第四章 聚合物X射线衍射

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高分子物理-金日光-课后习题答案(1)

高分子物理-金日光-课后习题答案(1)

1. 构型与构象有何区别?聚丙烯分子链中碳-碳单键是可以旋转的,通过单建的内旋转是否可以使全同立构的聚丙烯变为间同立构的聚丙烯?为什么?答:构型:是指分子中由化学键所固定的原子在空间的几何排列。

构象:由于分子中的单键内旋转而产生的分子在空间的不同形态。

全同立构聚丙烯与间同立聚丙烯是两种不同构型,必须有化学键的断裂和重排。

3. 哪些参数可以表征高分子链的柔顺性?如何表征?答: 空间位阻参数δ212,20⎥⎦⎤⎢⎣⎡=r f h h δ答:因为等规PS 上的苯基基团体积较大,为了使体积较大的侧基互不干扰,必须通过C -C 键的旋转加大苯基之间的距离,才能满足晶体中分子链构象能量最低原则;对于间规PVC 而言,由于氢原子体积小,原子间二级近程排斥力小,所以,晶体中分子链呈全反式平面锯齿构象时能量最低。

δ越大,柔顺性越差;δ越小,柔顺性越好;特征比C n 220nl h c n =对于自由连接链 c n =1对于完全伸直链c n =n ,当n→∞时,c n 可定义为c ∞,c ∞越小,柔顺性越好。

链段长度b :链段逾短,柔顺性逾好。

7.比较下列四组高分子链的柔顺性并简要加以解释。

解:(1)PE>PVC>PAN主链均为C -C 结构,取代基极性-CN ﹥-Cl ,所以,聚丙烯腈的柔顺性较聚氯乙烯差;(2)2>1>31与3中都含有芳杂环,不能内旋转;3中全为芳环,柔顺性最差;主链中-O-会增加链的柔顺性;(3)3>2>1因为1中取代基的比例较大,沿分子链排布距离小,数量多,分子链内旋转困难;2和3中均含有孤立双键,易内旋转,故柔顺性较好。

(4)2>1>32中取代基对称排列,分子偶极矩极小,易内旋转;3中极性取代基较中比例大,分子内旋转困难,故柔顺性最差。

第2章 聚合物的凝聚态结构1. 名词解释凝聚态:物质的物理状态,是根据物质的分子运动在宏观力学性能上的表现来区分的,通常包括固体、液体和气体。

高分子物理 第4章 聚合物的分子量和分子量分布

高分子物理 第4章  聚合物的分子量和分子量分布

第四章
聚合物的分子量及分布是聚合物最基本的参数之一。 聚合物的许多性质与分子量有关: 如: 熔体粘度 弹性模量 耐热性 抗拉强度 冲击强度 成型性
“高分子溶液 ”是测定聚合物分子量和分子量分布重 要 的理论基础。
化学化工学院
第四章
高聚物性质与分子量及其分布的关系 1. 拉伸强度和冲击强度
与样品中低分子量部分有较大关系
第四章
则以上的量之间存在下列关系:
ni n 总物质的量
i
m
i
i
m 总质量
ni Xi n
摩尔分数
mi wi m
质量分数
X
i
i
1
w
i
i
1
化学化工学院
第四章
n(M)或x(M)
M
图4-1 聚合物分子量的 数量微分分布曲线
m(M)或w(M)
M
图4-2 聚合物分子量的 质量微分分布曲线
第四章
平均分子量 方法
佛点升高,冰点降低, 气相渗透,等温蒸馏
类型
分子量范围/(g/mol)
Mn
A
E A
<104
102~3104 5103~106
Mn Mn
Mn
端基分析 膜渗透法
电子显微镜
平衡沉降 光散射法
密度梯度中的平衡沉降
A
A A
>5105
102~106 >102
Mw
Mw Mw
A
A A
>5104
★ 第 四 章
第二节 聚合物分子量的测定方法
一、端基分析
1)链末端带有化学定量分析可确定的基团; 2)酸碱滴定法测定末端基团的数目,高分子链的数目; 3)端基分析法计算聚合物数均分子量。

理学第四高聚物X射线分析

理学第四高聚物X射线分析

测量时可选择发散狭缝为1, 接收狭缝S5 = S6 = 0.15 ~ 0.3 mm,满足条件
T 10 R (s) S
可得较满意衍射图形。
T为时间常数;R为接收狭缝;S为扫描速度
可使用衍射仪附件-纤维样品架测定取向的高聚物板材、 薄膜以及纤维等的取向度
Goniometer for oriented specimen holder.
圆筒底片法(旋转晶体法)基于底片沿着圆筒相机壁安装,使纤维轴与 圆筒形底片轴一致,入射X射线垂直于纤维轴,得到的衍射斑点排列在 一些平行直线上(称层线)。由于高聚物材料取向不完全,衍射斑点沿 着Debye-Scherrer环形成弧状,这样图Resulting of diffracted rays produced from diffraction by Rotation Crystal (a),
Formation of layer lines (b), Geometry for calculation of fibre identity period (c).
c cos l
为衍射线与分子轴夹角;l是层线数。当l
= 0时,圆锥成为一平面与圆筒底片相截, 称为赤道线,指数为hk0。赤道线上面是 第一层线,指数为hk1;第二层为hk2;…
滤波
元 素
K吸收 限

