录并观察电流峰值是否超出设备的额定值。
5. 分析测试结果：分析测试结果，判断设备是否能够在启动时处理浪涌电流，并保持稳定运行。
6. 记录测试报告：将测试结果记录在测试报告中，包括电流峰值数值、测试环境等详细信息。
总结USB浪涌电流测试是评估USB设备启动时电流峰值的重要测试方法。
通过进行这一测试，可以确保USB设备在启动时能够正常运行，并避免对其他设备造成干扰。
最新USB-chirp序列测试资料
USBchirp信号测试1 信号及原理分析1.1 KJ信号说明USBchirp信号分为K信号和J信号。
根据USB速率将chirp信号做如下区别：1.2 USB全速高速识别过程分析根据规范，全速（Full Speed）和低速（Low Speed）很好区分。
因为在设备端有一个1.5k的上拉电阻，当设备插入hub或上电（固定线缆的USB设备）时，有上拉电阻的那根数据线就会被拉高，hub根据D+/D-上的电平判断所挂载的是全速设备还是低速设备。
USB全速/低速识别相当简单，但USB2.0，USB1.x就一对数据线，不能像全速/低速那样仅依靠数据线上拉电阻位置就能识别USB第三种速度——高速。
因此对于高速设备的识别就显得稍微复杂些。
表1中图3展示了一个高速设备连接到USB 2.0的hub上的协商（negotiation）情形。
高速设备初始是以一个全速设备的身份出现的，即和全速设备一样，D+线上有一个1.5k的上拉电阻。
USB2.0的hub把它当作一个全速设备，之后，hub 和设备通过一系列握手信号确认双方的身份。
在这里对速度的检测是双向的，比如高速的hub需要检测所挂上来的设备是高速、全速还是低速，高速的设备需要检测所连上的hub是USB2.0的还是1.x的，如果是前者，就进行一系列动作切到高速模式工作，如果是后者，就以全速模式工作。
hub检测到有设备插入/上电时，向主机通报，主机发送Set_Port_Feature请求让hub复位新插入的设备。
设备复位操作是hub通过驱动数据线到复位状态SE0(Single-ended 0，即D+和D-全为低电平)，并持续至少10ms。
高速设备看到复位信号后，通过内部的电流源向D-线持续灌大小为17.78mA 电流。
因为此时高速设备的1.5k上拉电阻还未撤销，在hub端，全速/低速驱动器形成一个阻抗为45欧姆(Ohm)的终端电阻，2电阻并联后仍是45欧姆左右的阻抗，所以在hub端看到一个约800mV的电压（45欧姆*17.78mA），这就是Chirp K信号。
USB2.0一致性测试 Step by Step
产生测试报文的步骤
1、开始运行HS Electrical Test Tool程序 2、选择”Device”，然后点击”Test” 按钮； 3、点击“Enumerate Bus”按钮； 4、选择将被测试的“Device”，在“Device Command”下拉列表中选择“Test Packet”， 然后点击”Execute”按钮
注1: SDA/WM上推荐使用WL600/D600ST-SP 注2: 对于HS Hub测试需要使用两个差分探头
1 x 1.5 GHz 单端有源探头 1 x 电流探头 (30A 或更小,用于B.4 Inrush电流测试) 1 x USB 2.0 测试夹具 力科不提供，但是需要从其他地方购买的：
In Rush Current
Droop
√
Device √ √
√ √ √
√ √ √
Hub
√ √ √ √ √ √ √ √ √ √ √ √ √
√
第5页
与USB2.0测试有关的标准软件
Highspeed Electrical Test Tool软件
免费下载网址ɿ 安装到 USB Host上，生成用于USB一致性测试的各种专用数据帧
Host √ √
USB-IF 制定了一整套USB2.0测试 规范，内容既包括所必需测试项目 ，每个项目的合格范围值，同时还 包括每个测试参数对应的示波器工 作参数
Packet Parameters
√
HS Chirp Timing
√
Suspend Resume
√
Disconnect
√
Downstream Repeater
QualiPHY软件有两种运行方式：
