射线检测技术 工件透照布置工艺课件
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《射线检测》课件
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动画类型：包括进入、退出、 强调、路径等
动画顺序：合理安排动画出 现的顺序
动画与内容结合：动画要与 内容紧密结合，避免过于花
哨
音视频素材选择
选择与主题相关的 素材，如射线检测 相关的视频、音频 等
素材质量要高，清 晰度、音质等要符 合要求
素材长度要适中， 不宜过长或过短
素材内容要有趣， 能够吸引观众注意 力
课件中包含了射 线检测的实验操 作步骤和注意事 项
课件中提供了射 线检测的常见问 题和解答
注意事项
确保课件在播放过程中不会出现卡顿或闪退现象 课件中的图片和文字应清晰可见，避免模糊或难以辨认的情况 课件中的动画和音效应适当使用，避免过度使用导致观众注意力分散 课件中的内容应与实际检测操作相符合，避免误导观众
图文结合：适当添加图表、图片等元素，使课 件内容更加丰富、生动
射线检测的主要方法及原理PPT课件
荧光与闪烁原理
总结词
某些物质在射线作用下会发出荧光或闪烁光，可用于检测和 识别物质。
详细描述
某些物质在射线作用下会发出荧光或闪烁光，这是因为射线 能量激发了物质的电子，使其跃迁至较高能级，当电子返回 低能级时释放出光子。这种荧光或闪烁光可用于检测和识别 物质。
成像与重建原理
总结词
通过测量穿过被检测物体的射线，利用计算机技术重建物体的内部结构。
射线检测的主要方法及原理ppt课 件
目录
• 射线检测概述 • 射线检测的主要方法 • 射线检测的原理 • 射线检测的应用领域
01
射线检测概述
定义与特点
定义
射线检测是一种无损检测技术， 通过利用放射性物质发射的射线 对物体进行穿透，检测物体的内 部结构和缺陷。
特点
射线检测具有非破坏性、高精度 和高可靠性，能够检测各种材料 和复杂结构的内部缺陷和异常。
在焊接过程中，射线检测能够检测出 焊缝中的裂纹、气孔、夹杂等缺陷， 确保焊接质量。
复合材料检测
射线检测能够检测复合材料中的分层、 脱粘、孔洞等缺陷，确保复合材料的 质量和安全性。
石油和天然气管道检测
射线检测能够检测管道焊缝的内部缺 陷，确保管道的安全运行。
医学影像诊断
01
02
03
X射线成像
利用X射线穿透人体组织， 在胶片或数字成像设备上 形成影像，用于诊断骨折、 肺部感染等。
γ射线检测
γ射线检测是利用放射性元素发出的γ 射线对物质进行穿透，通过测量穿透 后的γ射线强度来检测物质内部结构 的一种无损检测方法。
γ射线检测的优点是检测速度快、精 度高、对形状复杂的部件也能进行全 面检测。
γ射线检测具有较高的穿透能力和较 高的分辨率，能够检测出金属、陶瓷、 玻璃等材料中的气孔、裂纹、夹杂物 等缺陷。
第四章 射线透照工艺
范围。
搭接长度 ΔL 计算式可由相似三角形关系推出：
ΔL
=
L2
L3 L1
底片的有效评定长度 Leff = L3 + ΔL
实际透照时，如搭接标记放在射源侧，则底片上搭接标记之
间长度郎为有效评定长度。如搭接标记放在胶片侧，则底片上搭
接标记以外还应附加 ΔL 长度才是有效评定范围。 （2）查图表确定环缝透照次数 可通过查图表确定环缝 100%检测所需的最少透照次数，然
从横坐标上找到 T/D。=0.016 的点，过此点画一条垂直于 横坐标的直线；在纵坐标上找到 D。/f=3/26 的点，过此点画一 条垂直于纵坐标的直线；从两直线交点所在的区域确定所需的透 照次数 N=19。则:
三、透照方式的选择和一次透照长度计算
1、常用的透照方式
i 2.透照方式的选择
(1)透照灵敏度 在透照灵敏度存在明显差异的情况下，应选择有利于提高
灵敏度的 透照方式。
（2）缺陷检出特点
有些透照方式特别适合于检出某些类型的缺陷，可根据检
出缺陷的要求的实际情况选择。
（3）透照厚度差和横向裂纹检出角
第四章 射线透照工艺 一、透照工艺的术语和定义： 1.公称厚度 T
受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄。 2.透照厚度W
射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，投照厚度 为通过的各层材料公称厚度之和。 3.工件至胶片距离 b
沿射线中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之 间的距离。 4.射线源至工件距离 f
据胶片特性曲线上黑度的变化与曝光量的对应关系，对曝光量进 行修正。D2−源自D1=lgE2
−
lg
E1
=
lg
E2 E1
无损检测之射线检测ppt课件
的对接接头，AB级在特种设备检测中一般采用AB 级；在GB/T3323-2005《金属熔化焊焊接接头射 线照相》中分为二级：A级普通级；B级优化级，在 一般射线照相检测中采用A级对焊接接头进行照相 检测，B级一般用于重要设备、结构、特殊材料和 特殊焊接工艺制作的对接接头.