V 2.2691 Mn 1.8964 Fe 1.7435 Ni 1.4881 Zr 0.6888
操作 电压 /kV
3040 3545 3545 3545 5055
被K强烈 吸收及散 射的元素
Ti, Sc, Ca Cr, V, Ti Mn, Cr, V Co, Fe, Mn Y, Sr, Ru
当X射线透过物质时,将被吸收。X射线强度

x射线衍射

x射线衍射
n=1,2,3…
❖ 当Bragg条件满足时, 图中的散射线就变为衍 射线,入射线,法线和 衍射线处于同一个平面 上。入射角与衍射角相 等,都为θ。入射线与 衍射线之间的夹角为 2θ。
X射线衍射的强度
产生衍射线或衍射强度的条件: 1.满足Bragg条件。相互干涉而发生衍
射现象。 2.衍射强度不为0。
椭圆 抛物线 双曲线 直线
α≦450 450 ﹤ α﹤ 900
α = 900
不相交 双曲线 直线
物相分析的主要任务
❖ 鉴定待测物由哪些物相组成(定性分析) ❖ 各组成的含量是多少(定量分析)
物相分析的主要依据参数
各个衍射面族的面间距d 衍射线的相对强度I/I0
基本原理
❖ 每一种晶体物质都有各自的晶体结构,当x射线穿 过晶体时,每一种晶体物质都有自己独特的衍射花 纹。
❖ 该种点阵其结构因数与HKL无关,即HKL为任意整数 时均能产生衍射,例如(100)、(110)、 (111)、(200)、(210)…。能够出现的衍射
面指数平方和之比是
(H12
K12
L12 ) :
(
H
2 2
K
2 2
L22 )
:
(
H
2 3
K
2 3
L23 )
12 : (12 12 ) : (12 12 12 ) : 22 : (22 12 ) 1: 2 : 3 : 4 : 5
强度决定因素:晶胞内原子的位置和 3.X射线衍射强度是被照射区所有物质原子核 外电子散射波在衍射方向的干涉加强.是一种 集合效应.
❖ 4. 2.X射线衍射强度反应的是晶体原子位置 与种类.
多晶材料的x射线衍射强度的计算公式
❖ 对于多晶试样中任意一组晶面的衍射强度为(单位 长度衍射线的积分强度):

x射线产生衍射的充分条件

x射线产生衍射的充分条件

x射线产生衍射的充分条件引言:x射线是一种电磁波,具有很强的穿透能力和较短的波长,因此在许多领域都有广泛的应用。

其中之一就是利用x射线产生衍射现象,通过衍射可以获得物质的结构信息。

本文将介绍x射线产生衍射的充分条件,以及衍射的基本原理和应用。

一、x射线的基本原理x射线是由高速电子撞击物质而产生的电磁辐射,具有波粒二象性。

当x射线通过物质时,会与物质中的原子发生相互作用,其中最重要的一种作用就是衍射。

二、衍射的基本原理衍射是波在通过一个孔或者绕过一个物体时发生的现象。

根据衍射的不同形式,可以将其分为几种类型,如菲涅尔衍射和菲拉格衍射等。

而x射线的衍射是指x射线通过物体后,在屏幕上形成的干涉图样。

三、x射线产生衍射的充分条件要产生x射线的衍射,需要满足以下两个充分条件:1.光源的相干性光源的相干性是指光源发出的光波具有相同的频率、相位和方向。

只有具有相干性的光源才能产生明显的衍射现象。

对于x射线来说,需要使用具有足够强度和窄带宽的x射线源,如x射线管或同步辐射光源。

2.物体的周期性结构物体的周期性结构是指物体内部具有重复的排列模式,如晶体的晶格结构。

只有具有周期性结构的物体才能产生明显的衍射现象。

因此,在进行x射线衍射实验时,通常使用晶体作为衍射样品。

四、x射线衍射的应用x射线衍射在许多领域都有广泛的应用,主要包括以下几个方面:1.结晶学结晶学是研究晶体结构和性质的学科,x射线衍射是结晶学中最重要的实验方法之一。

通过测量衍射图样中的衍射角度和强度,可以确定晶体的晶格常数、晶体结构和晶体中原子的排列方式。

2.材料科学x射线衍射可以用于研究各种材料的结构和性质,如金属、陶瓷、聚合物等。

通过分析衍射图样,可以确定材料的晶体结构、晶体缺陷和晶体的取向关系等信息,进而优化材料的性能和制备工艺。

3.生物学x射线衍射在生物学中也有广泛的应用。

通过衍射实验可以确定生物大分子(如蛋白质和核酸)的结构,从而揭示生物分子的功能和作用机制。

第四章X射线衍射与散射详解

第四章X射线衍射与散射详解
材料现代研究方法
朱诚身
第四章:X射线衍射与散射
X射线衍射法概述
X射线分析法原理 广角X射线衍射法 多晶X射线衍射在高聚物中的应用 小角X射线散射法 X射线法应用
第一节 X射线衍射法概述
一. X射线的发现 1895年,W.K.Rontgen(1845—1923)发现 了X-Ray。1906年,英国物理学家巴克拉(1874— 1944)确定了不同金属都有自己特征的X-Ray。1912 年,Max ue(劳厄)发现X-Ray在晶体中的干涉现 象。1913年提出布拉格(Bragg)方程,用于晶体结 构分析。不久在20年代即开始应用于聚合物的结构测 定,最大分子确立的基础之一。
二. X射线的性质
1 .波长范围:0.001~10nm,对高分子有用的是 0.05~0.25nm,最有用的是CuKα线,入=0.1542nm, 与聚合物微晶单胞0.2~2nm相当。
2 . X-Ray的产生 X-射线管效率: E=1.1×10-9 Z V 上面的“E”—效率,“Z”—原子序数,“V” —电压。 电能的0.2%转变为X-Ray,绝大部分变成热,帮阳 极靶须导 热良好,同时水冷。 3 .连续X-Ray和特征X-Ray (1)连续(白色)X-Ray:由于极大数量的电子射到阳 极时穿透阳极物质深浅程度不同,动能降低多少不一, 产生各种波长的X-Ray。
3.典型聚集态衍射谱图的特征 衍射谱图是记录仪上绘出的衍 射强度(I)与衍射角(2θ)的关 系图。右图中:a 表示晶态试样衍 射,特征是衍射峰尖锐,基线缓平。 同一样品,微晶的择优取向只影响 峰的相对强度。图b为固态非晶试 样散射,呈现为一个(或两个)相 当宽化的“隆峰”。图c与d是半晶 样品的谱图。C有尖锐峰,且被隆 拱起,表明试样中晶态与非晶态 “两相”差别明显;d呈现为隆峰 之上有突出峰,但不尖锐,这表明 试样中晶相很不完整。 四种典型聚集态衍射谱图的特征示意图

