硼扩散工艺实验报告

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硼向奥氏晶界的扩散机制

硼向奥氏晶界的扩散机制

硼在金属中的扩散问题是金属材料研究中的一 部分源于晶界领域的“贫硼区”. 随着晶界偏析的硼
个热门话题 ,由扩散导致的硼向奥氏体晶界的非平 增多晶界邻域的贫硼区宽度增大 ,这两者同时随淬
衡偏聚会对淬火钢的综合机械性能产生一系列的影 火加热温度升高和冷却速度的降低而增加 ,在晶界
响. 硼在淬火时向奥氏体晶界的偏聚是一种在冷却 形成连续的偏聚带进而发展成为不连续的聚集状
(11)
其中 n 是 ( a , b) 区间划分的份数 , b
n
a
=
h 是每个
梯形的高 , yi 是不同 x 处的 f ( x) 值.
在本问题中 , b -
a
=
t
-
0
=
t, b
Байду номын сангаас
n
a
=
t n
=
Δt ,
τ=
( xi ) 2 2. 80
=
D0 2tn〔y0
+
2 y1 + …… + 2 yn- 1 + yn〕,
设晶粒比较大而贫硼区的尺寸与晶粒的尺寸相
比小得多时 ,从而可以把扩散过程的一侧视为无限 ,
取 x = 0 处 C = 0 是把晶界设想为这种扩散原子团
的无限势阱 ,它可以不断地向晶界迁移 ,导致硼原子
在晶界的富集. 对于硼原子团的扩散过程 ,其扩散方程可以表
示为
1 D ( t)
9C 9t
=
92 C 9x2
.
(4)
利用式 (1) ,将 T 换成 t ,则 D = D ( t) ,作变量替
换 ,令 dτ = D ( t) d t ,有
∫ ∫ t

微电子实验报告

微电子实验报告

泸州职业技术学院实验报告学生姓名周民斌班级名称2011级微电1班专业微电子技术课程名称集成电路设计指导教师吕老师实验时间2013年 06 月 20 日 17 周星期实验名称:实验一,氧化工艺实验,实验二,光刻工艺实验,实验三,硼扩散工艺实验,实验四,磷扩散工艺实验。

实验目的,实验原理,实验步骤实验一氧化工艺实验一、实验目的1.学习硅片清洗2.氧化工艺操作二、实验原理1.硅片清洗硅片清洗液是指能够除去硅片表面沾污物的化学试剂或几种化学试剂配制的混合液。

常用硅片清洗液有:名称配方使用条件作用备注I号洗液NH4OH:H2O2:H2O=1:1:5~1:2:7 80±5℃10min去油脂去光刻胶残膜去金属离子去金属原子II号洗液HCL:H2O2:H2O=1:1:6~1:2:8 80±5℃10min去金属离子去金属原子III号洗液H2SO4:H2O=3:1 120±10℃10~15min去油去腊去金属离子去金属原子2.氧化原理二氧化硅能够紧紧地依附在硅衬底表面,具有极稳定的化学性和电绝缘性,因此,二氧化硅可以用来作为器件的保护层和钝化层,以及电性能的隔离、绝缘材料和电容器的介质膜。

二氧化硅的另一个重要性质,对某些杂质(如硼、磷、砷等)起到掩蔽作用。

从而可以实行选择扩散;正是利用这一性质,并结合光刻和扩散工艺,才发展起来平面工艺和超大规模集成电路。

制备二氧化硅的方法很多,但热氧化制备的二氧化硅掩蔽能力最强。

是集成电路工艺最重要的工艺之一,本实验为热氧化二氧化硅制备工艺。

根据迪尔就格罗夫模型,热氧化过程须经历如下过程:1.氧化剂从其他内部以扩散形式穿过滞留层运动到SiO2-气体界面,其流密度用F1表示。

流密度定义为单位时间通过单位面积的粒子数。

2.氧化剂以扩散方式穿过SiO2层(忽略漂移的影响),到达SiO2-Si界面,其流密度用F2表示。

3. 氧化剂在Si表面与Si反应声称SiO2,流密度用F3表示。

基于SE技术的硼扩散和氧化退火工艺研究

基于SE技术的硼扩散和氧化退火工艺研究

基于SE技术的硼扩散和氧化退火工艺研究作者:成秋云陈骏李明赵增超刘湘祁来源:《科技风》2024年第08期摘要:主要探究了關于N-TOPCon电池应用于选择性发射极(SE)技术中的硼扩散和氧化退火工艺。

通过设定实验变量,包括无氧推进过程及其所处的硼扩散和氧化退火工艺阶段,进行了方阻、ECV和钝化方面测试验证。

在氧化退火工艺中,低温氧气注入(860℃)能够改善整个非SE区域方阻的均匀性,延长升温无氧推进过程会降低方阻的均匀度;利用氧化硅和硅对于硼原子的不同扩散系数,低温氧气注入可以有效抑制硼原子的剧烈扩散,改善方阻均匀度。

