Halm测试机校准培训
仪器校准培训资料
仪器校准培训资料仪器校准培训资料1.量规仪器校准之基本观念1、校准之⽬的1.1维持量规仪器的“准确度”避免检测时之误判。
1.2可以追溯⼀个共同的基准，减少产品检测争议。
2、何谓“校准”？（或“计量”或“校正”）2.1定义：使⽤校正标准件对“量规仪器”进⾏测试（与调整）以了解其“准确度”之⾏为称为“仪器校准”。
3、校准之作业区分i.绝对校正i.——以物理上的定律与特性所发展出来的原级标准直接对“被校件量规仪器”进⾏校正ii.——通常国家计划实验室多属此类ii.⽐对校正i.——将校正合格后精密度较⾼量程较⼤的仪器或标准对“待校件”加以量测，或⽐较，以显⽰误差值。
ii.——⼜分有“标准件校正法”及“标准件与限度样品”校正法两种。
iii.——通常各⼯业⼚商所进⾏之校正多属此类。
2.基本名词与定义1、准确度 (Accutacy)2、---- 重复量测的数据平均值与真值或基准值之差异3、精密度（Precision）i.---- 同⼀量具重复测时，其量测数据门之差异程度3、稳定性（Stability/或飘移Drift）---- 在某⼀时间量测标准件之平均值与下⼀次时间量测标准件之平均值差异4、重复性---- 同⼀量测者，使⽤同⼀量具，多次量测同⼀产品之同⼀特性，所得之量测值分布5、再现性（或再⽣性）---- 不同量测者，使⽤同⼀量具，多次量测同⼀产品之同⼀特性，所有量测平均值之差异（最⼤减最⼩）6、线性（Linearity）---- 在量具之预期的⼯作范围（量程）内偏移值的差值7.2 总不确定度U t=U s（系统不确定度）+U R（随机不确定度）7.3 系统不确定度来⾃：7.3.1 量具仪器本⾝之精密度或最⼩刻度7.3.2⼈员之操作因素,或观测因素7.3.3环境影响因素7.3.4仪器之“稳定性”与“灵敏度”。
7.3.5追溯校正基准之差异7.4 随机不确定度7.5 校准实验室之量测报告表⽰法为：Y+U t8、企业如何决定其量规仪器之合格允差---- 关系式：U s(仪器最⼩刻度)≤(仪器合格允差范围) ≤U t ≤(产品公司范围)⼀、哪些量规仪器需要校正？1、ISO9001条⽂中即明⽂规定[检验、量测与试验设备（包括软件）应建⽴并维持控制，校准和维修的⽂件化程序]2.需要校正者2.1 ⽤于产品之检验、量测或试验设备，以判定品质的仪器量规或软件。
量规仪器校正培训素材
量规仪器校正培训素材 壹、量测的基本观念引言经由经济持续发展而产生面临国内外压力的现阶段，我国企业已无法再 以廉价工资取胜，必须提高产品附加价值，及降低成本才能继续保存以往的 成果，因此使用自动化及提高产品品质亦成了企业必须走的下一步途径。
然 而如何使自动化生产过程中保持其品质特性，唯有依赖精确的量测设备来监 控，因此量测对现代的生产作业是非常重要的。
、 量测品保体系量测品质管理系统可分为两大部分一一“量测仪器管理系统”及“量测 品保系统”，在一般企业所做的大多只有做到量测仪器管理系统，对于量测品 保系统则大都未做，量测品质管理系统可参阅图 （一）。
量测品质管理体系方针文件量测系统适用性-校正周期一适用性记录——追溯三、量测基本名词说明1.校验一种比较过程，将一未知量测系统之量测参数准确值，籍已知且更准确量 测值之量测系统，得以确定并因此可追溯到上一级量测标准系统。
校验可透过直读方式、比较方式或其它适当方式加以进行。
2. 校正校正通常包括两方面的含义，即性能检验与变异的修正调整。
性能检验同上述之校验，目的在于证实是否合乎规格 变异的修正调整，指对偏移加以修量测品保-量测系统管理程序文件—量测品保 -环境管制-催校系统监控--监控频率量测不确定度-—量测系统正，使恢复原有的规格特性。
因此校正系指将仪器或设备与已知较高精确度的标准设备比较，以得到修正值或经由调整修正以达到原有精确度的过程。
3. 再校正设备被发现变异太大经过修理，修理后再次进行校正称为再校正，而对于较精密的设备，如果只透过单纯的一次校正，可能尚不足，而必须于调整后加以关机，隔一段时间后再行开机，达到稳定时再量测其值，这种情形称之为再校正。
4. 精密度在使用量具重复量测某一尺寸时，读值间差异的大小即是此量具之精密度重复量测值间差异大，精密度低，反之则精密度高。
精密度可以用一组读值的标准差（多次量测时，每次测量值间的差异程度）来表示。
5. 准确度多次重复量测的平均值和实际尺寸之差图（测量值与实际值的接近程度）（如二）6. 单位系用以表示测量数量的性质与大小，如果一个数值没有单位，那这只是一个数字，而无法代表任何意义，因此做量测工作的人员一定要注意：单位是必备的项目。
Halm培训-电池片测试
测试标准条件
光照强度：1000W/m2 温度：25℃ 大气质量：AM1.5
设备结构介绍
新能源分检机：自动化厂家为迈为，外观及颜色检测为GP，效率测试为Halm，二楼配置迈 为在线EL，一楼则为沛德离线EL。
测试软件介绍
Halm测试软件使用最新版本：
自动、手动、系列测试、维修、离线五种模式 测试机状态
测试数据库、Comment、User、Reciape
单片测试结果
测试汇总及简单分析
测试软件介绍
分档Reciape
电池片设置Reciape 光源Reciape 校准Reciape
分档程序设置
测试软件介绍
算法（不同标准或方法计算入Rs、Rsh等） 温补修正系数
点击进入设置
硅片面积设置
温度通道选取
修正
测试软件介绍
校准标片设置
点此进入标片选择及设置页签
测试软件介绍
各象限设置
测试软件介绍
Q1象限设置
测试软件介绍
光源文件 光源输入电压曲线
光源电压调整
光强曲线
光强校准
校准
校准为选取Isc校准： ①自动化上料暂停，待片子流完，点击用户登陆，用户名：10，密码13812771； ②登陆后，点击运行模式（片子流到探针排位置会自动压下）、点击UpHalmBin（归档）； ③标片流到测试机内，查看是否有压偏情况；
串联电阻（Rs）：系指太阳电池内部的与P-N结串联的电阻 ，它是由半导体材料体电阻、薄层电阻、电极接触电阻等组 成；
并联电阻（Rsh）：系指太阳能电池内部的、跨连在电池两 端的等效电阻；
填充因子（FF）：指太阳能电池的最大功率与开路电压和短 路电流的乘积之比；
转换效率（η）：指受光照太阳电池的最大功率与入射到该 太阳电池上的全部辐射功率的百分比。
HALM测验机校准流程
文件名称HALM测试机校准流程页码1/6生效日期1.目的规定了HALM测试机（以下简称测试机）的校准方法及要求。
18.范围适用于HALM测试机的校准过程。
19.定义无20.职责4.1 品管部电池片检验员负责HALM测试机的校准工作，每次测试机停机，维护或设备出现重大异常需要校准，校验测试判定异常后需要校准；4.2 校准时使用规定的标准片，使用完毕按《标准片管理规程》保存；4.3 品管部当班校准员负责对HALM测试机的校准，班长负责进行监督确认；4.4 生产部工作人员做好校准的配合工作。
5.工作程序5.1校准要求：校准的偏差范围为：Isc：±0.05A, Uoc：±0.0015V, FF：±0.50，Eta: ±0.1%,Pmpp: ±0.02w，Irradiance：±10，Calibration value：±0.5。
5.2超差处理方法：1）经校准后所测值如达不到要求偏差，则重新更换校准片再次校准，如果仍达不到要求偏差范围属于设备异常；2）经重复校准判设备异常的测试仪，应由校准人员通知工艺技术部现场技术员分析问题并解决，如遇较复杂的问题由工艺技术部安排排除；3）经修复的测试机在再次投入使用前应进行校验测试，确认仪器是否准确。
5.3校准步骤：5.3.1确认标准片的型号使用与所要测试的电池片相同规格的标准片进行校准。
5.3.2标准片定位5.3.2.1将测试机的调节开关MAN.STEP.AUTO向左旋转为手动，将标片置于探针测试区。
5.3.2.2必要时可以将标片放置在测试机前端输送带上使标片通过测试机传送带自动流入探针测试区然后将测试机的调节开关MAN.STEP.AUTO向左旋转为手动文件名称HALM测试机校准流程页码2/6生效日期5.3.2.3按测试机F5键使探针下压，并观察探针是否压在电池片主栅线上，如果探针压歪再按F5使探针抬起后调整位置，如此重复操作使探针压在电池片主栅线上。
Halm测试台面校验规范1
如果校准结果符合要求，则按要求记录数值，并结束校准。 如果校准结果仍然不符合要求，则校准数值不用记录，直接通知当班设备或工艺分析异 常原因。
注意：质量管理部光强校准质量管理员不可自行调试设备或更改测试 程序！
设备或工艺分析出异常原因后，根据设备或工艺的要求再次校准光强，直至校准结果符合 要求，方可结束光强校准。 4.6 电池片型号，规格的确认。
温度补偿的要求是：Voc 每偏差 2-3mV，温度补偿 1℃。温度补偿范 围：0-3℃。
