LTE室分多系统合路干扰分析与整改措施
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LTE室分多系统合路干扰分析与整改措施
中讯邮电咨询设计院有限公司
2014年06月
目次
1干扰问题现象 (3)
2干扰站点比例 (3)
3 干扰问题原因 (3)
3.1互调干扰分析 (3)
3.2互调干扰的影响因素 (6)
3.3功率容量影响分析 (7)
4建议整改措施 (9)
4.1整改目标 (9)
4.2整改方案 (9)
4.3其他工作要求 (9)
LTE室分多系统合路干扰分析与整改措施目前,广东联通1800MHz FDD-LTE室分建设方案大多为合路至原室分系统,开通后出现了WCDMA室分底噪异常抬升的干扰问题,严重影响了现网3G用户。为解决此类问题,广东联通网络建设部特制定《LTE室分多系统合路干扰分析与整改措施》用于指导LTE室分工程建设。
1干扰问题现象
LTE室分合路至原系统激活之后,WCDMA室分RTWP有1-5dB的抬升;LTE模拟下行加载100%后,部分WCDMA室分RTWP有15-20dB的明显抬升。干扰现象如下图所示:
LTE室分多系统合路干扰示意图1(D/W/L合路)
2干扰站点比例
前期专项研究工作主要在广州开展,广州FDD规模为560站,其中合路站点共374站,占比66.8%。目前已开通LTE室分168个,其中方案为合路站点111个;存在干扰站点15个,占比13.5%。
广分LTE站点互调干
扰处理进度0512.xlsx
3 干扰问题原因
3.1互调干扰分析
无源互调是射频信号路径中两个或多个射频信号因各种无源器件 (例如天线、电缆或连接器) 的非线性特性引起的混频干扰信号。在大功率、多信道系统中,铁磁材料、异种金属焊接点、金属氧化物接点和松散的射频连接器都会产生信号
的混频,其最终结果就是PIM(Passive Intermodulation)干扰信号。
互调产物的大小取决于器件的互调抑制度。互调抑制度越差,互调产物越大;互调抑制度越好,互调产物越小。互调产物的大小还和输入信号的功率密切相关。在相同的互调抑制度情况下,输入功率越大,互调产物越大。
一般取三阶互调来衡量互调水平,三阶互调越高,则五阶互调也高。五阶互调一般比三阶互调低10-15dB。
(一)Case 1(D/W/L合路当前频段划分):
DCS1800: 1830-1850/1735-1755 MHz;LTE1800: 1850-1870/1755-1775 MHz;UMTS2100: 2130-2145/1940-1955 MHz
互调产物的频率分析结果:
(1)三阶互调产物不会干扰GL1800和UMTS2100的上行;
(2)五阶互调产物会干扰部分G1800上行频率(1750-1755)、部分U2100上行频率(1940-1950)、整个LTE1800的上行频率;
(3)七阶互调产物会干扰GL1800和UMTS2100整个的上行频率。
Case1当前频段划分互调示意图
(二)Case 2(D/W/L合路后续规划频段划分):
DCS 1800: 1830-1840/1735-1745 MHz;LTE1800: 1840-1860/1745-1765 MHz UMTS2100: 2130-2145/1940-1955 MHz
互调产物频率的分析结果:
(1)三阶互调产物不会干扰GL1800和UMTS2100的上行;
(2)五阶互调产物不会干扰GL1800和UMTS2100的上行;
(3)七阶互调产物会干扰部分G1800上行频率(1740-1745),部分U2100上行频率(1940-1950),整个LTE1800的上行频率。
Case2后续可能频段划分互调示意图
(三)Case 3(G900/W2100/L1800合路):
A:FDD-LTE1850-1870(现有频段)二阶互调落入900上行
B: FDD-LTE1840-1860(后续规划频段)二阶互调不落入900上行
G900和L1800二阶互调影响G900上行,GSM与DCSLTE的四阶互调产物落在
DCS与LTE的上行频段。
(四)Case 4(与电信CDMA多系统合路):
CDMA(875~880MHz)二次谐波产物(1750~1760MHz)影响LTE和DCS上行,无法通过更换器件规避,且部分站点因电信已部署合路LTE,导致我方无法再合路。
互调产物计算.xlsx
3.2互调干扰的影响因素
(一)无源器件的质量:
前期集采无源器件互调抑制度仅为120dBc,且已有旧系统经多年运行使用产生器件老化锈蚀问题,又因安装于基站信源前端的器件输入信号功率大,导致互调抑制度指标不达标。安装于基站信源前端的器件需更换为互调抑制度不低于140dBc的高性能器件。
(二)施工工艺(含跳线,馈线的接头制作)的质量:
室分施工工艺质量存在不足,馈线、跳线接头质量差或接头制作问题,都会引起互调干扰指标的抬升。
外
铜
内导体:
外导体:
内
铜
外导体:
外导体
内铜(三)天馈系统外的互调干扰,由天线附近金属物体(如生锈的铁制品等)的强非线性特性引起。
3.3功率容量影响分析
安装于基站信源前端的器件由于承受较高的功率通过,往往由于器件的工艺、结构、耦合节点电阻的耐功率、触点距离、接地隔离电阻等问题影响器件的电气性能指标和承受功率能力,同时还会因为器件的“趋肤效应”而导致局部微打火,出现电压飞弧打火现象,产生宽带噪声,对通信系统形成严重的上行干扰。
目前联通对于无源器件功率容量的集采标准要求是200W (平均),按照WCDMA 等制式对功率的要求,可以满足WCDMA 系统多载波的平均功率要求。但问题是WCDMA 系统峰均比很高,往往超过10,而集采器件没有峰值功率的指标要求,在多载波和大话务量的冲击下,很容易带来宽带杂散干扰。
使用1800 FDD-LTE 后,由于1800 FDD-LTE 下行频段距离WCDMA 上行频段较近,且LTE 峰均比较大,因此产生的飞弧打火很容易干扰WCDMA 上行频段。
功率容量计算参考:
LTE室分无源器件功率容限分析.docx 功率容量计算V2.xl
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