01集成电路设计导论

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专用集成电路
根据某种电子设备中特定的技术要求而专门设计的 集成电路简称ASIC,其特点是集成度较高功能较多,功 耗较小,封装形式多样。
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“自顶向下”(Top-down)
其设计步骤与“自底向上”步骤相反。设计者首先进 行行为设计;其次进行结构设计;接着把各子单元转换成 逻辑图或电路图;最后将电路图转换成版图。
• 混合集成电路
厚膜集成电路 薄膜集成电路
•ຫໍສະໝຸດ Baidu
双极-MOS(BiMOS)集成电路:是同时包括双极 和MOS晶体管的集成电路。综合了双极和MOS器 件两者的优点,但制作工艺复杂。
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按电路的功能分类
数字集成电路(Digital IC): 是指处理数字信号的集成电路,即采用二进制方式 进行数字计算和逻辑函数运算的一类集成电路。 模拟集成电路(Analog IC): 是指处理模拟信号(连续变化的信号)的集成电路, 通常又可分为线性集成电路和非线性集成电路 : 线性集成电路:又叫放大集成电路,如运算放大器、 电压比较器、跟随器等。 非线性集成电路:如振荡器、定时器等电路。 数模混合集成电路(Digital - Analog IC) : 例如 数模(D/A)转换器和模数(A/D)转换器等。
– 有通道门阵列:就是在一个芯片上将预先制造完毕的 形状和尺寸完全相同的逻辑门单元以一定阵列的形式 排列在一起,每个单元内部含有若干器件,阵列间有 规则布线通道,用以完成门与门之间的连接。未进行 连线的半成品硅圆片称为“母片”
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缺点:
• 设计复杂度高/设计周期长 • 费用高
应用范围
• 集成度极高且具有规则结构的IC(如各种类型的存储器芯片) • 对性能价格比要求高且产量大的芯片(如CPU、通信IC等) • 模拟IC/数模混合IC
– NMOS – PMOS – CMOS(互补MOS)
数字集成电路 MOS IC 双极IC <102 <100 100500 102103 103105 105107 107109 >109
按晶体管数目划分的集成电路规模
模拟集成电路 <30 30100 100300 >300
5002000 >2000
不满足
一、全定制方法
• 全定制集成电路(Full-Custom Design Approach)
• 适用于要求得到最高速度、最低功耗和最省面积的芯 片设计。 • 即在晶体管的层次上进行每个单元的性能、面积的优 化设计,每个晶体管的布局/布线均由人工设计,并需 要人工生成所有层次的掩膜(一般为13层掩膜版图) 。对每个器件进行优化,芯片性能获得最佳,芯片尺 寸最小。
个人资料—雷鑑铭
• 办公地点--超大规模集成电路与系统研究 中心西一楼316# • 研究领域--数模混合VLSI设计、CMOSMEMS工艺研究、 智能感知微弱信号检测及 处理 • 工作电话--13971387272 • 电子邮件--leijianming@hust.edu.cn
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9 晶体管与模拟集成电路基本单元设计 10数字集成电路基本单元与版图 11Verilog HDL简介
门海示意图
门阵列生产步骤: (1)母片制造 (2)用户连接和金属布线层制造
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门阵列方法的设计特点: 设计周期短,设计成本低,适合设计适当规模、 中等性能、要求设计时间短、数量相对较少的电路。 不足:设计灵活性较低;门利用率低;芯片面 积浪费。 门海方法的设计特点: 门利用率高,集成密度大,布线灵活,保证布 线布通率。 不足:仍有布线通道,增加通道是单元高度的整
集成度:每块集成电路芯片中包含的元器件数目
按使用的基片材料分类
• 单片集成电路
是指电路中所有的元器件都制作在同一块半 导体基片上的集成电路。在半导体集成电路中最 常用的半导体材料是硅,除此之外还有GaAs等。
类 别 SSI MSI LSI VLSI ULSI GSI
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金属-氧化物-半导体(MOS)集成电路:主要由 MOS晶体管(单极型晶体管)构成
课程教材
• 教材:《集成电路设计基础》王成华等编著 北京航空航天大学出版社
学习本课程的目的
• • • • • 认识集成电路的发展历史、现状和未来 了解集成电路设计工艺 熟悉集成电路设计工具 掌握集成电路基本单元的设计 打好集成电路设计基础
集成电路设计基础
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光学与电子信息学院微电子工程系 超大规模集成电路与系统研究中心 2014年3月
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功 能 要 求 功 能 要 求 行为设计 (Verilog/VHDL) 不满足 行为仿真 满足 综合、优化 网表 不满足 时序仿真 满足 版图自动 布局、布线 不满足 后仿真 满足 流片、封装、测试 满足 流片、封装、测试 后仿真
1.4 集成电路设计方法
全定制方法(Full-Custom Design Approach) 半定制方法(Semi-Custom Design Approach) 定制法
1.2 集成电路的分类
–器件结构类型 –集成度 –使用的基片材料 –电路的功能 –应用领域
电路规模:275,000个晶体管 生产工艺:1.5um 最快速度:33MHz
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按器件结构类型分类
• • 双极集成电路:主要由双极型晶体管构成
– NPN型双极集成电路 – PNP型双极集成电路
按集成度分类
二、半定制方法
• 半定制集成电路(Semi-Custom Design Approach) ——即设计者在厂家提供的半成品基础 上继续完成最终的设计,只需要生成诸 如金属布线层等几个特定层次的掩膜。 根据需求采用不同的半成品类型。
半定制方法
半定制的设计方法 分为门阵列(GA:Gate Array)法和门海( GS:Sea of Gates)法两种: • 门阵列(GA:Gate Array)
1 集成电路设计导论
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1.1 集成电路的发展
集成电路的出现 1947-1948年:公布了世界上第一支(点接触)晶 体三极管—标志电子管时代向晶体管时代过渡。因此 1956年美国贝尔实验室三人获诺贝尔奖 1950年:成功制出结型晶体管 1952年:英国皇家雷达研究所第一次提出“集成电 路”的设想 1958年:美国德克萨斯仪器公司制造出世界上第一 块集成电路(双极型-1959年公布) 1960年:制造成功MOS集成电路
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集成电路芯片显微照片
