材料分析测试技术课件2课件
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《金属材料硬度检测》课件

料性能评价。
硬度检测与其他检测方法的结合
硬度检测与显微结构分析
结合显微分析技术,探究材料硬度的微观机理,为材料性能优化 提供依据。
硬度检测与无损检测
通过无损检测技术,在不损伤材料的前提下进行硬度检测,提高材 料的安全性。
硬度检测与力学性能测试
结合拉伸、压缩等力学性能测试,全面评估材料的机械性能。
硬度检测在新型金属材料研究中的应用
检测金属材料的疲劳性能
硬度检测可以用于检测金属材料的疲劳性能,因为硬度值 与疲劳性能也有一定的相关性。了解金属材料的疲劳性能 有助于评估其在各种环境下的可靠性。
在金属材料科学研究中的应用
研究金属材料的微观结构
硬度检测可以用于研究金属材料的微观结构,因为硬度值与材料的微观结构密切相关。通过硬度检测,可以了解金属 材料的晶体结构、相组成等微观特征。
04
硬度检测的未来发展
硬度检测技术的发展趋势
01
自动化与智能化
随着技术的进步,硬度检测将 更加自动化和智能化,减少人
为误差,提高检测效率。
02
高精度与高灵敏度
未来硬度检测技术将向高精度 和高灵敏度方向发展,以满足
更严格的测试要求。
03
多功能化
未来的硬度检测技术将融合多 种测试方法,实现更全面的材
硬度检测的重要性
硬度检测是评估金属材料机械性 能的重要手段,对于材料的质量 控制、性能评估和失效分析具有
重要意义。
通过硬度检测,可以了解材料的 硬度和韧性,从而预测其耐磨性
、耐腐蚀性和抗疲劳性能。
在生产过程中,硬度检测用于监 控产品质量,确保产品性能符合
要求。
硬度检测的分类
03
压入法
划痕法
硬度检测与其他检测方法的结合
硬度检测与显微结构分析
结合显微分析技术,探究材料硬度的微观机理,为材料性能优化 提供依据。
硬度检测与无损检测
通过无损检测技术,在不损伤材料的前提下进行硬度检测,提高材 料的安全性。
硬度检测与力学性能测试
结合拉伸、压缩等力学性能测试,全面评估材料的机械性能。
硬度检测在新型金属材料研究中的应用
检测金属材料的疲劳性能
硬度检测可以用于检测金属材料的疲劳性能,因为硬度值 与疲劳性能也有一定的相关性。了解金属材料的疲劳性能 有助于评估其在各种环境下的可靠性。
在金属材料科学研究中的应用
研究金属材料的微观结构
硬度检测可以用于研究金属材料的微观结构,因为硬度值与材料的微观结构密切相关。通过硬度检测,可以了解金属 材料的晶体结构、相组成等微观特征。
04
硬度检测的未来发展
硬度检测技术的发展趋势
01
自动化与智能化
随着技术的进步,硬度检测将 更加自动化和智能化,减少人
为误差,提高检测效率。
02
高精度与高灵敏度
未来硬度检测技术将向高精度 和高灵敏度方向发展,以满足
更严格的测试要求。
03
多功能化
未来的硬度检测技术将融合多 种测试方法,实现更全面的材
硬度检测的重要性
硬度检测是评估金属材料机械性 能的重要手段,对于材料的质量 控制、性能评估和失效分析具有
重要意义。
通过硬度检测,可以了解材料的 硬度和韧性,从而预测其耐磨性
、耐腐蚀性和抗疲劳性能。
在生产过程中,硬度检测用于监 控产品质量,确保产品性能符合
要求。
硬度检测的分类
03
压入法
划痕法
《建筑材料检测培训》课件
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使用符合标准的研磨设备 、筛分设备等
检测操作
01
02
03
检测方法
根据材料类型和检测项目 选择合适的检测方法
检测设备
使用符合标准的检测设备 ,如天平、量筒、滴定管 等
检测流程
按照相关标准规定进行, 如称量、配制试剂、进行 试验等
结果分析
数据处理
对试验数据进行整理、计算、分 析
结果判定
根据标准对试验结果进行判定,如 合格或不合格
化学性能检测
Hale Waihona Puke 总结词对建筑材料的化学成分和性质进行检测和分析。
详细描述
通过化学分析方法对建筑材料的化学成分、耐腐蚀性、耐候性等进行检测,以 评估其长期性能和使用寿命。
无损检测
总结词
利用非破坏性的检测方法对建筑材料的内部缺陷和损伤进行检查。
详细描述
通过X射线、超声波、磁粉等方法对建筑材料的内部缺陷和损伤进行无损检测, 以确保其安全性和可靠性。
建筑材料检测学习网站推荐
提供一些建筑材料检测学习网站,这些网站上有丰富的资料、教程和案例,方便学员自主学习和参考 。
THANKS
感谢您的观看
建筑材料的质量直接关系到建筑工程 的安全性,对人们的生命财产安全具 有重要意义。
检测的分类与标准
分类
建筑材料检测可以分为出厂检测、进 场检测、现场检测和监督检测等。
标准
建筑材料检测应遵循国家或行业的相 关标准、规范和设计要求,如《混凝 土强度检验评定标准》、《建筑防水 材料试验方法》等。
Part
《建筑材料检测培训 》ppt课件
• 建筑材料检测概述 • 建筑材料检测技术 • 建筑材料检测流程 • 建筑材料检测案例分析 • 建筑材料检测中的问题与对策 • 建筑材料检测实践与培训
纳米材料测试分析技术 ppt课件

第四章:纳米材料测试分析技术
纳米材料测 试分析技术
尺寸评估 结构表征 性能测量
电子显微分析
扫描探针分析
X-射线衍射分析
光谱分析
能谱分析
粒 ppt课件 度 分 析
1
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
微观世界的探索
社会发展、科技进步总伴随着工具的完善和革新。 以显微镜来说吧,发展至今可以说是有了三代显 微镜。这也使得人们对于微观世界的认识越来越 深入,从微米级,亚微米级发展到纳米级乃至原 子分辨率。
ppt课件
5
一、电 子 显 微 分 析
电子显 微分析
透射电子显微镜(TEM)