2021精选ppt
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(五)射线检测法中主要事项
③工件至胶片距离b object-to-film distance：沿射线束中 心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离；
④射线源至工件距离f source-to-object distance：沿射线 束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间 的距离；
⑤焦距F focal distance：沿射线束中心测定的射线源与胶片 之间的距离；
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胶片系统的主要特性指标
胶片 系统 类别
感光 速度
特性曲 线平均
梯度
感光乳 剂粒度
梯度最小值 Gmin
D=2.0 D=4.0
颗粒度最大值 σ
max
D=2.0
(梯度/颗粒度) 最小值
(G/σD)min
D=2.0
T1 低
高
微粒 4.3 7.4
0.018
270
T2 较低 较高 细粒 4.1 6.8
2021精选ppt
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现场进行γ 射线检测对控制区和管理区的划分要求
B级射线检测技术：f≥15d·b2/3
F0=f+ b
按JB/T3323-2005《金属熔化焊焊接接头射线照相》规定：最
短焦距F0规定如下：
所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下述要求：
A级射线检测技术：f≥7.5d·b2/3 F0=f+b
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(五)射线检测法中主要事项
③工件至胶片距离b object-to-film distance：沿射线束中 心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离；
④射线源至工件距离f source-to-object distance：沿射线 束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间 的距离；
⑤焦距F focal distance：沿射线束中心测定的射线源与胶片 之间的距离；
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胶片系统的主要特性指标
胶片 系统 类别
感光 速度
特性曲 线平均
梯度
感光乳 剂粒度
梯度最小值 Gmin
D=2.0 D=4.0
颗粒度最大值 σ
max
D=2.0
(梯度/颗粒度) 最小值
(G/σD)min
D=2.0
T1 低
高
微粒 4.3 7.4
0.018
270
T2 较低 较高 细粒 4.1 6.8
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现场进行γ 射线检测对控制区和管理区的划分要求
B级射线检测技术：f≥15d·b2/3
F0=f+ b
按JB/T3323-2005《金属熔化焊焊接接头射线照相》规定：最
短焦距F0规定如下：
所选用的射线源至工件表面的距离f应满足下述要求：
A级射线检测技术：f≥7.5d·b2/3 F0=f+b
《射线透照工艺》PPT课件
④厚度为50mm∽150mm钢及其合金，选用X射线和γ射线可 得到几乎相同的像质灵敏度（50mm以下 X射线灵敏度比 γ射线明显高），但裂纹检出率还是有差异。
⑤厚度大于150mm的钢及其合金，选用兆伏级高能X射线。
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⑥对大批量的工件实施射线照相，选用X射线，因为时间短， 灵敏度高。