X射线衍射学4-实验方法及应用

X射线衍射学4-实验方法及应用

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PDF卡片索引
23
• 索引:Alphabetical – 从物质名称检索。
• • Hanawalt – 从三条最强衍射线检索。 Fink – 按照d值大小排序检索。
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卡片序号
三条最强线及第一 条线d值和强度
化学式 及名称
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晶胞参数
晶系
空间群, Pna21
理论 密度
单胞化学 式量数
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4
旋转晶体法
• 也称旋转单晶法或周转法。用单色X射线作 为入射光源,单晶体绕一晶轴(通常垂直 于入射方向)旋转,靠连续改变各衍射面 与入射线的夹角来满足布拉格方程。利用 此法可作单晶的结构分析和物相分析。
5
粉末晶体法
• 也称粉末法或多晶体法。用单色X射线作为入射光 源,入射线以固定方向射到多晶粉末或多晶块状 样品上,靠粉晶中各晶粒取向不同的衍射面来满 足布拉格方程。由于粉晶含有无数的小晶粒,各 晶粒中总有一些晶面与入射线的夹角满足衍射条 件,这相当于θ 是变量。因此,粉晶法是利用多 晶样品中各晶粒在空间的无规取向来满足布拉格 方程而产生衍射的。只要同种晶体,它们所产生 的衍射花样在本质上都应该相同。
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Sc X c Sc Sa
38
例如:聚丙烯的结晶。 全同聚丙烯的α晶型属单斜晶系, 是最常出现的一种;β晶型属六方晶 系,是在相当高的冷却速度下或含 有易成核物质时,于130oC以下等温 结晶或在挤出成型时产生的;γ晶型 为三方晶系,只有在高压下或低分 子质量试样中才会形成。三种晶型 的衍射图完全不同,很易识别。 不同晶型的全同聚丙烯的 (图中阴影区为非晶漫射峰)
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• 任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成 。 • 衍射峰位置是衍射面网间距的反映(即 Bragg定理); • 衍射强度是物相自身衍射能力强弱的衡量 指标及在混合物当中百分含量的函数; • 半高宽及形态是晶体大小的函数; • 衍射峰对称性是光源聚敛性、样品吸收性 、仪器机戒装置等因素。

x射线衍射法基本原理

x射线衍射法基本原理

x射线衍射法基本原理X射线衍射法是一种常用的材料结构研究方法,它通过分析X射线在晶体上的散射模式,来确定晶体的结构和性质。

这种方法的基本原理是利用X射线的波动性和晶体的周期性结构之间的相互作用,从而产生衍射现象。

X射线是一种高能电磁波,具有较短的波长和较高的穿透能力。

当X射线照射到晶体上时,它们会与晶体中的原子相互作用,造成X 射线的散射。

根据散射的特点,可以推断出晶体中原子的排列方式和间距。

这样,通过分析X射线的衍射图样,就可以得到晶体的结构信息。

X射线衍射实验通常使用的装置是X射线衍射仪。

它由X射线源、样品台和衍射仪组成。

X射线源产生高能的X射线,经过准直器和滤波器后,射向样品台上的晶体。

样品台可以旋转,使得晶体可以在不同的角度下接受X射线的照射。

当X射线照射到晶体上时,会发生散射,形成衍射波。

衍射波经过衍射仪的光学系统后,最终形成衍射图样。

X射线的衍射图样是由许多亮暗相间的圆环或线条组成的。

这些衍射图样的形状和位置与晶体的结构有关。

根据布拉格方程,可以计算出不同晶面的衍射角,并通过测量衍射角的数值,推断出晶体的晶格常数和晶面的间距。

同时,根据衍射图样的强度分布,还可以得到晶体中原子的位置和排列方式。

X射线衍射法在材料科学、固体物理、化学等领域中具有广泛的应用。

它可以用来研究各种晶体材料的结构和性质,例如金属、陶瓷、聚合物等。

通过X射线衍射法,可以确定晶体的晶格常数、晶胞结构、晶面间距、晶体的对称性等重要参数,为材料的设计和制备提供了重要的依据。

除了研究晶体结构外,X射线衍射法还可以用于分析非晶态材料、薄膜、纳米材料等。

对于非晶态材料,由于其无长程有序结构,衍射图样呈现为连续的强度分布,通过分析衍射图样的形状和强度分布,可以推断出非晶态材料的局域有序性。

对于薄膜和纳米材料,由于其尺寸较小,可以通过调节X射线的入射角度和波长,来研究其表面形貌和结构特征。

X射线衍射法是一种非常重要的材料结构研究方法,它通过分析X 射线的衍射图样,可以确定晶体的结构和性质。

X射线衍射原理及应用_XRD

X射线衍射原理及应用_XRD

X射线衍射原理及应用_XRDX射线衍射(X-ray diffraction,简称XRD)是一种利用X射线与晶体相互作用的物理现象进行结构分析的技术。

这种技术的原理是X射线通过物质时,会发生散射现象,而散射角度与物态的晶体结构特征有关,通过测量散射角度可以获取晶体的结构信息。

X射线衍射技术最早由德国物理学家Max von Laue于1912年提出,并在随后的几年里由W.H. Bragg父子进一步发展和应用。

X射线衍射技术的发展对于研究物质的晶体结构起到了重要的推动作用,也为许多新材料的发现和研究提供了强有力的工具。

X射线衍射的原理是由于X射线的波长与晶体晶格的间距相当,当入射的X射线与晶体的晶面碰撞时,会发生散射现象。

这种散射是各个晶格平面上的原子排列所引起的,根据布拉格方程可以计算得到散射角度,从而推断出晶格的结构。

布拉格方程可以表示为:nλ = 2d*sinθ,其中n为正整数,λ为入射X射线的波长,d为晶面间距,θ为散射角度。

1.材料结构分析:通过对材料中晶体的衍射图谱进行解析,可以确定晶体的结构和晶格参数(晶胞常数、晶胞中的原子位置等),从而了解材料的基本性质,如晶体的对称性、晶粒尺寸等。