+ 扫描电子显微镜(SEM)
X-射线能谱 分析( EDX)
电子探针显微分析(EPMA)
材料的形貌观察、材料的 表面和内部微结构分析
ppt课件
材料的微区成 分分析(微米)
6
透射电子显微分析
透射电子显微镜(简称透射电镜) Transmission Electron Microscope(TEM)
ppt课件
2
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
第一代为光学显微镜
1830年代后期为M.Schleide
和 T.Schmann 所 发 明 ; 它 使
人类“看”到了致病的细菌、
微生物和微米级的微小物体,
对社会的发展起了巨大的促
进作用,至今仍是主要的显
微工具 。
ppt课件
3
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
ppt课件 microscope”
8
普通透射电子显微镜(TEM)
透通过两个中间镜
之间的相互配合,可在较大范
围内调整相机长度和放大倍数。
纳米材料测 试分析技术
尺寸评估 结构表征 性能测量
电子显微分析
扫描探针分析
X-射线衍射分析
光谱分析
能谱分析
粒 ppt课件 度 分 析
1
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
微观世界的探索
社会发展、科技进步总伴随着工具的完善和革新。 以显微镜来说吧,发展至今可以说是有了三代显 微镜。这也使得人们对于微观世界的认识越来越 深入,从微米级,亚微米级发展到纳米级乃至原 子分辨率。
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5
一、电 子 显 微 分 析
电子显 微分析
透射电子显微镜(TEM)
+ 扫描电子显微镜(SEM)
X-射线能谱 分析( EDX)
电子探针显微分析(EPMA)
材料的形貌观察、材料的 表面和内部微结构分析
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材料的微区成 分分析(微米)
6
透射电子显微分析
透射电子显微镜(简称透射电镜) Transmission Electron Microscope(TEM)
ppt课件
2
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
第一代为光学显微镜
1830年代后期为M.Schleide
和 T.Schmann 所 发 明 ; 它 使
人类“看”到了致病的细菌、
微生物和微米级的微小物体,
对社会的发展起了巨大的促
进作用,至今仍是主要的显
微工具 。
ppt课件
3
天津理工大学纳米材料与技术研究中心
ppt课件 microscope”
8
普通透射电子显微镜(TEM)
透通过两个中间镜
之间的相互配合,可在较大范
围内调整相机长度和放大倍数。
材料的测试、表征方法和技巧ppt课件
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用) 共聚焦方式,适于表面或层面分析,高信噪比 能适合黑色和含水样品 高、低温及高压条件下测量 光谱成像快速、简便,分辨率高 仪器18稳固,体积适中,维护成本低,使用简单
红外光谱
光谱范围400-4000cm-1 分子振动谱 吸收,直接过程,发展较早
平衡位置附近偶极矩变化不为零 与拉曼光谱互补 实验仪器是以干涉仪为色散元件 测试在中远红外进行,不收荧光干扰
方法一:纵坐标为吸收强度,横坐标为波长λ(m) 和波数1/λ,单位:cm-1 。可以用峰数,峰位,峰
形,峰强来描述。 纵坐标是:吸光度A 应用:有机化合物
的结构解析 定性:基团的特征
吸收频率; 定量:特征峰的强
度
6
方法二:纵坐标是百分透过率T%。百分透过率的定义 是辅射光透过样品物质的百分率,即 T%= I/I0×100%, I是透过强度,Io为入射强度。
峰数 峰数与分子自由度有关。无瞬间偶基距变化 时,无红外吸收
峰强 瞬间偶极矩大,吸收峰强;键两端原子电负 性相差越大(极性越大),吸收峰越强
由基态跃迁到第一激发态,产生一个强的吸收峰, 基频峰
由基态直接跃迁到第二激发态,产生一个弱的吸收 峰,倍1频1 峰
有机化合物基团的特征吸收
化合物红外光谱是各种基团红外吸收的叠加
各种基团在红外光谱的特定区域会出现对应的吸收 带,其位置大致固定
受化学结构和外部条件的影响,吸收带会发生位移, 但综合吸收峰位置、谱带强度、谱带形状及相关峰 的存在,可以从谱带信息中反映出各种基团的存在 与否
12
常见基团的红外吸收带
=C-H C-H CC C=C
O-H O-H(氢键)
C=O C-C,C-N,C-O
S-H P-H N-O N-N C-F C-X
红外光谱
光谱范围400-4000cm-1 分子振动谱 吸收,直接过程,发展较早
平衡位置附近偶极矩变化不为零 与拉曼光谱互补 实验仪器是以干涉仪为色散元件 测试在中远红外进行,不收荧光干扰
方法一:纵坐标为吸收强度,横坐标为波长λ(m) 和波数1/λ,单位:cm-1 。可以用峰数,峰位,峰
形,峰强来描述。 纵坐标是:吸光度A 应用:有机化合物
的结构解析 定性:基团的特征
吸收频率; 定量:特征峰的强
度
6
方法二:纵坐标是百分透过率T%。百分透过率的定义 是辅射光透过样品物质的百分率,即 T%= I/I0×100%, I是透过强度,Io为入射强度。
峰数 峰数与分子自由度有关。无瞬间偶基距变化 时,无红外吸收
峰强 瞬间偶极矩大,吸收峰强;键两端原子电负 性相差越大(极性越大),吸收峰越强
由基态跃迁到第一激发态,产生一个强的吸收峰, 基频峰
由基态直接跃迁到第二激发态,产生一个弱的吸收 峰,倍1频1 峰
有机化合物基团的特征吸收