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4.1 透照工艺条件的选择
➢ 概念
指为达到一定要求(标准)而对射线透照过程规定的方 法、程序、技术参数和技术措施等，也泛指详细说明上 述方法 、程序、参数和措施的书面文件（工艺文件）。
➢ 内容
包括设备器材条件、透照几何条件、工艺参数条件和工 艺措施条件。
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4
一般地说，射线透照工艺规定的核心内容包括下列主要 方面：
能量选择过高过低会有以下结果：
➢选择的射线能量过低，穿透力不够，到达胶片的透射
线强度过小，造成底片黑度不足，灰雾增大，曝光时间
过份延长，甚至会导致无法操作；
➢随着射线能量的增加，射线的平均波长变短，线质变
硬，在物质中的衰减变小，穿透能力增强。对比度ΔD降
低，固有不清晰Ui增大，底片颗粒也将增大，其效果是
E＝At 式中 A —— 射线源的（即时）放射性活度。
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射线检测中，底片的黑度主要（其他工艺条件固定）取决 于胶片感光乳剂吸收的射线量（即曝光量）。 ➢若固定各项透照条件（试件尺寸，源、试件、胶片的相 对位置，胶片和增感屏，给定的放射源或管电压），则底 片黑度与曝光量有很好的对应关系，通过曝光量可以控制 底片黑度。E↑ ，则D↑，反之亦然。 ➢同时曝光量不只是影响底片的黑度，还影响影像的对比 度和颗粒度，从而将影响射线照片影像可记录的细节最小 尺寸。E↑，ΔD↑，σ0 ↓。 所以，为了保证射线照相质量，曝光量应不低于某一最小 值。 但是，过份要求曝光量会有什么问题？
第三章射线检测幻灯片
第第二6章章 常射线用检无测损检测方法 （4） 汤姆逊效应
射线与物质中带电粒子相互作用，产生与入射射线波长相 同的散射线的现象叫做汤姆逊效应。这种散射线可以产生干涉， 能量衰减十分微小。
汤姆逊效应
第第二6章章 常射线用检无测损检测方法
2、射线的衰减定律和衰减曲线
射线的衰减是由于射线光子与物体相互作用产生光电效应、 康普顿效应、汤姆逊效应或电子对的产生，使射线被吸收和散 射而引起的。由此可知，物质愈厚，则射线穿透时的衰减程度 也愈大。
第第二6章章 常射线用检无测损检测方法 （3） 电子对的产生
在原子核场的作用下，
一个具有足够能量的光子 释放出它的全部动能而转
电子对的产生和消失
化具有同样能量的一对正负电子，光子则完全消失，这样的过程称 为电子对的产生。 产生电子所需的最小能量为0.51 MeV，所以光 子能量hv必须大于等于1.02 MeV。
钨与钼的X射线谱
第第二6章章 常射线用检无测损检测方法
1、连续X射线
根据电动力学理论，具有加速度的带电粒子
将产生电磁辐射。在X射线管中，高压电场加速
了阴极电子，当具有很大动能的电子达到阳极表 面时，由于猝然停止，它所具有的动能必定转变 为电磁波辐射出去。由于电子被停止的时间和条 件不同，电子的能量和波长不同，所以辐射的电 磁波具有连续变化的波长。
第第二6章章 常射线用检无测损检测方法
当一束强度为I0的Χ射线平行通过被检测试件(厚度为d)后，其
强度Id为
I d I0ed
若被测试件表面有高度为h的凸起时，则Χ射线强度将衰减为
Ih I0e(dh)
为衰减系数
X射线检测原理图
第第二6章章 常射线用检无测损检测方法
射线透照工艺
3
一 透照布置
1 中心射线束的方向 透照时中心射线束一般应垂直指向透照区中心， 透照时中心射线束一般应垂直指向透照区中心， 需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。 需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
4
2 有效透照区