2.化学成分分析:通过衍射图谱的解析,可以确定材料中的化学成分,尤其是对于无机物质和晶体材料来说,可以准确确定其组成和结构。

3.薄膜分析:通过X射线衍射技术可以对薄膜材料的结构、薄膜厚度以及晶体中原子的位置分布等进行研究和分析,对于材料的薄膜生长、晶体生长机理等问题有着重要的意义。

4.结晶性质研究:通过X射线衍射技术可以研究晶体的结晶性质,如晶体的缺陷结构、晶体生长机制等,从而对晶体的生长条件和晶体器件的性能进行优化。

5.蛋白质结构研究:X射线衍射技术广泛应用于蛋白质结构解析领域,通过获取衍射图谱并结合计算方法,可以揭示蛋白质的三维结构,从而为蛋白质功能和药物研究提供重要的基础数据。

总之,X射线衍射技术作为一种非常重要的结构分析方法,在材料学、化学、生物学等领域中都发挥了重要作用,为我们了解物质的结构和性质提供了重要的手段。

X射线衍射法分析聚合物晶体结构

X射线衍射法分析聚合物晶体结构

实验16 X射线衍射法分析聚合物晶体结构1. 实验目的(1)掌握X射线衍射分析的基本原理。

(2)学习X射线衍射仪的操作与使用。

(3)对多晶聚丙烯进行X射线衍射测定。

(4)对实验结果进行处理,计算结晶度和晶粒度,并进行相分析。

2. 实验原理(1)X射线衍射基本原理X射线衍射基本原理是当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子有规则排列的晶胞所组成,而这些有规则排列的原子间距离与入射X射线波长具有相同数量级,迫使原子中的电子和原子核成了新的发射源,向各个方向散发X射线,这是散射,不同原子散射的X射线相互干涉叠加,可在某些特殊的方向上产生强的X射线,这种现象称为X射线衍射。

每一种晶体都有自己特有的化学组成和晶体结构。

晶体具有周期性结构,如图2-9所示。

一个立体的晶体结构可以看成是一些完全相同的原子平面网按一定的距离d平行排列而成,也可看成是另一些原子平面按另一距离d’平行排列而成。

故一个晶体必存在着一组特定的d值(如图2-9中的d,d’,d’’,…)。

结构不同的晶体其d值都不相同。

因此,当X射线通过晶体时,每一种晶体都有自己特征的衍射花样,其特征可以用衍射面间距d和衍射光的相对强度来表示。

面间距d与晶胞的大小、形状有关,相对强度则与晶胞中所含原子的种类、数目及其在晶胞中的位置有关。

可以用它进行相分析,测定结晶度、结晶取向、结晶粒度、晶胞参数等。

图2-9 原子在晶体中的周期性排列图2-10 原子面网对X 射线的衍射假定晶体中某一方向上的原子面网之间的距离为d,波长为λ的X射线以夹角θ射入晶体(如图2-10所示)。

在同一原子面网上,入射线与散射线所经过的光程相等;在相邻的两个原子面网上散射出来的X射线有光程差,只有当光程差等于入射波长的整数倍时,才能产生被加强了的衍射线,即:(2-7)这就是布拉格(Bragg)公式,式中n是整数。

知道了入射X射线的波长和实验测得了夹角,就可以算出等周期d。

图2-11 X射线衍射示意图图2-11是某一晶面以夹角绕入射线旋转一周,则其衍射线形成了连续的圆锥体,其半圆锥角为2θ。

x射线衍射物理基础

x射线衍射物理基础

衍射的分类
单晶衍射
单晶衍射是指使用单晶体作为样品进 行x射线衍射的方法。
多晶衍射
多晶衍射是指使用粉末或多晶样品进 行x射线衍射的方法。
同步辐射衍射
同步辐射衍射是指使用同步辐射光源 进行x射线衍射的方法,具有高亮度、
窄脉冲、高准直度的特点。
02
x射线衍射的应用
物质结构的分析
物质结构分析是X射线衍射的重要应 用之一。通过测量衍射角度和强度, 可以确定物质内部的原子或分子的排 列方式,从而推断出物质的结构特征。
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波长与角度的关系
x射线的波长与衍射角之间存在一定的关系,这是 衍射现象的基本特征。
衍射的基本公式
布拉格方程
对于晶体中的衍射,布拉格方程描述了波长与衍射角之间 的关系,即 nλ=2dsinθ。
01
衍射强度
衍射强度表示衍射的亮度,与晶体的结 构、入射光的波长、角度等因素有关。
02
03
衍射峰的宽度
衍射峰的宽度可以反映晶体的结晶度 和晶格畸变程度。
晶体学基础
晶体学研究晶体的结构和性质,为x射线衍射提供了研 究对象和应用背景。
晶体中的原子或分子的周期性排列形成了特定的晶体 结构,x射线在晶体中的衍射与晶体结构密切相关。
05
x射线衍射的发展与展望
x射线衍射技术的发展历程
1912年
1913年
1930年代
1950年代
1980年代至今
劳厄发现X射线衍射现象 ,证实晶体具有空间周 期性结构。
布拉格父子提出X射线晶 体学理论,即布拉格定 律,为X射线衍射分析奠 定了基础。
随着电子和质子源的发 展,出现了粉末衍射、 小角度散射等X射线衍射 技术。