实验通过低温氧气注入,片内方阻的标准方差由32.5%改善至2.5%,增加了方阻均匀度。

硼扩散工艺在BCl3源沉积后的推进程度决定了氧化退火工艺后的非SE区域的方阻和表面浓度。

实验通过调节硼扩散的推进程度使得表面浓度由1.2E19atom/cm3降低至5E18atom/cm3,表面暗电流饱和密度由47fA/cm2降低至37fA/cm2,I-Voc提升了8mV。

有效降低了饱和暗电流以及提升了开路电压。

关键词:低温氧化;方阻均匀度;推进;表面浓度;饱和暗电流密度太阳能作为一种新兴的可再生能源,是目前能够替代煤、石油等传统化石能源的最有效手段。

近年来,随着各国能源转型发展,光伏装机量在不断攀升。

光伏技术随着市场需求的发展亦是不断迭代更新,电池技术也是不断更新升级[1]。

N型TOPCon (TunnelOxidePassivatingContacts)隧穿氧化层钝化接触技术快速替代原有P型PERC (PassivatedEmitterandRearCell)钝化发射极和背部接触电池技术得以快速发展,成为目前炙手可热的光伏电池技术之一。

在N型TOPCon电池制备的工艺过程中,硼发射极的制备是形成PN结的关键步骤,是整个太阳能电池的心脏。

硼发射极的产业化制备主要包括BBr3和BCl3两种源来进行,由于BCl3自身特性,有利于延长炉管的寿命周期和低成本以及副产物Cl2的去杂质功能等优点,目前大多电池生产厂家使用BCl3源来制备PN结[2]。

硼扩散实验——精选推荐

硼扩散实验——精选推荐

两步法掺硼杂质(硼扩散)实验一、实验目的和要求:扩散工艺实验是通过平面工艺制造出有晶体管特性的硅平面NPN 晶体管等器件中的氧化、扩散、光刻这三个平面工艺中最基本工艺之一。

硼扩散工艺实验的目的是通过具体的硼扩散工艺操作熟悉硼扩散工艺步骤、了解扩散设备的使用以及进一步掌握和巩固两步法硼扩散工艺的原理和相关知识。

同时了解相关测试和分析手段,以及对工艺环境和成品率进行分析和评价。

二、实验原理:1、杂质浓度分布情况:硼扩散通常分为硼的预沉积(预扩散)和硼的再分布(再扩散)两步进行。

这就是硅平面工艺中所说的两步扩散工艺。

(1) 预沉积:采取恒定表面浓度的扩散方式,在硅片表面沉积上一层杂质原子。

由于扩散温度较低,且扩散时间较短,因此在预沉积过程中,杂质原子在硅片表面的扩散深度较浅。

其杂质分布遵循余误差函数分布。

根据这种扩散的特点可以写出它的初始条件和边界条件为:初始条件: (,0)0N x = (x 扩散结深)边界条件: (0,)N s N t = 和 (,t)0N ∞= (t 扩散时间;为Si 片表面的杂质浓度为恒定值)根据扩散方程 22N N D t x∂∂=∂∂ 和上述条件可解出预淀积杂质分布(,)N x t 表达式:220(,)(1)exp()s N x t N d πλλ=-- (λ为结深的微元) (1)简写为(,)s N x t N erfc = (D 为扩散系数) (2) 式中:erfc 为余误差函数;表面杂质浓度s N 和D 扩散系数主要取决于不同杂质元素和扩散温(0exp()a E D D kT -=,0D 和a E 为实验值)。

注:N s 是半导体内表面处的杂质浓度,它并不等于半导体周围气氛中的杂质浓度。

当气氛中得分压强较低时,在半导体内表面处的杂质溶解度将与其周围气氛中杂质的压强成正比。

当杂质分压强较高时,则与周围气氛中杂质的分压强无关,数值上等于扩散温度下杂质在半导体中的固溶度。

(2) 再分布:是把由预沉积过程在硅片表面淀积了一定杂质的硅片,放入较高温度的扩散炉内加热,使杂质向硅片内部扩散,扩散过程中没有外来杂质的补充,是一种限定源扩散。

硼再扩散实验报告(3篇)

硼再扩散实验报告(3篇)

第1篇一、实验目的本次实验旨在研究硼元素在特定条件下的再扩散行为,探讨不同因素对硼扩散速率的影响,为半导体材料制备和器件设计提供理论依据。

二、实验原理硼再扩散是指半导体材料中硼掺杂原子在高温条件下从高浓度区域向低浓度区域扩散的现象。

实验中,通过在单晶硅(Si)基板上制备硼掺杂层,然后加热至一定温度,观察并记录硼掺杂原子在材料中的再扩散情况。

三、实验材料与设备1. 实验材料:- 高纯度单晶硅(n型,电阻率为0.01Ω·cm)- 硼掺杂源(三氯化硼,BCl3)2. 实验设备:- 真空系统- 硅片清洗设备- 气相沉积设备- 真空炉- 温度控制器- 光学显微镜- 扫描电子显微镜(SEM)- 能量色散光谱仪(EDS)四、实验步骤1. 硅片清洗:将单晶硅片在去离子水中清洗,然后依次用丙酮、乙醇、去离子水超声清洗,最后用氮气吹干。

