孔无铜缺陷判读及改善
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失效分析
• 特点:图形层包平板层,发生在孔中央并呈对称 ;
• 原因:孔内气泡来不及排走,导致沉铜不良。
–可能是震荡器故障或震荡不足孔内气泡无法排出,
–可能是沉铜缸反应速率太快产生大量气泡(氢气) ;
• 措施:检查震荡和化学沉铜条件如:温度/负载/ 药液浓度等。
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化学沉铜类型介绍
沉薄铜:化学铜厚度10 ~ 20u" (0.25 ~ 0.5um) 中速铜:化学铜厚度40 ~ 60u " (1.0 ~ 1.5um)
厚化铜:化学铜厚度80 ~ 100u"(2.0 ~ 2.5um)
本厂使用ATO薄铜体系,铜层厚度约7-12 u" 注意:沉铜层不致密,很容易被空气氧化! 措施:沉铜后板件尽快进行平板电镀!
钻孔玻璃纤维丝
• 钻孔不良导致的孔内铜丝
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钻孔不良(披峰)
钻孔披峰会导致孔径变小、塞孔或酸蚀板破孔!
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缺陷描述9
• 孔口处无铜,图形层没有包住平板层,较多出现 在大孔:
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失效分析
特点:孔口边缘断铜,断铜面较整齐;
原因:基本可断定为干膜入孔,干膜由于贴膜压 力过大或贴膜到显影存放时间较长,如:大节日 干膜房内没有清板或设备故障等。 措施:缩短贴膜至显影时间,
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缺陷描述3
• 孔壁夹带铜皮或杂物,塞孔导致的孔无铜:
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• • • •
收集21种常见缺陷图片进行分析; 以图带文从切片缺陷进行界定; 通过案例分析找出“问题背后的问题”; 将被动的事后纠正变为事前控制!
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现状描述1
缺陷描述4
孔壁与内层线路连接不良(ICD)
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失效分析
特点:凹蚀不良导致与内层连接出现开路; 原因:
溶胀缸膨松不够:浓度低、温度低、处理时间短及 药水寿命已到; 咬蚀能力差:药水温度低、浓度低、锰酸钾含量高 、处理时间短或药水老化; 特殊板材:高Tg、含填料板件或其他特殊材质等 。 其他:可能是钻孔发热过度或烘板参数不当造成;
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孔的作用及影响因素
• 作用:具有零件插焊和导电互连功能。 • 加工过程影响因素多,控制复杂:
– 钻孔质量:孔壁平滑度、粗糙度等 – 凹蚀效果:内层连接、树脂表观情况 – 沉铜效果:药水活性及背光级数 – 平板镀铜:过程控制及故障处理 – 图形电镀:微蚀控制及抗蚀层性能 – 后工序影响:微蚀控制及返工板处理等
失效分析
• 特点:平板层包住杂物塞孔导致孔无铜;
• 原因:钻房工艺条件差,在去毛刺高压水 洗中无法除去导致塞孔,也可能是铜粉堵 塞或自来水、药缸杂质等外来异物; • 措施:改善钻孔条件、提高去毛刺高压水 洗压力、加强各药水缸过滤和净化等。
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孔无铜的特殊性
印制板致命品质缺陷之一,需加强控制; 产生原因复杂,改善难度大; 严重影响板件性能和可靠性; 孔无铜缺陷及判读是湿法人员基本功; 提高孔铜保证性是PCB厂综合实力的体现。
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铜丝塞孔孔无铜
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孔壁粗糙度过大
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现状描述2
孔内玻纤上断断续续、点状无铜!
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失效分析
• 特点:图形层包住平板层,无铜处断断续续 ,大小孔均有出现,特别在玻璃纤维上无铜 的机率更高,常发生在拖缸之后; • 原因:沉铜不良(如:药水活性不足、背光 不足、温度太低等) • 措施:检讨拖缸方法和程序、 提高药水活性。
失效分析
• 特点:大孔内出现点状无铜,小孔反而孔 内完整; • 原因:可能是吊车故障,板件在空中或水 洗缸内停留时间过长,沉铜层被氧化导致 孔无铜; • 措施:按工作指示要求对吊车故障板件进 行隔离、重新沉铜返工处理并确认。
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课程内容
• • • • 第一部分:孔无铜定义 第二部分:原因分析 第三部分:缺陷现象及失效分析 第四部分:纠正行动及改善方案
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第一部分:孔无铜定义
• 孔无铜是指印制板金属化孔孔内开路; • 在通断检测时失去电气连接性能; • 金属化孔包括:通孔、盲孔和埋孔; • 孔壁不导通也称“破孔”或“孔内开路” 。
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孔无铜缺陷判读及预防
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课程目标
• 帮助学员对切片缺陷进行判读; • 通过案例对原因进行分析并预防; • 降低孔无铜比例,达到稳定品质的目的
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失效分析
特点:图形层包住平板层,切片从孔口向孔中 央平板层逐渐变薄并最后消失; 原因:平板不良,平板电镀时电流密度过小、 电镀时间过短或设备故障(电接触不良)等; 措施:检查平板电镀条件,如:电流密度、时 间等。
严格返工制度。
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缺陷描述10
孔内存在塞孔现象,图形电镀层没有包住平板层:
干膜
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缺陷描述8
• 大孔内出现点状无铜,小孔反而孔内完整:
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缺陷描述6
• 无铜处全部发生在树脂部位:
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失效分析
• 特点:孔内无铜位置全部发生在树脂部位 ;
• 原因:除胶渣不够,树脂蜂窝状结构尚未 形成; • 措施:检查凹蚀段条件,提高除胶渣能力 (如:提高浓度、温度或延长时间等)
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缺陷描述7
• 电镀层包住平板层,切片从孔口向孔中央平板层逐渐消失 :
措施:确认具体问题进行针对性改善!
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缺陷描述5
• 孔内无铜位置出现基本对称,全部集中在小孔中 :
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孔无铜因果图
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失效分析
• 特点:杂物脱落后,断层面整齐,蚀刻后存在空 塞现象;
• 原因:很可能是干膜返工板,因退洗不干净导致 干膜碎进入导通孔,正常显影后无法除去,镀抗 蚀层时药水交换不畅而在蚀刻时又被冲走; • 措施:严格板件返工制度,杜绝干膜塞孔。
沉铜背光级数判读
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注意:树脂比玻璃纤维更容易沉上铜!
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图电前后判读标准
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第三部分:缺陷现象及失效分析
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第二部分:原因分析
孔内无铜从加工流程上分类:
–沉铜不良(如:气泡、塞孔、背光不足等) –平板不良(如:整流机无电流、镀前停留时间长等) –图电不良(如:图电微蚀过度、塞孔、抗蚀差等) –后工序微蚀过度; –酸蚀板孔无铜; –埋盲孔孔无铜; –其他类型孔无铜。
源自文库
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背光:沉铜活性的体现者
背光不足处理程序 背光测试方法如下图:
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失效分析
• 特点:钻孔不良,孔壁不平整、粗糙度过 大或披峰过大等; • 原因:钻孔工艺条件差,如:钻头寿命太 长、返磨次数过多、叠板数过多或钻咀侧 刃不锋利等; • 措施:改进钻孔工艺条件,检讨钻头质量 及使用要求。
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