化合物红外光谱是各种基团红外吸收的叠加
各种基团在红外光谱的特定区域会出现对应的吸收 带,其位置大致固定
受化学结构和外部条件的影响,吸收带会发生位移, 但综合吸收峰位置、谱带强度、谱带形状及相关峰 的存在,可以从谱带信息中反映出各种基团的存在 与否
12
常见基团的红外吸收带
=C-H C-H CC C=C
O-H O-H(氢键)
C=O C-C,C-N,C-O
S-H P-H N-O N-N C-F C-X
材料分析测试技术材料X射线衍射和电子显微分析课件
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实际案例分析
材料A的X射线衍射和电子显微分析
通过结合应用,确定了材料A的晶体结构和微观结构特征,为其性能研究提供了 有力支持。
材料B的缺陷分析
利用X射线衍射和电子显微分析,成功检测到材料B中的晶体缺陷和微观结构变化 ,为优化制备工艺提供了指导。
材料X射线衍射和电
04
子显微分析的发展
趋势与未来展望
材料X射线衍射与电
03
子显微线衍射
01
局限性:对于非晶体或无定形材料,X射 线衍射效果不佳。
03
02
特点:能够确定晶体结构,提供宏观尺度上 的晶体信息。
04
电子显微分析
特点:高分辨率和高放大倍数,能够观察 材料的微观结构和表面形貌。
05
06
局限性:对于轻元素和某些化学态的识别 能力有限,且需要薄样品。
电子显微镜的工作原理
电子显微镜利用电子替代传统显微镜的光子,通过电子束 与样品的相互作用,将样品中的信息传递到荧光屏上,形 成图像。
分辨率和放大倍数
电子显微镜的分辨率和放大倍数主要取决于物镜的焦距和 中间镜的放大倍数,其分辨率通常比光学显微镜高,能够 观察更细微的结构。
电子显微镜的应用
生物医学研究
料X射线衍射和电子显微分析。
02
自动化和智能化
随着人工智能和机器学习技术的发展,未来的材料X射线衍射和电子显
微分析将更加自动化和智能化,能够自动识别、分类和处理数据。
03
多维度和多尺度分析
未来的材料X射线衍射和电子显微分析将能够实现多维度和多尺度分析
,从微观到宏观全面揭示材料的结构和性能。
技术发展面临的挑战与机遇
挑战
随着材料科学的发展,新型材料不断涌现,需要不断更新和完善材料X射线衍射和电子显微分析技术。同时,随 着环保意识的提高,如何降低这些技术对环境的负面影响也是一个重要的挑战。
矿物材料现代测试技术2X射线分析5课件.ppt

石墨(graphite): H63/mmc—对于的点群 6/mmm
矿物材料现代测试技术2X射线分析 (5)课件
24
第二章. 晶体结构概述
6 晶体结构描述 (2)
2) 晶体化学式(分子式):
理论化学式:最简化的化学式,如NaCl,MgAl2O4 实际化学式:按化学成分分析结果计算出的化学式
如 Mg0.99Al2.01O4
矿物材料现代测试技术2X射线分析 (5)课件
16
第二章. 晶体结构概述
4 面网间距 (distance of nets) (2)
2) 计算: 面网间距与晶胞参数之间有一定的对 应关系。如,很显然地,当 α=β==90度时,d010=b; d020=b/2; d030=b/3。下面根据晶系的不同分别列出其 面网间距的计算公式。
矿物材料现代测试技术2X射线分析 (5)课件
9
第二章. 晶体结构概述
2 空间格子 (5)
自然界的物质分晶体和非晶体两大类, 只要属于晶体,则必然可以归为14种 Bravais空间格子中的一种。
关于准晶体(semi-crystal):介于 晶体和非晶体之间,具有短程有序而无长 程有序。
超导材料(super-conductor)即具有准 晶体结构。
面心格子(Face-Centered) (F)
每一个晶系都应该有四种类型的空间格子,但由于有 的格子类型不符合所在晶系的对称要求,有的格子类型可 以转化成另一种类型,因此总共只有14种空间格子,称之 为14种布拉维空间格子(Bravais Lattices)。
矿物材料现代测试技术2X射线分析 (5)课件
5
第二章. 晶体结构概述
2 空间格子 (2)
矿物材料现代测试技术2X射线分析 (5)课件
《材料分析测试技术》课件

在生物学领域,材料分析测试技术用于研 究生物大分子的结构和功能,以及生物材 料的性能和生物相容性。
医学领域
环境科学领域
在医学领域,材料分析测试技术用于药物 研发、医疗器械性能评价以及人体组织与 器官的生理和病理研究。
在环境科学领域,材料分析测试技术用于 环境污染物检测、生态系统中物质循环的 研究以及环保材料的性能评估。
反射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的反射率,分 析材料的表面特性、光学常数和光学性能 。
发光光谱测试技术
研究材料在受到激发后发射出的光的性质 ,包括荧光、磷光和热辐射等,以了解材 料的发光性能和光谱特性。
透射光谱测试技术
通过测量材料对不同波长光的透射率,分 析材料的透光性能、光谱特性和光学常数 。
磁粉检测技术
总结词
通过磁粉与材料相互作用,检测其表面和近表面缺陷。
详细描述
磁粉检测技术利用磁粉与被检测材料的相互作用,通过观察磁粉的分布和排列,检测材 料表面和近表面的裂纹、折叠等缺陷。该技术广泛应用于钢铁、有色金属等材料的检测
。
涡流检测技术
总结词
通过电磁感应在材料中产生涡流,检测其表 面和近表面缺陷。
《材料分析测试技术》ppt课件
目录
• 材料分析测试技术概述 • 材料物理性能测试技术 • 材料化学性能测试技术 • 材料力学性能测试技术 • 材料无损检测技术 • 材料分析测试技术的应用与展望
01
材料分析测试技术概述
Chapter
定义与目的
定义
材料分析测试技术是指通过一系列实验手段对材料 进行物理、化学、机械等性能检测,以获取材料组 成、结构、性能等方面的信息。
