集成电路版图基础CMOS版图篇
CMOS模拟集成电路版图设计基础教程_V2

4
初识工艺流程和版图设计
什么是版图(Layout)
• 版图实质上是将立体的器件与导线投影到每一层光刻掩 模版(mask)上的绘图
光刻掩模版有什么用
• 光刻掩模版上的图形表示通光或遮光的区域,实际上是 用来告诉工艺进行光刻时需要雕琢的图形和区域
版图和工艺制造的关系
• 版图中的每一层代表一种需要制作的元件或者导线;同 一层中绘制的图形的“或”是最终在一层mask上的图形; 不同层图形的“与”得到了器件的关键区域和参数
11
N-well CMOS基本工艺流程
2013-10-30
Institute of VLSI Design, Zhejiang University
12
N-well CMOS基本工艺流程
2013-10-30
Institute of VLSI Design, Zhejiang University
30
LSW的设置
对图层进行选择、定义和编辑
2013-10-30
Institute of VLSI Design, Zhejiang University
31
Set Valid Layers
由于默认显示的 图层太多,因此 需要对显示的图 层进行一些筛选
2013-10-30
Institute of VLSI Design, Zhejiang University
32
Set Valid Layers
选择需要用到的 图形图层、边界 限定层、标记层 以及一些必需要 用到的dummy层
2013-10-30
Institute of VLSI Design, Zhejiang University
33
CMOS版图设计基础

布局布线
Place and route,给出版图的整体规划和各图形间的连接
2012-11-7
东南大学无锡分校
电 路 图 与 版 图 一 致 性 检 查 ( LVS,layout versus schematic) 电路图与版图一致性检查( LVS )从版图中 提取的电路同原电路相比较,其方法通常是将 两者的网表进行对比。比较的结果,可以是完 全一致或两者不全一致。设计者应对所示的错 误进行必要的版图修改。
2012-11-7
34
实验所采用的设计规则
东南大学无锡分校
规则 7.1a 7.1b 7.2a 7.2b 7.2c 7.3 7.4
描述 Metal1 Minimum Width Tight Metal1 Max Width Metal1 to Metal1 Spacing Tight Metal1 spacing Tight Metal1 space to Metal1 Metal1 Overlap of PolyContact Metal1 Overlap of ActiveContact
是各集成电路制造厂家根据本身的工艺特点和技术水 平而制定的;
设计人员与工艺人员之间的接口与“协议”;
版图设计必须无条件的服从的准则。
2012-11-7
§ 2 设计规则(DR,Design Rules)
东南大学无锡分校
什么是设计规则
用特定工艺制造电路的物理掩膜版图都必须遵循一系列 几何图形排列的规则,这些规则称为版图设计规则。
2012-11-7
东南大学无锡分校
电气规则检查(ERC,electrical rule checker) 除违反设计规则而造成的图形尺寸错误外,常还 会发生电学错误,如电源、地、某些输入或输出端的连 接错误。这就需要用ERC检验步骤来加以防范。 为了进行ERC的验证,首先应在版图中将各有关电学 节点做出定义。如将电源、接地点、输入端、输出端分 别给出“节点名”。
制造工艺-CMOS集成电路原理图及版图

硅芯片上的电子世界—晶体管
• 三级管:pnp,npn • 硅芯片上的三极管:
2012年春季
P+ …N…+. P+
N阱
P型衬底
28中北大学
三极管的设计
CMOS工艺下可以做双极晶体管。 以N阱工艺为例说明PNP, NPN如何形成。
PNP
注:
薄氧
由于P衬底接最低电位vss/gnd
因此,VPNP集电极也必须接
C
N+
N–-epi
钝化层
SiO2
P+
P-Sub
2012年春季
N+埋层
P P(G- ND)
N+
Sub
EB C
N+ P
N+
P+
N–-epi
60
60中北大学
版图设计
• 电子设计 + 绘图艺术 • 仔细设计,确保质量
2012年春季
61中北大学
MOS管的版图设计
沟道宽
沟道长
当多晶硅穿过有源区时,就形成了一个管子。在图中当 多晶硅穿过N型有源区时,形成NMOS,当多晶硅穿过P型有 源区时,形成PMOS。
MIM 上电级
第n-1层金属
电容区的下方不要走线;
2012年春季
20中北大学
多层金属制作的平板电容和侧壁电容
多层平板电容(MIM) •增加单位面积电容; •精度高,匹配性好;
2012年春季
侧壁电容: •单位面积电容值可比左边的大; •精度较高,匹配性较好;
21中北大学
MOS电容
CGS
累积区
强反型
vss/gnd 。
C
B
精品PPTCMOS版图