进行温度补偿的方法是：Voc 每偏差 2-3（mV），温度补偿 1℃
在工具菜单中点击“Classification”按钮进入“分类”界面（见图四），在该界面点击“Change”
按钮，打开
页面，在该页面“Temperature offset[℃]”左框中直接输
4.4 设备调为手动及标准片定位 生产某类型电池片就选用相同规格该类型工作标准片。确定后将设备上的“stop”按钮 按下进入手动状态。开始手动操作，将标准片调置、安放于测试台传送带上及测试探针的中 间位置。（标片放置传送带上时，位置不能有歪斜现象。）
标准片调置完成之后，要检查探针是否偏离主栅线（图五），与主珊线的接触是否正 常（图六）。如有异常，及时通知当班设备处理。
（电池校准管理）页面（见图十二）
在此框中输 入标片标称 值。
在此框中输 入标片实际 面积。 点击此框，选 中 Isc 校准模 式。
图十二：电池校准管理页面
在该页面点击“Edit”（设置）按钮，激活参数设置框，在“Setpoint values”（数值设定） 下面的框中，分别输入标片标称值：Isc、Uoc、FF、Eta、Pmpp，输入完后再在“Cell Aaea[m ㎡]”（电池面积）的左框中输入标片的面积，最后再在“Calibration mode”校准模式项下面， 选中“Current(Isc)”（短路电流校准）模式。最后，点击“Accept”（接受）按钮，则自动退 出并关闭“Calibration cell management”（电池校准管理）页面。同时，所有更改参数及项目 将自动保存。
量规仪器校正培训资料
03
量规仪器校正的方法和技巧
常用量规仪器校正方法
对比法
通过与标准量规进行对比，找出被校正量规的 误差。
测量法
使用高精度的测量设备对量规进行测量，以确 定其准确度。
计算法
根据已知的数学模型和参数，计算出量规的误 差。
量规仪器校正的技巧和注意事项
01
定期校正
VS
详细描述
量规仪器是一种用于测量、检验和测试的 设备，其种类繁多，根据不同的分类标准 可以分为不同的类型。按照用途分类，量 规仪器可分为长度量具、角度量具、表面 粗糙度量具等；按照原理分类，可分为光 学量具、电磁量具、声学量具等；按照精 度分类，可分为高精度量具、普通量具等 。
量规仪器校正的目的和意义
介绍了国内外量规仪器校正规范和标准的起源、演变历程以及现状，对比了不同国家或地区的规范和 标准特点。
规范和标准制定机构
列举了制定量规仪器校正规范和标准的权威机构，如国际计量局、各国的计量院所等，并简要介绍了 这些机构在标准制定中的地位和作用。
量规仪器校正规范的解读和使用
量规仪器校正规范的内容构成
详细解读了量规仪器校正规范的内容，包括校正项目、方法 、步骤、合格判定等，帮助使用者全面了解规范的各项要求 。
技术展望
未来，量规仪器校正技术将更加注重智能化算法的应用，如机器学习、人工智能等，以提高校正的准确性和效率 。同时，随着物联网、云计算等技术的发展，量规仪器校正将实现远程监控、实时数据传输和共享等功能，进一 步拓展其应用领域和范围。
05
量规仪器校正的规范和标准
量规仪器校正的国内外规范和标准概述
国内外量规仪器校正规范和标准的起源和发展
计量仪器培训资料-仪校方法
计量仪器培训资料-儀校方法在儀校（计量校准）方法的培训中，我们通常会涉及到以下几个方面：1. 仪器的基本原理和结构：了解仪器的工作原理和内部结构对于正确操作和维护仪器非常重要。
2. 测量参数和精度：学习如何正确地选择仪器的测量范围和精度，以确保测量结果的准确性。
3. 校准方法和程序：了解仪器的校准方法和程序是确保测量结果准确的关键，这包括校准标准的选择、校准点的确定和校准记录的保存等。
4. 测量误差的评估和修正：学习如何评估测量误差并进行修正是培训的重点之一，这对于提高测量精度非常重要。
5. 仪器维护和保养：了解仪器的维护和保养方法可以延长仪器的使用寿命，确保仪器的测量精度和稳定性。
在培训过程中，通常会结合理论和实践相结合的方式，通过实际操作仪器来巩固理论知识，培养学员的操作技能和分析问题的能力。
此外，培训还会强调安全操作和质量控制的重要性，以确保仪器的正常运行和测量结果的可靠性。
总之，通过儀校方法的培训，学员可以全面了解仪器的原理和操作方法，掌握仪器校准的关键技术，从而能够正确地使用和维护仪器，保证测量结果的准确性和可靠性，为工程技术实践提供保障。
儀校方法的培训不仅仅是为了学习操作仪器的技术，更重要的是培养学员对于测量仪器的科学理论和系统性的认识，这样才能够更好地理解测量现象、评估仪器性能以及提高测量准确性。
因此，培训中还会涉及到一些相关的科学基础知识和工程应用实例，以帮助学员更全面地理解测量仪器和儀校方法。
首先，培训内容会涉及到一些基本的物理学知识，比如光学、机械学、电磁学等，这些知识将有助于学员理解测量仪器的工作原理和测量原理。
例如，光学知识对于理解光学测量仪器如激光测距仪、光谱仪等非常重要。
而机械学和电磁学知识则有助于理解机械测量仪器和电子测量仪器的工作原理和特性。
另外，培训中还会介绍一些常见的测量技术和方法，比如温度测量技术、压力测量技术、流量测量技术等，这些技术将帮助学员更深入地了解不同类型的测量仪器如何进行测量，以及如何评估和修正测量误差。
实验室仪器校准
XXXXX公司
————————XXXXXXXXXX公司
由实验室自行确定（技术人员确定）！
CNAS-TRL-004 南
测量设备校准周期的确定和调整方法指
JJF 1139-2005 计量器具检定周期确定原则和方法
————————XXXXXXXXX司
4 设备校准方案应该包 括哪些内容？ ————————XXXXXXXXXX公司
设备校准方案 应该包括哪些 内容？
检定：按检定规程的要求即可。 校准： 1-无固定设置参数的，如天平，酸度计，按检定
规程或校准规范的内容。 2-有具体设置参数的，如水浴锅、烘箱、马弗炉
，需校准需要的参数点。 一般由技术人员确定。不管实验室安排谁来确定
，理论上都没错，只要这个岗位人员有相应的能 力。一般我们推荐检测员确定，技术负责人审核 。尤其是较大的实验室，很难确保设备管理员所 有的设备及检测标准都懂。
————————XXXXXXXXX司
3 检定、校准周期如何确 定和调整？ ————————XXXXXXXXX司
检定、校准周期
01
如何确定和调整？ 02
03
04
05
06
检定：按检定规程的要求即可。
校准：首次校准，参考检定规程或校准规范即可，后续可调整。
一般尽量不要拉长超过一半周期（如检定周期为一年，校准间 隔不要超过一年半，且中间需进行期间核查，保留相关记录）
6-满足保密性要求（全程监督。校准工程师需要原始图谱，可打 印出来给他们，或者发邮件。避免让他们自己优盘拷贝）
7-趁机向校准工程师请教学习
————————XXXXXXXXX司
7 收到校准证书，应该检 查哪些内容？ ————————XXXXXXXXX司
最新计量仪器校准培训资料
目录一．计量仪器管理的重要性二．法定计量单位三．测量方法与基础知识四．计量仪器设备的选择五．计量仪器设备的使用管理六．计量仪器设备的校正管理七．计量仪器设备校准与检定八．ISO9001对计量的要求九．校正程序编撰附件1.测量环境条件要求2.计量器具特性3.计量确认4.仪器、设备管理人员岗位责任制第一章计量仪器管理的重要性1-1 计量是产品质量的重要保证。
1、计量器具是特殊的生产资料一个企业在组织生产过程中，厂房、劳动工具、劳动对象和能源都是生产资料。
计量器具是最重要的劳动工具。
在一般机械类型工厂，万能量具的数量是金属切削机床的6～7倍，在用量具是加工工人的1.5倍左右。
长、热、力、电和理化计量器具约占一个企业固定资料的1/4左右。
在实际生产中，各种计量室需要恒温、恒湿，其造价是同面积厂房的2至4倍。
可见计量器具和计量室在企业固定资产中占有重要比重，它能够控制生产的速度和产品的精度，是特殊的生产资料。
2、计量是产品质量的重要保证。
（1）产品质量一般可包括设计质量、制造质量、检测质量和使用质量，它涉及到企业每个部门的每个成员。
任何企业，只有把技术开发设计、试制、生产、销售和服务等部门的人员充分发动起来，为共同的产品质量目标而努力，产品质量才能有保证。
全面质量管理的概念正是来源于质量问题的多方面性、综合性和复杂性。
质量管理的重要特点之一，是一切用数据说话，而数据的绝大多数是属计量检测的数据及其换算出来的数据。
数据是质量管理的基础和科学依据。
例如，在实际生产过程中，必须进行计量，而且计量过程和生产过程交织在一起，从轴的机械加工过程中可见，计量渗透在各个生产环节中。
其生产过程如图1—2所示。
（2）计量是客观评价产品优劣的最终技术手段。