电学性能测试技术
电容率测试技术
现代材料分析测试技术-第02章-3倒易点阵爱瓦尔德作图法 (2)精选全文

13
爱瓦尔德球反映的性质
• 三个矢量的相对关系 • g代表与正空间相应的(hkl)衍射晶面的
特性:大小 方向 • 应用
14
72-Biblioteka 爱瓦尔德图解法• 倒易点阵的另一个应用 • 爱瓦尔德图解法是布拉格定律的几何表达形式
8
• 由于晶体中晶面方位,面间距不同,所以 当入射线沿一定方位入射时,可能同时存 在若干束衍射线
• 采用爱瓦尔德图解法,可求得衍射线的方 向
9
爱瓦尔德作图法
10
爱瓦尔德作图法
• 1.作倒易点阵,倒易原点为O* • 2.入射波的波矢量k=oo* • 则以o为中心,1/λ=半径作球
从性质可看出,如果正点阵与倒易点阵具有 同一坐标原点,则 • 正点阵中的每组平行晶面(hkl)在倒易点阵中只须 一个阵点就可以表示,此点处于hkl的公共法线 (倒易矢量方向上) • 倒易阵点用它所代表的晶面指数标定, • 正点阵中晶面取向和面间距只须倒易矢量一个参量 就能表示。 • 若已知某一正点阵,可求出相应的倒易点阵。
• 无数倒易点组成点阵-倒易点阵 • 倒易点阵的倒易是正点阵。 • 倒易矢量及性质:
从倒易点阵原点向任一倒易阵点所 连接的矢量叫倒易矢量,表示为:
Hhkl = ha* + kb* + l c* 两个基本性质
6
两个基本性质 :
1) Hhkl垂直于正点阵中的hkl晶面 2) Hhkl长度等于hkl晶面的晶面间距dhkl的倒数
• a*·a = b*·b = c*·c =1
• a* b* c*的表达式为:V空间点阵单位晶胞
的体积
a b c ;b a c ;c a b
V
V
V
4
• 某一倒易基矢垂直于正点阵中和自己异名的二 基矢所成的平面
爱瓦尔德球反映的性质
• 三个矢量的相对关系 • g代表与正空间相应的(hkl)衍射晶面的
特性:大小 方向 • 应用
14
72-Biblioteka 爱瓦尔德图解法• 倒易点阵的另一个应用 • 爱瓦尔德图解法是布拉格定律的几何表达形式
8
• 由于晶体中晶面方位,面间距不同,所以 当入射线沿一定方位入射时,可能同时存 在若干束衍射线
• 采用爱瓦尔德图解法,可求得衍射线的方 向
9
爱瓦尔德作图法
10
爱瓦尔德作图法
• 1.作倒易点阵,倒易原点为O* • 2.入射波的波矢量k=oo* • 则以o为中心,1/λ=半径作球
从性质可看出,如果正点阵与倒易点阵具有 同一坐标原点,则 • 正点阵中的每组平行晶面(hkl)在倒易点阵中只须 一个阵点就可以表示,此点处于hkl的公共法线 (倒易矢量方向上) • 倒易阵点用它所代表的晶面指数标定, • 正点阵中晶面取向和面间距只须倒易矢量一个参量 就能表示。 • 若已知某一正点阵,可求出相应的倒易点阵。
• 无数倒易点组成点阵-倒易点阵 • 倒易点阵的倒易是正点阵。 • 倒易矢量及性质:
从倒易点阵原点向任一倒易阵点所 连接的矢量叫倒易矢量,表示为:
Hhkl = ha* + kb* + l c* 两个基本性质
6
两个基本性质 :
1) Hhkl垂直于正点阵中的hkl晶面 2) Hhkl长度等于hkl晶面的晶面间距dhkl的倒数
• a*·a = b*·b = c*·c =1
• a* b* c*的表达式为:V空间点阵单位晶胞
的体积
a b c ;b a c ;c a b
V
V
V
4
• 某一倒易基矢垂直于正点阵中和自己异名的二 基矢所成的平面
材料分析测试技术第 2 章

(HKL)-干涉指数 ujvjwj -第j个原子的坐标 结构因子反映了晶胞的散射能力
• F2hkl—结构因数,反映一个晶胞中各 原子散射波的合成强度,即晶胞的散 射能力;反映了晶胞中原子种类、原 子数目及原子位置对(hkl)晶面衍射方 向上衍射强度的影响
FHKL [ f j Cos2 (u j H v j K w j L)]2
• 晶带指数计算:若已知(h1k1l1) (h2k2l2) u=k1l2_k2l1 v= l1h2_l2h1 w= h1k2_h2k1 2.晶面间距的计算 立方晶系:
d a h2 k 2 l 2
3.晶面夹角的计算 立方晶系:
cos h1h2 k1k 2 l1l2 h1 k1 l1
(3)面心立方 [(000)] [(1/2 1/2 0)] [(1/2 0 1/2 )] [0 1/2 1/2 )] F2HKL=f2[1+Cos(H+K)+ Cos(K+L)+Cos(L+H)]2 结论:当干涉指数为同性数,存在衍射 线,
注:1)在不同干涉指数HKL的衍射方向上, 衍射强度发生不同变化 2)结构因子与点阵常数无关,强度 只取决于原子在晶胞中的 位置,所以 消光规律适用性广 4.消光(2)角因数 (3)多重性因数P 某种晶面的等同晶面数
六、 X射线衍射仪法 • 多晶体分析方法: 照相法:德拜-谢乐法、聚焦照相法、 针孔法 X射线衍射仪法 • X射线衍射仪组成:X射线发生器、测 角仪、辐射探测器、记录单元或自动 控制单元 1.X射线测角仪 (1)测角仪的构造(2)测角仪的衍射几 何(3)测角仪的光学布置
2.探测器 • 将X射线能量转换成电脉冲信号 • 组成:计数管及其附属电路 • 类型:正比计数器 盖革计数器 闪烁计数器 锂漂移硅半导体探测器
材料分析测试技术课件

*
PDF卡片的内容(3)
*
晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或分子的数目; Ref—参考资料。
光学性质: εα、nωβ、εγ—折射率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。
表面上看起来 dhkl 好象与有关, 实际上它是产生主要反射线的晶面间的距离. 由晶体的决定的, 与入射波长无关.
