第四章化学气相沉积
化学气相沉积法的原理和材料制备
化学气相沉积法的原理和材料制备化学气相沉积法(Chemical Vapor Deposition,简称CVD)是一种常用于材料制备的技术方法。
它利用气体化学反应,在高温下生成固态材料,并将其沉积在基底表面上形成薄膜或纳米结构。
CVD方法广泛应用于半导体、纳米材料、涂层等领域,并在电子、光学、能源等产业中发挥重要作用。
CVD的原理是利用气体在高温下分解反应,生成高纯度材料。
首先,将所需材料的前体化合物(一种或多种)以气体形式引入反应室。
然后,通过加热反应室使其达到适宜的温度,并在此温度下维持一定时间。
在高温下,前体分子会分解为活性物种(如原子、离子或自由基),这些活性物种与基底表面发生反应,生成所需材料的沉积物。
反应过程中,通常还会加入载气(如氢气)以稀释和传递反应物质。
CVD方法提供了一种有效的材料制备手段,其优势在于能够实现高纯度、均匀性好的材料生长,并且可以控制沉积速率和沉积形貌。
其适用范围广泛,不仅可以制备块体材料,也可以制备薄膜、纳米颗粒等纳米结构材料。
此外,CVD还可以在不同的温度下进行,因此能够适应多种材料的生长需求。
CVD方法主要分为热分解CVD、化学气相沉积CVD和物理气相沉积CVD等几种类型。
在热分解CVD中,通过加热气体源使之分解,产生所需材料的沉积物。
这种方法常用于制备碳纳米管、金属纳米线等纳米结构材料。
在化学气相沉积CVD中,主要利用气体的化学反应生成沉积物。
通过选用合适的前体化合物及反应条件,可以实现对材料成分和结构的控制。
物理气相沉积CVD则是通过物理过程实现材料的沉积,如物理吸附或辐射捕捉。
CVD方法可以制备多种材料,例如二氧化硅、氮化硅、氮化铝、碳化硅等。
其中,二氧化硅是一种广泛应用于微电子器件中的重要材料。
通过CVD方法可以在硅基底上沉积高纯度、均匀性好的二氧化硅薄膜,用于制备晶体管、电容器等器件。
同样,氮化硅和氮化铝等氮化物材料也可以通过CVD方法制备,用于制备高能效LED、功率器件等光电子器件。
化学气相沉积
集成电路芯片工艺化学气相沉积(CVD)化学汽相淀积(CVD)化学汽相淀积是指通过气态物质的化学反应在衬底上淀积一层薄膜材料的过程。
CVD膜的结构可以是单晶、多晶或非晶态,淀积单晶硅薄膜的CVD过程通常被称为外延。
CVD技术具有淀积温度低、薄膜成分和厚度易于控制、均匀性和重复性好、台阶覆盖优良、适用范围广、设备简单等一系列优点。
利用CVD方这几乎可以淀积集成电路工艺中所需要的各种薄膜,例如掺杂或不掺杂的SiO:、多晶硅、非晶硅、氮化硅、金属(钨、钼)等。
一:化学气相沉积方法常用的CVD方法主要有三种:常压化学汽相淀积(APCVD)、低压化学汽相淀积(LPCVIi~)和等离子增强化学汽相淀积(PECVD).APCVD反应器的结构与氧化炉类似,如图1-1所示,该系统中的压强约为一个大气压,因此被称为常压CVD。
气相外延单晶硅所采用的方法就是APCVD。
图1-1APCVD反应器的结构示意图,LPCVD反应器的结构如图1-2所示,石英管采用三温区管状炉加热,气体由一端引入,另一端抽出,半导体晶片垂直插在石英舟上。
由于石英管壁靠近炉管,温度很高,因此也称它为热壁CVD装置,这与利用射频加热的冷壁反应器如卧式外延炉不同.这种反应器的最大特点就是薄膜厚度的均匀性非常好、装片量大,一炉可以加工几百片,但淀积速度较慢.它与APCVD的最大区别是压强由原来的1X10SPa降低到1X102Pa左右。