高聚物X射线衍射谱图

高聚物X射线衍射谱图
高聚物X射线衍射谱图
无规取向聚合物
具有一个或两个弥散环, 为非 晶聚合物衍射图, 如α-聚苯乙 烯、聚氨基甲酸酯橡胶、聚甲 基丙酸甲酯等属此类型
具有一个或两个清晰圆环,为 结晶性较差的高聚物衍射图, 如聚丙烯腈、聚氯乙烯等
高聚物性好的高聚物衍射图, 如聚甲醛、聚丙烯、聚乙烯 等属此类型。
结晶性较好的取向高聚物,集中在赤道 线上的衍射点很鲜明,如聚乙烯、聚甲 醛等属此类型
高聚物X射线衍射谱图
取向聚合物
结晶性较好具有螺旋结构的高 聚物衍射图,如聚丙烯、聚甲 醛;聚氧化乙烯等
聚醋酸三氟乙烯酯的X射线衍射图, 仅仅在赤道线上显现出清晰的衍射, 说明高聚物侧向有序;而在子午线方 向无衍射,说明高聚物沿纤维轴方向 无明确的周期
高聚物X射线衍射谱图
取向聚合物
非晶取向高聚物的弥散环集中 在两个赤道线上,形成两个弥 散斑点,如聚苯乙烯属此类型。
结晶性较差的取向高聚物,在 赤道线上有明显的弥散点,如 聚丙烯氰、聚氯乙烯等属此类 型
高聚物X射线衍射谱图
取向聚合物
结晶较差的取向高聚物衍射图。 显现出的层线,说明沿纤维轴排 列着周期性的片层,圆环系非晶 物质
高聚物X射线衍射谱图
取向聚合物
聚对苯二甲酰庚二胺的X射线衍射图, 仅仅存 在子午线方向的衍射,说明高聚物具有纵向 有序性
取向聚合物
高聚物X射线衍射谱图
随着高聚物拉伸倍数的增 加(取向度增加),衍射圆 弧向赤道线或子午线会集 中成衍射斑点
未拉伸和不同冷拉伸比 的低密度聚乙烯试样的X 射线衍射图 (a)未拉伸 (b) 拉伸94% (c) 拉伸225% (d) 拉伸362%

X射线衍射-复旦大学高分子科学系

X射线衍射-复旦大学高分子科学系







1930 K. Herrmann & O. Gemgross (德) 从明胶的X射线衍射结果, 首次提出半晶高分子结晶的缨状微束模型(fringe micelle model), 明确高分子长链可以穿越多个微束的晶粒。并用微束两端缨状链 的缠结来解释高分子的力学强度。 1931 W. H. Carothers,I. Williams,A. M. Collins & J. E. Kirby (美) 从X射线衍射证实PVC链在其结晶中呈反式构象,重复周期 为5.2 Å。 1931~1933 W. T. Astbury,A. Street & H. J. Woods (英) 从毛发、 羊毛与豪猪刺的X射线衍射结果,证实它们的氨基酸链的晶型均 相同。在热拉伸过程中,其晶型从-型(螺旋链构象)转变为-型 (伸展链构象)。 1934 J. D. Bernal & D. Crowfoot (英) 首次获得清晰的大分子胃 朊酶晶体在其母液中 (pepsin , M40,000) 的 X 射线衍射图,未予 诠释。但已打开了结晶蛋白质X射线分析的大门。 1934~1945 J. M. Robertson (英) 从X射线衍射确定CC、C=C、 CC与氢键的键长。 1935 A. L. Patterson (德) 提出对X射线衍射图进行诠释的Fourier Analysis,应用电子密度分布解释了衍射点的相对强度。
从X射线的晶体衍射效应等使人们最终认识到它是一种 电磁波,当然它同样具有波粒两重的特性,它的波长介于紫 外线与射线之间,约在0.01~100Å。硬X射线(=0.05~1Å)穿 透力强,常用于金属探伤与医学透视;软 X射线(≥1Å) 中, =0.5~2.0Å的波段被用于晶体的结构研究,因这一尺度恰在 原子间与分子间的间距范围,若波长太短,例如<0.5Å,则 晶格的衍射集中于低角度区,不易分辨;若波长太长,例如 >0.5Å,则X射线途经空气与试样时,吸收严重,不利测量。

x射线 衍射原理

x射线 衍射原理

x射线衍射原理
X射线衍射原理,简称XRD(X-ray diffraction),是利用物
质对X射线的衍射现象来研究物质结构和性质的一种实验方法。

X射线是一种电磁波,在物质中传播时会受到物质的排列方式和晶胞结构的影响,发生衍射现象。

由于晶体具有高度有序的排列,因此在晶体中衍射现象尤为明显。

X射线衍射原理主要包括布拉格定律和费尔南多原理。

布拉格定律是描述X射线衍射的基本定律,它是由马克斯·冯·拉格(Max von Laue)和布拉格父子共同提出的。

根据布拉格定律,衍射峰的出现是由于X射线与晶体中的晶面发生干涉所导致的。

布拉格定律的数学表达式为:
nλ = 2d sinθ
其中,n为衍射阶数,λ为X射线的波长,d为晶面间距,θ为衍射角。

费尔南多原理则描述了X射线在晶体中的衍射方式。

根据费
尔南多原理,晶体中的每个晶面都可以看作是由一系列原子或离子组成的平行于该晶面的晶胞构成。

当入射X射线照射到
晶胞上时,不同晶胞上的X射线波将起到干涉作用,形成衍
射峰。

通过X射线衍射实验,可以得到一些重要的信息,如晶体的
晶格常数、晶胞形状和大小、晶胞中原子的排列方式等。

这些信息对于理解物质的结构和性质具有重要意义。

X射线衍射方
法已被广泛应用于材料科学、物理学、化学、地质学等领域,成为了研究物质微观结构的重要手段。

聚合物测试技术.X射线衍射(X-raydiffraction)物相分析

聚合物测试技术.X射线衍射(X-raydiffraction)物相分析

实验一X射线衍射(X-ray diffraction)物相分析一、目的要求1.熟悉X射线衍射仪的基本结构和工作原理2.基本学会样品测试过程3.掌握利用衍射谱、结合粉末衍射卡片(PDF卡)及索引进行物相分析的方法。