主要是控制一次透照中透照厚度变化的范 围，在射线底片上形成的影像能满足下述 的要求： 的要求： 黑度处于规定的黑度范围； 1）黑度处于规定的黑度范围； 射线照相灵敏度符合规定的要求。 2）射线照相灵敏度符合规定的要求。
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4 选择透照方式的因素
透照灵敏度： 透照灵敏度：选择灵敏度较高的方式 单壁透照比双壁透照灵敏度高）。 （单壁透照比双壁透照灵敏度高）。 一次透照长度： 一次透照长度：一次透照长度大的可 以提高检测速度。 以提高检测速度。 操作方便性：对容器透照， 操作方便性：对容器透照，源在外操 作更方便。 作更方便。 试件及探伤设备具体情况： 试件及探伤设备具体情况：对环焊缝 以源在内中心透照曝光法为最佳， ，以源在内中心透照曝光法为最佳， 透照厚度均一，灵敏度最佳， 透照厚度均一，灵敏度最佳，缺陷检 出率高。 出率高。
5
2 有效透照区
一次透照长度应以 透照厚度比K 透照厚度比K进行控 制。透照厚度比定义 为，有效透照范围内 最大透照厚度与最小 透照厚度之比。 透照厚度之比。按图 所示， 所示，透照厚度比K 可以表示为 K ＝T ' / T
6
2 有效透照区
不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接 头的透照厚度比应符合标准的规定。 头的透照厚度比应符合标准的规定。
《射线检测技术》 射线检测技术》
射线透照工艺 主讲教师 魏同锋
1
本节主要内容
透照布置（重点） 透照布置（重点） 射线源和能量的选择 焦距的选择 曝光量的选择
射线检测技术6-4透照布置
3.中心射线束方向
• 指向有效透照区的中心，特殊工件特殊考 虑。 如检验焊缝坡口未熔合应使中心射线 束指向坡口角度方向。 • 使有效透照区透照厚度变化较小 使照射角小 从而提高缺陷检出性
4. 有效透照区
(1)概念 • 有效透照区：一次透照的有效透照范围。 • 有效透照区对影像质量要求： 黑度处于规定的黑度范围 射线照相灵敏度符合规定的要求
L / 2
限定有效透照区主要 是控制一次透照厚度 变化的范围。
(4)有效透照区控制方法
• 不同国家、不同标准对有效透照区的规定 不同。 • 控制方法 规定透照厚度比 规定射线源与工件源侧表面距离和有效 透照区大小关系 规定同一张射线底片的黑度
1)规定透照厚度比
• 不同点的透照厚度与中心射线束的透照厚 度之比
(5 )有效透照区长度计算
1)平板工件透照技术
T' 1 K cos1 1/ K T cos
L3 2L1 tan
搭接长度
L L2 L3 / L1 2L2tg 2Ttg
A
S
θ
L1
L3
θ
B C
L2 T T ' Leff
L / 2
有效评定长度
(1) 若搭接标记放在射线源侧，则底片上搭接标
某精铸叶片 压气机转子 某精铸叶片 实际工件形状复杂、厚度变化大，怎么透照？
透照布置内容
主要包括以下几个方面： 1. 射线源、工件、胶片的相对位置 2.中心射线束方向
3.有效透照区(一次透照区)
4. 像质计的放置
5. 标记系的使用
6. 防散射措施等。
1.透照布置的基本原则
基本原则：使透照区的透照厚度差小，更 有效地对缺陷进行检验。考虑因素： • 照相灵敏度 • 缺陷检出特点 • 透照厚度差和横向裂纹检出角 • 一次透照长度 • 操作方便性 • 试件及探伤设备具体情况
最新《无损检测》射线检测 课件
= I0·e－μδ ·e－ （μˊ－μ)X
= Iδ ·e－ （μˊ－μ)X
(1-2)
显然有：
Ix / Iδ = e－ （μˊ－μ)X
(1-3)
最新《无损检测》射线检测 课件
讨论与结论
①当μ’< μ时，Ix >Iδ；比如，钢中的气孔、 夹渣就属于这种； ②当μ’> μ时，Ix < Iδ；比如，钢中的夹铜就 属于这种； ③当μ’＝ μ或x很小时，Ix ≈Iδ；几乎差异， 缺陷则得不到显示！
1.3.2 X射线照相法检测技术 (1)合格底片的评价指标（参考GB3323-87）
①象质等级的规定： A 级，AB级，B级。B级为最高级。