图1-2LPCVD反应器的结构示意图图1-3平行板型PECVD反应器的结构示意图PECVD是一种能量增强的CVD方法,这是因为在通常CVD系统中热能的基础上又增加了等离子体的能量.图1-3给出了平行板型等离子体增强CVD反应器,反应室由两块平行的金属电极板组成,射频电压施加在上电极上,下电极接地。
射频电压使平板电极之间的气体发生等离子放电。
工作气体由位于下电极附近的进气口进入,并流过放电区。
半导体片放在下电极上,并被加热到100—400;C左右.这种反应器的最大优点是淀积温度低。
第四章CVD工艺
早期CVD 技术以开管系统为主, 即Atmosphere Pressure
CVD (APCVD)。
近年来,CVD技术令人注目的新发展是低压CVD技术,
即Low Pressure CVD(LPCVD)。
LPCVD原理与APCVD基本相同,主要差别是:
低压下气体扩散系数增大,使气态反应物和副产物的
三、CVD方法简介
☞封闭式(闭管沉积系统)CVD
闭管法的优点:污染的机会少,不必连续抽气保持
反应器内的真空,可以沉积蒸气压高的物质。
闭管法的缺点:材料生长速率慢,不适合大批量生长,
一次性反应器,生长成本高;管内压力检测困难等。
闭管法的关键环节:反应器材料选择、装料压力计算、
温度选择和控制等。
四、低压化学气相沉积(LPCVD)
学气相沉积。用来制备化合物薄膜、非晶薄膜、外
延薄膜、超导薄膜等,特别是IC技术中的表面钝化
和多层布线。
五、等离子增强化学气相沉积(PECVD)
☞等离子化学气相沉积
Plasma CVD
Plasma Associated CVD
Plasma Enhanced CVD
这里称PECVD
PECVD是指利用辉光放电的物理作用来激活化学
一、化学气相沉积的基本原理
☞化学气相沉积的基本原理
➢ CVD的(化学反应)动力学
热分解反应(吸热反应)
(2)金属有机化合物
M-C键能小于C-C键,广泛用于沉积金属和氧化物薄膜。
金属有机化合物的分解温度非常低,扩大了基片选
择范围以及避免了基片变形问题。
(3)氢化物和金属有机化合物系统
广泛用于制备化合
气相沉积反应的CVD技术。广泛应用于微电子学、
化学气相沉积法
时间与速率
要点一
总结词
时间和沉积速率在化学气相沉积过程中具有重要影响,它 们决定了薄膜的厚度和均匀性。
要点二
详细描述
时间和沉积速率决定了化学气相沉积过程中气体分子在反 应器中的停留时间和沉积时间。较长的停留时间和较慢的 沉积速率有利于气体分子充分反应和形成高质量的薄膜。 然而,过长的停留时间和过慢的沉积速率可能导致副反应 或降低沉积速率。因此,选择合适的时间和沉积速率是实 现均匀、高质量薄膜的关键。
05
化学气相沉积法优 缺点
优点
适用性广
涂层性能优良
化学气相沉积法适用于各种材料表面改性 和涂层制备,如金属、陶瓷、玻璃等。
通过控制化学气相沉积的条件,可以制备 出具有高硬度、高耐磨性、高抗氧化性的 涂层。
环保
高效
化学气相沉积法使用的原料在高温下分解 ,不会对环境造成污染。
化学气相沉积法具有较高的沉积速率,可 实现快速涂层制备。
应用领域
半导体产业
用于制造集成电路、微 电子器件和光电子器件
等。
陶瓷工业
制备高性能陶瓷材料, 如氧化铝、氮化硅等。
金属表面处理
在金属表面形成耐磨、 防腐、装饰等功能的涂
层。
其他领域
在航空航天、能源、环 保等领域也有广泛应用
。
02
化学气相沉积法分 类
热化学气相沉积法
原理
在较高的温度下,使气态的化 学反应剂与固态表面接触,通 过气相反应生成固态沉积物。
缺点
高温要求
化学气相沉积法需要在高温下进行,这可能会对 基材产生热损伤或变形。
操作难度大
化学气相沉积法需要精确控制反应条件,操作难 度较大。