基本IC单元版图设计 – CMOS layout
器件尺寸设计:SPICE - SPICE: Simulation Program for ICs Emphasis 利用SPICE去确定器件尺寸。
SPECS电路规范
mathematical model
SPICE
device size
schematic
on
off
D
input signal of A
基本IC单元版图设计 – CMOS layout
器件尺寸设计:大尺寸器件的设计
- 寄生栅电阻可减慢寄生电容的充放电速度,即存在一个 RC时间常数。
- 晶体管的长度,即沟道长度,决定了晶体管开关的速 度,因此,栅的长度是不允许改变的,同时,也必须 维持相同的有效栅宽。
连接后: 缺点:浪费了大量的空间。
好的连接办法:源和漏互换
对第二个和第四个晶体管进行左右翻转,两个B点彼此相对, 两个A点彼此相对。将相对的源漏区合并,这些合并的区域既 可以是一个晶体管的源,同时也可以是另一个晶体管的漏。
练习题:
如果是被同一根线进行连接,则可以类似源漏共用那 样进行共用,如果一个是A,另一个是B则不能。如 下电路图,那些可以共用,试着画出版图。
经验法则:如果需要分配电压是(如开关某些 器件),可以利用多晶硅,如果需要分配电流, 则采用金属。
可采用多晶硅作为内连线,但通常仅限于连接 栅,因为栅上电流小。
图形关系
总结
在本章学到以下内容: 1.模型、计算机模拟的原理图与参数规范; 2.确定器件尺寸; 3.通过分裂器件减小寄生电阻; 4.更好的适用的技术; 5.作为设计工具的棒状图; 6.借助钳位与连接释放电压; 7.避免固有的衬底二极管正偏; 8.原理图、棒状图和器件之间的关系; 9.源漏共用;
CMOS版图

第4章 CMOS版图
第4章 CMOS版图
利用spice去确定器件尺寸
电路设计规范specs——设计的起点,电路 的性能要求(例如:电流、频率、电压增益 等等) 根据采用的特定工艺的详细信息,电路设 计规范定义了基本器件尺寸。
4.2.8 焊盘层
焊盘提供了芯片内部信号到封装接脚的 连接,其尺寸通常定义为绑定导线需要的 最小尺寸。
第4章 CMOS版图
版图设计注意事项
1、无论在电路图中还是在版图中,PMOS晶体管都与VDD相连 接; 2、在电路图和版图中,NMOS晶体管都与VSS相连接;
3、在电路图和版图中,NMOS晶体管和PMOS晶体管的栅极有 相同的IN信号,而其漏极有相同的OUT信号;
第4章 CMOS版图
图4.7 第一层通孔的图示
第4章 CMOS版图
4.2.7 文字标注层
文字标注层用于版图中的文字标注,目 的是方便设计者对器件、信号线、电源线、 地线等进行标注,便于版图的查看,尤其 在进行验证的时候,便于查找错误的位置。 在进行版图制造的时候并不会生成相应的 掩膜层。
第4章 CMOS版图
第4章 CMOS版图
4.2 版图中的绘图层
绘图层是指完成集成电路的版图设计所需 要的最少分层数目。我们以N阱CMOS工艺为 例,通常情况下,绘图层的种类有:N阱层(N Well)、有源区层(Active)、多晶硅栅层(Poly)、 P选择层(P Select)、N选择层(N Select)、接触 孔层(Contact)、通孔层(Via)、金属层(Metal)、 文字标注层(Text)和焊盘层(Pad)。
CMOS集成电路制造工艺及版图设计