适用结构：A 级，适用一般结构； AB级，适用压力容器； B级，适用极重要的结构， 如核设施。
最新《无损检测》射线检测 课件
② 与象质等级相关的两个重要技术指标：
曝光曲线的使用示意图
• X射线机控制箱面板上的曝光曲线使用：
U/kv 150
制作依据： 黑度达到 相同标准。
δ δ0
注意：不同材最料新《的无损曝检测光》曲射线线检测是课不件 同的！
④ 透照距离的选择 最小透照距离Fmin的确定： 首先分析——相似三角形平面几何原理： 板厚δ、焦点直径d、几何不清晰度ug与最 小透照距离Fmin的关系。 综合考虑： F一般取400～700 mm。 基本规律：F ，ug ； 射线强度 ！ 下面分析几何关系。
最新《无损检测》射线检测 课件
（2）主要性能参数（以X2005型射线机为例）
• 管压峰值kv——200kv • 管电流平均值mA——5mA • 焦点尺寸mm—— 2.5×2.5 • 射线机重量kg—— 60kg • 最大透射厚度mm—— 钢件29mm 便携式x射线机简化为三大部件：
4.9 典型工件的射线检测
0.434GD D T 1 n
3. 补偿技术
要求：材料对射线吸收性质相同或相近。 方法 补偿块 补偿粉 补偿液 钢件：硝酸铅和醋酸铅溶液 铜材：碘化钡的近似饱和溶液
使被透照工件厚度相同
补偿技术
上表面补偿法透照示意图
下表面补偿法透照示意图
4.9.6 非金属材料、复合材料检测
同一暗盒中放置两张感光度不同或感光度相同的 胶片同时透照技术。 特点：双片透照、分开评片或叠片评片
感光度高的胶片用于厚度较大部位
感光度低的胶片用于厚度较小部位
评片
单张胶片或感光度低的胶片评定厚度小的部位或 双片叠加或感光度高的胶片评定厚度大的部位 JB4730规定叠片观察时，仅限于A级，而且单片黑度 不低于1.3。
C R
F
连OB，求弧长AC
环缝内透照法(F>R)计算
考虑 OAB
OB D0 / 2 OA D0 / 2 T AB KT
OB2 OA2 AB2 2 OA AB cos 1800
1 K 2 1T / Di cos 1 K
3. 透照次数
椭圆成像透照布置
T / D 0.12 相隔90度进行二次透照（保证k:1.4～1.8)
T / D 0.12 相隔60度或120度进行三次透照(保证k:1.4
～1.8) 垂直透照布置：
相隔60度或120度进行三次透照。
4. 透照参数
f / d 10D
d-射线源焦点尺寸 D-小直径管外径
1
N
180
4.9.4 小直径管对接焊缝
1. 概述
小直径管透照布置
射线透照工艺讲稿
射线透照工艺讲稿4.散射线的控制：4.1散射线的来源和分类4.1.1散射光线的来源：射线在穿过物质过程中与物质相互作用会产生吸收和散射，其中散射主要由康谱顿效应造成的。
与一次射线相比，散射线的能量减小，波长变长，运动方向改变。
散射源：产生散射射线的物体（所有受射线照射的物体，如试样、磁带、墙壁、地面甚至空气，都将成为散射源）。
最大的散射源是试件本身。
4.1.2散射线的分类：按散射的方向分:前向散射：从磁带正面散射；背散射：从磁带背面散射；边蚀散射：指试件周围的射线向试件背后的胶片散射，或试件中的较薄部位的射线向较从厚的部分散开。
（这种散射会导致图像边界模糊，导致所谓的“边缘侵蚀”现象，即低黑度区域的外围被侵蚀，区域缩小。
）4.2散射比的影响因素：散射比n定义为散射光线强度is的比率，即n=is/IP。
4.2.1焦距：焦距变化对散射比影响不大；4.2.2照射场：照射场大小对散射比几乎没有影响。
除非是用极小的照射场透照，照射场直径＜50毫米，辐射场J？nj；＞50mm时，n几乎没有变化；4.2.3射线能量：在工业射线照相应用范围内，随射线能量j?nk；4.2.4试件壁厚：在相同射线能量下，随壁厚j?nj；4.2.5焊缝补强的影响：焊缝补强J？焊缝中心的散射比高于相同厚度的板。
随着能量的增加，两者的数量接近。
4.2.6焊缝宽度的影响：随焊缝宽度j?nk；此外，余高形状不同，散射比也不同：焊缝余高它是三角形的，n是最大的，圆是第二个，矩形是最小的。