2. 硼掺杂:将清洗干净的硅片置于真空系统中,用气相沉积设备在硅片表面沉积一层厚度为1μm的硼掺杂层。

3. 硼再扩散实验:- 将沉积硼掺杂层的硅片放入真空炉中,设置不同的温度(例如:800℃、900℃、1000℃)。

- 在设定的温度下,加热硅片一定时间(例如:30分钟、60分钟、120分钟)。

- 加热结束后,迅速取出硅片,进行后续测试。

4. 分析与测试:- 利用光学显微镜观察硅片表面的形貌变化。

- 利用SEM和EDS分析硅片表面及内部的硼掺杂分布。

- 利用能量色散光谱仪(EDS)测定硅片中硼掺杂原子的浓度。

五、实验结果与分析1. 实验结果显示,随着加热温度的升高,硼掺杂原子在硅片中的再扩散速率逐渐加快。

2. 在800℃条件下,加热30分钟,硼掺杂原子在硅片中的扩散深度约为0.5μm;加热60分钟,扩散深度约为1μm;加热120分钟,扩散深度约为1.5μm。

3. 在900℃条件下,加热30分钟,硼掺杂原子在硅片中的扩散深度约为1μm;加热60分钟,扩散深度约为1.5μm;加热120分钟,扩散深度约为2μm。

硼磷扩散

硼磷扩散

一、硼扩散工艺原理(液态源)目前,液态源硼扩散常用:硼酸三甲酯B(CH3O)3,硼酸三丙酯,三溴化硼B(B2)3,无水硼酸三甲酯B(CH3O)3,为无色透明液体,在室温下挥发形成,具有较高真气压,硼酸三甲酯遇水易分解,升成硼酸和甲醇。

B(CH3O)+ 3H2O=H3BO3 + 3(CH3OH)B(CH3O)500℃以上B2O3 + CO2 + H2O + C2B2O3 + 3Si = 3SiO2 + 4B硼酸三甲酯在高温(500℃以上)能够分解出三氧化二硼(B2O3),而三氧化二硼在900℃左右又能与硅片起反应,生成硼原子,并沉积在硅片表面,这就是预沉积过程;沉积后在基区窗口表面上生成具有色彩的硼硅玻璃。

二、硼扩散装置:硼再分布:当炉温升到预定温度(1180℃以后)通干O2 20分钟,排除管道内空气,同时加热水浴瓶,是水浴温度达到设定温度值950℃,一切就绪后,即可将正片和陪片一起装入石英舟推入炉子恒温区,先通5分钟干氧,在改通30分钟湿氧,最后通5分钟干氧,时间到即可把硅片拉出石英管,倒在铜块上淬火,防止慢降温时,金从硅体中析出。

一、磷扩散工艺原理5POCl3 >600℃3PCl5 + P2O52P2O5 + 5Si = 5SiO2 + 4P4PCl5+5O2 过量O2 2P2O5+6Cl24PCl3+3O2 过量O2 2P2O5+6Cl2磷预沉积时,一般通N2为20~80ml/分,O2为20~40ml/分,O2可通过,也可不通过源。

二、磷扩散装置磷扩散源POCl3是无色透明有窒息性气味的毒性液体,要求扩散系统密封性好,源瓶进出口两端最好用聚四氟乙烯或聚氯乙烯管道连接。

若用其他塑料管或乳胶管连接易被腐蚀,就需要经常更换。

接口处最好用封口胶,由系统流出气体应通过排风管排到室外,不要泄漏在室内。

源瓶要严加密封,切勿让湿气进入源瓶。

因为三氯氧磷吸水汽而变质,做扩散温度上不去。

2POCl3+3H2O=P2O5+5HCl发现三氟氧磷出现淡黄色就不能使用。

硼磷扩散原理和示意图

硼磷扩散原理和示意图

一、硼扩散工艺原理(液态源)目前,液态源硼扩散常用:硼酸三甲酯B(CH3O)3,硼酸三丙酯,三溴化硼B(B2)3,无水硼酸三甲酯B(CH3O)3,为无色透明液体,在室温下挥发形成,具有较高真气压,硼酸三甲酯遇水易分解,升成硼酸和甲醇。

B(CH3O)+ 3H2O=H3BO3 + 3(CH3OH)B(CH3O)500℃以上B2O3 + CO2 + H2O + C2B2O3 + 3Si = 3SiO2 + 4B硼酸三甲酯在高温(500℃以上)能够分解出三氧化二硼(B2O3),而三氧化二硼在900℃左右又能与硅片起反应,生成硼原子,并沉积在硅片表面,这就是预沉积过程;沉积后在基区窗口表面上生成具有色彩的硼硅玻璃。

二、硼扩散装置:硼再分布:当炉温升到预定温度(1180℃以后)通干O2 20分钟,排除管道内空气,同时加热水浴瓶,是水浴温度达到设定温度值950℃,一切就绪后,即可将正片和陪片一起装入石英舟推入炉子恒温区,先通5分钟干氧,在改通30分钟湿氧,最后通5分钟干氧,时间到即可把硅片拉出石英管,倒在铜块上淬火,防止慢降温时,金从硅体中析出。