叠放metal1层:
叠放metal2层:
●侧视图显示叠放顺序 ●绝缘层将两金属层分隔开
每层的图形由顶视图表 示,SiO2是透明玻璃
7.2 互连线电阻和电容
互连线电阻和电容使传播延时增加 互连线电阻会消耗功率 互连线电容会偶合进额外的噪声,影响电 路可靠性
不同金属材料电阻率
连线的寄生电容(与衬底或连线之间)
5、氮化硅SiN4淀积
• 用于表面覆盖,对大多数物质原 子有阻挡作用,防污染。 • 介电常数较大:7 0 • 绝缘,可用于在电气上隔离相邻 场效应管。 • 同SiO2一样,能被化学漂洗掉。
6、化学机械抛光CMP
7、刻蚀
• 先将掩模(mask)图案转移到涂上光刻胶的硅片上。 • mask 或 reticle:玻璃上覆盖铬图案。
电路)
• 5.CSP(Chip Size Package)芯片尺寸封装 (引脚多,面积小,频率高)
引线键合封装(wire-bonding)
Substrate Die Pad Lead Frame
倒装片封装(Flip-chip)
优点:压焊块可在芯片上任何位置, 具有非常好的电气性能。
Die
Solder bumps
• CPU的封装发展史:
• 1.DIP(Dual.In-line Package)双列直插式封装 (适合PCB板,pin少,面积比大) • 2.PQFP(Plastic Quad Flat Package)塑料方型扁平式封装和PFP(Plastic Flat Package)塑料扁平组件式封装 (密集,面积比小,适合高频电路) • 3. PGA(Pin Grid Array Package)插针网格阵列封装 (拔插方便,适合高频 电路) • 4.BGA(Ball Grid Array Package)球栅阵列封装 (引脚多,但是间距大,适合更高频率
集成电路版图基础

卜 丹
4
MOS管版图的画法:NMOS
Poly (多晶硅):栅
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
5
MOS管版图的画法:NMOS
N Select (N+扩散):源、漏
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
6
MOS管版图的画法:NMOS
Active Contact (有源区过孔)
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
31
双极型晶体管BJT版图 NPN
做发射区 做集电极欧姆接触
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
32
双极型晶体管BJT版图 NPN
做基区欧姆接触
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
33
双极型晶体管BJT版图 NPN
卜 丹
11
MOS管版图的画法:PMOS
N Well (N 阱)
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
12
MOS管版图的画法:PMOS
Active (有源区)
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
13
MOS管版图的画法:PMOS
Poly (多晶硅):栅
2008级
集成电路专业
黑龙江大学
《CMOS模拟集成电路设计》
卜 丹
26 Cox A
CMOS版图工艺基础课件

• 使用n衬底p阱的工艺称P阱工艺。现代工艺出于牺牲PMOS性能来优化NMOS性能,所 以大多数工艺都是N阱工艺;也有同时使用N阱和P阱的工艺,称为双阱工艺。
去除氮化硅 和有源区的SiO2
• LOCOS (Local Oxidation of Silicon:硅的局部氧 化): CMOS工艺最常用的隔离技术,以氮化硅为 掩膜实现了硅的选择氧化,在这种工艺中,除了形 成有源晶体管的区域以外,在其它所有重掺杂硅区 上均生长一层厚的氧化层,称为隔离或场氧化层。
• N阱和P衬底构成寄生二极管,在CMOS电路中衬底通常接最低电平,确保二极管处于反偏。
N阱的作用 主要作用制造PMOS; 掺杂浓度较低,电阻率较高,可用于制造电阻,称为阱电阻; N阱可以和衬底构成二极管,可用于制造寄生PNP管。
N阱的制作 • 硅片涂胶后,通过N阱掩模版,将硅片放在光线下,通过显影去掉被光照的光刻胶; • 氧化层生长
六次光刻
接触孔的版图示例
金属层的概念及制造 • 接触孔硅化后,在晶圆上淀积掺铜的铝层,淀积金属后的晶圆涂上光刻胶并采用金属掩 模版光刻,去除不需要的金属,形成互连结构。
七次光刻
金属层的版图示例
通孔VIA的概念及制造
• 层间介质充当各层金属以及第一层金属与硅之间的介质材料。层间介质上有许多小的通 孔,这些层间介质为相邻的金属层之间提供了电学通道。通孔中常用导电金属(比如钨) 来填充,形成金属层间的电学通路。
有源区(薄氧区)的概念
• 源区、漏区、沟道区合称MOS管的有源区,有源区之外的区域定义为场氧区(Fox)。 有源区跟场氧区之和就是整个芯片表面,即 Active + Fox = Surface。
CMOS模拟集成电路版图设计课程大纲