4.2.7后向散射与射线能量J？nj.4.3散射光线的控制措施：(散射线会使射线底片的灰雾黑度增大，影象对比度降低，对射线相质量是有害的。
但由于受射线照射的一切物体都是散射源，所以实际上散射线是无法消除的，只能尽量设法减少。
)4.3.1选择合适的射线能量：对于厚差较大的工件，如高强度焊缝或小直径管，散射比随射线能量的增加而减小。
因此，可以通过增加射线能量来减少散射射线；同时，它对主因对比度和内在不锐度有明显的负面影响。
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主要包括以下几个方面： 1. 射线源、工件、胶片的相对位置 2.中心射线束方向
3.有效透照区(一次透照区)
4. 像质计的放置
5. 标记系的使用
6. 防散射措施等。
透照布置的基本原则
基本原则：使透照区的透照厚度差小，更 有效地对缺陷进行检验。考虑因素： 照相灵敏度 缺陷检出特点 透照厚度差和横向裂纹检出角 一次透照长度 操作方便性 试件及探伤设备具体情况
θ
B C
L2 T T ' Leff
L / 2
有效评定长度
(1) 若搭接标记放在射线源侧，则底片上搭接标
记之间长度即有效评定长度。
(2) 若搭接标记放在胶片侧，则底片上搭接标记
以外还应附加△L长度属于有效评定范围。
Leff L3 L
(2) 焊缝透照
透照方式
单壁透照 直缝透照 双壁透照 外透法 单壁透照 内透法 偏心法 环缝透照 双壁单影 双壁透照 双壁双影 直透法 直透法 斜透法 斜透法 中心法F=R F<R F>R
(2) 规定f和有效透照区大小关系
A级技术： f 2L3 B级技术： f 3L3 主要在日本等国家使用
分析
实际上限定了照射角的范围
对平板工件 A 级技术 B 级技术
K 1.01
透照区规 定 照射角
K 1.03
13.86
f 2L 3
14.03
f 3L 3
8.07
上述三种方法，前两种是控制照射角，但 最终还是由黑度决定。
3.5 有效透照区长度计算
(1) 平板工件透照技术
T' 1 K cos1 1/ K T cos
L3 2L1 tan
搭接长度
L L2 L3 / L1 2L2tg 2Ttg
A
S
θ
L1
L3
9.46
(3) 规定同一张射线底片的黑度
同一张底片的黑度必须处于规定的黑度范 围之内，超出的区域除非证明射线照相灵 敏度达到了规定的要求，否则不能作为质 量评定区。
D0 0.15D0 D D0 0.30D0
其中 D0 ——像质计所在处的黑度。
主要在美国使用。
三种方法的实质
远离胶片
靠近胶片
1.4 从缺陷位置来说
V形坡口焊缝
X形坡口纹：源在外优于源在内 未焊透或根部未熔合：直透法。
未焊透
根部未熔合
1.5 缺陷方向
1,3 纵向裂纹 2,5 横向裂纹
纵向裂纹
横向裂纹
存在的问题
纵缝
20
环焊缝
T
3
T'
7
22
3mm 50mm 2 2 T 3 T ' 50 47 17
暗室处理
结果评定
4.1 透照布置
射线照相的基本透照布置
f—射线源到工件源 侧表面的距离。 F—射线源到胶片 表面的距离。 —照射角。 L—有效透照区的 宽度。 T—工件厚度，也 叫透照厚度。
特殊工件
角焊缝
硫化罐
某精铸叶片 压气机转子 某精铸叶片 实际工件形状复杂、厚度变化大，怎么透照？
透照布置内容
透照厚度：射线穿过工件的路径长度。 公称厚度：受检工件名义厚度，不考虑材 料制造偏差和加工减薄。 一次透照长度：一次透照的有效透照长度 有效评定长度：一次透照检验长度在底片 上的投影长度。
搭接长度：一张底片与相邻底片重迭部分 的长度。
有效透照区示意图
L1
L3 L2 T T ' Leff
L / 2
有效透照区主要是控制透照厚度的变化范围
3.2 有效透照区有关的几个术语
射线照相质量等级为A级(低灵敏度)、AB级 (中灵敏度)和B级(高灵敏度) A级 1.5 D 4.0 AB级 2.0 D 4.0 B级 2.3 D 4.0 民用 承压设备 军用
