SMT元器件焊接强度推力测试标准.doc
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元器件焊接强度推拉力无铅工艺判定标准
NO 物料名称
检测方式
图片
试验
测试方法
推力标准 仪器
（Kgf ）
推 1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件；
1 CHIP0402
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 0.65
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、 ≥0.65Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件；
2 CHIP0603
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 1.20
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥1.2Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件；
3 CHIP0805
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 2.30
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.30Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件； 4 CHIP1206
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；
3.00
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥3.00Kgf 判合格。
1、用剪钳消除pin 角边缘的塑胶材质部分；
拉PIN 脚
拉 2、选用推力计，将仪器归零，使用专用拉力测试夹具，垂
5 SIM 卡连接 （六个
力 直成90度向上拉起，
1.00
器 脚）
计 3、检查元器件是否拉掉是否脱焊，记录元器件脱焊的数
值；
4、≥1.00kgf 判合格。
推力（六
1、消除阻碍SIM 卡元器件边缘的其它元器件；
推 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
SIM 卡连接 个脚）
6
力 推力试验；
5.00
器
（左右方 向）
计 3、检查元器件是否破裂，记录元器件破裂的数值；
4、≥ 5.00 Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍SOT23元器件边缘的其它元器件；
7 SOT23
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 2.00
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.00Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍SOP5 IC 元器件边缘的其它元器件；
8 SOP5 IC
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 2.00
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.00Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍SOP6 IC 元器件边缘的其它元器件；
9 SOP6 IC
推力
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 2.00
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥2.00Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件；
10 晶体
推力（两 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 2.50
个脚）
力
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
计
4、≥2.50Kgf 判合格。
推 1、消除阻碍RF 连接器边缘的其它元器件；
11 RF 连接器
推力（六
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验； 3.00
个脚）
力
3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
计
4、≥3.00Kgf 判合格。
1、检查元器件是否为良品，将元器件平放于平台上；
推力（两
推 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
12 微动开关
力 推力试验；
5.50
个脚）
计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；
4、≥5.50 Kgf 判合格。
推力
推 1、消除阻碍弹片式电池连接器元器件边缘的其它元器件； 13 电池连接器 (两个触片/
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
8.00
两个脚)
计 推力试验；
3、检查元器件脱焊的力，≥8.00 Kgf 判合格。
推力
推 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；
14 电池连接器 (两个触片/
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
3.00
三个脚）
计 推力试验；
3、检查元器件脱焊的力，≥ 3.00Kgf Kgf 判合格。
推力
推 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；
15 电池连接器 (三个触片/
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
3.00
五个脚)
计 推力试验；
3、检查元器件破裂的力，≥ 3.00 Kgf 判合格。
推力
推 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；
16 电池连接器 （3PIN 刀
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
6.00
片式)
计 推力试验；
3、检查元器件破裂的力，≥ 6.00 Kgf 判合格。
推力(小) 推 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；
从插孔处 17 耳机插座
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
8.00
向后推
计 推力试验；
备注：没
3、检查元器件脱焊的力，≥ 8.00 Kgf 判合格。
推力(小) 推 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；
从后向插 18 耳机插座
力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
8.00
孔处推
计 推力试验；
备注：没
3、检查元器件脱焊的力，≥ 8.00 Kgf 判合格。
推力
1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。
USB 插座 按照充电
推
19
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行 6.00
插拔方向 力 推力试验；
推（有定
计
3、检查元器件脱焊的力，≥6.00 Kgf 判合格
位柱）
推力
1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。
USB 插座 按照充电
推
20
2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行 5.00
插拔方向 力 推力试验；
推（无定
计
3、检查元器件脱焊的力，≥5.00 Kgf 判合格
位柱）
推力
推 1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。
21 T-Flash 卡座
按T-Flash 力 2、选用推力计，将仪器归零，≤30度角（如图所示）进行
5.50
卡插拔方
计 推力试验；
向推
3、检查元器件脱焊的力，≥5.5Kgf 屏蔽罩无变形判合格
实验的时候，必须力量施加为渐进（无冲击），并持续10S 。