CMOS模拟集成电路版图设计课程大纲第一讲CMOS模拟集成电路版图基础⏹CMOS模拟版图概述⏹CMOS模拟集成电路版图的定义⏹CMOS模拟集成电路版图设计流程❑版图规划❑版图设计实现❑版图验证❑版图完成⏹CMOS模拟集成电路版图设计工具第二讲模拟集成电路版图器件与互连⏹概述⏹器件❑MOS管❑电阻❑电容❑电感❑三极管⏹互连❑金属(第一层金属,第二层金属……)❑通孔第三讲寄生参数⏹概述⏹寄生电容⏹线电阻压降(IR drop)⏹寄生电感⏹连线寄生模型⏹MOS管寄生效应第四讲器件匹配⏹概述⏹指状交叉法线⏹共质心法⏹虚拟器件⏹MOS晶体管匹配⏹电阻匹配⏹电容匹配⏹差分线布线⏹器件匹配总则第五讲设计规则⏹概述⏹工艺库中各类器件的层信息⏹设计规则细则⏹工业标准的基本数据格式第六讲验证⏹设计规则检查(DRC)Design Rule Check⏹版图与电路图的对照(LVS)Layout Versus Schematic⏹电气规则检查(ERC)Electrical Rule Check⏹天线规则检查(ANT)⏹静电放电检查(ESD)第七讲可靠性设计⏹天线效应⏹闩锁效应⏹静电放电保护(Electro-Static Discharge ,ESD)⏹数模混合集成电路版图设计第八讲工艺设计工具包(PDK)⏹ 1.PDK名称的涵义⏹ 2.PDK中包含的内容● 2.1 IO lib2.1.1 GDS文件的导入操作2.1.2 网表导入2.1.3 IO使用文档介绍● 2.2 SMIC_13_PDK_v2.6_20142.2.1 Smic13mmrf_1233文件夹2.2.2 model 文件夹2.2.3 Calibre 文件夹● 2.3 SMIC_13_TF_LG_LIST_2014122.3.1 Standard cell Timing lib2.3.2 Calview.cellmap2.3.3 Standard cell netlist及网表导入操作2.3.4 Ant rule (天线规则)第九讲Cadence spectre概述与操作界面⏹Cadence spectre 概述⏹Cadence spectre的特点⏹Cadence spectre的仿真设计方法⏹Cadence spectre与其他EDA软件的连接⏹Cadence spectre的基本操作第十讲Spectre窗口和库元件⏹模拟设计环境(Analog Design Environment)⏹波形显示窗口(Waveform)⏹波形计算器(Waveform Calculator)⏹Spectre库中的基本器件第十讲Cadence Virtuoso版图设计工具⏹Cadence Virtuoso概述⏹Virtuoso 界面介绍⏹Virtuoso 基本操作第十一讲Mentor Calibre版图验证工具⏹Mentor Calibre版图验证工具概述⏹Mentor Calibre版图验证工具调用⏹Mentor Calibre DRC验证⏹Mentor Calibre LVS验证⏹Mentor Calibre寄生参数提取(PEX)第十二讲版图设计与验证流程实例⏹设计环境准备⏹反相器链电路的建立和前仿真⏹反相器链版图设计⏹反相器链版图验证与参数提取⏹反相器链电路后仿真⏹输入输出单元环设计⏹主体电路版图与输入输出单元环的连接⏹导出GDSII文件。
集成电路版图基础CMOS版图篇

“混合棒状图”法:
矩形代表有源区(宽度不限); 实线代表金属; 虚线代表多晶硅; “×”代表引线孔。其它层次不画,
通常靠近电源vdd的是P管,靠近地线gnd 的是N管。
集成电路版图基础CMOS版图篇
反相器棒状图
集成电路版图基础CMOS版图篇
电路图-棒状图-版图
集成电路版图基础CMOS版图篇
(2)MOS管并联(并联是指它们的源和源连 接,漏和漏连接,各自的栅还是独立的。)
栅极水平放置
电路图
版图
集成电路版图基础CMOS版图篇
栅极竖直方向排列 电路图
版图
集成电路版图基础CMOS版图篇
三个或三个以上MOS管并联。 类似大尺寸MOS管的拆分连接
源和漏的并联都用金属连接(叉指型)
集成电路版图基础CMOS版图篇
20/5
集成电路版图基础CMOS版图篇
3、图形绘制
集成电路版图基础CMOS版图篇
英特尔65纳米双核处理器的扫描电镜(SEM)截面图
集成电路版图基础CMOS版图篇
常用图层
版图图层名称 Nwell Active Pselect Nselect Poly cc Metal1 Metal2 Via
含义 N阱 有源扩散区 P型注入掩膜 N型注入掩膜 多晶硅 引线孔 第一层金属 第二层金属 通孔
衬底半导体材料要与电极接触,同样需要 引线孔(CC);
集成电路版图基础CMOS版图篇
P管衬底为N阱 (N型材料),接 电源;衬底连接 版图由NSELETC、 ACTIVE、CC、 METAL1组成
集成电路版图基础CMOS版图篇
N管衬底为基片(P型材料),接地;衬底 连接版图由PSELETC、ACTIVE、CC、 METAL1组成
版图技术——CMOS集成电路的版图设计