3.3 有效透照区有关的几个术语
K T'/T
T 1 1 cos , arccos T K K
主要在我国使用
国内外关于K值的比较
JB/T4730-2005 B级 焊缝类型 A级、AB级 K<=1.1 K<=1.06 环缝 K<=1.03 K<=1.01 纵缝 特殊：100mm<D0<=400mm环缝允许采用K<=1.2 DIN 54111:1988,EN1435:1997,ISO 5579:1998等 K值 焊缝类型
A级技术
B级技术
K<=1.2
K<=1.1
横向裂纹检出角
横向裂纹检出角：横向裂纹走向与边缘射线束的 夹角。 控制透照厚度比 K 值的目的之一是控制接头横向 裂纹检出角，防止接头横向裂纹漏检。
K 1.03
K 1.01
14
8
国外研究表明：K值对横向裂纹检出影响不大。
限定有效透照区主要 是控制一次透照厚度 变化的范围。
3.4有效透照区控制方法
不同国家、不同标准对有效透照区的规定 不同。 控制方法 规定透照厚度比 规定射线源与工件源侧表面距离和有效 透照区大小关系 规定同一张射线底片的黑度
(1) 规定透照厚度比
不同点的透照厚度与中心射线束的透照厚 度之比
第四章 射线检测工艺
4.0 射线透照工艺概述
工艺 指为达到一定要求而对射线透照过 程规定的方法、程序、技术参数和技术措 施等。也泛指详细说明上述方法、程序、 参数、措施的书面文件。
工艺流程
规范设计
工艺标准
工艺夹具设计与制造 胶片裁切与包装 工件准备
射线检测 照相法工 艺流程
操作
透照布置
曝光 显影、停显、定影 水洗和干燥 底片质量检查 缺陷判断 结论与报告
2. 中心射线束方向
指向有效透照区的中心，特殊工件特殊考 虑。 如检验焊缝坡口未熔合应使中心射线 束指向坡口角度方向。 使有效透照区透照厚度变化较小 使照射角小 从而提高缺陷检出性
3. 有效透照区
3.1 概念 有效透照区：一次透照的有效透照范围。 有效透照区对影像质量要求： 黑度处于规定的黑度范围 射线照相灵敏度符合规定的要求
1. 射线源、工件、胶片的相对位置
射线源 工件 胶片 缺陷位置 缺陷方向
1.1 射线源的位置
对接焊缝
源在外
源偏移焊缝中心
双壁单影法
源在内
1.2 工件的位置
叶片 在线 检测 小直 径管
1.3 胶片的位置
不同的透照方式胶片位置不同， 从提高灵敏度上说，胶片应紧贴工件，缺 陷尽量靠近胶片。
3.有效透照区(一次透照区)
4. 像质计的放置
5. 标记系的使用
6. 防散射措施等。
透照布置的基本原则
基本原则：使透照区的透照厚度差小，更 有效地对缺陷进行检验。考虑因素： 照相灵敏度 缺陷检出特点 透照厚度差和横向裂纹检出角 一次透照长度 操作方便性 试件及探伤设备具体情况
θ
B C
L2 T T ' Leff
L / 2
有效评定长度
(1) 若搭接标记放在射线源侧，则底片上搭接标
记之间长度即有效评定长度。
(2) 若搭接标记放在胶片侧，则底片上搭接标记
以外还应附加△L长度属于有效评定范围。
Leff L3 L
(2) 焊缝透照
透照方式
单壁透照 直缝透照 双壁透照 外透法 单壁透照 内透法 偏心法 环缝透照 双壁单影 双壁透照 双壁双影 直透法 直透法 斜透法 斜透法 中心法F=R F<R F>R
(2) 规定f和有效透照区大小关系
A级技术： f 2L3 B级技术： f 3L3 主要在日本等国家使用
分析
实际上限定了照射角的范围
对平板工件 A 级技术 B 级技术
K 1.01
透照区规 定 照射角
K 1.03
13.86
f 2L 3
14.03
f 3L 3
8.07
上述三种方法，前两种是控制照射角，但 最终还是由黑度决定。
3.5 有效透照区长度计算
(1) 平板工件透照技术
T' 1 K cos1 1/ K T cos
L3 2L1 tan
搭接长度
L L2 L3 / L1 2L2tg 2Ttg
A
S
θ
L1
L3
9.46
(3) 规定同一张射线底片的黑度