一、磷扩散工艺原理5POCl3 >600℃3PCl5 + P2O52P2O5 + 5Si = 5SiO2 + 4P4PCl5+5O2 过量O2 2P2O5+6Cl24PCl3+3O2 过量O2 2P2O5+6Cl2磷预沉积时,一般通N2为20~80ml/分,O2为20~40ml/分,O2可通过,也可不通过源。

二、磷扩散装置磷扩散源POCl3是无色透明有窒息性气味的毒性液体,要求扩散系统密封性好,源瓶进出口两端最好用聚四氟乙烯或聚氯乙烯管道连接。

若用其他塑料管或乳胶管连接易被腐蚀,就需要经常更换。

接口处最好用封口胶,由系统流出气体应通过排风管排到室外,不要泄漏在室内。

源瓶要严加密封,切勿让湿气进入源瓶。

因为三氯氧磷吸水汽而变质,做扩散温度上不去。

2POCl3+3H2O=P2O5+5HCl发现三氟氧磷出现淡黄色就不能使用。

硼扩散机理及工艺应用技术研究

硼扩散机理及工艺应用技术研究

硼扩散机理及工艺应用技术研究硼扩散机理及工艺应用技术研究报告1. 研究背景•硼扩散机理的研究在半导体行业中具有重要的意义。

•工艺应用技术的研究能够提高硼扩散工艺的效率和稳定性。

2. 硼扩散机理的理论基础•硼扩散是指通过热处理使得硼原子从高浓度的区域向低浓度的区域扩散。

•扩散过程中硼原子通过晶格空位或替代晶格中的其他原子进行扩散。

硼扩散的动力学模型•硼扩散可以通过Fick定律进行描述,其中扩散通量与浓度梯度成正比。

•硼扩散的速率还受到温度、时间和硼浓度的影响。

硼扩散的影响因素•晶体表面状态对硼扩散的影响较大。

•杂质的存在可能导致硼扩散机理发生改变。

3. 硼扩散工艺应用技术研究•硼扩散工艺的研究旨在提高掺杂均匀性和扩散速率。

控制掺杂均匀性的方法•通过改变扩散源的形状和结构可以提高掺杂均匀性。

•优化扩散参数可以控制掺杂均匀性的分布。

提高扩散速率的方法•使用特殊的扩散源可以提高扩散速率。

•增加热处理温度和时间可以加快扩散速率。

4. 工艺应用技术的实验研究•进行实验以验证理论模型和工艺应用技术的效果。

硼扩散实验设计•设计实验方案,包括扩散源的选择、扩散温度和时间的控制等。

实验结果分析•分析实验数据,验证理论模型的正确性。

•评估工艺应用技术在实验中的效果。

5. 结论与展望•硼扩散机理的研究对于半导体行业具有重要意义。

•工艺应用技术的研究能够提高硼扩散工艺的效率和稳定性。

•进一步的研究可以探索更高效的硼扩散工艺应用技术。

以上是对于”硼扩散机理及工艺应用技术研究”的相关研究报告,希望能对您的研究有所帮助。

211049856_硼扩散设备若干难点问题的研究

211049856_硼扩散设备若干难点问题的研究
1.2.3 实际效果 硼扩散设备的温度从 900 ℃升至 1010 ℃时,
在升温的斜率为 5 ℃/min 的情况下,截取某个温 区自然升温和斜率升温时的曲线,如图 6 所示。
54
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第 03 期
彭浩等:硼扩散设备若干难点问题的研究
技术应用
(3)
BCl3 的沸点为 12.5 ℃,常温下为气态。BCl3
的优点有:1) 无腐蚀性,使石英管的使用寿命
延长;2) 扩散后生成物 B2O3 呈颗粒状,自带 Cl2 清洗功能,可保持炉管清洁,无需增加 DCE 清洗;
3) 自身价格低。缺点有:1) 气态,危险性较高;
2) 扩散均匀性稍差。
采用 BCl3 作为硼源时,硼扩散工艺过程的 反应式为:
彭 浩 *,赵志然,龙 辉,郭 浩
( 湖南红太阳光电科技有限公司,长沙 410221)
摘 要:随着针对 n 型太阳电池的投资提速,国内光伏企业积极开展 TOPCon 太阳电池布局,产业化进程得
到加速,推进新技术落地。硼扩散设备作为 TOPCon 太阳电池技术的关键工艺设备之一,获得了市场极大的
关注。针对硼扩散设备使用过程中遇到的不同类型硼源的问题,通过分析各种硼源的特性,提出了相应的硼
18:37:11 ้ਗ਼
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18:38:11 ॠ֪ኵ
18:39:11
图 3 BBr3 硼源的控制效果图 Fig. 3 Control effect diagram of BBr3 boron source
从图 3 可以看出:携源 N2 流量计的检测值 和设定值基本同步,说明 BBr3 流量能得到有效 控制。
第 03 期 总第 347 期 2023 年 03 月