ABCD
设备成本高
化学气相沉积
化学气相沉积作为一种非常有效的材料表 面改性方法,具有十分广阔的发展应用前景。 随着工业生产要求的不断提高, CVD 的工艺 及设备得到不断改进, 现已获得了更多新的 膜层, 并大大提高了膜层的性能和质量,它 对于提高材料的使用寿命、改善材料的性 能、节省材料的用量等方面起到了重要的 作用,下一步将向着沉积温度更低、有害生 成物更少、规模更大等方向发展。随着各 个应用领域要求的不断提高, 对化学气相沉 积的研究也将进一步深化,CVD 技术的发展 和应用也将跨上一个新的台阶。
2、CVD过程 反应气体向基体表面扩散
反应气体吸附于基体表面
在基体表面上产生的气相副产物脱离表面
留下的反应产物形成覆层
3、CVD几种典型化学反应
1)热分解
SiH4 >500℃ Si + 2H2 (在900-1000℃成膜) CH3SiCl3 1400℃ SiC + 3HCl
2)还原
WF6 +3H2 SiCl4 + 2Zn WF6 + 3 Si 2 W + 6HF (氢还原) Si + 2ZnCl2 (金属还原) SiF4 (基体材料还原) W+3 2
反应沉积成膜 反应沉积成膜
3、PCVD的特点
成膜温度低
沉积速率高 膜层结合力高
膜层质量好 能进行根据热力学规律难以发生的反应
4、PCVD与CVD装置结构相近, 只是需要增加能产生等离子体 的反应器。用于激发CVD反应 的等离子体有: 直流等离子体 射频等离子体 微波等离子体 脉冲等离子体
直流等离子体法(DCPCVD)
2、PCVD的成膜步骤 等离子体产生 等离子体产生
辉光放电的压力较低,加 速了等离子体的质量 输送和扩散
化学气相沉积CVD
这些具有高反应活性的物质很容易被吸附到较低温度的基
体表面上,于是,在较低的温度下发生非平衡的化学反应
沉积生成薄膜,这就大大降低了基体的温度,提高了沉积
速率。
16
3. PECVD装置
普通CVD+高频电源(用于产生等离子体)
用高频产生辉光放电等离子体的卧式反应
主要由反应器(室)、供气系统和加热系统等组成
图8.3.1
Si片PN结构微细加工的CVD装置意示图
6
反应器的类型:
图8.3.2 CVD反应器的类型
7
沉积过程:
① 在主气流区域,反应物从反应器入口到分解区域的质
量输运;
② 气相反应产生膜形成的前驱体和副产物;
③ 成膜前驱体质量输运至生长表面;
④ 成膜前驱体吸附在生长表面;
可有效解决普通CVD基体温度高,沉积速率慢的不足。
1.等离子体
(1)物质的第四态
给物质以能量,即T↗:
固 液 气 电离,离子+自
由电子,等离子体,第四态。
(2)产生
自然界:大气电离层,高温太阳
实验室:气体放电,供给能量,维持;
图8.3.3 物质的四态
15
(3)性质及应用
气体高度电离的状态;
下进行沉积的某些场合,如沉积平面
硅和MOS集成电路的纯化膜。
(2)按照沉积时系统压强的大小分类:
常压CVD(NPCVD),~1atm;
低压CVD(LPCVD),10~100Pa;
LPCVD具有沉积膜均匀性好、台阶覆盖及一致性较好、
针孔较小、膜结构完整性优良、反应气体的利用率高等优
点,不仅用于制备硅外延层,还广泛用于制备各种无定形
化学气相沉积解读
由上图分析可知: 高温:扩散控制 低温:表面反应控制 反应导致的沉积速率为:
其中 N0 为表面原子密度。 沉积速率随温度的变化规律取决于Ks,D,δ 等随温度的变化情况。 因此,一般而言,化学反应或化学气相沉积的速度将随温度的升 高而加快。 但有时并非如此,化学气相沉积的速率随温度的升高 出现先升高后降低的情况。 这是什么原因呢?