这套数据就好象人的指纹一样, 可以用来确定相应的结晶物相. 现在内容最丰富的多晶衍射数据是由JCPDS ( Joint Committee on Powder Diffraction Standards)编的PDF卡, 即粉末衍射卡.
矿物检索手册等品种。
Fink无机索引;
有机相检索手册;
Hanawalt无机物检索手册;
无机相字母索引;
*
Hanawalt无机相数值索引
索引的编排方法是:每个相作为一个条目,在索引中占一横行。每个条目中的内容包括: 衍射花样中八条强线的面间距和相对强度,按相对强度递减顺序列在前面,随后,依次排列着,化学式,卡片编号,参比强度(I/Ic)。 索引示例 索引说明
*
New format – data rearranged in tabular sections with point and click interfaces
Still have “card” option
PDF Card – new format
*
PDF试样图
*
*
PDF卡片结构图
*
一、基本原理
*
任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构,在一定波长的X射线照射下,每种晶体物质都给出自己特有的衍射花样。每一种晶体物质和它的衍射花样都是一一对应的。多相试样的衍射花样是由它和所含物质的衍射花样机械叠加而成。
PDF卡片的内容(3)
*
晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或分子的数目; Ref—参考资料。
光学性质: εα、nωβ、εγ—折射率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。
表面上看起来 dhkl 好象与有关, 实际上它是产生主要反射线的晶面间的距离. 由晶体的决定的, 与入射波长无关.
这套数据就好象人的指纹一样, 可以用来确定相应的结晶物相. 现在内容最丰富的多晶衍射数据是由JCPDS ( Joint Committee on Powder Diffraction Standards)编的PDF卡, 即粉末衍射卡.
矿物检索手册等品种。
Fink无机索引;
有机相检索手册;
Hanawalt无机物检索手册;
无机相字母索引;
*
Hanawalt无机相数值索引
索引的编排方法是:每个相作为一个条目,在索引中占一横行。每个条目中的内容包括: 衍射花样中八条强线的面间距和相对强度,按相对强度递减顺序列在前面,随后,依次排列着,化学式,卡片编号,参比强度(I/Ic)。 索引示例 索引说明
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New format – data rearranged in tabular sections with point and click interfaces
Still have “card” option
PDF Card – new format
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PDF试样图
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PDF卡片结构图
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一、基本原理
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任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构,在一定波长的X射线照射下,每种晶体物质都给出自己特有的衍射花样。每一种晶体物质和它的衍射花样都是一一对应的。多相试样的衍射花样是由它和所含物质的衍射花样机械叠加而成。
材料分析测试技术PPT课件

■分光晶体:是专门用来对X射线起分光 作用的晶体,它具有高的衍射效率、强 的反射能力和好的分辨率。每种晶体只 能色散一段范围波长的X射线,只适用于 一定原子序数的元素分析。常见的分光 晶体及其应用范围见P160表2-7。
■X射线探测器:WDS中使用的探测器和 XRD中使用的一样。
5
WWDDSS和EDSS的的比比较较
能谱仪(EDS)
• 目前最常用的能谱仪是Si(Li)X射线能谱仪。 其关键部件是Si(Li)检测器即锂漂移硅固态 检测器(结构示意图见P162图2-94)。
• Si(Li)探测器要始终处在真空中,探头装在 与存有液氮的杜瓦瓶相连的冷指内,日常 保养麻烦费用较高。
1
Si(Li)能谱仪的优点
▲分析速度快,几分钟内即可分析和确定样 品中含有的所有元素。分析范围为11Na~ 92U的所有元素。
操作特性
WDS
分析元素范围 Z≥4
分辨率
高
分析精度
±1~5%
对表面要求 平整,光滑
分析速度
慢
谱失真
少
最小束斑直径 ~200nm
探测极限
0.01~0.1%
使用范围
精确的定量分
析
EDS
Z≥11 低
≤±5% 粗糙表面也适用
快
多
~5nm
0.1~0.5%
适合于与SEM配合
使用
6
EPMA分析方法
EPMA有四种分析方法
11
2.8 扫描隧道显微镜(简介)
• 扫描隧道显微镜简称STM,是新型的表面分析仪 器,是1982年,由G.Binnig和H.Rhrer等人发明 的,该发明于1986年获诺贝尔奖。
• STM的原理:STM以原子尺度的极细探针及样品 作为电极,当针尖与样品非常接近时(约1nm), 就产生隧道电流。通过记录扫描过程中,针尖位 移的变化,可得到样品表面三维显微形貌图。
■X射线探测器:WDS中使用的探测器和 XRD中使用的一样。
5
WWDDSS和EDSS的的比比较较
能谱仪(EDS)
