如何确定晶面间距

通过HRTEM的高分辨衬度条纹，可以量出相应的晶面间距为0.5nm，可以对材料的PDF 卡片看下这个间距对应的是哪个晶面的晶面间距，这样就可以把条纹所代表的晶面确定下来。最下面的SAED点比较杂乱，可能是所选区处含有多种晶向的晶体，因此可能会得到几种方向斑点重合的的SAED。你所测得的0.297nm或0.387nm都是对的，但是对应于不同的晶面衍射，究竟是对应哪个还是需要对比PDF卡片数据进行指认。

你这里的HRTEM与SAED并没有很明显的对应关系，可能原因是打HRTEM是区域较小，但打SAED时选区包含的晶粒较多，又出现不同取向造成的。或者他们根本就不是在一个地方打的。

FFT结合HRTEM可以进一步确定晶体的晶面及取向信息。

从HRTEM量得的明显的条纹间距就是0.5nm。你也可以用电子尺通过标尺来量取间距。一次可以量10个，然后再平均。正常情况同样晶面得到的晶格条纹间距是应该相等的，如果你量取的值出现与标准值有差别的情况，如果差得不多是正常的，还要再结合SAED指认晶面。或者看FFT的点分布能与什么样的拍摄几何构型对得上。总之当一种图片里信息不好确定情况下，要采用其它佐证。

关键要对FFT中的点进行标定，这也要结合HRTEM，如果测试结果正确，分析过程没问题，HRTEM的晶格条纹是会给出可信的晶面信息的，然后看FFT可以看出晶面的对称信息。从你这个FFT可以看出与电子束入射方向平行的晶面应该是有六方对称存在的，只不过电子束方向在实际测试时并没有与这些晶面都很好地平行，所以测得的HRTEM并不理想，只有一种晶面看得最清楚。

这张图照得很好，可以同时看到两种晶面的信息，竖条的如果是（220），那么横条就是与之成近90度的另一晶面。都需要测量，然后给标定出来，如果横条的与竖条间距一致，那么说明这两个是同一族晶面，正常标定就可以了。

HRTEM所测得的条纹间距，就是相应晶面的晶格间距。SAED打出的六方感觉的点不一定就说明材料是六方相，我们知道对于立方相的（111）方向打SAED就是很完美的六方点，但材料本身是立方相。关键要看电子束是从晶体的哪个面入射的。SAED的多晶环，每个环对应一种晶面，但HRTEM要想照出很好的晶格对电子束与晶体之间的角度是有关系的。所以有时候就算晶体很薄，电子束可以透过，也可能会出现HRTEM打不出晶格的情况，或者只能打出一种晶面的晶格条纹。HRTEM与FFT有对应关系，但与测的SAED除非晶体很完美，如果是纳米晶，一般就很难有完美的对应。

1.L*λ叫相机常数，依赖于不同的仪器。

2. r是用直尺所量的长度

所以，很明显，这是老仪器的套路。

要把图置于真实尺寸下量取距离，带入公式即可计算。

现在是ccd成像，scale bar直接在照片上，量出来的中心点至衍射点的距离，就直接是d值的倒数，

按你的图，即1/nm。

3. 中心点就是圆心。

4. 标衍射点，请先做理论计算或者叫“模拟”，按你的晶体结构jcpds77-2042进行，晶

体课程都有教学，也不是几句话说清楚的。

关于第4点（标衍射点），老师看一下我的理解对不对(我对材料这块的东西知道的不多，基本上是基于，还请多多指点我不对的地方)。

①对于我的样品，首先根据圆心确定一个最小的平行四边形（根据最短变和锐角原则）；

②然后按照两边衍射图标尺对应长度求倒数得到两边长度（即晶面距离）；

③根据jcpds77-2042卡片上晶面距离参数确定两边终点对应的晶面指数（hkl）

④再根据矢量的运算法则，可以验证③步是否正确并确定点阵中其他颜色斑点的晶面参数。

一般的情况下这样就足够了。

这也是常用步骤，最简单的步骤。

1. 最小平行四边形是用于推测可能的晶系，

如果不做晶面指数的理论计算，不需要确定这个。

2. 所有的衍射点都可以计算晶面指数（衍射点到圆心的距离即可），

晶面指数根据xrd的指数来标定。

所以，这个步骤的缺点就是不能确定是哪个晶面，即（111）和（-111）（-1-1-1）等等都是一样的，大家只是笼统的标（111），事实上严格应该是{111}。

实际上，指数的理论计算并不复杂，一小段代码即可，有很多小程序，例如搜索“TEM衍射谱标定方法”。你可以试试。