硼扩散工艺对多晶黑硅效率的影响分析

硼扩散工艺对多晶黑硅效率的影响分析

2021年2月第34卷第1期山西能源学院学报Journal of Shanxi Institute of EnergyFeb.,2021Vol.34No.1•自然科学研究•硼扩散工艺对多晶黑硅效率的影响分析赵彩霞郭丽张波杨飞飞赵科巍(山西潞安太阳能科技有限责任公司,山西长治046000)【摘要】本文针对硼扩散下多晶黑硅的表面复合速率高光电转换效率低的问题,在多晶黑硅太阳电池片上采用了多步变温扩散工艺增加前氧化工艺方法,研究了多步硼扩散工艺下进行的方阻梯度变化情况。

结果表明:多晶黑硅在背面硼扩散方阻2800左右的条件下,电性能最佳,方阻过高或过低均不利于电池片光电转换。

【关键词】多晶黑硅;硼扩散;多步扩;方阻;转换效率【中图分类号】TD32【文献标识码】A【文章编号】2096-4102(2021)01-0100-031引言目前在晶硅太阳能产业链中,由于硅片的切割技术已由原本的砂线切割改为金刚线切割,单晶硅硅基电池以其技术路线成熟效率高的特点已逐渐在市场占有率上高于多晶硅。

加上经过制绒后的单晶硅片反射率通常在11%左右,而砂浆切割的多晶硅片反射率为18%左右,因此多晶电池片更不具有竞争优势。

但由于黑硅有着优越的陷光作用,于是将黑硅多晶金属催化化学腐蚀法制绒工艺(Metal-catalyzed chemical etching,简称MCCE)应用到金刚线切割多晶硅片后,反射率可以降低至12%左右,并大幅降低多晶电池片的光学损失,提高多晶电池的转换效率,从而逐步缩小多晶电池与单晶电池的效率差异。

另外,多晶电池片本身加工成本较低,在缩小电池片转换效率之后,给多晶黑硅电池带来了转机。

在晶硅电池中影响光电转换效率的主要因素一是载流子表面复合速率;二是硅铝背接触的接触电阻。

但传统铝背场以吸杂与钝化来增加少子寿命来提高光电转换效率也不满足目前的高效电池要求,如何进一步降低表面复合速率提高光电转换效率的研究显得更加重要。

硼扩散机理及工艺应用技术研究

硼扩散机理及工艺应用技术研究

收稿日期:2020-03-30基金项目:中国-埃及可再生能源联合实验室项目(KY201501003)。

硼扩散机理及工艺应用技术研究姬常晓,黄志海,程文进,赵志然,张威,汪已淋(中国电子科技集团公司第四十八研究所,湖南长沙410111)摘要:针对高效晶硅太阳电池对表面扩散掺杂技术的要求,阐述了干法硼扩散掺杂原理及弊端;通过引入湿法再分布扩散方式,分析了气体流量、水汽流量和工艺匹配性等因素对硅片表面扩散效果的影响;根据和干法扩散方式在应用效果方面的对比,分析了湿法再分布扩散工艺在产业化应用方面的优点。

关键词:高温扩散;干法硼扩散;湿法再分布硼扩散中图分类号:TN305.3文献标识码:A文章编号:1004-4507(2020)03-0005-08Study on Boron Diffusion Mechanism andTechnology ApplicationJI Changxiao ,HUANG Zhihai ,CHEN Wenjin ,ZHAO Zhiran ,ZHANG Wei ,WANG Yilin(The 48th Research Institute of CETC ,Changsha 410111,China )Abstract:According to the requirements of surface diffusion doping technology for high efficiency crystalline silicon solar cells ,the mechanism and disadvantage of dry boron diffusion are described.With the introduction of wet redistributed diffusion method ,the effects of gas flow rate ,water vapor flow rate and process matching on the surface diffusion of silicon wafers are analyzed.According to the comparison of the application effect with the dry diffusion method ,the advantages of the wet redistribution diffusion process in industrial application are analyzed.Key words:High temperature diffusion ;Dry boron diffusion ;Wet redistributed boron diffusion经过近10年的膨胀式发展,太阳能发电技术日趋成熟,上网电价日趋接近平价上网,已被公认为最具潜力的可再生能源发电方式之一。

[太阳能电池硼扩散工艺]硼扩散工艺

[太阳能电池硼扩散工艺]硼扩散工艺

[太阳能电池硼扩散工艺]硼扩散工艺太阳能电池硼扩散工艺1. 准备工作:1.光刻间坚膜烘箱开启,参数:120℃;2.预设定硼扩散炉温度为950℃;3.1#HF配制,参数:HF:H2O=1:5,360mL;4.2#HF配制,参数:HF:H2O=1:10,440mL;5.清洗干净聚四氟乙烯架、石英烧杯和小石英舟各一套,烘干备用。

6.预设定氧化炉温度为1050℃;7.清洗干净倒扣皿(大体积)一套,烘干备用。

2. 操作步骤:1.背面氧化铁的去除:(1)硅片另一面涂正胶并120℃坚膜30分钟(目的:侵害正面二氧化硅);(2)将坚膜后的硅片放入1#HF溶液中刻蚀(提前放入填料架,硅片就斜靠在里面架子上),时间(8-12)分钟后捞出,无水乙醇简单冲洗干净,氮气吹干硅片表面(无明显的水汽),经测试方块电阻为(40.5Ω·cm),再进行下一步;(3)醚去除正面的正胶,再用无水乙醇洗去丙酮(乙醇的份量多于丙酮1/3),纯水冲洗(10杯)并用氮气吹干,小心存放于烧杯中的小石英舟内;2.硼扩散掺杂(预扩散):(1)硼扩散炉使用扩散源为直径2英寸的铋陶瓷扩散源片(二氧化钛舟和陶瓷源片预放于硼二氧化硅扩散炉石英管中央)。