（3）计量是控制生产过程工艺参数，确保加工质量的主要技术措施。
生产中各工序的控制参数，都必须通过计量器具的检测才能显示出来。
质量管理的基本方法是PDCA循环，在采取管理措施时的主要依据还是计量数据，计量检测工作是全面质量管理的技术基础，也是技术进步的前提。
仪器校验培训
儀器校正与管理1基本概念介紹3基本概念介绍校驗一种比較過程，將一末知量測系統之量測參數准確值，藉已知且更准確量測值之量測系統，得以確定并因此可追溯到上一級量測標准系統。
4基本概念介绍校正校正通常包括兩方面的含義─「性能檢驗」与「變異的修正調整」。
性能檢驗同上述之校驗，目的在於証實是否合乎規格；變異的修正調整指對偏移加以修正，使恢復原有的規格特性。
因此校正係指將儀器或設備與已知較高精確度的標準設備比較，以得到修正值或經由調整修正以達到原有精確度的過程。
───通常校正包含校驗、任何必要的調整或修理及隨後的再校正、以及任何必要的封簽和貼標簽，校驗可透過直讀方式、比較方式或其它适當方式加以進行。
5基本概念介绍量測設備使用在測試、檢驗過程及校正的所有量測儀器、量測標準、參考物質、附屬裝置及儀器統稱為量測設備。
6基本概念介绍靈敏度測試儀表的輸出或響應對輸入測量的比值。
例: 安培計對電流流過時指針的偏轉。
解析度量測儀表可以響應的變化量。
7基本概念介绍精密度在使用量具重覆量測某一尺寸時，讀值間差異的大小即是此量具之精密度。
重覆量測值間差異大，精密度低，反之則精密度高。
精密度可以用一組讀值的標準差來表示。
（多次量測時，每次量測值間的差異程度）準確度（偏差）多次重覆量測的平均值和實際尺寸之差。
89偏差 (Bias)10 稳定性 (Stability)11线性 (Linearity)12重复性 (Repeatability)由同一操作者对同一部件用同一测量仪器的多次测量13再现性 (Reproducibility)由不同操作者对同一部件用同一测量仪器的测量14量具重复性和再现性Gage R&R (repeatability and reproducibility)基本概念介绍量測不確定度在量測系統中有許多不確定因素（例如：人員、設備、環境、方法……等)影響量測的結果，這些不確定因素的總合，稱為「量測不確定度」。
halm软件培训资料
High PrecisionIV-Measurement Systems-Basic Training -Training Seminar for h.a.l.m. PV-Productsh.a.l.m. elektronik GmbH, Frankfurt/Main -Germany31.05.2010 / M.Meixner1Training Seminar -Overview1.h.a.l.m. PV-Products•cetisPV-CT-L1 IU Curvetracer, 3Quadrant active load•cetisPV-BI digital Interface to Cellsorter•cetisPV-XF2 IEC class AAA Xenon Cellflasher2.IV –measurement on Solar Cells –fundamentals3.PVCTControl Application Software4.Integration of measurement components in Cell sorters•Cabling and interfacing with cell sorter machinery•Configuration (software setups, measurement parameters)5.System Service•Recurrent Checks (calibration, R&R tests)•Recurrent maintenance (contacting, filter system, flash tube, generation of silver/daughter cells)•Troubleshooting21. h.a.l.m. PV-Products3Overview of the h.a.l.m. SystemMeasurement equipment:•19-inch cabinet with measurement components•Operator console419-inch cabinetcetisPV-CT-L1 (Curvetracer)Measurement PCcetisPV-XF2-C (Flash controller unit)cetisPV-XF2-R (Flash regulator unit)cetisPV-XF2-P (Flash power unit)5IV-Curve tracer cetisPV-CT-L1•Modular system design, highly reliable due to permanent system monitoring and overload shutdown circuitry (for the protection of thesolar cell, the cell contacts and the electronic load).•Various measuring ranges selectable electronically.•Fully 16-bit design (3 AD-converters) for high resolution, time synchronous measurements of current, voltage and insolation.•3-Quadrant version (Light Forward, Dark Forward and Dark Reverse) for reliable IV and resistance measurements.•Storage of calibration in the hardware itself for easy service.61.IV measurement ranges•Electronic range selectionvoltage: ±1,0 / 2,0 / 4,0 / 10,0 / 20,0 Vcurrent: ±2,0 / 4,0 / 10,0 / 20,0 Aand ±16/ 32 / 80 / 160 mA•Electronic load range -16 up to +4 volts2.Measurement timing:•Flexible setup of measurement time, number of data points for each measurement and delay time after flash trigger•Fastest speed is 20µs per data point and up to 512 data points for each measurement.73.Measurement channels:•Voltage and Current(2 x 16-bit resolution)•Insolation via external monitor cell(16-bit resolution)•Temperature of monitor cell / PT100(12-bit resolution)•Temperature of solar cell / pyrometer(12-bit resolution)4.Interfacing to measurement computer•USB interface (opto-isolated).