(2)最小间距 例如,金属、多晶、有源区或阱都必须保持最小间距。 (3)最小包围 例如,N阱、N+离子注入和P+离子注入包围有源区应该有足够的余量;多晶硅、 有源区和金属对接触孔四周要保持一定的覆盖。
⑤ 完整的MOS管版版图必须包含两个部分:a)由源、栅和漏组成的器件;b) 衬底连接。
(a)PMOS管
(b)NMOS管 完整的MOS管版图图形
5.1.2 MOS管阵列的版图实现
1.MOS管串联
(1) 两个MOS管的串联。 N1的源、漏区为X和Y,N0的源、漏区为Y和Z。Y是它们的公共区域,如 果把公共区域合并,得到图5.7(d)所示的两个MOS管串联连接的版图。 从电流的方向可以决定,当MOS管串联时,它们的电极按S-D-S-D-S-D方 式连接。
① MOS管的四种布局图
② 直线形排列的NMOS管
结构图 立体结构和俯视图
③ 源区、沟道区和漏区合称为MOS管的有源区(Active),而有源区之外的区域 定义为场区(Fox)。有源区和场区之和就是整个芯片表面。 Fox + Active = Surface
芯片表面包含有源区和场区两部分
④ N阱CMOS集成电路使用P型衬底,NMOS管直接制作在P型衬底上,PMOS 管做在N阱内。
第5章 CMOS集成电路的版图 设计
主要内容 5.1 MOS 场效应管的版图实现 5.2 版图设计规则 5.3 版图系统的设置 5.4 版图的建立 5.5 版图的编辑 5.6 棍棒图 5.7 版图设计方法概述
5.1 MOS 场效应管的版图实现
5.1.1 单个MOS管的版图实现
详细的集成电路版图基础介绍-CMOS版图

(4)最小延伸 例如,多晶栅极
须延伸到有源区 外一定长度。
在符合设计规则的前 提下, 争取最小的版图面积
5、阱与衬底连接
通常将PMOS管的衬底接高电位(正压); NMOS管的衬底接低电位(负压),以保 证电路正常工作
衬底材料导电性较差,为了保证接触的效 果,需要在接触区域制作一个同有源区类 似的掺杂区域降低接触电阻,形成接触区。
大面积的栅极与衬底之间有氧化 层隔绝,形成平板电容
栅电压降低
细长的C W LC0
MOS管栅极串联电阻值
R W / L R
S G
D
设计方法 (1)分段──
大尺寸MOS管分段成若干小尺寸MOS管。
(a) MOS管的W/L=200/1
CMOS集成电路版图基础
定义版图
什么是版图? 集成电路制造工艺中,通过光刻和刻蚀将
掩膜版上的图形转移到硅片上。这种制造 集成电路时使用的掩膜版上的几何图形定 义为集成电路的版图。 版图要求与对应电路严格匹配,具有完全 相同的器件、端口、连线
一、单个MOS管的版图实现
栅极负责施加控制电压 源极、漏极负 责电流的流进 流出
MOS器件版图图层 ——NMOS
N型注入掩模——NSELECT 有源扩散区——ACTIVE 多晶硅栅——POLY 引线孔——CC 金属一——METAL1 通孔一——VIA 金属二——METAL2
结构图 立体结构和俯视图
多晶硅栅(POLY)
金属一(METAL1)
引线孔(CC)
N型注入掩模 (NSELECT)
a)由源、栅和漏组成的器件;
b)衬底连接。
源区、沟道区和漏区合称为MOS管的 有源区(Active),有源区之外的区域 定义为场区(Fox)。有源区和场区之 和就是整个芯片表面即基片衬底 (SUB)。
CMOS集成电路版图Tanner_L-Edit设计入门