待硼扩散炉温度为950℃,设定氮气参数(2L/min,3-5分钟,排尽空气之后,降为0.5 L/min)停留10分钟后,缓慢拖出石英舟到炉口冷(2)设定硼扩散炉气压为980℃,当温度达到980℃的时候,用夹子夹出石英舟放于炉口下塑瓷盖子内冷却(小心操作);(3)把硅片到手氧化炉处,小心取出硅片放入氧化炉的大石英舟内(硅片背面和硼扩散源片一定铪要平行放置,整个操作过程一定得很小心)。

把装好硅片的石英舟拉到氧化炉炉口(稍微靠炉口里面一点,外面完全不会碰到为止,注意安全);(4)硅片炉口预热5分钟,待温度稳定在980℃之后,缓慢推进石英舟直至硼扩散炉石英管中央,关上炉口钟罩(出气口向下)。

(5)秒表计时,扩散时间为(25-30)分钟;(6)扩散完成后,关闭硼扩散炉,不关闭氮气的供应。

电池片硼扩工艺

电池片硼扩工艺

电池片硼扩工艺
电池片硼扩工艺是单晶硅电池制造中的重要工艺之一,主要用于制备PN结。

该工艺通过在N型硅片(掺磷)上扩散P型元素(硼),形成P-N结(即空间电荷区),在正面形成P+层,背面形成N+层。

在一定的浓度、温度、压力及时间下,硼源(BBr3或BCl3)在管式炉中汽化后,经过一系列化学反应在硅片表面进行沉积,获得合适的掺杂浓度、结深及方阻。

完成硼扩散后,还需要进行碱抛光和LPCVD(低压化学气相沉积)等后续工艺。

碱抛光的目的是去除硅片边缘的PN结和去除PSG(含磷的玻璃体)。

LPCVD的目的是在硅片背面沉积一层超薄氧化层,提供良好的界面钝化,同时提供不同载流子隧穿势垒。

氧化层上再沉积一层非晶硅,增加电子的迁移速率同时抑制空穴的迁移速率,非晶硅与金属接触,起到电子传输桥梁的作用。

关于扩散工艺的实习报告

关于扩散工艺的实习报告

实习报告实习单位:XX科技有限公司实习时间:2023年3月1日至2023年3月31日实习内容:扩散工艺一、实习背景及目的作为一名材料科学与工程专业的学生,我深知实践操作对于理论知识的重要性。

为了更好地将所学知识应用到实际工作中,提高自己的综合素质,我选择了XX科技有限公司进行为期一个月的实习。

本次实习主要涉及扩散工艺的操作和学习,旨在了解扩散工艺的基本原理、流程及应用。

二、实习内容及过程1. 实习前的培训在实习开始前,公司为我们实习生进行了系统的培训,包括安全知识、厂规厂纪、设备操作等方面。

通过培训,我们对公司的基本情况有了初步了解,为接下来的实习打下了基础。

2. 实习过程中的学习与操作(1)扩散工艺的基本原理扩散工艺是一种通过高温加热,使两种不同的金属元素在固态下发生相互渗透,形成合金的过程。

扩散焊接是一种常见的扩散工艺,其原理是通过高温使焊接界面上的原子发生扩散,达到焊接的目的。

(2)扩散工艺的流程扩散工艺的流程主要包括以下几个步骤:① 准备扩散材料:选择合适的金属材料,并进行表面处理,去除氧化层、油污等。

② 装配:将准备好的金属材料进行装配,使焊接界面紧密接触。

③ 高温加热:将装配好的试样放入扩散炉中,加热至高温状态,保持一定时间。

④ 冷却:缓慢冷却至室温,使原子充分扩散。

⑤ 检测:对扩散焊接接头进行宏观和微观检测,评估焊接质量。

(3)扩散工艺的应用扩散工艺在许多领域都有广泛的应用,如航空航天、汽车制造、电子封装等。

特别是在航空航天领域,扩散焊接技术在发动机叶片、涡轮盘等关键部件的制造中起着重要作用。

3. 实习中的困难与解决方法在实习过程中,我遇到了一些困难,如设备操作不熟练、焊接质量不稳定等。

针对这些问题,我通过请教同事、查阅资料、反复实践等方式,逐步掌握了操作技巧,提高了焊接质量。

三、实习收获与反思通过本次实习,我对扩散工艺有了更深入的了解,掌握了基本的操作技能。

同时,实习过程中的困难与挑战,也锻炼了我的解决问题、团队合作的能力。

固态氮化硼扩散

固态氮化硼扩散

固态氮化硼扩散一、 目的通过固态氮化硼扩散,掌握通过扩散法获得P —n 结的方法。

二、 原理所谓扩散技术,是指将杂质引入到半导体中,使之在半导体的特定区域中具有某种导电类型和一定电阻率的方法,当前制备P —n 结的最主要方法是扩散法。

对于硅平面器件,整个器件的结构和性能基本上由扩散工艺确定, 。

扩散是物质分子或原子热运动引起的一种自然现象。

浓度差别的存在是产生扩散运动的必要条件,环境温度的高低是决定扩散运动快慢的重要因素。

扩散现象所遵循的客观规律可用扩散第一定律和扩散第二定律描述,其数学表达式为:xN D t x J ∂∂)=-,( (2-1) 22xN D t N ∂∂∂∂= (2-2)在扩散工艺中,硼、磷等杂质的扩散通常都分成预沉积和再分布两步进行。