二、基本原理一束平行X射线照到一块晶体上,首先被电子所散射,每个电子都是一个辐射波源,向空间辐射出与入射波同频率的电磁波。

由于这些散射波之间干涉作用,使得某方向上的光始终保持相叠加,于是在这个方向上可以观测到衍射线,而在另一些方向上波则始终是互相抵消,没有衍射线产生。

衍射花样的特征有两方面组成:1.衍射线在空间的分布规律由晶胞大小和形状以及入射X光束的波长决定2.衍射线强度取决于原子在晶胞中位置。

X射线衍射遵循布拉格方程:2dsinθ=nλ,n=0、1、2、3…为衍射级数;θ为掠射角(又称入射角),d为晶面间距,λ为入射线波长。

在衍射仪中常使用铜靶,其Kα线波长为0.1541874nm。

X射线衍射线的方向决定于晶胞参数(晶胞形状和大小),即决定于各晶面面间距,而衍射线的相对强度则决定于晶胞内原子的种类、数目及排列方式。

每种晶态物质都有其特有的晶体结构,不是前者有异,就是后者有别,因而X射线在某种晶体上的衍射必然反映出带有晶体特征的特定的衍射花样。

当材料中包含多种晶态物质时,它们的衍射谱同时出现,不互相干涉(各衍射线位置及相对强度不变),只是简单叠加。

于是在衍射谱图中发现和某种结晶物质相同的衍射花样,就可以断定试样中包含这种结晶物质,自然界中没有衍射谱图完全一样的物质。

另外,混合物某相的衍射线强度取决于它的相对含量,通过衍射线的强度比可推算相对含量(建立了强度和含量间的关系)——定量分析的理论基础。

国际粉末衍射标准联合会(JCPDS)收集了几百万种晶体,包括有机化合物和无机化合物两大类的晶体衍射数据卡片,我们可以根据所测的粉末衍射数据,去查找出粉末衍射卡片(PDF卡)来加以参考做出判断。

三、仪器与样品1.X射线衍射仪的基本结构X射线衍射仪一般由X光源,测角仪,计数器,数据处理系统组成,如图1所示。

X射线衍射

X射线衍射

取决于跃 迁电子能 级差
3) X射线衍射条件(Bragg方程)
X光→原子中的电子→二次波源→散射(球面波)→干涉{ 加强 抵消
Bragg方程


A

d d d
B
P1 P2
O
2
任选两相邻面,其光程差: Δ=AO+BO=2dsin 满足衍射的条件为Δ=n,即: 2dsin=n 式中:θ为布拉格角;2θ 为衍射角;n-任意整数(一般为1), 称衍射级数,d为(hkl)晶面间距,即dhkl。
2. X射线衍射原理
1、X射线的发生
电子束能量的99%左右 被阳极靶中的原子吸收 掉,转化成热能→阳极需 强制冷. 仅有约1%的电子束能量 转变成X射线:
E 1.1109 ZV
X射线管示意图
连续波长的X射线
E — x射线产生的效率; Z — 阳极靶材料的原子序数; V — X射线管操作电压 (电极间电压).

JCPDS(1963)

ICDD(1992)
1992改为现名ICDD (International centre for Diffraction data), 由美,英,法,加拿大, 中国联合编辑
由Joint committee on Powder Diffraction Standards编辑,成员: ASTM,英,法,加拿大 等
衍射仪法
X射线衍射仪基本组成及工作原理
测角仪光学系统
1.梭拉狭缝是用来 限制X光垂直发散度。 2.散射狭缝是用来限 制样品表面初级射线 水平发散度。 3.接收狭缝用来限制 所接收的衍射光束的 宽度。
X光管
探测器
样品台
样品制备
根据所研究的课题,样品可以是多晶块、片或粉末。 制样一般包括两个步骤: 1、需把样品研磨成适合衍射 实验用的粉末; 2、把样品粉末制成有一个 十分平整平面的试片。如图: 任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒, 保证试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒,只有这样, 才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件:即试样受光 照体积中晶粒的取向是完全机遇的。 粉末衍射仪要求样品试片的表面是十分平整的平面。

X射线衍射在聚合物中的应用

X射线衍射在聚合物中的应用
X射线衍射(XRD)
——在聚合物中的应用
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XRD
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课堂内容
• 1. X射线的产生及其性质
• 2.晶体结构的基本概念
• 3. 测量原理
• 4. X光衍射在聚合物中的应用
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XRD
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1. X射线及其性质
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XRD
• X射线的突出特点是穿透能力很强 能穿透不透明物质。

• X射线能使照相底片被感光。
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XRD
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1.3 次级X射线
1908年,巴拉克(C.G.Barkla)发现物质被
X射线照射时,会产生次级X射线。
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XRD
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次生X射线由两部分组成
• 一部分与初级X射线相同
根据劳厄斑点的分布可算
出晶面间距,掌握晶体点
阵结构。
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1.6 布拉格公式
• 英国物理学家布拉格(Bragg)父子提出了著 名的布拉格公式-1915年诺贝尔物理奖。
• 确定了X射线衍射的方向
• 人类开始晶体结构分析的历史。
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1.7 X射线光谱
X-ray and X-ray Spectrum
n电子壳层数;c光速;Z原子序数;
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XRD
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• 不同元素具有自己的特征谱线——定性基础。
• 当X光管的阳极为金属Cu时,X射线管发出的 特征X射线为0.15418nm.。
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第1篇7X射线衍射法(高分子性能与测试技术)