同一张底片的黑度必须处于规定的黑度范 围之内，超出的区域除非证明射线照相灵 敏度达到了规定的要求，否则不能作为质 量评定区。
D0 0.15D0 D D0 0.30D0
其中 D0 ——像质计所在处的黑度。
主要在美国使用。
三种方法的实质
远离胶片
靠近胶片
1.4 从缺陷位置来说
V形坡口焊缝
X形坡口纹：源在外优于源在内 未焊透或根部未熔合：直透法。
未焊透
根部未熔合
1.5 缺陷方向
1,3 纵向裂纹 2,5 横向裂纹
纵向裂纹
横向裂纹
存在的问题
纵缝
20
环焊缝
T
3
T'
7
22
3mm 50mm 2 2 T 3 T ' 50 47 17
暗室处理
结果评定
4.1 透照布置
射线照相的基本透照布置
f—射线源到工件源 侧表面的距离。 F—射线源到胶片 表面的距离。 —照射角。 L—有效透照区的 宽度。 T—工件厚度，也 叫透照厚度。
特殊工件
角焊缝
硫化罐
某精铸叶片 压气机转子 某精铸叶片 实际工件形状复杂、厚度变化大，怎么透照？
透照布置内容
透照厚度：射线穿过工件的路径长度。 公称厚度：受检工件名义厚度，不考虑材 料制造偏差和加工减薄。 一次透照长度：一次透照的有效透照长度 有效评定长度：一次透照检验长度在底片 上的投影长度。
搭接长度：一张底片与相邻底片重迭部分 的长度。
有效透照区示意图
L1
L3 L2 T T ' Leff
L / 2
有效透照区主要是控制透照厚度的变化范围
3.2 有效透照区有关的几个术语
射线照相质量等级为A级(低灵敏度)、AB级 (中灵敏度)和B级(高灵敏度) A级 1.5 D 4.0 AB级 2.0 D 4.0 B级 2.3 D 4.0 民用 承压设备 军用
3.3 有效透照区有关的几个术语
K T'/T
T 1 1 cos , arccos T K K
主要在我国使用
国内外关于K值的比较
JB/T4730-2005 B级 焊缝类型 A级、AB级 K<=1.1 K<=1.06 环缝 K<=1.03 K<=1.01 纵缝 特殊：100mm<D0<=400mm环缝允许采用K<=1.2 DIN 54111:1988,EN1435:1997,ISO 5579:1998等 K值 焊缝类型
A级技术
B级技术
K<=1.2
K<=1.1
横向裂纹检出角
横向裂纹检出角：横向裂纹走向与边缘射线束的 夹角。 控制透照厚度比 K 值的目的之一是控制接头横向 裂纹检出角，防止接头横向裂纹漏检。
K 1.03
K 1.01
14
8
国外研究表明：K值对横向裂纹检出影响不大。
限定有效透照区主要 是控制一次透照厚度 变化的范围。
3.4有效透照区控制方法
不同国家、不同标准对有效透照区的规定 不同。 控制方法 规定透照厚度比 规定射线源与工件源侧表面距离和有效 透照区大小关系 规定同一张射线底片的黑度
(1) 规定透照厚度比
不同点的透照厚度与中心射线束的透照厚 度之比
第四章 射线检测工艺
4.0 射线透照工艺概述
工艺 指为达到一定要求而对射线透照过 程规定的方法、程序、技术参数和技术措 施等。也泛指详细说明上述方法、程序、 参数、措施的书面文件。
工艺流程
规范设计
工艺标准
工艺夹具设计与制造 胶片裁切与包装 工件准备
射线检测 照相法工 艺流程
操作
透照布置
曝光 显影、停显、定影 水洗和干燥 底片质量检查 缺陷判断 结论与报告
2. 中心射线束方向
指向有效透照区的中心，特殊工件特殊考 虑。 如检验焊缝坡口未熔合应使中心射线 束指向坡口角度方向。 使有效透照区透照厚度变化较小 使照射角小 从而提高缺陷检出性
3. 有效透照区
3.1 概念 有效透照区：一次透照的有效透照范围。 有效透照区对影像质量要求： 黑度处于规定的黑度范围 射线照相灵敏度符合规定的要求
1. 射线源、工件、胶片的相对位置
射线源 工件 胶片 缺陷位置 缺陷方向
1.1 射线源的位置
对接焊缝
源在外
源偏移焊缝中心
双壁单影法
源在内
1.2 工件的位置
叶片 在线 检测 小直 径管
1.3 胶片的位置
不同的透照方式胶片位置不同， 从提高灵敏度上说，胶片应紧贴工件，缺 陷尽量靠近胶片。