• 目前最常用的能谱仪是Si(Li)X射线能谱仪。 其关键部件是Si(Li)检测器即锂漂移硅固态 检测器(结构示意图见P162图2-94)。
• Si(Li)探测器要始终处在真空中,探头装在 与存有液氮的杜瓦瓶相连的冷指内,日常 保养麻烦费用较高。
1
Si(Li)能谱仪的优点
▲分析速度快,几分钟内即可分析和确定样 品中含有的所有元素。分析范围为11Na~ 92U的所有元素。
操作特性
WDS
分析元素范围 Z≥4
分辨率
高
分析精度
±1~5%
对表面要求 平整,光滑
分析速度
慢
谱失真
少
最小束斑直径 ~200nm
探测极限
0.01~0.1%
使用范围
精确的定量分
析
EDS
Z≥11 低
≤±5% 粗糙表面也适用
快
多
~5nm
0.1~0.5%
适合于与SEM配合
使用
6
EPMA分析方法
EPMA有四种分析方法
11
2.8 扫描隧道显微镜(简介)
• 扫描隧道显微镜简称STM,是新型的表面分析仪 器,是1982年,由G.Binnig和H.Rhrer等人发明 的,该发明于1986年获诺贝尔奖。
• STM的原理:STM以原子尺度的极细探针及样品 作为电极,当针尖与样品非常接近时(约1nm), 就产生隧道电流。通过记录扫描过程中,针尖位 移的变化,可得到样品表面三维显微形貌图。
材料现代分析方法课件- 概论
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● 分 辨 率:0.34nm ● 加速电压:75KV-200KV ● 放大倍数:25万倍 ● 能 谱 仪:EDAX-9100 ● 扫描附件:S7010
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
CM200-FEG场发射枪电镜
加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度
a axis (inclination)
Operation range:15~120°
b axis (intraplanar rotation)
Operation range:360°
Z axis (front and back) Operation range:10mm
Z axis
薄膜测试-Thin film measurement 极图测试-Pole figure measurement 残余应力-Residual Stress measurement
镍基合金中第二相(GdNi5)粒子在基体中的分布
母相
透射电镜-位向分析
母相 新相
图像分析的分辨率
(3)表面分析方法及分辨尺度
本课程主要内容
材料X射线衍射分析技术 材料微观结构的电子显微学分析 谱分析技术
1) X射线衍射分析技术
X射线物理学基础 X射线衍射方向 X射线衍射强度 多晶体分析方法 物相分析及点阵参数精确测定 宏观残余应力的测定 多晶体织构的测定
材料分析方法
Analysis Method of Materials
公认的材料科学与工程四大要素
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
CM200-FEG场发射枪电镜
加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度
a axis (inclination)
Operation range:15~120°
b axis (intraplanar rotation)
Operation range:360°
Z axis (front and back) Operation range:10mm
Z axis
薄膜测试-Thin film measurement 极图测试-Pole figure measurement 残余应力-Residual Stress measurement
镍基合金中第二相(GdNi5)粒子在基体中的分布
母相
透射电镜-位向分析
母相 新相
图像分析的分辨率
(3)表面分析方法及分辨尺度
本课程主要内容
材料X射线衍射分析技术 材料微观结构的电子显微学分析 谱分析技术
1) X射线衍射分析技术
X射线物理学基础 X射线衍射方向 X射线衍射强度 多晶体分析方法 物相分析及点阵参数精确测定 宏观残余应力的测定 多晶体织构的测定
材料分析方法
Analysis Method of Materials
公认的材料科学与工程四大要素
建筑装饰装修工程材料检测课件pptx

3
材料分类及特点
按使用部位分类
外墙装饰材料、内墙装 饰材料、地面装饰材料 、顶棚装饰材料等。
按材质分类
天然石材、陶瓷制品、 玻璃制品、金属制品、 塑料制品等。
按功能分类
防火材料、防水材料、 隔音材料、保温材料等 。
特点
多样性、艺术性、环保 性、安全性等。
2024/1/26
4
材料性能要求
物理性能
密度、硬度、韧性、耐磨性、耐冲击性等。
27
根据测试结果,判断玻 璃的透明度和厚度是否
符合工程要求。
06 总结与展望
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28
课程总结回顾
01
装饰装修工程材料的基本性质与分类
02
常用装饰装修工程材料的性能特点与选用
03
装饰装修工程材料的检测方法与标准
04
案例分析与实践操作技巧
2024/1/26
29
行业发展趋势预测
01
02
《建筑玻璃应用技术规程》
பைடு நூலகம்
《金属与石材幕墙工程技术规范》
以上内容仅供参考,具体课件内容应根据实际教学需求和目标进行设计和编排。同时,为了 确保课件的专业性和准确性,建议参考相关教材、行业标准以及专业网站上的资料。
2024/1/26
7
常用建筑装饰装修工程材料介
02
绍
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8
水泥与混凝土
水泥的种类与特性
渗透检测
