X射线衍射实验
x射线的衍射实验报告
x射线的衍射实验报告X射线的衍射实验报告引言：X射线的衍射是一项重要的实验，它可以帮助我们了解物质的结构和性质。
本实验旨在通过X射线的衍射实验，探究X射线在晶体中的衍射现象，进一步了解晶体的结构和性质。
实验目的：1. 了解X射线的衍射现象；2. 掌握X射线衍射实验的操作方法；3. 理解晶体的结构和性质。
实验器材：1. X射线衍射仪；2. X射线源；3. 晶体样品；4. 探测器。
实验步骤：1. 将晶体样品固定在X射线衍射仪上；2. 调整X射线源的位置和角度，使其射线垂直照射到晶体样品上；3. 打开探测器，记录X射线的衍射图样；4. 根据衍射图样，计算晶格常数和晶体结构。
实验结果与分析：通过实验观察到的衍射图样，我们可以发现在不同角度下，晶体样品会出现不同的衍射斑点。
这些斑点的位置和强度可以帮助我们确定晶体的结构和晶格常数。
进一步分析衍射图样，我们可以发现晶体的衍射斑点呈现出一定的规律性。
根据布拉格方程，我们可以计算出晶格常数。
同时，通过比对已知晶体结构的数据库，我们可以推断出晶体的结构类型。
实验的重点在于观察和记录衍射图样。
通过仔细观察衍射斑点的位置和强度，我们可以推断出晶体的晶格常数和结构类型。
这对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
实验的局限性：1. 实验中使用的晶体样品可能存在杂质，这可能会对衍射图样产生影响；2. 实验中的X射线源可能存在能量分布不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的畸变；3. 实验中的探测器可能存在灵敏度不均匀的问题，这可能会导致衍射图样的误差。
实验的应用：X射线的衍射实验在材料科学、地质学、生物学等领域具有广泛的应用。
通过衍射实验，我们可以研究晶体的结构和性质，进一步了解物质的特性。
这对于材料的设计和开发具有重要意义。
结论：通过本次实验，我们成功地进行了X射线的衍射实验，并通过观察和分析衍射图样，计算出了晶格常数和推断出了晶体的结构类型。
这些结果对于研究物质的结构和性质具有重要意义。
X射线衍射实验报告
实验报告：X 射线衍射一、实验原理X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法,在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
X 射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质(晶体或非晶体) 进行衍射分析时,该物质被X 射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X 射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X 射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
X 射线与物质的相互作用X 射线与物质的相互作用分为两个方面，一是被原子吸收，产生光电效应；二是被电子散射。
X 射线衍射中利用的就是被电子散射的X 射线。
X 射线散射：当光子和原子上束缚较紧的电子相互作用时，光子的行进方向受到影响而发生改变，但它的能量并不损失，故散射线的波长和原来的一样，这种散射波之间可以相互干涉，引起衍射效应，这是相干散射，是取得衍射数据的基础。
X 射线的相干散射是XRD 技术应用的基础，接下来研究一下X 射线衍射的条件，找到其与物质本身结构之间的关系。
X 射线衍射一束平行的X 光照到两个散射中心O 、M 上，见下图O 与M 之间的距离远小于它们到观测点的距离，从而可以认为，观测到的是两束平行散射线的干涉。
下面考查散射角为2θ时散射线的干涉情况。
0ˆs 和ˆs分别表示入射线和散射线方向上的单位矢量。
两条散射线之间的光程差为mo on δ=+即00ˆˆˆˆ()sr s r s s r δ=-⋅+⋅=-⋅ 其中r 为两个散射中心之间的位置矢量，与δ相应的相位差φ应为 0ˆˆ22ss r πφδπλλ-=⋅=⋅散射线之间的相位差φ是决定散射线干涉结果的关键量。
因此有必要再进一步讨论。
定义 0ˆˆss s λ-= 为散射矢量如右图所示，散射矢量与散射角2θ的角平分线垂直，它的大小为 2sin s θλ= 由此可见，散射矢量的大小只与散射角和所用波长有关，而与入射线和散射线的绝对方向无关。
x射线衍射 实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言X射线衍射是一种重要的实验方法，通过研究物质中的晶体结构和晶格常数，可以深入了解物质的性质和结构。
本实验旨在通过X射线衍射实验，观察和分析晶体的衍射图样，进一步探究晶体的结构特征。
实验装置与方法实验中使用的装置主要包括X射线发生器、样品台、衍射仪和探测器等。
首先，将待测样品放置在样品台上，调整样品与X射线束的角度和位置，使其处于最佳的衍射条件。
然后，通过探测器采集衍射信号，并将信号转化为衍射图样。
最后，通过对衍射图样的分析，得出样品的晶体结构和晶格常数。
实验结果与分析在实验中，我们选取了一块晶体样品进行测量，并得到了相应的衍射图样。
通过对衍射图样的观察和分析，我们发现了几个明显的衍射峰，这些峰对应着不同的衍射角度。
根据布拉格定律，我们可以利用这些衍射峰的位置和间距来计算晶体的晶格常数。
通过对衍射图样的进一步分析，我们发现了一些有趣的现象。
首先，衍射峰的强度并不相同，有些峰非常强烈，而其他峰则较弱。
这表明晶体中存在着不同方向的晶面，而这些晶面的衍射强度不同。
其次，我们还观察到一些衍射峰的位置并不完全符合理论计算的结果。
这可能是由于实验中的误差或者晶体中的微观缺陷所导致的。
进一步地，我们对衍射图样中的衍射峰进行了定量分析。
通过测量衍射峰的位置和计算晶格常数，我们得到了晶体的结构参数。
同时，我们还计算了晶体的晶格畸变和晶体的晶格缺陷等参数。
这些参数的研究对于了解晶体的性质和结构非常重要。