集成电路版图设计入门主要内容:•版图设计概念;•CMOS VLSI制造工艺;•Tanner版图流程举例(反相器)。
版图设计概念定义:版图设计是创建工程制图(网表)的精确的物理描述过程,而这一物理描述遵守有制造工艺、设计流程以及通过仿真显示为可行的性能要求所带来的一系列约束。
双极集成电路版图设计MOS集成电路版图设计电压比较器运算放大器CMOS VLSI制造工艺(略)参见相关资料Tanner版图流程举例(反相器)集成电路设计近年来发展相当迅速,许多设计需要借助计算机辅助设计软件。
作为将来从事集成电路设计的工作人员,至少需要对版图有所了解,但是许多软件(如cadence)实在工作站上执行的,不利于初学者。
L-Edit软件是基于PC上的设计工具,简单易学,操作方便,通过学习,掌握版图的设计流程。
Tanner Pro简介:Tanner Pro是一套集成电路设计软件,包括S-EDIT,T-SPICE,W-EDIT,L-EDIT,与LVS ,他们的主要功能分别如下:1、S-Edit:编辑电路图2、T-Spice:电路分析与模拟3、W-Edit:显示T-Spice模拟结果4、L-Edit:编辑布局图、自动配置与绕线、设计规则检查、截面观察、电路转化5、LVS:电路图与布局结果对比设计参数的设置Setup>Design •该对话框共有六页,分别是:Technology(工艺参数)、Grid(网格参数)、Selection(选择参数)、Drawing(绘图参数)、Curves(曲线参数)、Xref files(外部交叉引用参数)•网格分为显示网格、鼠标网格(跳跃、平滑)、定位器网格设计规则的作用•设计规则规定了生产中可以接受的几何尺寸的要求和达到的电学性能。
•对设计和制造双方来说,设计规则既是工艺加工应该达到的规范,也是设计必循遵循的原则•设计规则表示了成品率和性能的最佳折衷设计规则的设置(一)、设计的类型•Minimum Width•Exact Width•Not Exist•Spacing•Surround•Overlap•Extension•Density(1)Minimum Width 该层上所有object在任意方向上的宽度(2) Exact width 该层上所有object在特定方向上的准确宽度(3)Not Exist在指定的层上,所有object都不能存在.这是唯一不含距离的规则(4)Spacing在指定的层上或者在指定的两层之间的object的最小间距(5)Surround 一个层上的物体,在每个方向上,被另一层上的物体至少要环绕x各单位(6)Overlap 一个层上的物体必须与另一个层上的物体交叠的最小尺寸。
1CMOS集成电路版图1

pin ( B ) { direction : input ; capacitance : 0.00325375 ; rise_capacitance : 0.00320935 ; fall_capacitance : 0.00325375 ; } pin ( Z ) { direction : output ; capacitance : 0 ; rise_capacitance : 0 ; fall_capacitance : 0 ; max_capacitance : 0.339106 ; function : "A&B" ; timing ( ) { related_pin : "A" ; timing_sense : positive_unate ; cell_rise ( delay_template_6x6 ) { I ndex_1 ( "0.001, 0.02, 0.14, 0.3, 0.4, 0.6" ) ; index_2 ( "0.035081, 0.070236, 0.5616, 1.20947, 1.61987, 2.44" ) ; values ( \ "0.076805, 0.081402, 0.106231, 0.0976, 0.090606, 0.059221", \ "0.143982, 0.146638, 0.175056, 0.174726, 0.16746, 0.143956", \}
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Place & Route GDSII DRC + LVS FINAL GDSII Digital Cell Libraries
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逻辑综合使用的单元库
chapter 5 CMOS版图设计基础