•High speed data and remote control.5.Process interface (Triggering of flash / PLC communication)•Digital I/O 8+8 channels (opto-isolated)8Technical Data cetisPV-XF2cetisPV-XF2 –class AAA sun simulator according to IEC 60964-9 Ed. 2•Nonuniformity of light: < ±2% (IEC 60964-9 Ed.2 –class A)•Spectral match:AM 1.5 (IEC 60964-9 Ed.2 –class A)•Temporal stability:<±0,5% insolation variation(IEC 60964-9 Ed.2 –class A)•Illumination area:220x220mm•Total insolation:10...110mW/cm²•Light curve:programmable, linear, multilevel,5...59ms (depending on the version)•Lamp lifetime:>500.000 flashesdepending on repetition rate & cycle time •Repetition rate:better than 1.3 sec (High speed version)better than 2.5 sec (Standard version)•Remote control:Trigger signal / USB 2.09Interface to Baccini sorter cetisPV-HBI•Interfacing to Baccini cell sorters digital I/O.•Interfacing to ICOS type vision systems with parallel interface •Adapter for logic analyzer to perform time and communication diagnosis in service cases.102. IV-measurements - fundamentals1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. 3 quadrants IV-Curve Lf (Q1) IV-Curve Dr (Q2) IV-Curve Dark forward (Q3H) IV-Curve Dark forward (Q3L) RserLfDf RserIEC891 shunt resistance measurements serial resistance measurementsQ1, Q2, Q3L&H Light forward measurement Dark reverse measurement Dark forward measurement Dark forward measurement Serial resistance from Lf&Df Serial resistance according to IEC891 Different measurement methods Different measurement methods11IV-measurements - fundamentalsIQ2 – Dark Reverse (Dr)For Rshunt determinationQ1 – Light Forward (Lf)VQ3L – Dark Forward (Df)For Rshunt determination Low current rangeQ3H – Dark Forward (Df)For Rser determination High current range12IV-measurements – IV-Curve Lf (Q1)RshuntLfQ1 – Light Forward (Lf)Q2Isc Impp∗Pmpp∗RserLfUmpp Uoc∗ ² ∗ 100Q313IV-measurements – IV-Curve Lf (Q1)Q1 – Light Forward (Lf)Uvld & Ivld: Two Voltages can be defined at which a current should be measured. These Voltages are called Uvld1 & Uvld2. The corresponding currents are called Ivld1 & Ivld2.Ivld1Q2Uvld1Example: Uvld1 is set to 0.5 V Ivld1 is approx. 7.9 AQ314IV-measurements – IV-Curve Dr (Q2)Q2 – Dark Reverse (Dr)The calculation of Rshunt is done by linear regression. The region in which the linear regression is carried out can be setup via software.RshuntDr∆I∆U15IV-measurements – IV-Curve Dr (Q2)Q2 – Dark Reverse (Dr)Irevmax Irev1UrevmaxUrev1Urev & Irev: Two Voltages can be defined at which a current should be measured. These Voltages are called Urev1 & Urev2. The corresponding currents are called Irev1 & Irev2. Example: Urev1 is set to 10 V Irev1 is approx. 0.05 A The maximum current flowing during the Dark reverse (Q2) Measurement will be saved as Irevmax. The corresponding voltage is called Urevmax.16IV-measurements – IV-Curve Df (Q3H)Q3H – Dark Forward (Df)The calculation of Rser is done by linear regression. The region in which the linear regression is carried out can be setup via software.- Isc∆IRserDf∆U17IV-measurements – IV-Curve Df (Q3L)Q3L – Dark Forward (Df)RshuntDf∆I ∆UThe calculation of Rshunt is done by linear regression. The region in which the linear regression is carried out can be setup via software.18IV-measurements – RserLfDfQ1IscThe RserLfDf is calculated from the Light forward and the Dark forward curve.UocQ3H-Isc∆U19IV-measurements – RserIEC891Point “near” Pmpp∆IThe RserIEC891 is calculated from a double curve measurement using the IEC891 standard. The flash & the measurement must be set up accordingly.∆I∆U20IV-measurements – shunt resistance• Why are there multiple Rshunt measurements?• RshuntLf: not very reliable, because a small current gradient is evaluated with a high current measuring range. Should only be considered if no dark measurement is available! good for Cells with a low shunt resistance. the most accurate way of determining the shunt resistance, may not be available for cells with very low shunt resistance. Combines the RshuntDf and the RshuntDr measurements. Usually the RshuntDf will be evaluated. If this is not possible due to a very low shunt resistance, the RshuntDr will be taken instead.