电容触摸屏可靠性试验和外观检验判定标准

TP实验项目及标准
高温贮存：手机不装电池在+65℃保持8H(翻盖、滑盖手机打开翻盖进行)，试验完毕立刻检查外观及结构，常温下恢复2H后检查各项功能
ESD：试验时要求手机充电并处于呼叫状态（与模拟基站连接），对每个选取点正负电压各放电10次，每秒1次，前后2次放电时间间隔1秒。

每放一次电后，对地放电一次。

接触放电：放电电压设置为±4KV，选取点：所有露金属件、水平耦合板、垂直耦合板。

空气放电：放电电压设置为±8KV，选取点：前后壳接缝、LCD显示屏、按键面板、I/O口及其它所有的露孔接缝处。

空气放电：放电电压设置为±12KV，选取点：天线处、喇叭、麦克风缝隙以及其它所有的露孔接缝处
低温贮存：手机不装电池在-35℃保持8H(翻盖、滑盖手机打开翻盖进行)，试验完毕立刻检查外观及结构，常温下恢复2H后检查各项功能。

低温负荷：手机在运行状态下，-15℃保持4H(翻盖、滑盖手机打开翻盖进行)，4H内每隔1H 在试验箱里进行手机的各项功能检查。

高温负荷：手机在运行状态下，+55℃保持4H(翻盖、滑盖手机打开翻盖进行)，4H内每隔1H在试验箱里进行手机的各项功能检查
恒定湿热试验：手机在运行状态下，在+60℃的温度，98%的湿度下保持96H(翻盖、滑盖手机打开翻盖进行)。

96H内每隔8H在试验箱里进行手机的各项功能检查。

实验后干燥2H再做功能检查
温度冲击试验：手机装电池关机状态下进行试验(翻盖、滑盖手机打开翻盖进行)，高温点设置为+70℃,低温点设置为-30℃，每个温度点保持60min，循环次数为12次。

中间转换时间≤5min
振动试验：振动的频率范围为：5Hz~~~500Hz，分别在X、Y、Z轴上振动，每个轴振动60min。

ASD（加速度谱密度）为0.96㎡/S3。

手机试验过程开机运行。

跌落试验：跌落面为水泥地面或跌落机（一般为铁板）地面，手机的六个面（如果是翻盖或滑盖手机还需要增加4个面：打开翻盖时的主按键面及电池面）每个面均需要跌落1次，跌落顺序为：底面—左面—右面—后面—前面－顶面-主按键面-电池面-开盖状态下竖直跌落(顶端朝上)- 开盖状态下竖直跌落(顶端朝上)。

试验完毕检查手机的外观结构（必要时需拆壳检查）及各项功能、电性能。

A、普通屏（2.4及以下）：1米：a、不允许永久损坏(允许1个可见屏裂,2个需要分析,3个必须解决)b、允许可恢复缺陷出现；1.5米跌落,屏裂允许,其它不可恢复缺陷不允许。

B、大屏（2.6及以上）：0.8m ：a、不允许永久损坏(允许1个可见屏裂,2个需要分析,3个必须解决)b、允许可恢复缺陷出现，如电池盖脱落/电池脱落/可恢复壳离/可恢复装饰件脱落/手写笔脱落/T卡脱落/不识卡/掉电等；1.5米跌落,屏裂允许,其它不可恢复缺陷不允许。

C、大屏（3.5及以上）：0.6m ：a、不允许永久损坏(允许1个可见屏裂,2个需要分析,3个必须解决)b、允许可恢复缺陷出现。

1.2米跌落,屏裂允许,其它不可恢复缺陷不允许。

备注：可恢复的缺陷，是指普通用户不需要特别技能，就能恢复的缺陷。

装饰
件脱落，若涉及是热熔胶断裂或从背胶上脱落，均不接受。

点划试验：A：点击试验：手机在开机的状态下，用点击笔点击屏幕上的功能点使之发生作用，反复250000次，频率2次/S，点触力度约250g。

B.划线试验：手机在开机状态下，设置成输入文字状态（可以在屏上画线），用点击笔在屏幕上画线，反复100000次，频率1次/S，长度约1cm，画线力度约250g。

硬度试验：以1KG的力，用45°棱角的铅笔(触摸屏（PET材质）：1H（钢化玻璃除外）镜片、电容触摸屏、钢化玻璃触摸屏：4H)在试验表面划痕，划痕长度大约为2CM。

抗压试验：A、硬压：手机装上电池在关机状态下平放于木板上，然后用压力计垂直的在LCD 镜片的中心位置施加压力，要求在≤3S内压力由0KG 迅速增加到10KG并在10KG的压力点处保持2S。

对于折叠手机，试验时要求手机的翻盖要合上，试验点只限于翻盖副屏的中心位置（没有副屏的，施加在上翻盖的中心位置）。

B、软压：将手机正面朝上，机身与固定支架的轴向垂直地放置在帆布上并用布带将样品紧固，样品处于开机状态并锁住键盘。

弹性挤压头以250牛顿、每分钟10～30次的频率挤压样品2000次。

外观检验标准
保护膜(保留同整机一同出货)与触摸屏间的气泡(单位：mm,D:直径)
6.3.1钢球冲击验证
每批来料抽检5PCS做钢球冲击试验。

钢球重量：64g
跌落高度：50cm
要求：钢球自由跌落3次/PCS，试验后检查是否破裂或凹痕，并检查功能是否正常，触摸屏无裂缝破损及功能正常为合格。