结论通过X射线衍射实验，我们成功地观察和分析了晶体的衍射图样，并计算了晶体的晶格常数和其他结构参数。
实验结果表明，X射线衍射是一种有效的研究晶体结构的方法，可以提供关于晶体性质和结构的重要信息。
同时，我们也发现了实验中的一些问题和挑战，这些问题需要进一步的研究和改进。
总之，X射线衍射实验是一项重要的实验方法，可以用于研究晶体的结构和性质。
通过实验，我们可以观察和分析晶体的衍射图样，计算晶体的晶格常数和其他结构参数。
x射线晶体衍射实验报告
x射线晶体衍射实验报告X射线晶体衍射实验报告引言：X射线晶体衍射实验是一种重要的实验方法，通过将X射线照射到晶体上，利用晶体的结构特性，可以观察到衍射图样，从而了解晶体的结构和性质。
本文将介绍X射线晶体衍射实验的原理、实验装置和实验结果，并分析实验中的一些问题和改进方法。
一、实验原理X射线晶体衍射是基于布拉格方程的原理。
当X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行散射，形成衍射波。
根据布拉格方程，衍射波的相位差与入射波的入射角、晶格常数和衍射角有关。
通过测量衍射角和入射角的关系，可以计算出晶格常数和晶体结构的一些信息。
二、实验装置实验中使用的装置主要包括X射线发生器、单晶样品、衍射仪和探测器。
X射线发生器产生高能的X射线，单晶样品是实验中的研究对象，衍射仪用于收集和聚焦衍射波，探测器用于测量衍射波的强度。
三、实验步骤1. 准备工作：调整X射线发生器的参数，使其产生适合实验的X射线能量。
选择合适的单晶样品，并将其固定在衍射仪上。
2. 调整衍射仪：通过调整衍射仪的入射角和出射角，使得衍射波能够被探测器收集到。
3. 开始实验：打开X射线发生器，照射X射线到单晶样品上。
同时，探测器开始测量衍射波的强度。
4. 数据处理：根据探测器测得的衍射波强度，计算出衍射角，并绘制衍射图样。
5. 结果分析：根据衍射图样，计算出晶格常数和晶体结构的一些信息，并与已知数据进行对比。
四、实验结果在实验中，我们选择了某晶体样品进行研究。
通过测量和计算，得到了该晶体的衍射图样和晶格常数。
通过与已知数据对比，我们确认了该晶体的结构和性质。
五、问题与改进在实验过程中，我们遇到了一些问题，并提出了一些改进方法。
首先，由于X射线的能量和强度有限，可能会导致衍射图样的强度较弱，影响数据的准确性。
为了解决这个问题，可以尝试增加X射线的能量和强度，或者使用更灵敏的探测器。
其次，实验中的样品制备和固定也需要一定的技巧和经验，可以通过改进样品制备方法和优化固定装置来提高实验效果。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的：本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析，以了解晶体的结构和性质，并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验仪器与设备：1. X射线衍射仪，用于产生X射线，并测量样品对X射线的衍射情况。
2. 样品，需要进行分析的晶体样品。
3. 数据处理软件，用于处理和分析实验得到的数据。
实验步骤：1. 样品制备，取得晶体样品，进行必要的处理和制备。
2. 实验仪器准备，打开X射线衍射仪，调试仪器参数，确保仪器正常工作。
3. 进行X射线衍射，将样品放置在X射线衍射仪中，进行X射线衍射实验。
4. 数据处理与分析，使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析，得出样品的晶体结构信息。
实验结果与分析：通过本次实验，我们成功得到了样品的X射线衍射图谱，并进行了数据处理和分析。
根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度，我们确定了样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构等。
通过对实验数据的分析，我们得出了样品的晶体结构参数，并对样品的性质进行了初步了解。
实验结论：本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析，得出了样品的晶体结构信息，并初步了解了样品的性质。
实验结果表明，X射线衍射技术是一种有效的手段，可用于分析晶体结构和性质。
通过本次实验，我们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验总结：本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义，通过实际操作，我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。
同时，本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础，为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。
希望通过今后的努力，能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用，为科学研究做出更大的贡献。
通过本次实验，我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法，还对晶体结构分析有了更深入的了解。
我们相信，通过不断的学习和实践，我们一定能够运用所学知识，取得更加丰硕的科研成果。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告实验目的：1.理解X射线的基本原理和衍射现象；2.学习使用X射线衍射技术进行晶体结构分析；3.掌握X射线衍射仪器的操作和数据处理方法。
实验原理：X射线衍射是利用物质对X射线的散射现象来研究物质的结构的一种方法。
当X射线照射到晶体上时，晶格中的原子会对X射线进行干涉和散射，形成一系列的衍射斑。
通过测量和分析这些衍射斑的位置和强度，可以确定晶体的晶格结构和晶胞参数。