使用渗透剂渗入材料表面 缺陷,再通过显像剂显示 缺陷形状和位置。
17
实验室检测设备介绍
A
万能试验机
用于测试材料的拉伸、压缩、弯曲等力学性能 。
硬度计
材料分析测试方法课件

详细描述
紫外光谱法利用紫外线照射样品,测量样品对不同波长紫外光的吸收或反射,从而获得样品的紫外光谱。紫外光 谱图中,不同波长的峰代表着不同的化学键或官能团,通过比对标准谱图可以确定样品的化学组成和结构。此外 ,紫外光谱法还可以用于研究材料的电子云分布和能级结构。
核磁共振
总结词
核磁共振是一种常用的材料分析方法, 可以提供分子结构和化学键信息,以及 材料的磁学性质。
THANKS
03
布氏硬度
通过测量压痕直径来确定硬度 ,主要适用于硬质材料,如钢
和硬铝合金。
韧性测试
要点一
冲击测试
通过在材料上施加冲击力来测量其韧性,通常使用摆锤冲 击仪进行测试。
要点二
弯曲测试
通过在材料上施加弯曲力来测量其韧性,通常使用三点或 四点弯曲测试仪进行测试。
拉伸测试
弹性模量测试
通过测量材料在拉伸过程中的弹性变形来计算弹性模量 ,通常使用拉伸试验机进行测试。
应用
常用于材料科学、化学、生物学等领域 ,用于研究材料的晶体结构和化学键结 构等。
优点
可以快速、准确地测定晶体结构,且对 样品的损害较小。
缺点
对于非晶体或复杂的多晶材料,分析结 果可能存在误差。
中子衍射分析
原理
中子衍射分析是一种通过测量中子 在晶体中衍射角度的方法,推断晶
体结构的技术。
应用
常用于研究材料内部的结构和化学 键等信息,尤其适用于研究原子序
数较小的元素。
优点
对于某些元素,如氢、硼等,中子 衍射比X射线衍射更具优势。
缺点
需要使用中子源,实验成本较高, 且对样品的损害程度尚不明确。
红外光谱法
01
原理
红外光谱法是一种通过测量样 品对红外光的吸收光谱的方法 ,推断样品分子结构的的技术
紫外光谱法利用紫外线照射样品,测量样品对不同波长紫外光的吸收或反射,从而获得样品的紫外光谱。紫外光 谱图中,不同波长的峰代表着不同的化学键或官能团,通过比对标准谱图可以确定样品的化学组成和结构。此外 ,紫外光谱法还可以用于研究材料的电子云分布和能级结构。
核磁共振
总结词
核磁共振是一种常用的材料分析方法, 可以提供分子结构和化学键信息,以及 材料的磁学性质。
THANKS
03
布氏硬度
通过测量压痕直径来确定硬度 ,主要适用于硬质材料,如钢
和硬铝合金。
韧性测试
要点一
冲击测试
通过在材料上施加冲击力来测量其韧性,通常使用摆锤冲 击仪进行测试。
要点二
弯曲测试
通过在材料上施加弯曲力来测量其韧性,通常使用三点或 四点弯曲测试仪进行测试。
拉伸测试
弹性模量测试
通过测量材料在拉伸过程中的弹性变形来计算弹性模量 ,通常使用拉伸试验机进行测试。
应用
常用于材料科学、化学、生物学等领域 ,用于研究材料的晶体结构和化学键结 构等。
优点
可以快速、准确地测定晶体结构,且对 样品的损害较小。
缺点
对于非晶体或复杂的多晶材料,分析结 果可能存在误差。
中子衍射分析
原理
中子衍射分析是一种通过测量中子 在晶体中衍射角度的方法,推断晶
体结构的技术。
应用
常用于研究材料内部的结构和化学 键等信息,尤其适用于研究原子序
数较小的元素。
优点
对于某些元素,如氢、硼等,中子 衍射比X射线衍射更具优势。
缺点
需要使用中子源,实验成本较高, 且对样品的损害程度尚不明确。
红外光谱法
01
原理
红外光谱法是一种通过测量样 品对红外光的吸收光谱的方法 ,推断样品分子结构的的技术
《材料分析》课件

绿色环保
发展可再生、可循环利用的材料,降 低材料生产和使用过程中的环境污染 ,实现可持续发展。
复合化
通过材料的复合化,实现各材料之间 的优势互补,提高材料的综合性能和 应用范围。
THANKS
感谢观看
析有助于提高飞行器和航天器的性能和安全性。
02
CATALOGUE
材料分析方法化学分析法总结词通过化学反应对材料进行定性和定量分析的方法。
详细描述
化学分析法是利用化学反应来测定材料中组分的含量。它通常包括滴定分析、重 量分析和气体分析等方法。这些方法可以确定材料中各种元素的含量,以及化合 物或离子的存在与否。
《材料分析》 ppt课件
contents
目录
• 材料分析概述 • 材料分析方法 • 材料性能分析 • 材料结构分析 • 材料成分分析 • 材料应用与发展趋势
01
CATALOGUE
材料分析概述
材料分析的定义
总结词
材料分析是对材料进行测试、表征和鉴别的过程,旨在了解材料的性质、结构 和性能。
详细描述
X射线衍射分析
电子衍射分析
利用电子在晶体中的衍射现象,进行 晶体结构分析和测定。
利用X射线在晶体中的衍射现象,分 析晶体的晶格常数、晶面间距等晶体 结构参数。
分子结构分析
01
02
03
分子几何构型
根据分子中原子之间的连 接方式和空间排列,确定 分子的几何构型,如直线 型、平面型、立体型等。
分子光谱分析
利用分子吸收光谱和发射 光谱的特性,分析分子内 部的结构和运动状态。
分子力学计算
利用量子力学和分子力学 计算方法,模拟分子的结 构和性质,预测分子的物 理和化学性质。
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2020/9/18
7
垂直于试样表面的应变3
在二维应力下,主应力1、 2与试样表面平行,表层主 应力3=0,但在1和 2 的 作用下,垂直于试样表面的
应变3并不为零,当材料各
向性时:
3 (12) E(12)
间3可距由d值平的行变于化表测面定的,某即晶:面3dnd0d0E(12)
2020/9/18
8
平行于表面某方向上的应力(1)
d d0 d0
注意: 的方向如图6-3,它 位于OA方向上,并与试样表
面法线Ns、 共面, 角的任 意是指在该平面内与试样表面
法线Ns夹角的变化
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10