第四章 化学气相沉积
(Chemical vapor deposition)
•
•
4.4 薄膜生长动力学 4.5 化学气相沉积装置
4.4 薄膜生长动力学
在CVD过程中,薄膜生长过程取决于气体与衬底间界面
的相互作用,具体过程如下: 1. 反应气体扩散通过界面 层 2. 气体分子在薄膜或衬底 表面的吸附 3. 原子表面的扩散、反应 和溶入薄膜晶格之中 4. 反应产物扩散离开衬底 表面并通过界面层
此式表明:Si的沉积速度将随着距离的增加呈指数 趋势下降,即反应物将随着距离的增加逐渐贫化。
•
轴向生长速率的均匀性:
•
扩散速度小于气流速度
•
沉积速率随距离的增加呈指数下降! 倾斜基片使薄膜生长的均匀性得以改善 ;
提高气体流速v和装置的尺寸b 调整装置内温度分布,影响扩散系数D的分布
因此,提高沉积均匀性可以采取如下措施:
我们用CVD方法共同的典型式子来说明: 设这一反应正向进行时为放热反应,则
aA( g ) bB( g ) cC (s) dD( g )
ΔH<0, U0<U
上式描述的正向和逆向反应速率如下页图a所示,均随 温度上升而提高。同时,正向反应的激活能低于逆向反应 的激活能。而净反应速率应是正反向反应速率之差,而他 随温度升高时会出现一个最大值。因此温度持续升高将会 导致逆反应速度超过正向的,薄膜的沉积过程变为薄膜的 刻蚀过程。
第四章化学气相沉积
设在生长中的薄膜表面形成了界面层,其厚度为,cg和cs分别为 反应物的原始浓度和其在衬底表面的浓度,则
扩散至衬底表面的反应物的通量为: 衬底表面消耗的反应物通量与Cs成正比
平衡时两个通量相等,得
F1 hg (Cg Cs )
F2 ksCs
F1 F2
Cs
Cg 1 ks
hg
hg为气相质量输运系数,Ks为表面化学反应速率常数
4. 氧化反应 利用氧气作为氧化剂促进反应:
SiH4(g) + O2 = SiO2(s) + H2O(g) (450℃) Si(C2H5O)4 + 8O2 = SiO2 + 10H2O + 8CO2
(Si(C2H5O)4是正硅酸乙酯 简称TEOS)
SiCl4 + O2 = SiO2 + 2Cl2 GeCl4 + O2 = GeO2 + 2Cl2
1) 反应物的
质量传输 气体传送
2) 薄膜先驱 物反应
3) 气体分 子扩散
4) 先驱物 的吸附
CVD 反应室
副产物
7) 副产物的解吸附作用
8) 副产物去除
排气
5) 先驱物扩散 到衬底中
6) 表面反应
连续膜
衬底
第四章 化学气相沉积----4.2 化学气相沉积
二、CVD动力学分析 1、CVD模型(Grove模型)
薄膜的生长过程取决于气体与衬底间界面的相互作用, 可能涉及以下几个步骤: (1)反应气体从入口区域流动到衬底表面的淀积区域 (2)气相反应导致膜先驱物(组成膜最初的原子或分
子)和副产物的形成 (3)膜先驱物附着在衬底表面
第四章 化学气相沉积----4.2 化学气相沉积
化学气相沉积原理
化学气相沉积原理化学气相沉积(Chemical Vapor Deposition,CVD)是一种重要的化学气相沉积技术,广泛应用于材料科学和工程领域。
它通过在高温下使气态前体物质分解并沉积在基底表面上,从而形成薄膜、纳米颗粒或纳米线等结构。
这种方法具有高效、低成本、可控性强等优点,因此受到了广泛关注。
化学气相沉积的原理主要包括气态前体物质的分解和沉积过程。
首先,气态前体物质被输送到反应室中,在高温条件下发生热分解或光解反应,生成活性物种。
这些活性物种在基底表面发生化学反应,最终形成所需的沉积产物。
整个过程中,温度、压力、气体流速等参数对沉积产物的性质起着重要作用。
在化学气相沉积过程中,温度是一个至关重要的参数。
通常,高温有利于气态前体物质的分解,从而增加沉积速率和改善薄膜质量。
但是,过高的温度可能导致杂质的掺杂和晶粒的生长,影响薄膜的性能。