• •RshuntDr: RshuntDf:•RshuntDfDr:21IV-measurements – serial resistance• Why are there multiple Rser measurements?• RserLf: Usually gives you a slightly too high value for the serial resistance because you have an additional effect from the diode curve which is measured. Usually gives you a slightly too high value for the serial resistance because you have an additional effect from the diode curve which is measured. Calculated from the light- and dark-forward curve, usually gives you values that are slightly too low because the diode curves from the light and dark measurements are slightly different. Calculated from a 2 or 3 level flash. This value is calculated fully according to the IEC891 standard. The value is slightly dependant on the insolation levels used.•RserDf:•RserLfDf:•RserIEC891:22IV-measurements – Flash configurationSingle level 50ms Single level 30msTriple level 30ms Double level 30msThe lenght and the shape of the flash can be configured by software. Available flash lengths are: 5...59ms (depending on the version) Available shapes are: • Single level • Double level • Triple level • Ramp23IV-measurements – Flash / TimelineProgrammed flash curve: 1 Level, constant, duration 30msPmpp IscUocIsc-markerPmpp-markerUoc-marker24IV-measurements – cell contactingAdjusting the proper contacting pin force / spring deflection To Do: Proper setting of upper- and lower-busbar position to achieve sufficient contacting force. Improper settings may lead to instable and/or wrong Fill factor, Power and Eta values!Not contacted Contacted, but not enough contact force Properly contacted Too much contact force25IV-measurements – cell contactingCell orientation vs. Cell contacting busbars Extremely important: The proper setting of the cell centering and rotation. All busbars (upper and lower) have to be properly aligned to the printed busbar an the cell. Improper settings lead to instable and/or wrong FF, Power and Eta values!26IV-measurements – cell contactingCell orientation vs. Cell contacting busbarsImproper contacting! The cell is turned out of position Improper contacting! The cell position has an offset273. PVCTControl - Application software1. 2. 3. 4. Sorter Charge IV-Diagram Classification• • •Visualization of the Baccini Sorter Main working menu Curves and results in detail Measurement parameters and sorting classesMeasurement parameters Q1, Q2, Q3H & Q3L Cell parameters (Area, TkU&TkI, etc) Sorting classes5. Monitor cell Calibration of measurement system 6. Flasher (cetisPV-XF2) Flasher setup & configuration 7. Machine Statistics Number of Flashes / resetable counter28Application software PVCTControl• Sorter – visualization of Baccini Sorter & start up screen:Next CellID to be measured. Curves from the last measurement. Visualization of the Baccini sorter. Visualized is the walking beam with cell classes & the BINs with cell count. Clicking on a cell in the walking beam or a BIN will give you more information1st Quadrant2nd Quadrant3rd QuadrantVisualization of Walking beam of Baccini SorterVisualization of BINs in Baccini SorterDatagridOperator menu29Application software PVCTControl• Charge – main control menu:Modes of operationShows the details of the communication between the halm tester and the Baccini sorter1st Quadrant2nd QuadrantOperator menu3rd QuadrantDatagridMin/Max, Mean values & StdDev30Application software PVCTControl• IV-diagram - curves and results in detail:Note: Measurements carried out in this screen will NOT be written into the database!Double click here will zoom this curveEach measurement can be carried out individually. You can have a detailed view of the measurements in the „Time