俄歇电子能谱

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AES原理
俄歇电子能量：
首先考虑孤立原子，设原子序数为Z， 俄歇跃迁为WXY。 根据俄 歇过程从能量上看WXY俄歇电子能量(动能): 对从固体中发射的俄歇电子能量，如果俄歇过程不涉及价带，只需考 虑俄歇电子必须克服逸出功才能逸出就行了。所以俄歇电子能量
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AES俄歇电子能谱仪
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AES工作原理

局限性
①不能分析氢和氦元素； ②定量分析的准确度不高； ③对多数元素的探测灵敏度为原子摩尔分数0.1%~1.0%； ④电子束轰击损伤和电荷积累问题限制其在有机材料、生物样品和某些陶瓷材料中的应 用； ⑤对样品要求高，表面必须清洁(最好光滑)等。
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AES应用---表面元素的化学价态分析
表面元素化学价态分析是AES分析的一种重要功能。俄歇电子能谱的化学位
移分析在薄膜材料的研究上获得了重要的应用，取得了很好的效果。但是，由于我们很 难找到俄歇化学位移的标准数据，要判断其价态，必须用自制的标样进行对比，这是利 用俄歇电子能谱研究化学价态的不利之处。此外，俄歇电子能谱不仅有化学位移的变化， 还有线形的变化。俄歇电子能谱的线形分析也是进行元素化学价态分析的重要方法。
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AES应用---表面元素定性鉴定
这是一种最常规的分析方法，也是俄歇电子能谱最早的应用之一。一般利用俄歇 能谱仪的宽扫描程序, 收集从20～1700 eV动能区域的俄歇谱。为了增加谱图的 信背比，通常采用微分谱来进行定性鉴定。在分析俄歇能谱图时，必须考虑荷 电位移问题。一般来说，金属和半导体样品几乎不会荷电，因此不用校准。但 对于绝缘体薄膜样品，有时必须进行校准，以C 的KLL峰的俄歇动能为278.0 eV作为基准。
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AES应用的优缺点

优点
①作为固体表面分析法，其信息深度取决于俄歇电子逸出深度(电子平均自由程)。 对于能量为50eV~2keV范围内的俄歇电子，逸出深度为0.4~2nm。深度分辨率 约为1nm，横向分辨率取决于入射束斑大小。 ②可分析除H、He以外的各种元素。 ③对于轻元素C、O、N、S、P等有较高的分析灵敏度。 ④可进行成分的深度剖析或薄膜及界面分析。
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AES原理
俄歇电子能谱法是用具有一定能量的电子 束(或X射线)激发样品俄歇效应，通过检测俄 歇电子的能量和强度，从而获得有关材料表 面化学成分和结构的信息的方法 。
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原子外层电子结构
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AES原理
俄歇电子：处于基态的原子若用光子或电子冲击激发使内层电子电离后就在原子
的芯能级上产生一个空穴，从能量上看是不稳定的，并发生弛豫，K空穴被高能态L1 的一个电子填充，剩余的能量(Ek—El)用于释放一个电子即俄歇电子。
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AES应用---微区分析
微区分析也是俄歇电子能谱分析的一个重要功能，可以分为选点分析， 线扫描分析和面扫描分析三个方面。这种功能是俄歇电子能谱在微电子 器件研究中最常用的方法，也是纳米材料研究的主要手段。 俄歇电子能谱的线扫描分析常应用于表面扩散研究，界面分析研究等方 面
Ag-Au合金超薄膜在Si(111)面单晶硅上的电迁移后的样品表面的Ag和Au元素的线扫描。横坐标为线扫描宽度，纵坐标为元素的信号强 度。从图上可见，虽然Ag和Au元素的分布结构大致相同，但可见Au已向左端进行了较大规模的扩散。这表明Ag和Au在电场作用下的 扩散过程是不一样的。
俄歇电子能谱（AES）简介
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引言 AES原理 俄歇电子能谱仪 AES应用

AES应用的优缺点
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引言
俄歇过程是法国科学家Pierre Auger首先发现的。1922年俄歇完成大 学学习后加入物理化学实验室，在其准备光电效应论文实验时首先发 现这一现象。几个月后，于1923年他发表了对这一现象(其后以他的名 字命名)的首次描述。 1952年舒沃茨教授推出了用于超真空技术的离子泵，为俄歇电子能谱 学的创立开辟了道路。 1953年兰德博士在他的实验室里观察到了二次电子能谱的峰值，并将 这些峰确定为俄歇跃迁。 1967年，哈里斯提出了在相敏检波中采用扇形静电分析仪。并于1968 年正式发表在《应用物理》上，俄歇电子能谱学从此诞生了。并发展 成一种研究原子和固体表面的有力工具。尽管从理论上仍然有许多工 作要做，然而俄歇电子能谱现已被证明在许多领域是非常富有成果的。 如基础物理、原子分子碰撞过程的研究或基础和应用表面科学。P. Auger有幸长寿看到了他的发现的科学和技术影响。
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各元素的俄歇能量
K系列对于原子序数Z在3(Li)和13(Al)之间 L系列对于原子序数Z在11(Na)和35(Br)之间 M系列对于原子序数Z在19(K)和70(Yb)之间 N系列对于原子序数Z在39(Y)和94(Pu)之间
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AES应用---表面元素的半定量分析
首先应当明确的是AES不是一种很好的定量分析方法。它给出的仅是一 种半定量的分析结果，即相对含量而不是绝对含量。由AES提供的定量 数据是以原子百分比含量表示的，而不是我们平常所使用的重量百分比。 这种比例关系可以通过下列公式换算：
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AES应用---元素wk.baidu.com深度方向的分布分析
AES的深度分析功能是俄歇电子能谱最有用的分析功能。一般采用Ar离子
剥离样品表面的深度分析的方法。该方法是一种破坏性分析方法，会引起表面晶格的损 伤，择优溅射和表面原子混合等现象。其分析原理是先用Ar离子把表面一定厚度的表面 层溅射掉，然后再用AES分析剥离后的表面元素含量，这样就可以获得元素在样品中沿深 度方向的分布。
主要组成部分：电子枪、能量分析器、二次电子探测器、（样品）分析室、
溅射离子枪和信号处理与记录系统等
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AES应用
AES具有五个有用的特征量：特征能量、强度、峰位移、谱线宽 和线型。 由AES的这五方面特征可获如下：表面特征化学组成、覆盖度键 中的电荷转移、电子态密度和表面键中的电子能级等。
采用俄歇电子能谱可得到的信号种类和知识