安装在与示波器不同的计算机上（推荐，可在免费下载） 直接安装到示波器操作系统内
测试指导类-USB接口指标测试指导书
USB接口指标测试指导书最小部门：(企业业务BG—企业数通产品线一企业数通研发管理部一企业数通硬件开发部)评审记录：所属产品：来源：关键词：USB接口指标：USB眼图测试；Chirp测试；Droop测试。
1、USB接口指标描述为了顺应市场的要求，目前的产品大部分都出的是USB2.0的接口，而且我们产品都是作为HOST端，USB2.0一共提供3种速率，如下表。
当我们的设备是作为HOST端是，数拯方向是Down Stream,其关注的指标有:1、信号质量1)眼图测试(Eye-Diagram testing)2)信号速率(Signal Rate)3)包结尾宽度(End of Packet Width)4)JK抖动(JK jitter)5)KJ抖动(KJ jitter)6)连续抖动(Consecutive jitter)7)单i周性测试(Monotonic test (for HS))8)上升与下降时间(Rise and Fall times)2、Droop(电压跌落)3、Chirp (Shake Hands)2、USB接口指标测试方法(1)信号质量测试由于我们的设备都是作为HOST 端，在这里只介绍HOST 端的接口指标测试方法。
1) USB High Speed 信号质量测试方法a) 连接好被测设备(DUT)、测试夹具和示波器，具体的连接示意图如图1所示。
图1 High Speed 信号质量测试连接示意图b)DUT 上电，启动USB 测试包，发送测试命令，使USB 端口能够发送岀测试码 c) 运行示波器上的USB 测试软件，在Analyze 菜单中选择USB2.0 Test 启动后的界而如图3所示。
在软件的Measurements 菜单中选择Select,然后选择High Speed,选择测试项，在这里可以点击Select All.将信号质量的测试项全部选 上。
在这个界而上还有一个选项Config,该选项是用来初始化MonotonicBnrtmh Droop(k»v»c<* Or script n>nPCI-Mp»trosusB?图2 High Speed 信号质量测试波形Tektronix Oscilloscope with Application running流.具体的码流波形如图2所示。
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USBchirp信号测试
1 信号及原理分析
KJ信号说明
USBchirp信号分为K信号和J信号。
根据USB速率将chirp信号做如下区别：
RenGE注：
不同的速率模式，对于K、J的形态定义是不同的。
DP表示D+ PIN，DM表示D- PIN。
SE0是一种D+和D-都为0电平的特殊状态。
多用于表示End-Of-Packet。
USB全速高速识别过程分析
根据规范，全速（Full Speed）和低速（Low Speed）很好区分。
因为在设备端有一个的上拉电阻，当设备插入hub或上电（固定线缆的USB设备）时，有上拉电阻的那根数据线就会被拉高，hub根据D+/D-上的电平判断所挂载的是全速设备还是低速设备。
USB全速/低速识别相当简单，但，就一对数据线，不能像全速/低速那样仅依靠数据线上拉电阻位置就能识别USB第三种速度——高速。
因此对于高速设备的识别就显得稍微复杂些。
表1中图3展示了一个高速设备连接到USB 的hub上的协商（negotiation）情形。
高速设备初始是以一个全速设备的身份出现的，即和全速设备一样，D+线上有一个的上拉电阻。
的hub把它当作一个全速设备，之后，hub和设备通过一系列握手信号确认双方的身份。
在这里对速度的检测是双向的，比如高速的hub
需要检测所挂上来的设备是高速、全速还是低速，高速的设备需要检测所连上的hub是的还是的，如果是前者，就进行一系列动作切到高速模式工作，如果是后者，就以全速模式工作。
hub检测到有设备插入/上电时，向主机通报，主机发送Set_Port_Feature 请求让hub复位新插入的设备。
