游标卡尺内校规范
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环境条件
室温。
校准前,应将被校卡尺及标准量块等校准用工具同时置于大理石平板上,其平衡温度的时间约1小时。
大理石平板。
受检点分布
对于尺寸范围在300内的卡尺,其受检点不少于均匀分布的3点,如下表:
测量上限
受检点
150
41.20
101.2
121.5
200
51.20
121.5/121.8
191.8
300
101.20
刀口外示值误差的校准方法同上,校准时,量块处于刀口外量爪的中间位置。
对于带有深度测量杆的卡尺,深度测量杆校准时用两块20mm量块放置于大理石平板上,使尺身测量面与量块接触,伸出测量杆测量面与大理石平板接触,然后读数。
卡尺内测量爪校准,将10mm的量块卡在外径测量爪测量面锁紧尺框,然后用千分尺测量卡尺内径测量爪。
零值误差的校准
移动尺框,使卡尺量爪两外测量面接触,目视观察。
校准测量误差应符合规定要求。
校准周期:见“计量器具校准、检定周期表”。
记录测量结果。
相关记录
«计量器具校准/检定记录»——仪器、仪表
191.8
291.8
示值误差
测量范围上限
分度值(分辨力)
最大允许误差计算公式
计算值
100
0.01,0.02
±(20+0.05L)µm
±0.03
200
300
±0.04
带有深度测量杆的卡尺,深度测量杆20mm点的示值误差不应超过1个分度值(分辨力)(表中单位:mm)
校准方法和步骤
检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,指针式卡尺表头的指针是否完好,有无松动,刻度是否清晰,推动表头是否平稳、平滑。
校准时每一受检点应在两爪的里端和外端两位置校准,量块工作面的长边与卡尺测量面长边应垂直。
零值误差
移动尺框,使卡尺量爪两外测量面接触,对于深度卡尺,将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触,用目视观察。
示值误差的校准应在螺钉紧固和松开两种状态下进行。无论尺框紧与否卡尺的测量面与基准面与量块表面相互接触应能正常滑动。接触时,有微动装置的应使用微动装置。各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定。
项目
内容
目 的
对游标卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
范 围
适用于分度值(游标类、带表类、数显类)或分辨力为:0.01mm,0.02mm,测量范围上限至300mm的通用卡尺(包括游标卡尺﹑电子数显卡尺﹑带表卡尺)的校准。
校准用
基准物质
合格的5等标准量块(规格:受
室温。
校准前,应将被校卡尺及标准量块等校准用工具同时置于大理石平板上,其平衡温度的时间约1小时。
大理石平板。
受检点分布
对于尺寸范围在300内的卡尺,其受检点不少于均匀分布的3点,如下表:
测量上限
受检点
150
41.20
101.2
121.5
200
51.20
121.5/121.8
191.8
300
101.20
刀口外示值误差的校准方法同上,校准时,量块处于刀口外量爪的中间位置。
对于带有深度测量杆的卡尺,深度测量杆校准时用两块20mm量块放置于大理石平板上,使尺身测量面与量块接触,伸出测量杆测量面与大理石平板接触,然后读数。
卡尺内测量爪校准,将10mm的量块卡在外径测量爪测量面锁紧尺框,然后用千分尺测量卡尺内径测量爪。
零值误差的校准
移动尺框,使卡尺量爪两外测量面接触,目视观察。
校准测量误差应符合规定要求。
校准周期:见“计量器具校准、检定周期表”。
记录测量结果。
相关记录
«计量器具校准/检定记录»——仪器、仪表
191.8
291.8
示值误差
测量范围上限
分度值(分辨力)
最大允许误差计算公式
计算值
100
0.01,0.02
±(20+0.05L)µm
±0.03
200
300
±0.04
带有深度测量杆的卡尺,深度测量杆20mm点的示值误差不应超过1个分度值(分辨力)(表中单位:mm)
校准方法和步骤
检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,指针式卡尺表头的指针是否完好,有无松动,刻度是否清晰,推动表头是否平稳、平滑。
校准时每一受检点应在两爪的里端和外端两位置校准,量块工作面的长边与卡尺测量面长边应垂直。
零值误差
移动尺框,使卡尺量爪两外测量面接触,对于深度卡尺,将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触,用目视观察。
示值误差的校准应在螺钉紧固和松开两种状态下进行。无论尺框紧与否卡尺的测量面与基准面与量块表面相互接触应能正常滑动。接触时,有微动装置的应使用微动装置。各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定。
项目
内容
目 的
对游标卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
范 围
适用于分度值(游标类、带表类、数显类)或分辨力为:0.01mm,0.02mm,测量范围上限至300mm的通用卡尺(包括游标卡尺﹑电子数显卡尺﹑带表卡尺)的校准。
校准用
基准物质
合格的5等标准量块(规格:受