因此,合理控制沉积温度对于获得高质量的沉积产物至关重要。
除了温度,压力也是影响化学气相沉积的重要参数之一。
在高压条件下,气态前体物质的浓度增加,有利于沉积速率的提高。
但是,过高的压力可能导致气体的对流扩散受到限制,从而影响沉积产物的均匀性和致密性。
因此,合理控制沉积压力对于获得均匀致密的沉积产物至关重要。
此外,气体流速和反应时间等参数也对化学气相沉积过程起着重要作用。
合理控制这些参数,可以实现沉积产物的精确控制和优化,从而满足不同应用领域的需求。
总的来说,化学气相沉积技术具有很高的灵活性和可控性,可以制备多种材料和结构。
通过合理控制反应条件和参数,可以实现对沉积产物性质的精确调控,满足不同应用领域的需求。
因此,化学气相沉积技术在材料科学和工程领域具有广阔的应用前景。
材料合成与制备 第4章 CVD合成
沉积温度对氧化锌纳米材料形貌的影响
纳米氧化锌是重要的紫外发光材料,其在紫、蓝、绿光发光二极管 和激光器以及紫外探测器等方面显示了巨大的应用潜力,对于提高 光记录密度和光信息的存取速度将起到非常重要的作用。以氧化锌 粉为原料,采用化学气相沉积方法,在无需使用催化剂的情况下, 通过调控沉积温度分别得到了棒状、线状和螺旋状等形状各异的氧 化锌纳米材料。
化学气相沉积法制备GaN薄膜
GaN微纳米材料,由于其具有热产生率低、抗辐射、击穿电压高、电 子饱和漂移速度大和介电常数小的优点,已被广泛应用在高频、高温、高压 电子器件领域、发光二级管(LED) 、半导体激光器(LD)和太阳能电池等方面。
硅基底的CVD扩磷工艺
单晶硅的主要用途是用作半导体材料、利用太阳能光伏发电和供热等。 掺杂后的单晶硅可用于薄膜衬底材料、超大规模集成电路及太阳能电池。
Si基底CVD扩磷工艺如下: (1)向高温炉中通入氩气,当高温炉中的气压与外界气压相同时,气 体将高温炉门顶开,关闭气体。 (2)将清洗好的硅基底放在瓷舟上,该位置为高温炉第1温区。将红 磷装满2个瓷舟,关闭炉门。 (3)用氩气清洗气路和高温炉腔体3遍,关闭氩气,打开机器泵开始 抽真空。 (4)抽真空30 min后,打开升温系统开始升温,升温时间为2 h。 (5)当温度升到扩磷温度(1050/1150℃)时,通过高温热扩散运动向 硅基底扩磷。 (6)当达到实验时间后,通入氩气,当高温炉内温度降到室温后将样 品取出待检测。
第四章 化学气相沉积
一、化学气相沉积法的概念
化学气相沉积ppt课件
四、CVD的现状和展望
➢气相沉积膜附着力强,厚度均匀,质量好, 沉积速率快,选材广,环境污染轻,可以 满足许多现代工业、科学发展提出的新要 求,因而发展相当迅速。它能制备耐磨膜、 润滑膜、耐蚀膜、耐热膜、装饰膜以及磁 性膜、光学膜、超导膜等功能膜,因而在 机械制造工业电子、电器、通讯、航空航 天、原子能、轻工等部门得到广泛的应用。
1〕足够高的温度:气体与机体表面作用、反应沉积时 需要一定的激活能量,故CVD要在高温下进行。当然, 以等离子体、激光提过激活能量,可降低反应的温度。
2〕反应物必须有足够高的蒸气压。 3〕除了要得到的固态沉积物外,化学反应的生成物都 必须是气态。
4〕沉积物本身的饱和蒸气压应足够低。
2、CVD过程 反应气体向基体表面扩散 反应气体吸附于基体表面
微波等离子体
脉冲等离子体
直流等离子体法(DCPCVD)
• 利用直流电等离子体激活化学反应,进行气相沉 积的技术。
1-真空室 2-工作台 3-电源和控
制系统 4-红外测温仪
5-真空计 6-机械泵
DCPCVD装置示意图
射频等离子体法(RFPCVD)
• 利用射频辉光放电产生的等离子体激活化 学反应进行气相沉积的技术。
• 绝缘薄膜的PCVD沉积 在低温下沉积氮化硅、 氧化硅或硅的氮氧化物一类的绝缘薄膜,对于超 大规模集成芯片〔VLSI〕的生产是至关重要的。