第1篇7X射线衍射法(高分子性能与测试技术)
2)如果试样具有不同电子密度的非周期性结构(晶区和非 晶区),则X射线被不相干散射,有波长的改变,这种过程 称为漫射X射线衍射效应(简称散射),在小角度上测定, 又称为小角X射线衍射(SAXS)。
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基本原理:
X射线射入晶体 晶体内原子发射次生X射线
光程差导致干涉现象
光程差等于波长的整数倍互相叠加
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记录小角X射线衍射的方法: 照相法,计数法。
SAXS应用:研究数纳米到几十纳米的高分子结构。 包括:
• 晶片尺寸 • 长周期 • 溶液中聚合物分子间的回转半径 • 共混物和前端共聚物的片层结构等
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举例:层状硅酸盐/聚合物纳米复合材料的鉴定分析
d(001) 3.7nm
d(001) 1.2nm
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4.3 多晶X射线衍射在高聚物中的应用
1. 应用分析原理
2. 物相分析 3. 结晶度测定
4. 微晶取向测定
5. 晶粒尺寸测定
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1. 应用分析原理
1)任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构,在一定波 长的X射线照射下,每种晶体物质都给出自己特有的衍射 花样---- “指纹花样” ;
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半晶态试样
c
衍射强度
I(CPS)
半晶态试样
d
2θ/o
隆峰上有突出
峰,不尖锐, 晶相不完整
衍射角
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• 多晶衍射仪法作用 • 获得材料或物质的衍射谱图。
• 根据衍射图中的峰位、峰形及峰的相对强度,可 以进行物相分析、非晶态结构分析等工作。
• 在高聚物中主要用于考察物相、结晶度、晶粒择 优取向和晶粒尺寸。
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第四章 聚合物X 射线衍射§4.1 原理当一束X 射线入射到聚合物晶体样品时,其间相互作用过程相当复杂,按能量转换及能量守恒规律,大致可分为三个方面: ①被散射,②被吸收,③透过.相干散射 'λλ=,又称弹性散射或Thomson 散射.散射'λ 非相干散射('λλ≠),又称Compton-吴有训散射, 因其遵守量子理论又称量子散射. 入射X 射线(波长λ) 真吸收转为热能吸收光电效应,俄歇效应,二次特征辐射穿透 波长改变或不改变一般言之,相干散射系衍射工作基础,是我们期望收集到的衍射强度,非相干散射会造成背景给衍射带来困难. 现仅考虑相干散射,当一束单色X 射线入射到晶体时,由于晶体是由原子有规律排列成的晶胞所组成,而这些有规律排列的原子间的距离与入射X 射线波长具有相同数量级. 故由不同原子衍射的X 射线相互干涉迭加,可在某些特殊的方向上,产生强的X 射线衍射. 衍射方向与晶胞的形状与大小有关. 衍射强度则与原子在晶胞中排列方式有关.§4.2 X 射线衍射强度§4.2.1 衍射强度公式根据X 射线强度理论,对多晶粉末样品(绝大多数聚合物系多晶样品),某hkl 衍射面的累积强度,一般要考虑的影响因数:1.偏振因子(或称Thomson 因子)22cos 12θ+;2.洛伦兹(Lorentz)因子θθcos sin 412; 3.温度因子Me2-; 3.原子散射因子)(f ; 5.结构因子)(hkl F ; 6.多重性因子)(P ; 7.吸收因子)]([θA . 综合上述各因素的影响,可导出多晶粉末衍射某hkl 的强度hkl IM 2P 2hkl hkl 2c 4243hkl e )(A L F P V V I I cm er32-⋅θ⋅⋅⋅⋅⋅⋅=⋅πλ(4.1)式中: 0I —入射X 射线强度; λ—X 射线波长;π—圆周率;r —由试样到照相底片上hkl 衍射环间距离或衍射仪测角计半径; e —电子电荷; m —电子质量;c —光速;V —被入射X 射线照射的试样体积. 对于多晶试样,相当于产生hkl 衍射相的分 体积;c V —单位体积内晶胞数目;2h k l F —结构因数,它是强度测量中的因数,2hkl hkl F I ∝; P L —角因子θθθcos sin 2cos 122+(偏振因子和洛伦兹因子的联合,计算强度时略去常数81);)(θA —吸收因子,此项取决于试样的形状. 若为平板试样(聚合物大多为此形状), 则)(θA =μ21;hkl P —多重性因子 Me 2-—温度因子,)sin (2222λθB Mee--=,对大多数聚合物102=B ;§4.2.2 结构因子hkl F 及其计算hkl F 称为衍射指标hkl 的结构因子,它是由晶体结构决定,即由晶胞中原子的种类和原子位置决定. 通常原子种类用j f 表示,原子位置用j j j z y x ,,表示. j f 称原子散射因子. f 的物理意义:=f 一个电子的散射波振幅一个原子的散射波振幅. hkl F 有各种表达式,常见有 );lz ky hx (i 2exp f F j j j j N1j hkl ++∑==π (4.2));czl b y k a x h(i 2exp f F j N1j hkl ++∑==π (4.3) )r H (i 2j N1j hkl j ef F⋅π=∑= (4.4)在上式中,=H h *a +k *b +l *ca r j =j x +b j y +c j zhkl F 的绝对值—模量hkl F 称为结构振幅. 它的物理意义一个电子散射波的振幅射波的振幅一个晶胞内全部原子散=hkl F (4.5)]i exp[F F hkl hkl hkl α= (4.6)结构因子hkl F 包含两方面数据,结构振幅||hkl F 和相角hkl α. 由于一般从衍射强度数据只能得出结构振幅||hkl F ,或2||hkl F —称结构因数,它是衍射强度测量的因数,某晶面hkl 的衍射强度hkl I 正比于2||hkl F . 相角问题一般不能从强度数据测量中获取,这就是结构测定的棘手问题.hkl F 的计算:(1)简单点阵单位晶胞中只含有一个结构基元(原子,分子等) 其位置在原点上:(j j j z y x )=(000)j )0(i 2j f e f F ==π, 22j f F =2F 不受hkl 改变的影响由于PE 属P 格子,故F 不受hkl 的影响. (2)底心点阵单位晶胞中含有两个同类基元 (j j j z y x )=(000),(02121)]e 1[f F )k h (i j ++=π由于n in )1(e-=π,n 为任意整数a.