diagram“31Application software PVCTControl• Classification – measurement parameters & sorting classes:Recipe / classification pattern name & descriptionFlexible Editor for BIN class definition with AND + OR operatorsSetup of measurement parameters and graphs for Q1, Q2, Q3 measurementsInfo about the last calibration Cell parameters. For example: - Cell area - TkU / TkI32Application software PVCTControl• Classification – setup of measurement parameters for Q1:Measuring range selectionX-Axis Range: -must be greater than the load range. Y-Axis Range: -must be larger than IscDisplay settingsLoad range settingMust be set up proper in order to get real measurement values for Isc and Voc.Used Flash configuration.The flash configuration must be suitable for the measurement type and duration.Setpoint for intensity correction.Special measurementWill be explained in the expert training.Intensity to which the measured values get corrected.Linear regression for RshuntLf. Uvld & IvldThe voltages at which Ivld1&2 shall be measured can be set up here The voltage region in which the RshuntLf is calculated can be set up here.Linear regression for RserLf.The current region in which the RserLf is calculated can be set up here.33IV-measurements – LoadsweepLoad sweep setupThe load sweep must be set up properly in order to achieve real measured values for Isc & Uoc. If the load sweep is to short parts of the IV-curve will be cut of.V0,65t-1,234Application software PVCTControl• Classification – setup of measurement parameters for Q2:Measuring range selectionX-Axis Range: -must be greater than the load range. Y-Axis Range: -should be the largest selectableDisplay settingsLoad range settingLinear regression for RshuntDr Urev & IrevThe voltages at which Irev1&2 shall be measured can be set up here. The voltage region in which the RshuntLf is calculated can be set up here.Current setpoint for voltage evaluationTwo currents can be defined at which the system will measure the corresponding voltages35Application software PVCTControl• Classification – setup of measurement parameters for Q3L:Measuring range selectionX-Axis Range: -must be greater than the load range.Display settingsLoad range settingLinear regression for RshuntDfThe voltage region in which the RshuntDf is calculated can be set up here.36Application software PVCTControl• Classification – setup of measurement parameters for Q3H:Measuring range selectionX-Axis Range: -must be greater than the load range. Y-Axis Range: -must be larger than -IscDisplay settingsLoad range settingMust be set up proper in order to get real a measurement values for -Isc.Linear regression for RserLf.The current region in which the RserLf is calculated can be set up here.37Application software PVCTControl• Classification – Cell parameters:Correction procedureTemperature coefficients of the cellOptions for data evaluation Measurement channel for the cell temperature. Used to correct measurement results to STCMeasurement channel for the environment temperature. Not used for any calculation.Cell area. Used for the calculation of Eta Comment38Application software PVCTControl• Classification – setup of sorting classesBIN 24 = cells with a RshuntDfDr between 0.0 and 30.0 BIN 1 = cells with a Eta between 14.50% and 15.00% BIN 2 = cells with a Eta between 15.00% and 15.50% BIN 3 = cells with a Eta between 15.50% and 16.00% BIN 4 = cells with a Eta between 16.00% and 16.50% AND RserIEC between 0.0 and 0.5 BIN 5 = cells with a Eta between 16.00% and 16.50% AND RserIEC between 0.5 and 1.039Application software PVCTControl• Monitor cell – calibration and system tests:Database for reference cells Results of the calibration measurements Results of the test measurements Click here to perform a calibration Click here for test measurements Valid and new determined calibration value• 3 methods of calibration available • Database for reference cells40•Flasher (cetisPV-XF2) –Flasher setup & configuration:Signal of the feedback sensor (inside the flasher box). Will show the full shape of the Flash.Signal of theMonitorcell (inside the cell contacting).Will show the insolation during the measurement 41Flash profile administration Flash profile setup Flash status Flash regulation parameters Measurement parameters.