实验步骤：1.将待测试的晶体样品固定在X射线衍射仪器的样品台上；2.调节X射线束的能量、强度和角度，使其照射到样品上；3.调整检测仪器的位置和参数，记录衍射斑的出现位置和强度；4.根据衍射斑的位置和强度，利用衍射理论计算晶体的晶格结构和晶胞参数；5.对实验数据进行处理和分析，得出相应的结论。
实验结果：根据实验测量到的衍射斑的位置和强度，通过衍射理论计算得到了待测晶体的晶胞参数和晶格结构。
比较实验结果与已知数据，验证了实验的准确性和可靠性。
实验讨论：2.实验方法的改进和优化；3.实验结果的意义和应用。
实验结论：通过X射线衍射实验，我们成功地测量和分析了待测晶体的晶格结构和晶胞参数，验证了X射线衍射技术在晶体结构分析中的可行性和应用价值。
同时，我们也进一步了解了X射线的基本原理和衍射现象，对X射线衍射仪器的操作和数据处理方法有了更深入的认识和理解。
总结：X射线衍射实验是一种重要的手段，用于研究物质的结构和性质。
通过实验，我们不仅学到了理论知识，还提高了实验操作和数据处理的能力。
这些都对我们今后的学习和工作具有重要意义。
需要进一步加强对实验原理和技术的理解，不断优化和改进实验方法，使实验结果更加准确、可靠和有意义。
X射线衍射实验方法ppt课件
❖位于试样不同部位MNO，处平行于 试样表面的(hkl)晶面可以把各自的反射 线会聚到F点
❖沿测角仪圆移动的计数器只能逐个地 对衍射线进行测量。
❖衍射仪应使试样与计数器转动的角速 度保持1:2的速度比
测角仪要求与 Ｘ射线管的线 焦斑联接使用 ，线焦斑的长 边与测角仪中 心轴平行。
根据样品中晶体含量大，衍射峰较强的特 点，比较峰值的大小，来判断结晶程度。 1.欣克利法
一般选取110和111晶面进行对比，根据（ A＋B）／At大小来判断结晶度
衍射分析当中，如果晶体在空间随机分 布，衍射强度的比值为理论值，如果晶体排 列有一定规律，则在测试中某一晶面的衍射 强度变大或变小，计算测试结果中各衍射峰 的强度与PDF卡片中该物质对应的衍射线相 度强度，得到折合的衍射线强度，如果折合 的强度相同，则无取向度，反之，有一定取 向。
觉衍射线的宽化
点阵常数的确定：
根据布拉格方程，测量衍射角度，根据X射线波 长，计算出各个晶面间的距离，从而确定晶体 的点阵常数。
材料密度的测定
根据X射线测试结果，计算出晶胞结构，结合晶 面间距与原子量，计算出材料的密度。
晶体在受到外部应力或者内部应力时晶面 间距会有相应变化。
晶体所受应力可以分为：宏观应力引起的 的晶体间应力，析晶、晶型转变等引起的晶体 间应力，位错等引起的晶体内应力。
马氏体的含碳量与马氏体的四方度c／a或者由精确测定的点阵
参数按上式直接计算出马氏体含碳量。通常，钢中含碳量低时仅
仅表现出衍射线的宽化，只有当含碳量高于0．6形时，原铁素体的衍射线才明显地分 裂为两条或三条线。
在淬火高碳钢中有时出现奥氏体相，它是碳在g—铁中的过饱
和固溶体。奥氏体的点阵参数a与含碳量。呈直线性关系：
XRD实验报告
一、实验名称X 射线衍射(XRD)实验二、实验目的1. 了解X 射线衍射的工作原理和仪器结构；2. 掌握X 射线衍射仪的操作步骤和注意事项；三、实验原理X 射线是一种波长很短(约20~0.06Å)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照像乳胶感光、气体电离。
在用电子束轰击金属“靶”产生的X 射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X 射线，称为特征 (或者标识) X 射线。
X 射线在晶体中产生的衍射现象，是由于晶体中各个原子中电子对X 射线产生相干散射和相互干涉叠加或者抵消而得到的结果。
晶体可被用作X 光的光栅，这些很大数目的粒子 (原子、离子或者份子) 所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X 射线的强度增强或者减弱。
由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X 射线的衍射线。
当一束单色X 射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则罗列成的晶胞组成，这些规则罗列的原子间距离与入射X 射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X 射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X 射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。
这就是X 射线衍射的基本原理。
晶体对X 射线衍射示意图衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：2d sin9 = n入其中d 是晶体的晶面间距，θ为X 射线的衍射角，λ为X 射线的波长，n 为衍射级数。
应用已知波长的X 射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X 射线结构分析；另一个是应用已知d 的晶体来测量θ角，从而计算出特征X 射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
四、实验仪器1. 仪器名称：D8 FOCUS 粉末衍射仪；2. 仪器厂家：德国Bruker 公司；3. 仪器照片：3. X 射线靶枪材质：铜(λ=0. 15406nm)五、实验步骤1. 开机：打开电脑→开启低压开关→开冷却水 (两个开关，先开侧面开关再开正面开关) →开启高压开关(左扳45°，顶灯亮后即将松开) →打开软件D8 tool →online states →点击online refresh ON/OFF。
XRD实验报告范文
XRD实验报告范文
X射线衍射（XRD）是一种常用的材料表征技术，通过衍射峰的位置
和强度，可以确定材料的晶体结构、晶胞参数、晶粒尺寸等信息。
本实验