当k h ,全为偶数或奇数时,j f F 2=此时底心点阵晶体hkl F 不受l 影响,因此象(420),(421),(422),(423),……等晶面族具有同样的k h ,,其衍射的结构因子hkl F 相同. b.当k h ,为一奇一偶时hkl F =0,称为结构消光(3)面心点阵一个晶胞含有四个同类基元 (j j j z y x )=(000),(02121),(21021),(21210)]e e e 1[f F )l k (i )l h (i )k h (i ++++++=πππa. 当hkl 为全奇全偶时,f F 4=b. 当hkl 为奇偶混杂时,此时有两项为奇数一项为偶数,则0=F例Al,Cu 为立方面心点阵,故有(111),(200),(220),(420),(311)……等衍射,但不出现(100),(110),(210),(211)的衍射. (4)体心点阵每个晶胞有两个同类基元(j j j z y x )=(000),(212121)]e 1[f F )l k h (i +++⋅=πa.l k h ++为偶数 f F 2=b.l k h ++为奇数 0=F有关复杂晶体结构的hkl F 的计算首先应确定化合物各元素的原子在晶胞中的座标位置,此时hkl F 的表达式可参阅有关专著.§4.2.3 hkl I 的计算在衍射仪法中,各衍射线条相对强度,由(4.1)式可简化为 θθθcos sin 2cos 1222||+⋅=F I 相对()M hkl e A P 2-⋅⋅⋅θ (4.7)由于在大多数情况下,聚合物使用平板试样,入射和反射线束在试样表面始终形成相等角度θ,故入射线束和衍射线束在各个不同衍射角的吸收作用相等,因此计算相对累积强度时,可以不必计及吸收因子,式(4.7)可改写为 Mhkl eP F I 2222cos sin 2cos 1||-⋅⋅+⋅=θθθ相对 (4.8)若不是采用平板状试样,而是细圆柱状试样相对强度计算和德拜–谢乐法相同.表4.1系PE 晶体结构分析数据,并列出了计算值与实验值的比较.表4.1 PE X 射线晶体结构分析数据§4.3 几个重要方程§4.3.1 Bragg方程若把晶体空间点阵结构看成一簇平面的原子点阵结构(图4.1),衍射X射线可以看作在这簇平面点阵(面网)上的反射,则可推导出晶体反射的Bragg(布拉格)条件. X射线通过两个相邻的平面后,其光程差(图4.1)图4.1 Bragg反射条件θsin 2d N B B M =+=∆虽然把S 当成反射,但它的本质仍是X 射线通过晶体后发生的衍射线,所以通过两相邻平面X 射线光程差∆,一定是波长λ的整数倍,即λθn d =sin 2, n =1,2,3,… (4.9) 式(4.9)中d 是原子面网间距(晶面间距),θ是X 射线束与平面间夹角,λ是X 射线波长. 可见一束X 射线入射在一个晶体面网上,只有满足上述Bragg 条件才有可能产生“反射”. 为区别不同平面反射(或衍射)式(4.9)有时写成 λθn d hkl hkl =sin 2hkl 称衍射指标,它们值越小,d 值越大,hkl d 表示属于(hkl )平面族中两个相邻平面的平面点阵间距,有时简写为d . 不同晶系面间距计算公式列于表4.2.§4.3.2 Polyanyi 方程假设波长为λ的一束X 射线,垂直入射在一维点阵上,结构单元为点(原子),其周期为I (图4.2a),当满足Polyanyi(坡兰尼)条件的方向(式(4.10)),由点阵点可产生强的X 射线衍射,λφm I m =sin , m =0,1,2,… (4.10)λφ,,m m 均为常数,即衍射线空间轨迹是以直线点阵为轴,以2(90°-m φ)为顶角的圆锥面(图4.2(b)). 当使用圆筒照相机获得高聚物纤维图后,可利用公式(4.10)计算纤维等同周期. )](sin[1Rm S tgm I -=λ(4.11)I 为晶体点阵周期,即聚合物纤维轴方向C 周期长.RS m m =φtan (4.12)R 圆筒照相机半径,m S 是0层与第m 层层线间距. 对许多晶态高聚物,用X 射线测得等同周期后,便可判断分子链的构象属:伸展(平面锯齿形),螺旋或滑移面对称型等.图4.2 Polyanyi 反射条件及空间轨迹§4.3.3 Laue 方程设波长为λ的单色X 射线0S 入射到一维点阵上(图4.3),其衍射X 射线S ,某一方向加强条件,其程差为波长的整数倍)cos (cos 0γγ-=-=∆c AM BN λL =图4.3 一维原子列衍射同理由二维,以及三维点阵衍射可导出 λααH a =-)cos (cos 0λββK b o =-)cos (cos (4.13) λγγL c =-)cos (cos 0式(4.13)系著名Laue 方程,它表明了晶体产生衍射所必需满足的条件. 式中c b a ,,为晶胞三个轴,000,,γβα分别为入射X 射线与三个晶轴的交角,待求γβα,,分别为衍射线与三个晶轴的交角,L K H ,,为整数,称衍射级次. 由立体几何知式(4.13)中有 1cos cos cos222=++γβα (4.14)上面4个方程3个未知数,求解Laue 方程常采用增加变量方法:(a)不滤波用―白色‖X 射线,即λ改变. (b)转动晶体,000,,γβα改变.表4.2 不同晶系晶面间距计算公式§4.4 倒易点阵§4.4.1倒易点阵概念及其与正点阵关系倒易点阵是由德国物理学家Ewald于1912年发展的方法,在X射线结构分析中,是一种非常有用的数学工具,它可以简化X射线衍射图的解析,简化计算工作. 倒易点阵是从晶体点阵(正点阵,真实点阵)推引出来的一套抽象点阵(虚点阵),倒易点阵空间称倒易空间,所以它也是一种点阵. 设c b a ,,是正点阵三个方向矢量,则***,,c b a 为对应倒易空间矢量(图4.4(b)). 如果两个点阵有一个共同的原点O(图4.4a,b),则可以推引出下面几个重要关系图4.4晶体点阵中晶面hkl 和倒易点阵中相应结点hkl P 及hkl H 关系1. 晶体点阵中(hkl )晶面在倒易点阵中可以用一点hkl P 来表示,hkl P 点和原点间联线OP ,=||OP |hkl H |,hkl H 称倒易矢量,它可以分解到三个方向***,,c b a 上hkl H h =*a +k *b +l *c (4.15)它垂直于(hkl )晶面,即⊥hkl H )(hkl (4.16)2. hkl H 的绝对值为=||hkl Hhkld 1(4.17) 有时为了将比例放大K 倍也可以取=||hkl H hkld K,hkl d 是(hkl )晶面族的面间距. hkl H 方向由(4.15)式决定.根据上面关系任一晶体点阵可以转化为相应倒易点阵,反之,由一个已知倒易点阵可以转化为正点阵,这种转变可以通过图4.5说明.图4.5 简单单斜点阵(ab c ⊥)其正点阵(粗黑线)与倒易点阵(细线)关系=*a γsin a 1, γ=sin b 1*b , c1*c =(4.18)式中:***c ,b ,a 和a,b,c 分别为倒易空间和正空间矢量的值。

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