在预沉积过程中,扩散是在恒定表面浓度的条件下进行的。

在此条件下,解扩散方程(2-2),得到的扩散分布是一种余误差函数,表达式为: Dt2x erfcN dx e Dt 2N t x N s x 2x s2⋅⋅∫∞=)=,(-π(2-3)按照(2-3)式画出的关系曲线如图2-1所示。

图2-l 恒定表面浓度扩散的杂质分布恒定表面浓度扩散分布曲线下面的面积表示扩散进入硅片单位表面的杂质总量。

Dt 1.13N Dt2N dx Dt2x erfcN dx t x,N Q s ss ===)(=π∫∫∞∞(2-4)而在再分布过程中,扩散是在限定源的条件下进有的。

整个扩散过程的杂质源,限定于扩散前积累在硅片表面的无限薄层内的杂质总量Q ,没有外来杂质补充--在硅片表面(x =o )处的杂质流密度0xNDJ =∂∂,因此,杂质总量Q 是一个常数。

在此条件下解扩散方程(2-2),得到的扩散分布是高斯函数分布,表达式为:4Dtx 2eDtQt x,N -)=(π (2-5)按照公式(2-5)式画出的关系曲线如图2-2所示。

由图可见,随着扩散时间的增加,一方面杂质扩散入硅片内部的深度逐渐增大,另一方面.硅片表面的杂质浓度将不断下降。

硼磷扩散Word版

硼磷扩散Word版

一、硼扩散工艺原理(液态源)目前,液态源硼扩散常用:硼酸三甲酯B(CH3O)3,硼酸三丙酯,三溴化硼B(B2)3,无水硼酸三甲酯B(CH3O)3,为无色透明液体,在室温下挥发形成,具有较高真气压,硼酸三甲酯遇水易分解,升成硼酸和甲醇。

B(CH3O)+ 3H2O=H3BO3 + 3(CH3OH)B(CH3O)500℃以上B2O3 + CO2 + H2O + C2B2O3 + 3Si = 3SiO2 + 4B硼酸三甲酯在高温(500℃以上)能够分解出三氧化二硼(B2O3),而三氧化二硼在900℃左右又能与硅片起反应,生成硼原子,并沉积在硅片表面,这就是预沉积过程;沉积后在基区窗口表面上生成具有色彩的硼硅玻璃。

二、硼扩散装置:硼再分布:当炉温升到预定温度(1180℃以后)通干O2 20分钟,排除管道内空气,同时加热水浴瓶,是水浴温度达到设定温度值950℃,一切就绪后,即可将正片和陪片一起装入石英舟推入炉子恒温区,先通5分钟干氧,在改通30分钟湿氧,最后通5分钟干氧,时间到即可把硅片拉出石英管,倒在铜块上淬火,防止慢降温时,金从硅体中析出。

一、磷扩散工艺原理5POCl3 >600℃3PCl5 + P2O52P2O5 + 5Si = 5SiO2 + 4P4PCl5+5O2 过量O2 2P2O5+6Cl24PCl3+3O2 过量O2 2P2O5+6Cl2磷预沉积时,一般通N2为20~80ml/分,O2为20~40ml/分,O2可通过,也可不通过源。