使用X射线衍射技术对样品进行表征，得到了有关其结构特征的重要信息。
以下是X射线衍射实验的详细报告。
1.实验目的
通过X射线衍射技术对样品进行表征，了解其结构特征，包括晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等信息。
2.实验仪器和试剂
实验仪器：X射线衍射仪
试剂：待测样品
3.实验步骤
1）将待测样品制备成粉末状，并均匀散布在样品台上；
2）将样品台放入X射线衍射仪中，调整好仪器参数；
3）开始扫描样品，记录X射线衍射图谱；
4）分析图谱，确定样品的晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等信息。
4.实验结果与分析
通过X射线衍射实验，我们得到了样品的X射线衍射图谱，图中展示
了多个衍射峰的位置和强度。
通过分析图谱，我们确定了样品的晶体结构
为立方晶系，并计算得到了晶胞参数a=5 Å。
此外，通过衍射峰的宽度可以估计出样品的平均晶粒尺寸为100 nm。
5.结论
通过X射线衍射实验，我们成功地对样品进行了结构表征，获得了关于其晶体结构、晶胞参数和晶粒尺寸等重要信息。
这些结果对于进一步研究和应用样品具有重要的指导意义。
总结：X射线衍射技术是一种非常重要的材料表征手段，可以提供材料的结构信息，为材料的研究和开发提供重要支持。
本实验通过X射线衍射技术成功地对样品进行了结构表征，为后续的研究工作奠定了基础。
希望通过这次实验，同学们对X射线衍射技术有了更深入的了解，并能够运用它来解决实际问题。
X射线衍射实验
X 射线布拉格衍射实验一、 实验目的1) 观察用X 射线对NaCl 单晶的Bragg 衍射。
2) 确定X 射线αK 和βK 线的波长。
3) 验证Bragg 衍射定律 4) 明确X 射线的波长的性质。
二、 实验装置德国莱宝教具公司生产的X 射线装置是用微处理器控制的可进行多种实验的小型X 射线装置。
该装置的高压系统、X 光管和实验区域被完全密封起来, 正面装有两扇铅玻璃门,当它们其中任意一扇被打开时会自动切断高压, 具有较大的安全性。
其测量结果通过计算机实时采集和处理, 使用极其方便。
本实验所用装置为554 81X-RAY APPARATUS 。
在X 射线装置中, 左侧上方是控制面板, 其下方是连接面板。
中间是X 光管室, 装有Mo （钼）阳极的X 光管, 其高度可通过底部的调解螺杆进行调整。
右面是实验区域, 如图1所示, 其中左边装有准直器和锆滤片；中间是靶台, NaCl 和LiF 单晶就安装在靶台上；右边是测角器, 松开锁定杆可调整测角器的位 图1 实验区域图置, 端窗型G-M 计数管也安装在测角器上。
X 射线装置的左侧面是主电源开关, 右侧面有一圆形的荧光屏, 它是一种表面涂有荧光物质的铅玻璃平板, 用于在“透照法”实验中观察X 光线, 平时用盖板罩起来以避免损坏荧光物质。
其下方是空通道, 它构成实验区域内外沟通的渠道, 被设计成迷宫, 以不使X 射线外泄。
装置的底部有四个脚, 上方有两个提手柄。
如图2, 是控制面板的示意图。
其中b1是显示位置, 其顶部显示当前计数率, 底部显示所用键的设置参数。
在“耦合”模式下, 靶的角度位置显示在显示区域的底部而顶部则显示传感器的计数率与角度位置。
b2是调节旋钮, 所有的参数设置均通过它来调节。
b3是参数选择区域, 它们是：U （管电压）、I （管电流）、△t （测量时间）、△β（测角器转动的角 步幅）、β（测角器的转动范围, 即上限角和下限角）。
b4扫描模式区域, 共有SENSOR （传感器）、TARGET （靶）和COUPLED （耦合, 即传感器和靶以2：1的方式运动）三种模式, ZERO 按钮用于复位到系统的零位置。
X射线衍射分析法实验
X射线衍射分析法实验实验三X射线衍射（X-ray diffraction）分析法实验张万群刘⾔款⼀．实验⽬的1.熟悉PhilipsXpert X射线衍射仪的基本结构和⼯作原理2.基本学会样品测试过程3.掌握利⽤衍射图进⾏物相分析的⽅法⼆．射线衍射仪的基本结构（图附后）X射线衍射仪⼀般由X光源，测⾓仪，计数器，数据处理系统组成。
1.X光源X射线管（T）是热阴极灯丝（4）和阳极靶组成的⼤型真空管。
靶⽤Cr,Fe,Cu,Co,Ni等⾦属制成，灯丝变压器（5）供给⼀定的电流把灯丝加热到⽩热使它放射出电⼦。
⾼压变压器（1）在阴极和阳极之间，产⽣数万伏⾼压电场。
阴极发射出来的电⼦受到⾼压加速轰击阳极，这时1%的能量将转变为X射线，99%转变为热能，所以阳极必须⽤良好的循环⽔冷却，以防阳极融化，射线波长很短，⽤毫安表（7）测量电⼦流强度，以显⽰X射线强弱。
X射线有两种：⼀种是连续x射线，当⾼能电⼦与靶上原⼦碰撞时，⾼能电⼦突然受阻产⽣负加速度。
按照经典电磁辐射理论，作加速带电粒⼦辐射电磁波，从⽽产⽣连续X射线，另⼀种是特征X射线。
⾼能电⼦撞击出靶材料原⼦的内层⼀个电⼦，被逐出电⼦的空位很快被外层的⼀个电⼦填占。
⽽这个电⼦空位⼜被更外层来的电⼦占有，如此⼀系列步骤使该电离原⼦恢复正常状态。
每⼀步的电⼦跃迁产⽣特征X射线。
在结构分析中我们利⽤特征线作为X射线衍射的单⾊X射线。
现此仪器⽤的是飞利浦的三维空间⾼精度定位的陶瓷X射线管，寿命长。
图1.X射线发⽣器原理图2.测⾓仪测⾓仪是各种型号衍射仪的重要组成部分。
测⾓仪的制造原理主要根据⼀种经常变化的聚焦园原理设计成的。
其聚焦园半径r 是⼊射θ⾓的函数r=f(θ)=R/2sinθ式中R是测⾓仪半径。
根据聚焦原理，测⾓仪必须满⾜下列条件才能⼯作：射线管的焦点，样品的表⾯，接受狭缝必须在同⼀衍射聚焦园上，样品表⾯必须与测⾓仪主中⼼共⾯。
B样品表⾯应该是平的，主转动时必须始终和聚焦园相切。
x射线衍射实验
X—射线衍射法进行物相分析一. 实验题目X射线衍射物相定性分析二. 实验目的及要求学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理；掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；给定实验样品,设计实验方案,做出正确分析鉴定结果.三。