• 非晶和多晶硅薄膜的PCVD沉积 • 金刚石和类金刚石的PCVD沉积 • 等离子体聚合 等离子体聚合技术正越来越广泛
的应用于开发具有界电特征、导电特性、感光特 性、光电转换功能或储存器开关功能的等离子体 聚合膜和一些重要的有机金属复合材料。
活体粒子在基体表面发 生化学反应,形成膜 层
化学气相沉积的源物质
化学气相沉积的源物质
化学气相沉积(Chemical Vapor Deposition,CVD)是一种重
要的化学制备方法,它利用气体化合物在固体表面上发生化学反应,生成固体薄膜或涂层。
在CVD过程中,源物质是至关重要的,它们
提供了所需的化学物质来进行反应。
源物质通常以气态形式存在,
并且需要在反应室中与基底表面发生反应,形成所需的沉积产物。
常见的CVD源物质包括金属有机化合物、金属卤化物、金属烷
基化合物、金属醇盐等。
这些化合物在高温下可以分解,释放出金
属原子或离子,从而在基底表面上沉积出固体薄膜。
例如,金属有
机化合物如二甲基金属或三甲基金属可以提供金属原子,硅源物质
如三甲基硅烷可以提供硅原子用于沉积硅薄膜。
除了金属源物质外,CVD还需要气体的载体,例如氢气、氮气等,用于稀释源物质、调节反应气氛、传递热量等作用。
这些气体
也是CVD过程中不可或缺的一部分。
总的来说,CVD源物质的选择取决于所需沉积产物的化学成分
和性质,以及反应条件下的稳定性和反应性。
在CVD过程中,源物
质的选择和使用对于薄膜的质量和性能具有重要影响,因此需要仔细选择和控制源物质。
第四章--薄膜的化学气相沉积
压力梯度驱动的扩散过程使得该组元得以不 断到达衬底表面。
降低压力(提高扩散系数Di)将有利于提高气体 的扩散通量,加快化学反应进行的速度。
低压CVD就是利用这一原理,即采用了降低沉 积室压力的办法,加快气体组分的扩散和促 进化学反应的进行。
27
(四)表面吸附及表面化学反应
气体组分在扩散至薄膜表面后,还要经 过表面吸附、表面扩散、表面反应、反 应产物脱附等多个过程,才能完成薄膜 的沉积过程。
30
对CVD过程来说,尤其是当衬底温度 很低或者衬底表面已经被吸附分子 覆盖的情况下,Sc的数值可能很小; 而在气相与固相处于平衡下,Sc=0。
31
假设从物理吸附向化学吸附的转化过程为一 个一级反应,速率为
Rr krns krns0 (4- 54), 式中,kr为相应过程的速度常;数 ns、ns0分别为表面物理吸附子分的面密度 以及吸附分子可以占位据置的面密度。
20
二级反应 A+B=C+D (4-42) A、B两组元参加的正反应过程反应速率等于
R
knAnB
k
pApB (kT)2
(443)
式中, pA、pB为气体组A元 、B的分压; nA、nB为组元体密度
同样,两个组元A的分子参与的过程也属于二 级反应,这时,反应速率为
RknA2k(kp2A T )2 (4-44)
21
反应速度常数
k
k0e
E
RT,其
中K0系
数,
E为 反 应 过 程 的 激 活 能
图4.10示意性地画 出了化学反应从状 态1至状态2的自由 能变化曲线
22
反应总速率应正比于
Rk0n1e-RG*T-k0-n2e-G*RTG (4-47) G*和G*+G相 当 于 正 向 和 逆的向激反活应能 k0、k0-分 别 是 正 反 方 向速反度应常的数 的 系
第4章薄膜的化学气相沉积
一、化学反应的自由能变化
1、化学反应的自由能判定式 对于一个化学反应总可以表达为: aA+bB=cC 自由能变化:△G=cGc-aGA-bGB 其中a、b、c分别为反应物和产物的mol数 Gi—是每mol i物质的自由能。 i=A,B, C 0 对于每种反应物:Gi Gi RT ln ai
①+② ×3,得到 总反应为:
1 CO 2 ( g ) CO( g ) O 2 ( g ) 2
②
△G0 =195.5kJ/mol