设备复位操作是hub通过驱动数据线到复位状态SE0(Single-ended 0，即D+和D-全为低电平)，并持续至少10ms。
高速设备看到复位信号后，通过内部的电流源向D-线持续灌大小为电流。
因为此时高速设备的上拉电阻还未撤销，在hub端，全速/低速驱动器形成一个阻抗为45欧姆(Ohm)的终端电阻，2电阻并联后仍是45欧姆左右的阻抗，所以在hub端看到一个约800mV的电压（45欧姆*），这就是Chirp K信号。
Chirp K 信号的持续时间是1ms~7ms。
在hub端，虽然下达了复位信号，并一直驱动着SE0，但的高速接收器一直在检测Chirp K信号，如果没有Chirp K信号看到，就继续复位操作,直到复位结束，之后就在全速模式下操作。
如果只是一个全速的hub，不支持高速操作，那么该hub不理会设备发送的Chirp K信号，之后设备也不会切换到高速模式。
设备发送的Chirp K信号结束后100us内，hub必须开始回复一连串的KJKJKJ....序列，向设备表明这是一个的hub。
这里的KJ序列是连续的，中间不能间断，而且每个K或J的持续时间在40us~60us之间。
KJ序列停止后的100~500us内结束复位操作。
hub发送Chirp KJ序列的方式和设备一样，通过电流源向差分数据线交替灌的电流实现。
再回到设备端来。
设备检测到6个hub发出的Chirp 信号后（3对KJ序列），它必须在500us内切换到高速模式。
切换动作有：
1.断开的上拉电阻；
2.连接D+/D-上的高速终端电阻（high-speed termination），实际上就是全速/低速差分驱动器；
3.进入默认的高速状态。
执行1，2两步后，USB信号线上看到的现象就发生变化了：hub发送出来的Chirp KJ序列幅值降到了原先的一半，400mV。
这是因为设备端挂载新的终端电阻后，配上原先hub端的终端电阻，并联后的阻抗是欧姆。
400mV就是由*得来。
以后高速操作的信号幅值就是400mV而不像全速/低速那样的3V。
至此，高速设备与 hub握手完毕，进行后续的480Mbps高速信号通信。
信号测试及判断注意事项
1.高速检测握手协商是在主机发出复位（reset）信号期间，由设备发起的，由
主机响应的过程；
2.主机使用SE0状态reset设备之后需要使用高速握手协商（chirp handshake）
才可以再次正常通信；
3.主机使用全速的idle状态suspend设备之后需要通过resume过程使设备进
入工作状态，这个过程不需要高速握手协商；
4.全速/低速模式时主机resume设备的是通过保持K状态20ms；高速下这20ms
的K状态以转换成SE0状态后结束，然后主机和设备在两次低速位（2 low speed bit times）内必须保持在高速终端模式；
5.DEVICE_REMOTE_WAKEUP feature，该特性用来在设备被挂起（suspend）后，
主机可以使用resume信号来唤醒设备。
该特性是主机使用SET_FEATURE和CLEAR_FEATURE请求对进行设置和清除的。
2 测试表格及结果分析
表1 USB chirp信号测试表：实测过程中黄色波形为D+，绿色对应D-
序号/
图号
特征理论波形特征实测结果结果分析
1基于高速传输
的电路
接口电路
2高速同步模式同步模式为实测波形的后半部分红圈所示,为正常波形
3高速速率协商如实测波形图，上图为整体波形,下图为上图红圈的放大部分，可见，
1.模块被退出idle（左右电平）模式之
后；
2.首先D-上发出持续2ms左右的chirp K
信号（800mV电平）；
3.主机回复chirp JK序列（800mV电平）
4.设备收到之后断开上拉电
阻，波形赋值降低一半
（400mV电平）；
上述第2步是设备通知主机自己是高
速设备，第3步是主机响应设备的通
知，第4步电平赋值减半表示协商成
功，执行同步动作。
800mV和400mV电平正常，空闲状态高电平左右（与理论不符）
4
主机复位设备
--RESET
NA
从图序3可以看出，复位信号是正常的。
电平幅值较低
USB chirp信号测试表（续）：
5主机挂起设备
--SUSPEND
正常，高电平值左右
主机唤醒设备
6
--RESUME NA NO。