集成电路芯片键合 各种封装好的集成电路
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集成电路的发展
• 从此IC经历了: –SSI –MSI –LSI • 现已进入到: –VLSI –ULSI –GSI
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集成电路的发展
表1 CMOS工艺特征尺寸发展进程 年份 特征尺寸 1989年 1.0µm 1993年 0.6µm 亚微米 (SM) 1997年 0.35µm 深亚微米 (DSM) 2001年 0.18µm 超深亚微米 (VDSM)
集成电路发展的特点:
特征尺寸越来越小(0.10um) 硅圆片尺寸越来越大(8inch~12inch) 芯片集成度越来越大(>2000K) 时钟速度越来越高( >500MHz) 电源电压/单位功耗越来越低(1.0V) 布线层数/I/0引脚越来越多(9层/>1200)
水平标志 微米(M)
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电路规模:2300个晶体管 生产工艺:10um 最快速度:108KHz
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Intel 公司CPU—386TM
集成电路今后的发展趋势
在发展微细加工技术的基础上,开发超高速 度、 超高集成度的IC芯片。 利用先进工艺技术、设计技术、封装技术和 测试技术发展各种专用集成电路(ASIC), 特别是开发更为复杂的片上系统(SOC),不 断缩短产品上市时限,产品更新换代的时间 越来越短。
系统建模 (Matlab等) 不满足 电路仿真 满足 手工设计 版图
可编程逻辑器件(PLD:Programmable Logic
Device)设计方法
VLSI数字IC的设计流图
模拟IC的设计流图
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全定制集成电路
优点:
• 所设计电路的集成度最高 • 产品批量生产时单片IC价格最低 • 可以用于模拟集成电路的设计与生产
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IC在各个发展阶段的主要特征数据
发展阶段 主要特征 元件数/芯片 特征线宽(um) 速度功耗乘积 (uj) 栅氧化层厚度 (nm) 结深(um) 芯片面积 (mm2) 被加工硅片直 径(mm) MSI (1966) 102-103 10-5 102-10 120-100 2-1.2 <10 50-75 LSI (1971) 103-105 5-3 10-1 100-40 1.2-0.5 10-25 100-125 VLSI (1980) 105-107 3-1 1-10-2 40-15 0.5-.02 25-50 150 ULSI (1990) 107-108 <1 <10-2 15-10 0.2-.01 50-100 >150
Year of introduction 1971 1972 1974 1978 1982 1985 1989 1993 1997 1999 2000
Transistors 2,250 2,500 5,000 29,000 120,000 275,000 1,180,000 3,100,000 7,500,000 24,000,000 42,000,000
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课程内容
1 集成电路设计导论 3 集成电路工艺简介 5 集成电路版图设计 7 晶体管的SPICE模型 2 集成电路材料、结构与理论 4 集成电路特定工艺 6 集成无源器件及SPICE模型 8集成电路设计仿真程序SPICE
参考教材
《集成电路设计基础》 董海青编 机械工业出版社 《IC设计基础》 任艳颖编著 西安电子科技大学出版社
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12 集成电路封装与测试
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第1章 集成电路设计导论
1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6 集成电路的发展 集成电路的分类 集成电路设计步骤 集成电路设计方法 电子设计自动化技术概论 九天系统综述
集成电路
Integrated Circuit ,缩写IC IC是通过一系列特定的加工工艺,将晶 体管、二极管等有源器件和电阻、电容、 电感等无源器件,按照一定的电路互连, “集成”在一块半导体晶片(如硅或砷化 镓)上,封装在一个外壳内,执行特定电 路或系统功能的一种器件。
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摩尔定律
一个有关集成电路发展趋势的著名预 言,该预言直至今日依然准确。
集成电路自发明四十年以来,集成电路芯片 的集成度每三年翻两番 ,而加工特征尺寸缩小 倍。 即由Intel公司创始人之一Gordon E. Moore 博士1965年总结的规律,被称为摩尔定律。
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集成电路单片集成度和最小特征尺寸的发展曲线
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按应用领域分类
标准通用集成电路
通用集成电路是指不同厂家都在同时生产的用量极 大的标准系列产品。这类产品往往集成度不高,然而社 会需求量大,通用性强。
1.3集成电路设计步骤
“自底向上”(Bottom-up)
“自底向上”的设计路线,即自工艺开始,先进行单 元设计,在精心设计好各单元后逐步向上进行功能块、子 系统设计,直至最终完成整个系统设计。在模拟IC和较简 单的数字IC设计中,大多仍采用“自底向上”的设计方法 。
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• “母片”的示意图:
门海
门海(SOC:Sea-of-Gate)
无通道门阵列:也是采用母片结构,它可以将没有 利用的逻辑门作为布线区,而没有指定固定的布线 通道,以此提高布线的布通率并提供更大规模的集 成度。 门海设计技术是把由一对不共栅的P管和N管组成的 基本单元铺满整个芯片(除I/O区外),基本单元 之间无氧化隔离区,布线通道不确定,宏单元连线 在无用器件区上进行。
Intel 公司CPU芯片集成度的发展
Intel 公司第一代CPU—4004
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Intel’s CPU 4004 8008 8080 8086 286 386™ processor 486™ DX processor Pentium® processor Pentium II processor Pentium III processor Pentium 4 processor
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