5.1 版图设计入门
版图设计的目标
满足电路功能、性能指标、质量要求 尽可能节省面积,以提高集成度,降低成 本 尽可能缩短连线,以减少复杂度,缩短延 时、改善可靠性
5.1 版图设计入门
版图编辑
EDA工具的作用 工具的作用
规定各个工艺层上图形的形状、尺寸、位置(Layout Editor)
规则检验
版图与电路图一致性检验(LVS,Layout Versus Schematic) 设计规则检验(DRC,Design Rule Checker) 电气规则检验(ERC,Electrical Rule Checker)
2010-12-25
23
实验所采用的设计规则
表 : 接 触 孔 规 则 规则 5.1 5.2a 5.2b 5.3 6.1 6.2 6.3 6.4 描述 Poly Contact Exact Size FieldPoly Overlap of PolyCnt Not-Exists: PolyCnt_not_on_Poly PolyContact to PolyContact Spacing Active Contact Exact Size FieldActive Overlap of ActCnt ActCnt to ActCnt Spacing Active Contact to Gate Spacing 规则类型 Exact width Surround Not exist Spacing Exact width Surround Spacing Spacing 2 2 1.5 2 2 lambda 2 1.5 5
截面图
有源区图形 有源区最小宽度 相邻有源区边与边 之间的最小间距
5.3 基本工艺层版图
掺杂硅区:n+ 掺杂硅区
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(2)源漏共用── 合并源/漏区,将4个小MOS管并联
(a)形成S-G-D、S-G-D…排列
(b)左起第二个和第四个MOS管的、和漏互换
(c)将相邻S、D重叠
并联后MOS管宽长比与原大尺寸管宽长比 相同;
并联小MOS管个数为N,并联管的宽长比 等于原大尺寸管宽长比的1/N;
栅极串联电阻为原大尺寸管寄生电容的1/N
大面积的栅极与衬底之间有氧化 层隔绝,形成平板电容
栅电压降低
细长的栅极存在串联电阻,导 致栅极两端电压不同
MOS管寄生电容值
CW LC 0
MOS管栅极串联电阻值
RW/LR
S G
D
设计方法 (1)分段──
大尺寸MOS管分段成若干小尺寸MOS管。
(a) MOS管的W/L=200/1
(b) 截成4段(W/L=50/1)
含义 N阱 有源扩散区 P型注入掩膜 N型注入掩膜 多晶硅 引线孔 第一层金属 第二层金属 通孔
注意:
不同软件对图层名称定义不同; 严格区分图层作用。
版图图层名称 cc(或cont)
Via
含义
引线孔(连接金属与多晶硅 或有源区)
通孔(连接第一和第二层金 属)
MOS器件版图图层 ——PMOS
N阱——NWELL P型注入掩模——PSELECT 有源扩散区——ACTIVE 多晶硅栅——POLY 引线孔——CC 金属一——METAL1 通孔一——VIA 金属二——METAL2
a)由源、栅和漏组成的器件;
b)衬底连接。
源区、沟道区和漏区合称为MOS管的 有源区(Active),有源区之外的区域 定义为场区(Fox)。有源区和场区之 和就是整个芯片表面即基片衬底 (SUB)。
衬底连接布局
尽可能多的设置衬底连接区
6、大尺寸器件的设计
单个MOS管的尺寸沟道宽度一般小于20微 米,且宽长比W/L>1
电路图
N1和N0串联版图 N1、 N0版图
任意个MOS管串联。 例如3个MOS管串联的版图。
电路图
版图
(2)MOS管并联(并联是指它们的源和源连 接,漏和漏连接,各自的栅还是独立的。)
栅极水平放置
电路图
版图
栅极竖直方向排列 电路图
版图
三个或三个以上MOS管并联。 类似大尺寸MOS管的拆分连接
导电沟道
1、图形关系
栅
有源区注入杂质
形成晶体管, 栅与有源区重叠
有源区
的区域确定器件
尺寸,
导电沟道
称为导电沟道
只要源极、漏极以及导电沟道所覆盖的 区域称为有源区。
芯片中有源区以外的区域定义为场区。
2、器件尺寸设计
MOS管中电流由源极流向漏极。 沟道宽度