平行于表面某方向上的应力(3)
3、对于各向同性的弹性体,根据弹性力学原
理:
3E(1)si2n
将 、 3代入上式:
dd0dnd0(1)si2 n
射面(hkl)和入射线波长一定时K1为常 数,可以看出上式实际为一直线方程,直
线斜率就是 M
(2 ) (sin2)
当M>0时, 应力;
K1
<0,则
<0,材料表面为压
当M<0时, K1 <0,则 > 0,材料表面为拉 应力。
sin2法一般测4个或以上的角下的2
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14
关于应力常数K1
K1属于晶体学特性参数,它是sin2法的应力 常数; K1 2(1E)cot0180,其中/180是为将2角转换为 弧度而加进的,第一项与晶体材料及其特性有 关,E是材料的弹性系数(模量),是材料的 泊松比。该项可通过计算或实验得到:
d0
d0 E
用dn代替d0:
d dn (1 )sin2
dn
E
E
(1 )sin2
(d dn ) dn
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11
sin2法基本原理
根据前述两个公式可得到下面的第三个公式:
3 (12) E(12)
3E(1)si2n
(1 E )si2 n E (1 2)
对第三式求偏导:
sin 2
衍射仪法是通用的方法,主要掌握其测 量步骤、几何原理和实施方法。
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16
衍射仪法测量步骤
1、测定=0时的20 2、测定为任意角时的2,一般选取 =15, 30 ,45 进行测量,当然也可 以选测其它角度或更多的角度;
3、用2 ~ sin2作图,求出直线斜率M; 4、求应力常数K1; 5、计算= K1M
当材料各向同性,应力测量精度要求不高时,可采 用工程数据计算;
当要精确测量应力时,可通过实验确定或查表得到。
20是与所选反射晶面(hkl)和辐射波长有关 的
2020/9/18
15
6-4 试验方法
原则上可采用照相法和衍射仪法来测定 宏观应力,但照相法效率低、误差大, 现在一般不使用,多用衍射法。
衍射法通常包括衍射仪法和应力仪法, 其中应力仪可对工件进行现场检测。
z
dn d0 d0
因此 y Ey Ednd0d0
2020/9/18
6
6-3 平面应力测定原理
由于X射线的穿透能力有限,只能测到10~ 30m的深度,此时垂直于表面的应力分量 近似为零,即测得的是接近二维平面应力。
根据弹性力学原理,在一个受力物体内, 在任一点上总可以找到三个互相垂直的方 向,使得与三个方向垂直的各平面上切应 力为零,仅存在三个相互垂直的主应力1、 2 、3。
2020/9/18
17
衍射仪法测量几何
2020/9/18
18
采用衍射仪测量应力的实施方法
前面推导出的公式得到的是正应力之和,但工程中 通常需某个方向上的应力,如与1夹角为的OB方 向(图6-3)的应力,其测定步骤为: 1、测定应变3。由平行于表面的(hkl)晶面的面 间距变化求出:
3
dn d0 d0
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9
平行于表面某方向上的应力(2)
2、测定与表面呈任意的角方向上的 (hkl)晶面的应变。它由法线与试样 表面法线成角的那些(hkl)晶面的间 距变化求出,如图6-4(b):
1
E
E 1
sin 2
2020/9/18
12
对布拉格方程进行微分:
2sind2dcos
dcotcot2
d
2
即: ddc2 ot2
因为 0 ,所以:
c2o0t(220)
1 E(si2n)2(1 E)co0t180((s2i2 n))
2020/9/18
13
将上式简写为:
K1M
式中 ,当晶体材料已知、反 K12(1E)cot0180
它是有效的无损检测方法;
它所测定的仅仅是弹性应变,而不含有范性应变 (范性变形不会引起衍射线位移);
X射线照射面积可以小到1~2mm直径,因此它可测 定小区域的局部应力;
只能得到表面应力,且精度受组织因素影响很大。
2020/9/18
4
6-2 单轴应力测定原理
在拉应力y的作用下,正好与 拉伸方向垂直的试样中某晶粒
的(hkl)晶面,其晶面间距将
由d0扩张为d‘n,则其应变为:
y
d d0
dn' d0 d0
根据弹性力学原理,其应力:
y
Ey
Ed d0
2020/9/18
5
直接测定y是很困难的,但对于均质材料:
x z y
为泊松比。对于多晶体试样,总可以找
到若干个晶粒的(hkl)晶面与试样表面平
行,这些晶面的晶面间距变化是可测的:
第一类内应力又称宏观应力,在工程上 常把宏观应力称为残余应力。
2020/9/18
2
类型 名称 平衡范围
第一 宏观 类内 内应 应力 力
在物体内部相当 大(众多晶粒) 范围内
第二 类内 应力
第三 类内 应力
微观 内应 力
超微 观内 应力
晶粒、亚晶粒内 部
位错线附近、析 出相周围、晶界 附近、复合材料 界面等若干个原 子尺度范围内
衍射效应 产生原因
使谱线位移 热处理、表面处 理、机加工等
晶格的弹性弯曲、
扭转或均匀压缩、
使谱线宽化 拉伸
或衍射强度 不同种类的原子
降低
移动、扩散和原
子重新排列使晶
格产生畸变
2020/9体中残余 应力会使晶面的衍射线产生位移。
宏观残余应力测定方法还有:电阻应变片法、 机械引伸仪法、超声波法等。X射线法与这些 方法相比,具有如下特点:
第六章 宏观应力测定
•引言 •单轴应力测定原理 •平面应力测定原理 •试验方法 •试验精度的保证及测试原理
的适用条件
2020/9/18
1
6-1 引言
内应力是指产生应力的各种外部因素撤 除之后材料内部依然存在、并自身保持 平衡的应力。通常分为三类(如下表):
第一类内应力; 第二类内应力; 第三类内应力。