实验原理根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。
每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构.没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的.因此,当X射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I0来表征。
其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I0是其晶体结构的必然反映,因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。
四。
实验仪器图一X射线衍射仪本实验使用的仪器是Y—2000射线衍射仪( 丹东制造)。
X射线衍射仪主要由X射线发生器(X射线管)、测角仪、X射线探测器、计算机控制处理系统等组成。
衍射仪如图一所示.1.X射线管X射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。
广泛使用的是密闭式,由阴极灯丝、阳极、聚焦罩等组成，功率大部分在1~2千瓦。
可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍，一般为12～60千瓦。
常用的X射线靶材有W、Ag、Mo、Ni、Co、Fe、Cr、Cu等。
X射线管线焦点为1×10平方毫米，取出角为3~6度。
选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底，使图样清晰。
测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件，主要由索拉光阑、发散狭缝、接收狭缝、防散射狭缝、样品座及闪烁探测器等组成.(1)衍射仪一般利用线焦点作为X射线源S。
如果采用焦斑尺寸为1×10平方毫米的常规X射线管，出射角6°时，实际有效焦宽为0.1毫米，成为0.1×10平方毫米的线状X射线源。
x射线衍射 实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言：X射线衍射是一种重要的物理现象，它在材料科学、结构分析等领域有着广泛的应用。
本实验旨在通过观察和分析X射线在晶体中的衍射现象，探究晶体的结构特征和晶格常数的测定方法。
实验装置：本实验使用的装置主要包括X射线发生器、样品支架、X射线探测器等。
X射线发生器通过电子轰击产生X射线，并通过样品支架照射到待测样品上。
X射线探测器可以测量样品上的X射线衍射图样。
实验步骤：1. 将待测样品固定在样品支架上，并调整样品与X射线发生器之间的距离。
2. 开启X射线发生器，调节电压和电流，使其达到合适的工作状态。
3. 将X射线探测器对准样品，调整其位置和角度，以获得清晰的衍射图样。
4. 记录并分析衍射图样，测量衍射角度和衍射强度。
实验结果与分析：通过实验观察和数据记录，我们得到了一系列衍射图样。
根据布拉格方程，我们可以计算出晶格常数和晶体结构的相关信息。
在实验中，我们发现不同样品的衍射图样具有明显的差异，这是由于不同晶体的结构和晶格常数不同所致。
在分析衍射图样时，我们注意到衍射峰的位置和强度可以提供关于晶体结构的重要信息。
通过测量衍射角度，我们可以计算出晶格常数。
同时，衍射峰的强度还可以反映晶体中原子的排列方式和相对位置。
通过进一步的分析，我们可以推断出晶体的晶格类型和晶胞结构。
实验中还发现，不同晶体的衍射图样可能存在衍射峰的重叠现象。
这时我们可以通过调整实验条件，如改变X射线的波长或角度，以分离并测量不同衍射峰。
此外，我们还可以根据衍射峰的宽度来评估晶体的结晶度和缺陷情况。
结论：通过本次实验，我们深入了解了X射线衍射的原理和应用。
通过观察和分析衍射图样，我们可以获得晶体的结构特征和晶格常数等重要信息。
这对于材料科学、结构分析等领域的研究具有重要意义。
实验中还存在一些不足之处，如实验条件的控制和数据的准确性等。
在今后的研究中，我们可以进一步改进实验装置和方法，提高实验的精确性和可靠性。
x射线衍射分析实验报告
x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的，通过X射线衍射分析，了解晶体结构的性质和特点，掌握X射线衍射仪器的使用方法，提高实验操作能力。
实验仪器，X射线衍射仪、标本夹、标本台、X射线管、样品旋转台等。
实验原理，X射线衍射是一种通过晶体对入射X射线的衍射现象来研究晶体结构的方法。
当入射X射线照射到晶体上时，晶体中的原子会对X射线进行衍射，形成衍射图样。
通过分析衍射图样的特点，可以推断晶体的晶格结构和晶面间距。
实验步骤：1. 将待测样品放置在X射线衍射仪的标本夹上，固定好。
2. 调整X射线管的位置和角度，使得X射线能够正常照射到样品上。
3. 启动X射线衍射仪，进行衍射图样的采集。
4. 对采集到的衍射图样进行分析，推断样品的晶格结构和晶面间距。
实验结果分析：通过X射线衍射实验，我们成功获取了样品的衍射图样，并进行了分析。
根据衍射图样的特点，我们推断出样品的晶格结构为立方晶系，晶面间距为2.5 Å。
这与样品的实际晶体结构相符，说明X射线衍射分析是一种有效的手段，可以准确地研究晶体结构。
实验总结：通过本次实验，我们深入了解了X射线衍射分析的原理和方法，掌握了X射线衍射仪器的使用技巧。
实验结果表明，X射线衍射分析是一种可靠的手段，可以用于研究晶体结构。
在以后的科研工作中，我们将进一步运用X射线衍射分析技术，深入研究材料的晶体结构和性质，为材料科学领域的发展做出贡献。
结语：通过本次实验，我们对X射线衍射分析有了更深入的了解，也提高了实验操作能力。
希望通过不断的实践和学习，能够更好地运用X射线衍射分析技术，为科学研究做出更多的贡献。
以上就是本次X射线衍射分析实验的实验报告，谢谢阅读。
X射线衍射分析晶体结构
X射线衍射分析晶体结构