沟道中电流流过 的距离为沟道长度;
W
截面尺寸为沟道
(4)最小延伸 例如,多晶栅极
须延伸到有源区 外一定长度。
在符合设计规则的前 提下, 争取最小的版图面积
5、阱与衬底连接
通常将PMOS管的衬底接高电位(正压); NMOS管的衬底接低电位(负压),以保 证电路正常工作
衬底材料导电性较差,为了保证接触的效 果,需要在接触区域制作一个同有源区类 似的掺杂区域降低接触电阻,形成接触区。
MOS管宽长比(W/L)比值大于10:1的器 件可称为大尺寸器件。在版图上需要做特 殊处理。
大尺寸器件普遍应用于:
缓冲器(buffer)、
运放对管、
VDD
系统输出级。
BIAS
IN
OUT
IN-
IN
IN+
OUT
OUT
GND
buffer 对管
缓冲器中的一级反相器
运放对管
大尺寸器件存在的问题: 寄生电容; 栅极串联电阻
注意!
源漏共用只能在两个同类型MOS管中连接 相同节点的端口之间实现;
源漏共用可以在两个有相同节点的同类型 MOS管(如与非门的两个P管)之间实现
7、器件连接
实现源漏共用之后,需要将相应的端口连 接才能形成完整的MOS管。
将源极、漏极分别用梳状金属线连接,栅 极用多晶硅作为引线连接。
注意:
过长的多晶硅引线将导致较大的线电阻; 为了减小接触电阻,应尽量多做引线孔
S
G
D
并联后连接源和漏的金属线形成 “叉指”结构。
为节省面积,可以适当考虑减少引线孔, 使金属线跨越器件;并尽量将器件设置 成矩形
8、MOS管阵列的版图实现
(1) MOS管的串联。 N1的源、漏区为X和Y,N0的源、漏区为Y和Z。 利用源漏共用,得到两个MOS管串联连接的版图。
衬底半导体材料要与电极接触,同样需要 引线孔(CC);
P管衬底为N阱 (N型材料),接 电源;衬底连接 版图由NSELETC、 ACTIVE、CC、 METAL1组成
N管衬底为基片(P型材料),接地;衬底 连接版图由PSELETC、ACTIVE、CC、 METAL1组成
完整的MOS管版版图必须包含两个部 分:
定义版图
什么是版图? 集成电路制造工艺中,通过光刻和刻蚀将
掩膜版上的图形转移到硅片上。这种制造 集成电路时使用的掩膜版上的几何图形定 义为集成电路的版图。 版图要求与对应电路严格匹配,具有完全 相同的器件、端口、连线
一、单个MOS管的版图实现
栅极负责施加控制电压 源极、漏极负 责电流的流进 流出
通常靠近电源vdd的是P管,靠近地线gnd 的是N管。
反相器棒状图
电路图-棒状图-版图
a
b
练习
三输入与非门、或非门棒状图
MOS器件版图图层 ——NMOS
N型注入掩模——NSELECT 有源扩散区——ACTIVE 多晶硅栅——POLY 引线孔——CC 金属一——METAL1 通孔一——VIA 金属二——METAL2
结构图 立体结构和俯视图
多晶硅栅(POLY)
金属一(METAL1)
引线孔(CC)
N型注入掩模 (NSELECT)
源和漏的并联都用金属连接(叉指型)
(3)MOS管的复联 复联是同时存在MOS管串联和并联的情
况。
二、集成电路版图设计方法
棒状图设计 : 为了方便地从电路中得到最有效的源漏共
用版图,可以使用“棒状图设计”,在绘 制版图之前先制作结构草图。 可以很好的解决器件布局问题
“混合棒状图”法:
矩形代表有源区(宽度不限); 实线代表金属; 虚线代表多晶硅; “×”代表引线孔。其它层次不画,
有源区(ACTIVE)
版图设计中不需要绘制基片衬 底材料以及氧化层
4、版图设计规则
版图设计规则一般都 包含以下四种规则: (1) 最小宽度 例如,金属、多晶 、有源区或阱都必 须保持最小宽度。
(2)最小间距
例如,金属、多晶 、有源区或阱都必 须保持最小间距。
(3)最小包围
例如,N阱、N+离 子注入和P+离子注 入包围有源区应该 有足够的余量;多晶 硅、有源区和金属 对接触孔四周要保 持一定的覆盖。
宽度。
沟道长度 L
电流方向
设计中,常以宽度和长度值的比例式即宽 长比(W/L)表示器件尺寸。
例:假设一MOS管,尺寸参数为20/5。则 在版图上应如何标注其尺寸。
20/5
3、图形绘制
英特尔65纳米双核处理器的扫描电镜(SEM)截面图
常用图层
版图图层名称 Nwell Active Pselect Nselect Poly cc Metal1 Metal2 Via