电子元器件失效分析技术及经典案例 (1)

电子元器件失效分析技术及经典案例培训

课程背景：

电子产品在不断与失效作斗争中不断提高可靠性，失效分析是与产品失效作斗争的最有效的工具。失效分析是故障归零的关键技术：产品故障归零技术上要求“定位准确，机理清楚，故障再现，措施有效，举一反三”，显然，失效分析实现“机理清楚”，只有在失效机理的指引下才能确定正确的“故障再现”的应力，只有在机理的指引下，才能确定引起故障的原因，对故障实施改进、控制才能做到“措施有效”。

课程概要及收益：

“电子元器件失效分析技术与经典案例”分为两讲，第一讲和第二讲是“电子元器件失效分析技术”，这一讲中首先简单讲述电子产品（包括各种元器件、集成电路、组件等）失效分析的主要术语，失效分析的程序和方法。重点通过具体的分析案例，剖析失效分析的程序和方法各个节点的分析要点和分析技巧。通过学习让学员掌握怎样开展失效分析工作，采用什么分析仪器设备提取失效样品的失效证据，怎样研判失效证据与样品失效的关系，从而诊断失效样品的失效机理；掌握分析设备的应用技巧和失效分析中的关键问题。第三讲是“失效分析经典案例”，通过典型的失效分析案例的剖析，加深失效分析程序和方法的掌握，通过典型的失效分析案例讲述各种元器件、各种失效机理的分析、诊断方法，并在失效分析的案例中培训学员怎样考虑问题、怎样采用合适的分析手段（分析仪器、设备）提取证据，怎样识别各种失效机理的表现特征，怎样对获得的各方面的信息、证据进行综合分析以达到对失效产品进行准确诊断的目的。

【主办单位】中国电子标准协会【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司

课程对象：电子元器件、电路板或整机企业的设计工程师、质量工程师、工艺工程师、可靠性工程师、失效分析工程师；

第一讲失效分析概论

1.基本概念

2.失效分析的定义和作用

3.失效模式

4.失效机理

5.一些标准对失效分析的要求

6.标准和资料

第二讲失效分析技术和设备

1. 失效分析基本程序

a.基本方法与程序

b.失效信息调查与方案设计

c.非破坏性分析的基本路径

d.半破坏性分析的基本路径

e.破坏性分析的基本路径

f.报告编制

2. 非破坏性分析的基本路径

a.外观检查

b.电参数测试分析与模拟应力试验

c.检漏与PIND

d.X光与扫描声学分析

3. 半破坏性分析的基本路径

a.开封技术与可动微粒收集

b.内部气氛检测(与前项有冲突)

c.不加电的内部检查(光学.SEM与EDS.微区成分)

d.加电的内部检查(微探针.红外热像.EMMI光发射.电压衬度像.束感生电流像.电子束探针).

4. 破坏性分析的基本路径

a.去除钝化层技术(湿法.干法)

b.剖切面技术及分析(切片)

5. 分析技术与分析设备清单

第三讲失效分析典型案例

1. 系统设计缺陷引起的失效

2. CMOS IC 闩锁效应失效

3. 静电损伤失效

4. 过电损伤失效

5. 热应力失效

6. 机械应力损伤失效

7. 电腐蚀失效

8. 污染失效

9. 热结构缺陷引起过热失效

10.其他缺陷引起的失效

11.寿命失效

师资介绍:

李老师我国电子产品失效分析领域权威专家.24年来一直从事电子产品可靠性技术研究工作,曾经主持参加众多军用电子元器件

可靠性研究课题,多次获得各级科研成果奖项,先后参与《失效分析经典案例100例》和《电子元器件失效技术》的编写。曾为：华为、中兴集团、海尔集团、美的集团、厦华、飞通、广东核电等上百家企业进行内训及公开授课，学员累计数千人。

主要培训的企业有：美的失效分析实验室建设技术咨询和失效分析技术培训，海尔检测中心的技术咨询和失效分析技术培训，广东核电进行电子元器件老化技术，继电器老化管理，板件老化管理培训，中兴通讯的失效分析技术培训，富士康失效分析技术现场研讨，中国赛宝实验室元器件可靠性研究分析中培训学员的实习指导，以及失效分析专题公开培训。先后参与《失效分析经典案例100例》和《电子元器件失效技术》的编写。