I. 介绍
X射线衍射是一种常用的方法，用于研究固体材料的晶体结构。
通
过对材料中晶格中原子排列的影响让X射线进行衍射，我们可以了解
材料中原子的排列方式及其晶体结构的相关信息。
II. 实验方式
1. 准备X射线衍射仪器：X射线衍射实验通常使用X射线管产生X 射线，然后让X射线照射在样品上，并测量所产生的X射线衍射图样。
X射线衍射实验一般使用X射线粉末衍射仪或者单晶X射线衍射仪。
2. 准备样品：选择所要研究的材料，并将其制备成适当的样品形式，使得X射线能够通过并产生衍射。
3. 进行实验：将样品放置在X射线衍射仪器上，调整仪器使得X
射线照射到样品上。
记录所得到的X射线衍射图样。
III. 操作步骤
1. 打开X射线衍射仪器，并调整X射线管的功率和位置，使得X
射线能够准确地照射到样品上。
2. 将样品放置在样品台上，并调整样品的位置，使得X射线能够穿
过并照射到样品上。
3. 开始进行X射线衍射实验，记录所得到的衍射图样。
根据衍射图
样的特征，分析样品中的晶格结构及原子排列方式。
4. 进行数据处理，计算材料中原子的间距、晶格常数及晶体结构等参数。
IV. 得出的结果
通过X射线衍射实验，我们可以得到材料的晶体结构信息，包括晶格常数、晶胞结构、晶面指数等。
这些信息对于了解材料的性质及应用具有重要意义。
总结：X射线衍射分析是一种非常有用的方法，用于研究材料中的晶体结构。
通过对X射线衍射图样的分析，我们可以了解样品中原子的排列方式及晶格结构，为材料科学研究提供了重要的信息。
X射线衍射实验报告
X射线衍射实验报告第一篇：X射线衍射实验报告X射线衍射实验报告一、实验目的（1）掌握X射线衍射仪的工作原理、操作方法；（2）掌握X射线衍射实验的样品制备方法；（3）掌握运用X射线衍射分析软件进行物相分析的原理和实验方法；（4）熟悉PDF卡片的查找方法和物相检索方法。
二、实验仪器X射线衍射仪，PDF卡。
X射线衍射仪，主要由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器、辐射探测电路、计算机系统等组成。
（1）X射线发生器X射线管工作时阴极接负高压，阳极接地。
灯丝附近装有控制栅，使灯丝发出的热电子在电场的作用下聚焦轰击到靶面上。
阳极靶面上受电子束轰击的焦点便成为X射线源，向四周发射X射线。
在阳极一端的金属管壁上一般开有四个射线出射窗口。
转靶X射线管采用机械泵+分子泵二级真空泵系统保持管内真空度，阳极以极快的速度转动，使电子轰击面不断改变，即不断改变发热点，从而达到提高功率的目的，如下图1。
图1 X射线管（2）测角仪测角仪圆中心是样品台，样品台可以绕中心轴转动，平板状粉末多晶样品安放在样品台上，样品台可围绕垂直于图面的中心轴旋转；测角仪圆周上安装有X射线辐射探测器，探测器亦可以绕中心轴线转动；工作时，一般情况下试样台与探测器保持固定的转动关系（即θ-2θ连动），在特殊情况下也可分别转动；有的仪器中样品台不动，而X射线发生器与探测器连动，如下图2。
图2 测角仪（3）PDF卡的组成如下3图所示图3 PDF卡三、实验原理1、X射线的产生实验中通常使用X光管来产生X射线。
在抽成真空的X光管内，当由热阴极发出的电子经高压电场加速后，高速运动的电子轰击由金属做成的阳极靶时，靶就发射X射线。
发射出的X射线分为两类：（1）如果被靶阻挡的电子的能量不越过一定限度时，发射的是连续光谱的辐射。
这种辐射叫做轫致辐射；（2）当电子的能量超过一定的限度时，可以发射一种不连续的、只有几条特殊的谱线组成的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射。
x射线 衍射实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言：X射线衍射是一种重要的实验方法，通过观察X射线在晶体中的衍射现象，可以得到晶体的结构信息。
本实验旨在通过测量X射线的衍射图样，分析晶体的晶格常数和晶体结构。
实验步骤：1. 实验仪器准备：实验中我们使用了一台X射线衍射仪，该仪器由X射线源、样品台和衍射屏组成。
在实验开始前，我们首先调整好仪器的位置和角度，确保X射线源正对着样品台，并使得衍射屏处于最佳观察位置。
2. 样品制备：为了进行衍射实验，我们需要制备一些晶体样品。
在本实验中，我们选择了晶体A和晶体B作为样品。
首先，我们将晶体A和晶体B分别放置在样品台上，并调整好其位置，使得晶体表面垂直于入射X射线。
3. 测量衍射图样：当样品台上的晶体A和晶体B受到X射线照射时，会产生衍射现象。
我们将观察衍射屏上的图样，并使用标尺测量不同衍射斑的位置和强度。
通过记录不同衍射斑的位置和强度，我们可以得到晶体的衍射图样。
结果与分析：通过实验测量得到的衍射图样，我们可以观察到明显的衍射斑。
根据这些衍射斑的位置和强度，我们可以计算出晶体的晶格常数和晶体结构。
首先，我们通过测量不同衍射斑的位置，可以利用布拉格方程计算晶体的晶格常数。
布拉格方程表示为：nλ = 2dsinθ，其中n为衍射阶数，λ为入射X射线的波长，d为晶格常数，θ为衍射角。
通过测量不同衍射斑的位置并代入布拉格方程，我们可以得到晶体的晶格常数。
其次，通过观察衍射斑的强度分布，我们可以推断出晶体的结构信息。
不同的晶体结构会导致不同的衍射斑强度分布。
通过与已知晶体结构的对比，我们可以确定晶体的结构类型。
讨论与结论：在本实验中，我们成功地进行了X射线衍射实验，并通过测量衍射图样得到了晶体的晶格常数和结构信息。
通过这些结果，我们可以进一步了解晶体的性质和结构。
然而，需要注意的是，X射线衍射实验只能提供晶体结构的一些基本信息，对于复杂的晶体结构，可能需要结合其他实验方法进行进一步研究。
x射线衍射实验报告
x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言：X射线衍射是一种重要的实验方法，它通过对物质中的晶体结构进行分析，揭示了物质的微观性质。
本实验旨在通过X射线衍射技术，研究晶体的晶格结构和晶面间距，并探讨其在材料科学和结构分析中的应用。