二、磷扩散装置磷扩散源POCl3是无色透明有窒息性气味的毒性液体,要求扩散系统密封性好,源瓶进出口两端最好用聚四氟乙烯或聚氯乙烯管道连接。

若用其他塑料管或乳胶管连接易被腐蚀,就需要经常更换。

接口处最好用封口胶,由系统流出气体应通过排风管排到室外,不要泄漏在室内。

源瓶要严加密封,切勿让湿气进入源瓶。

因为三氯氧磷吸水汽而变质,做扩散温度上不去。

2POCl3+3H2O=P2O5+5HCl发现三氟氧磷出现淡黄色就不能使用。

55-晶体硅太阳电池中简易硼扩散方法用于形成均匀发射极研究生

55-晶体硅太阳电池中简易硼扩散方法用于形成均匀发射极研究生

硅片中,导致载流子复合严重从而降低了开路电压。 由于我们把硼盐酸涂覆到另一片硅片的表面,因此 即使存在杂质,也更多的被这一硅片吸收,从而有 效避免了上述问题,因此得到了较高的开路电压, 并且随着我们进一步优化钝化、背表面场和烧结条 件等,有望得到更高的开路电压和电池效率。
4 结语
本文报道了一种利用硼盐酸形成均匀发射极的 简易方法,在 N2 保护下 920 ℃、27 min 扩散得到 的方阻的平均值为 65 Ω/□,偏差≤4.2 Ω/□, 得到的电池的开路电压高于固态硼扩散的开路电 压,与固态硼扩散和液态硼扩散相比还具有扩散温 度低、时间短、工艺简单和环境友好等优点,因此, 这种扩散工艺在制备 n 型太阳能电池的发射极方面 具有广阔的应用前景。此外,这种扩散工艺还可以 应用到制备 p 型电池的背场。
2
+
到 2×2 cm 的电池后,在 n 背表面场使用电子束蒸
发 20/200 nm 的 Ti/Al 并退火形成背电极,电池结构 制结是制备发射极常用的方法[1]。由于 B2O3 的沸点
如图 1 所示。使用 XEC 301S 3A 级太阳光模拟器和 高于 P2O5,因此固态硼源扩散的结的均匀性难以控
Keithley 590 CV 测试仪对电池的性能进行测试。 制,生产中通常使用液态 BBr3 作为硼源进行扩散[2],
2 实验过程
本文中所使用的硅片为单面抛光的 n 型〈100〉 Cz 硅片,厚度 270 μm,电阻率 3.2 Ωcm,并对将
电池结构示意图 Fig 1
3 结果与讨论
硼盐酸(H3BClO3)是一种以液态态存在的 B2O3 和盐酸的混合物,在后面的反应式中,忽略盐酸的
硅片进行清洗。将 B2O3(分析纯)溶解到稀盐酸中形 存在:
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广东工业大学实验报告
学院专业班成绩评定
学号姓名(号)教师签名
题目:硼扩散工艺第周星期
一、实验目的
1.了解基区扩散;
2.熟悉硼扩散工艺;
3.了解热扩散炉的结构及操作。

二、实验原理
扩散是微观粒子的一种极为普遍的热运动形式,各种分离器件和集成电路制造中的固态扩散工艺简称扩散,硼扩散工艺是将一定数量的硼杂质掺入到硅片晶体中,以改变硅片原来的电学性质。

硼扩散是属于替位式扩散,采用预扩散和再扩散两个扩散完成。

(1)预扩散硼杂质浓度分布方程为:
N(x,t)=Nserfc{x/2D1t)½}
表示恒定表面浓度(杂质在预扩散温度的固溶度),D1为预扩散温度的扩散系数,x表示由表面算起的垂直距离(cm),他为扩散时间。

此分布为余误差分布。

(2)再扩散(主扩散)
硼再扩散为有限表面源扩散,杂质浓度分布方程为:
N(x,t)=Qe-x2/4D2t(πD2t)½
其中 Q 为扩散入硅片杂质总量:Q=∫∞0 N(x,t)dt
D2 为主扩散(再分布)温度的扩散系数。

杂质分布为高斯分别。

三、实验(设计)仪器设备和材料清单
热扩散炉,纯水系统,硅片,氨水,盐酸、硫酸,双氧水,去离子水,氮
气,硼扩散源等。

四、实验内容与实验步骤:
1、实验准备
(1)开扩散炉,设定升温程序,升温速度不超过每分钟5℃,以防止加热电阻丝保护涂层脱落。

将待料温度设定倒 750--850℃,开氮气流量 3升/分钟。

(2)清洗源瓶,并倒好硼源。

(3)开涂源净化台,并调整好涂源转速。

2、硅片清洗:清洗硅片(见清洗工艺实验),将清洗好的硅片甩干。

3、将清洗干净、甩干的硅片涂上硼源,并静置 10 分钟风干。

4、从石英管中取出石英舟,将硅片装在石英舟上,并将石英舟推到恒温区。

5、按照设定好的升温程序进行升温,温度达到预扩散温度后开始计时。

6、预扩散完成后,拉出石英舟,取出硅片,漂去硼硅玻璃,冲洗干净后,检测R□值
7、将预扩散硅片用 2#液清洗,冲洗干净甩干。

8、取出再扩散石英舟,将甩干的硅片装入石英舟,并将石英舟推到恒温区。

9、调节温控器,使温度达到再扩散温度,调整氧气流量 3 升/分钟,并开始计时,根据
工艺条件进行干氧。

10、在开始干氧同时,将湿氧水壶加热到 95-98℃。

干氧完成后,开湿氧流量计,立即进入湿氧化。

同时关闭干氧流量计。

根据工艺条件进行湿氧。

11、湿氧完成,开干氧流量计,调整氧气流量 3 升/分钟,并根据工艺条件确定干氧时间。

12、干氧完成后,开氮气流量计,流量 3 升/分钟,根据工艺条件,确定氮气时间。

13、氮气完成后,主扩散结束,调整温控器降温,氮气流量不变,时间 30分钟。

14、降温完成后,拉出石英舟,取出硅片,检测氧化层厚度、均匀性,漂去氧化层,冲洗干净后,检测R□值,结深。

15、将扩散后的硅片交光刻工艺,光刻完成后,检测击穿电压。

硼扩散工艺实验结束
五、实验数据记录与处理
六、实验结果与分析
七、总结。

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