•Flasher (cetisPV-XF2) –Flasher setup & configuration:Flash duration &profile typeIntensity of flash inper cent of the SetpointvalueFlash profile setup-Setpoint value-Correction limits-Error limitsFlash tube informationShould not be changed42•Machine statisticsMachine statistic ofthe CurvetracerMachine statistic ofthe Flasher434. Integration in cell sorter44System integration in cell sorter45ICOS Vision systemDigital I/O 32+32Baccini PLCRS232Digital I/O 8+8MES System(Product monitoring)LANFeedback signalContacting systemXenon flash boxMonitorcell /Monitorcell temperatureCell temperature Insolation / Monitorcell temperature4-wire cell contactingCell temperature via pyrometerUSBcetisPV-CT-L1cetisPV-XF2Controll unitsUSB Flash triggerDigital I/O 8+8Digital I/O 32+32cetisPV-BILevel 1:-solar simulator -cell contacting-Temperature measurementLevel 2:-measurement PC -measurement system -control units for the cell flasherLevel 3:-automation / process control-Vision system / MES5. System service46Recurrent checks•Cleaning of monitor cell•Checking of insolation / monitorcell calibration with reference / silver cells•Performing R&R tests (Reproducibility & Repeatability) with test batches.Test measurements & reference groupsGlass window47Recurrent maintenance•Replacement of contacting pins•Replacement of filter mats•Replacement of the flash tube & resetting the counter•Backup of software, setups and data•Generation of silver / daughter cells for system checks and calibration48System Service•Troubleshooting toolset:•LEDs (Curvetracer, Flasher, Flasher box).•Details of the process interface•Logfiles(selectable Loglevels)•Automatic storage of IV diagrams (ASCII format)•Calibration Logfile49Thank you for your attentionFor further technical questions please contactservice@halm.deor call our service hotline +49 69 943353-10Training Seminar for h.a.l.m. PV-Productsh.a.l.m. elektronik GmbH, Frankfurt/Main -Germany50。
手机校准培训课件
RF输入电平 -l09~ -l07dBm -l07~-l05dBm -105~-l02dBm
＞-l02dBm -l08~ -105dBm -105~ -l03dBm -l03~ -100dBm
接收灵敏度 优 良 一般
不合格 优 良 一般
＞-l00dBm
不合格
（2）接收信号强度指示 （RSSI Received Signal Strength indication）
处理方法： 查检网络是否已经映射H盘。
金机制作规范
（6）按工艺文件要求进行测试操作，将手机机放进校准夹具上固定好，检查校准的
文件是否与需校准机型对应？
（7）核实后单击“
”开始进行校准。
（8）对校准的结果做好报表记录，一般坏机可进行重新校准。
常见故障的处理解决方法
（1）程序刚开始走不久就报C++的错误，或如右图所示 “LabVIEW : found or NI-488: Non-existent board。
坏机突然增多；发现有夹具、设备损坏等异常），要及时反馈给测试技术员解 决。 （5）不能在非授权下对生产测试用电脑进行文件的删除、更改、覆盖等操作。 （6）每班要用毛刷对夹具上的测试针和RF头用无水酒精进行清洗，清除灰尘、杂物 等以保证测试针和RF头的接触良好。 （7）鉴于测试与接触的紧密程度有关系， 坏机要换另一通道进行重测确认以排除接 触不良的误测（重测是同一故障两次的就当坏机处理，不要进行太多的重测避免 不稳定故障机下线生产）； （8）按要求如实填写相关的测试记录和报表； （9）注意不要对各种RF转接线进行弯折、扭转等有损伤性的动作。
在衡量调制频谱时， 可使用谱线的指标余 量(margin)。指标余量即最接近Time-Plate的一 条谱线与Time-Plate之间的距离。指标余量越大， 则调制频谱越好，即对邻道的干扰越小。 若margin＞l0dBm，则调制频谱为优；
Halm测试机SOP - 副本
盛朝欣业贸易有限公司HALM测试机作业指导书文件编号：文件版本：1.0发布日期： 2015年8月26日编制：审核：批准：分发单位：□质量部■技术部□工艺部□设备部□制造部文件修订记录1．目的 (3)2．范围 (3)3．职责 (3)4．内容 (3)5．记录 (3)一、目的1.1通过制定Halm测试机SOP使生产类员工能正确规范的操作Halm测试机，以及对Halm测试机有一定的了解。
二、范围2.1 1本规程适合于印刷车间测试分选质量部质检人员以及技术部工艺人员。
三、职责3.1质检部负责对Halm测试机正常性、稳定性并进行检查、监督、校准。
3.2 设备部负责设备开关机、故障分析、设备维护及检修。
3.3制造部负责规范人员的操作手法，严格按照本文件进行操作。
3.4工艺员给生产线正常运转提供工艺技术支持，及时解决工艺相关问题。
四、内容4.1 Halm测试机组成简介、测试软件介绍、基本原理。
4.2 Halm测试机基本组成部分简介。