实验原理：X射线衍射是一种通过X射线与晶体相互作用产生的衍射现象进行结构分析的方法。
当入射X射线照射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会被晶体中的原子散射，并形成一系列衍射点。
这些衍射点的位置和强度与晶体的晶格结构和晶面间距有关。
实验步骤：1. 准备工作：将待测晶体固定在X射线衍射仪的样品台上，并调整好仪器的参数。
2. 调整入射角：通过调整X射线管和样品台的相对位置，使得入射角与晶体的晶面相适应。
3. 数据采集：打开X射线衍射仪的探测器，开始采集衍射数据。
可以通过旋转样品台或改变入射角度来获取不同方向的衍射数据。
4. 数据处理：将采集到的衍射数据进行处理，如绘制衍射图谱、计算晶格常数和晶面间距等。
实验结果与讨论：通过实验，我们得到了样品的衍射图谱，并进行了数据处理。
根据衍射图谱的特征，我们可以确定样品的晶格结构和晶面间距。
这对于材料科学和结构分析具有重要意义。
在实验中，我们还发现不同晶体的衍射图谱具有明显的差异。
这是因为晶体的晶格结构和晶面间距不同，导致衍射现象的差异。
因此，通过对不同晶体的衍射图谱进行分析，我们可以进一步研究晶体的性质和结构。
此外，X射线衍射技术还可以应用于材料的质量控制和结构表征。
通过对材料中晶体的衍射图谱进行分析，我们可以了解材料的晶体结构、晶面间距和晶体缺陷等信息。
这对于材料的设计和改进具有指导意义。
结论：X射线衍射实验是一种重要的结构分析方法，通过对晶体的衍射现象进行研究，我们可以揭示物质的微观结构和性质。
本实验通过测量晶体的衍射图谱，确定了晶格结构和晶面间距，并探讨了X射线衍射技术在材料科学和结构分析中的应用。
这为进一步研究和应用X射线衍射技术提供了基础。
X射线衍射分析实验报告
X射线衍射分析实验报告一、实验目的1.学会X射线衍射实验的制样过程，了解X射线衍射仪的操作过程2.学会根据XRD图谱进行相应的定性和定量分析二.实验原理对于 X 射线衍射，当光程差等于波长的整数倍时，相邻晶面的“反射线”将加强，此时满足的条件为：2dsinθ=nλ其中，d为晶面间距，θ 为为半衍射角，λ为波长，n为反射级数。
该方程是晶体衍射的理论基础，它简单明确地阐明衍射的基本关系，从实验上可有两方面的应用：一是用已知波长的X射线去照射未知结构的晶体，通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的间距d，从而揭示晶体的结构，这就是结构分析（衍射分析）；二是用已知晶面间距的晶体来反射从样品发射出来的X射线，通过衍射角的测量求得X 射线的波长，这就是 X射线光谱学。
该法除可进行光谱结构的研究外，从 X 射线波长也可以确定试样的组成元素。
三.实验仪器仪器型号：日本理学D/max2550主要技术指标：靶：铜靶X射线发生器功率：18 kW(40 kV,450 mA)X射线发生器稳定度：±0.01%最大计数：100万cps重复性：1°/10000四.实验步骤1.仪器准备（1）开机前检查实验环境，室温保持在20±5℃，湿度低于60%；（2）开D/max主机的主电源开关，手动开启真空系统，运行24小时后切换成自动，按D/max 主机面板上的“START”;（3）X射线发生器系统低于规定值时，启动X射线发生器外循环水冷系统；（4）打开控制系统通讯电源，进行阳极靶的老化。
2.样品制备将达到要求的粉末状试样（5-10μm）填入样品架，轻压使试样分布均匀3.谱图测定（1）将制好的样品放在样品台上，关上主机前门；（2）设定相应的仪器参数，start angle 为5°，stop angle为90°，scan speed为10°/min，扫描电压为40 kV，扫描电流为100 mA，开始测定。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
X 射线布拉格衍射实验
一、 实验目的
1) 观察用X 射线对NaCl 单晶的Bragg 衍射。
2) 确定X 射线αK 和βK 线的波长。
3) 验证Bragg 衍射定律 4) 明确X 射线的波长的性质。
二、 实验装置
德国莱宝教具公司生产的X 射线装置是用微处理器控制的可进行多种实验的小型X 射线装置。
该装置的高压系统、X 光管和实验区域被完全密封起来，正面装有两扇铅玻璃门,当它们其中任意一扇被打开时会自动切断高压，具有较大的安全性。
其测量结果通过计算机实时采集和处理，使用极其方便。
本实验所用装置为554 81X-RAY APPARATUS 。
在X 射线装置中，左侧上方是控制面板，其下方是连接面板。
中间是X 光管室，装有Mo （钼）阳极的X 光管，其高度可通过底部的调解螺杆进行调整。
右面是实验区域，如图1所示，其中左边装有准直器和锆滤片；中间是靶台，NaCl 和LiF 单晶就安装在靶台上；右边
是测角器，松开锁定杆可调整测角器的位 图1 实验区域图
置，端窗型G-M 计数管也安装在测角器上。
X 射线装置的左侧面是主电源开关，右侧面有一圆形的荧光屏，它是一种表面涂有荧光物质的铅玻璃平板，用于在“透照法”实验中观察X 光线，平时用盖板罩起来以避免损坏荧光物质。
其下方是空通道，它构成实验区域内外沟通的渠道，被设计成迷宫，以不使X 射线外泄。
装置的底部有四个脚，上方有两个提手柄。
如图2，是控制面板的示意图。
b5
b4
图 2 控制面板
其中b1是显示位置，其顶部显示当前计数率，底部显示所用键的设置参数。
在“耦合”模式下，靶的角度位置显示在显示区域的底部而顶部则显示传感器的计数率与角度位置。
b2是调节旋钮，所有的参数设置均通过它来调节。
b3是参数选择区域，它们是：U （管电压）、I （管电流）、△t （测量时间）、△β（测角器转动的角 步幅）、β（测角器的转动范围，即上限角和下限角）。
b4扫描模式区域，共有SENSOR （传感器）、TARGET （靶）和COUPLED （耦合，即传感器和靶以2：1的方式运动）三种模式，ZERO 按钮用于复位到系统的零位置。
b5是操作键区域，主要有：RESET （复位到系统的缺省值）、REPLAY （将最后的测量数据传送至XY 记录仪或PC 机）、SCAN ON/OFF
（开启/关闭自动扫描）、 （开启声音脉冲）、HV ON/OFF （开启/关闭高压），当开启高压时，其上方的指示灯将发出闪烁的红光，表示正在发射X 射线。
三、 实验原理
1） X 射线的产生和性质
Ｘ射线的产生一般利用高速电子和物质原子的碰撞实现。
常见的Ｘ射线管是一个真空二极管，管内阴极是炽热的钨丝，可发射电子，阳极是表面嵌有靶材料的钼块。
两极加上几十千伏的高压，由此产生很强的电场使电子到达阳极时获得高速。
高速运动的电子打在阳极靶面上，它的动能一部分转化为Ｘ射线的能量，其余大部分变为热能使阳极温度迅速升高，工作时需要对阳极散热。
从Ｘ射线管发出的Ｘ射线可以分为两部分：一是具有连续波长的Ｘ射线，构成连续ｘ射线谱；另一部分是具有特定波长的标识谱，又名特征谱，它叠加在连续谱上成为几个尖锐的峰，如图3所示。
产生连续谱和标识谱的机理不同：
连续谱：高速电子到达阳极表面时，电子的运动
突然受阻，根据电磁场理论，这种电子产生韧制辐射， 图3 X 射线光谱图
向外发射电磁波。
这种辐射的特点是所产生的电磁波具有各种不同的波长，形成一个从某一最短波长的λmin 开始的连续的包括各种波长的X 射线谱。
设X 射线管两级间电压为u ，从能量守恒定律可知
u
eu hc 40
.12min =
=
λ(Å) 式中c 为光速，e 为电子电量，h 为普朗克常数，该式说明λmin 随极间电压u 的增加而减小。
将u 用于千夫表示代入各常数值即得第二等式。
连续谱的强度I 和分布还和管电流、靶材料有关。
标识谱：由于电子轰击，阳极物质的原子激发，靠近原子核的内层电子脱离了原子，然后外层电子跃迁到内层的空位上，这时原子发射的X 射线即为标志谱。
不同材料阳极靶的标识谱结构相同，即都分为K,L,…等线系，每个线系又有多条谱线。
有用的是波长最短、强度最大的K 系谱线，主要包括αK 和βK 线，它们又各有精细结构，但常由于不能分辨而不必去注意，只须注意αK 的强度为βK 的五到十倍，波长比βK 略大。
当然只有工作电压大到使电子具有的能量足以激发K 层电子时，才会出现K 线系。
我们称能产生K 线系的电压最小值为临界电压，记为u k 。
当u> u k 时，u 越大，则标识谱强度越大。
2） x 射线衍射原理
将X 射线晶体点阵上的定向衍射看作是一组由点阵原子组成的晶面上产生干涉性反射的结果。
由晶体点阵的原子所散射的射线相互作用，与从一组晶面或原子面上所发生的反射作用是类似的。
但
是，这种反射与光学上的反射不同，它不能取任意的入射
角，而是一种选择性的反射作用。
当一束波长为λ，经过准直的单色X 射线，以掠射角θ投射到晶面间距为d 的一组晶面（hkl ）上时，则在每一晶面上的原子，都向各种方向发射出次级散射线，其中有些散射线可以看成是各层原子面按照反射定律对入射线反射的结果，如图4所示，它的衍射条件为：
a ） 入射束、反射束（衍射束）和衍射面（khl ）的法线在同一平面上；
b ） 入射束和反射束同衍射面间的夹角相等，即掠射角等于反射角；
c ） 从顺次晶面上反射出来的射线，其光程差为波长λ的整数倍。
图4 X 射线在晶格上的衍射
从图4中可以看出，射线1A1’和2B2’之间光程差为
CBD=CB+BD=2ABsinθ=2dsinθ
如果这些射线是同相的，其光程差为波长λ的整数倍，即
2dsinθ=nλ
这就是bragg定律。
其中n为整数，可以是0，±1，±2，±3，…等。
n为衍射级数。
D为晶面间距。
θ为布拉格角，即入射线和衍射面间的夹角。
四、实验内容及步骤
测量X射线通过NaCl单晶的衍射曲线
（1）将NaCl单晶固定在靶台上。
（2）关闭铅玻璃门后，开启X射线装置，启动软件”X-ray Apparatus”。
（3）设置X光管的高压U=35.0KV，电流为I=1.0mA。
测量时间Δt=5s, 角步幅Δβ=0.1°，下限角为2.5°，上限角为30°。
（4）按“COUPLED”键。
（5）按“SCAN”键进行自动扫描。
（6）曲线测量完毕后，存储文件，然后打印曲线并附在实验报告中。
五、注意事项
（1）在操作X射线装置之前，检查它是否有损伤，确保当滑门打开时高压是关闭着的。
（2）未经许可的人不要接触X射线装置。
（3）不允许X射线管的Mo阳极过热。
（4）操作X射线装置时，检查并确保开启X管室中的通风设备。
（5）测角器要单独的通过步进电动机进行定位。
（6）不要阻碍测角器的靶臂和传感器臂的联动，也不要硬性移动它们。
（7）注意NaCl、LiF单晶易碎，易受潮，安装时要十分小心。
做完实验放于干燥器皿中。
（8）安装单晶时，先降低靶台，在靶台上平放单晶，将单晶推至最里，升高靶台至突起部分，拧紧螺钉。
六、数据处理
1 用“X射线装置软件”处理数据，按右键选择“Calculate Peak Center”。
2 用左键选定峰的范围，如果需要的话，用ALT-T键将峰的掠射角β和峰宽σ的数值标记在图中。
3 用适当的文件名保存测量结果。
4 用掠射角θ和晶格常数d=282.01pm，利用Bragg反射定律计算波长λ，如附录中Tab3。
5 计算各级衍射峰的波长平均值，如附录中Tab4。
七、思考题与讨论
1 本实验用的是单晶，如果用多晶的话，实验应如何改变或改进？
2 任给一个未知晶体，用此实验方法能否测出其晶格常数？如何测量？
3 试改变管高压与发射电流，观察对实验结果有何影响。
4 X光与可见光在发光机制上有何区别？
参考文献：
[1] 杨福家.原子物理学.北京：高等教育出版社，2000.（P270-272）
[2] 胡家璁.高分子X射线学.北京：科学出版社，2003.（P46-50）
[3] Leybold X射线装置说明书.德国.（P6.3.3.1）
附录
注：本附录只提供了NaCl单晶的数据和图表。
Tab1:阳极为钼（Mo）的X射线的E、ν、λ理论值
Tab2：阳极为钼（Mo ）的X 射线在NaCl 单晶上衍射的前三级掠射角理论值
Tab3：αK 线与βK 线前三级衍射角的测量值 θ与相应的波长λ的计算值
Tab4：αK 线与βK 线的波长λ的测量值的平均值与理论值
图1 X 射线在NaCl 单晶上的Bragg 衍射图。