4.3 Halm测试机PVCT分选软件基本操作介绍。
4.4 Halm测试机生产数据存档以及分类。
4.5 Halm测试数据分档文件的建立。
4.6 Halm测试机标片的校正。
4.7 Halm测试机测试注意事项。
五．记录5.1 测试记录表Halm测试工序注意事项规定1.Halm测试工序环境要求1.1洁净度：控制线8万级，停产线10万级。
1.2温度：25±2℃。
1.3湿度：50±5%。
2.着装及劳保品使用要求2.1 人员着装要求：现场作业人员、支持人员须穿戴整齐（包括公司配备的洁净服、洁净帽、工作鞋、口罩）并保证着装整洁（如脏污须清洗或更换）。
2.2 手套使用要求：现场作业人员须戴乳胶手套作业，手套脏污时须及时更换。
3．设备状态检查（设备）4．操作注意事项4.1测试时注意测试台面、传送轨道是否有碎片存在，测试探针是否有歪曲情况。
4.2测试时是否有质检进行过稳定性测试，是否到达标准要求允许测试。
HALM测试机校准流程
1.目的规定了HALM测试机（以下简称测试机）的校准方法及要求。
2.范围适用于HALM测试机的校准过程。
3.定义无4.职责4.1 品管部电池片检验员负责HALM测试机的校准工作，每次测试机停机，维护或设备出现重大异常需要校准，校验测试判定异常后需要校准；4.2 校准时使用规定的标准片，使用完毕按《标准片管理规程》保存；4.3 品管部当班校准员负责对HALM测试机的校准，班长负责进行监督确认；4.4 生产部工作人员做好校准的配合工作。
5.工作程序5.1校准要求：校准的偏差范围为：Isc：±0.05A, Uoc：±0.0015V, FF：±0.50，Eta: ±0.1%,Pmpp: ±0.02w，Irradiance：±10，Calibration value：±0.5。
5.2超差处理方法：1）经校准后所测值如达不到要求偏差，则重新更换校准片再次校准，如果仍达不到要求偏差范围属于设备异常；2）经重复校准判设备异常的测试仪，应由校准人员通知工艺技术部现场技术员分析问题并解决，如遇较复杂的问题由工艺技术部安排排除；3）经修复的测试机在再次投入使用前应进行校验测试，确认仪器是否准确。
5.3校准步骤：5.3.1确认标准片的型号使用与所要测试的电池片相同规格的标准片进行校准。
5.3.2标准片定位5.3.2.1将测试机的调节开关MAN.STEP.AUTO向左旋转为手动，将标片置于探针测试区。
5.3.2.2必要时可以将标片放置在测试机前端输送带上使标片通过测试机传送带自动流入探针测试区然后将测试机的调节开关MAN.STEP.AUTO向左旋转为手动5.3.2.3按测试机F5键使探针下压，并观察探针是否压在电池片主栅线上，如果探针压歪再按F5使探针抬起后调整位置，如此重复操作使探针压在电池片主栅线上。
注：在校准前必须先用探针压一下其他电池片以确保探针正常，防止压破标片； 确认探针压在电池片主栅线上后开始如下校准操作：a. 电脑桌面指标Shortcut to PVCT CntrBa …， 出现界面（见右图），输入用户名，密码， 权限User level 选择administrator 。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
序出现混档，混色。
标片校准流程描述
测 试 软 件 停 止 测试
传送标片至探针下并等待 探针压下
测试电性能
取出标片
NG YES
对标片重新校准
电流异常（进行更改温补调试） 电压异常（重新校准） 光强异常（校准光强）
注意：光强 调整参数范 围1000±5w/
㎡
3、光强大幅度 调试
4、光强小幅度调试
5、光强最大值
6、光强最小值
2、点击此按钮，调整光强
3.0打开标片校准界面
以上操作完成后，将主界面点击Batch，切换至常规测试的Manual模式，点击Start开启测试， 约0.3-0.5秒后，将标片单侧3次，查看下方标片值是否在设定范围，（正常后）点击Stop停止 测试，随后将返回将开启21号机--MODULE—置为ON状态，点击Automatic模式，点击Start开启 将标片拿出，正常测试然后打开玻璃门，取出标片并关闭玻璃门，将流程单恢复为生产原来的 流程单，并点击Start开始常规的自动测量。
C级：
Aol-1-R ＜6.9＞7.1
Aol-1-Q ＜3.9＞4.1
Halm机分档程序参数
Test Date：测试时间 Bin：档位 ISC：短路电流 FF：填充因子 Insol：光强 RSH：并联电阻 Tcell：测试本身温度 Tmonice：小标片温度 Tcell与UOC成反比 Tmonice与ISC成正比
2.8标片校准
1、点击此按钮，打开温补调整界面
2、点击此按钮，跳出 左侧对话框
3、调整温补参数 大小
回撤按 键
4、温补值输入结 束，点击此按钮
在方框处选择合适的温补值（按照测试值将温补降低0.2mv来调整，电压高0. 3mv，效率低 0.03%），然后点击Accept关闭界面
2.9-更改光强
1、点击此按钮，打开光强调整界面
三：Halm机分档程序参数
73档：
光强＞950 ＜1050
Eta＜19%
Uoc＜0.64 Isc＜9.5
FF＜82
Aol-1-Q＜4.9＞0.1 Aol-1-R ＞0.1
Trash档：
并阻＞ 10
漏电＜ 2
热斑＜ 20
低效：
Eta＜17.8% Uoc＞0.5 Isc ＞7
FF＞72
串阻＜1＞0.003
Halm测试仪校准培训资料
Halm测试仪
培训内容
一、halm机测试的原理与目项 五、标片校准流程描述
halm机测试的原理与目的
原理： 光强模拟器：用来模拟太阳光的设备，再配以电子负载,数据采集和计算
等设备,可以用来测试光伏器件(包括太阳电池片,太阳电池组件等)的电性 能,如Pmax, Imax, Vmax,Isc,Voc,FF,Eta, Rs, Rsh以及I-V曲线等.这些参 数能够从一定程度上反应出电池的性能。 目的： 质量部：负责测试分选机的校准与跑片测试；检测Halm机测试稳定性。 工艺部：协助正常校准过程中发生的意外情况的解决。
不同日照量下太阳能电池片的I-V曲线
二、标片校准的步骤
关闭上料传送并等待电 池片测完-->转入停止测 试状态-->放入校准电池 片-->等待校准片移至探 针下并压下—>更改流程 单为$-BP-->切换至维护 模式 转到校准界面-->输入标 片值-->校准光强（如需 要）-->校准开压-->自动 校准（校准电流）-->保 存并测试标片-->取出标 片并恢复正常测试状态
调试完毕后，重新校准标片
更改生产流程单，开始生产
谢 谢 观看！
有不足之处请提出
校准标片前，将打开2.Classification界面时，注意查看Halm程序里版本是否为V-13版本，面积是否正常
2.6校准前更改标片参数
更改标片值
标片值参 数
1、点击此按钮，打开校准界面
2、点击此按钮， 跳出左侧对话 框3
电流校准
4.标片值更改后，点 击此按钮接受
3、点击此按钮， 跳出左侧更改 标片值
2.1、打开程序页面
首先打开页面-->打开图左下角软件-->点击halm机-->在使红色箭头下输入halm机密码（小写 halm） -->确定Accept后正常开启
2.2打开校准标片流程
1、关闭21机A面，片子流入 到缓冲盒
2、开启21机B面，片子流入 到缓冲盒
21号机可以管控A/B两面，关闭21号机--MODULE—置为OFF状态--然后等轨道上生产电池片 跑完，把Halm机进入停止状态，将标片（数字超前）放置22号机传送运输皮带上，使片子
2.7校准前更改标片参数
1、进行校准标片
2、校准后点击接受
3
查看上图红框内(3）数值, Eta ISC UOC FF （光强，Insol）是否在标片设置范围内，如果电流异常， 需重新校准，电压不在范围内，返回第二界面，调整温补，光强不在1000±10范围内，则点击下图中的 Flasher XF2进入光强校准界面；进行光强调试；
Commernt：流程单号 Eta：效率 UOC：路电压 EFF：转换效率 RS：串联电阻 Irev2：漏电Pmpp：功率
Halm机校片注意事项
1.检查探针是否压好，（探针压偏导致校片进入低效档位） 2.Classification界面时，注意查看Halm程序里版本是否为V-13版本。 3.Classification界面时，注意检查Cell data程序里电池片的面积是否24336mm
流入24号机探针下方。
2.3打开校准标片流程
检查探针是否压好，如 下图，需保证探针前后全 部落在主栅区域，不能超 过主栅范围0.3mm以上， 同时要保证落在标片上的 探针到标片左右的距离大 约相等：
2.4打开程序后原始界面
1、进入停止测试 状态；
2、选择此模式
3、更改标片单号
2.5打开程序后检查版本及面积