2YCl3 ( g ) 3CO2 ( g ) Y2O3 (s) 3CO( g ) 3Cl2 ( g )
此时, G0 195.5 3 248.7 337.8KJ / mol
27
这一自由能变化决定了反应将过于趋向于向左进行。 d)再用YBr3代替YCl3
2YBr3 g 3CO2 g Y2O3 s 3CO g 3Br2 g
此时:△G 0 = -450.8+337.8= -113 kJ/mol
•与此相对应的平衡条件要求:当系统的总压力为 0.2MPa时,YBr3的分压为1 kPa。
24
二、化学反应路线与自由能变化
1、单晶与多晶的生长条件
根据晶体的形核生长理论:要满足晶体的生长 条件,就需要新相形成自由能△G<0。
对于单晶:引入一个生长核心(△ G <0),同时要抑制其它的
晶核形成,确保单晶生长条件,就要△ G在数值上接近 于0 。显然在满足这一条件的情况下,应有相当数量的 反应物与反应产物处于一种平衡共存的状态 。
(450℃)
另外,还可以利用
SiCl 4( g ) 2H 2( g ) O 2( g ) SiO 2(s) 4HCl ( g ) (1500℃)
化学气相沉积技术在半导体工业中的应用
化学气相沉积技术在半导体工业中的应用第一章:引言化学气相沉积技术(Chemical Vapor Deposition, CVD)是在气相条件下通过化学反应在固体表面上沉积出薄膜的一种重要技术。
近年来,随着半导体工业的不断发展,CVD技术在半导体工业中得到了广泛应用。
本文将重点介绍CVD技术在半导体工业中的应用。
第二章:CVD技术的原理与分类2.1 CVD技术的原理CVD技术是一种化学反应技术,其基本原理是将气态反应物在一定条件下传输到反应室中,与基板表面上的化学物种反应,从而在基板表面上形成所需薄膜。
传统的CVD技术基于热解原理,即通过加热反应室使反应物分解并在基板表面上沉积形成薄膜。
而PLD、ALD等技术则是基于激光或等离子体等方式进行反应,由于反应条件不同,CVD技术也可以被分类为热CVD、光化学CVD、等离子体CVD、水热CVD等类型。
2.2 CVD技术的分类根据CVD技术反应物输送方式的不同,CVD技术也可以被分类为低压CVD、大气压CVD、微波CVD等类型。
其中低压CVD是指反应室内的气压低于1 kPa,主要用于制备高质量、低缺陷密度的薄膜。
大气压CVD则适用于磁性材料、非晶材料等的生长,并且由于反应室气压较大,CVD技术成本也相对较低。
而微波CVD则利用微波能量带动激励原子在反应室中进行反应,制备薄膜速度较快,且具有良好的均匀性。
第三章:CVD技术在半导体工业中的应用3.1 CVD技术在薄膜制备中的应用CVD技术在半导体工业中最为广泛的应用就是在制备各类薄膜方面。
例如CVD技术可以制备二氧化硅(SiO2)和氮化硅(Si3N4)等常用的绝缘层膜,这些薄膜被广泛应用于振荡器、电容器、光缆等领域。
此外,CVD技术也可以制备氧化铝(Al2O3)等陶瓷材料,用于高温氧化抑制、阻挡金属杂质、光学涂层等领域。
3.2 CVD技术在半导体器件制备中的应用除了薄膜制备,CVD技术在半导体器件的制备中也扮演着重要的角色。
薄膜的化学气相沉积
Cl xi pi 0.01 H x j pH j
Cl
4. SiCl H 3( g ) Si( s ) H 2 ( g ) 4 HCl( g )
T
5. SiCl2 ( g ) H 2 ( g ) Si( s ) 2 HCl( g )
T
6. SiH 4 ( g ) Si( s ) 2 H 2 ( g )
4.3 CVD 过程的动力学 热力学理论可以预测反应可否发生(可能性),不能保证反应进 行的必然性。动力学因素决定上述过程的进程和速度。
1、宏观气体流动、分子扩散、气相化学反应 2、分子表面吸附、脱附,表面扩散、表面化学反应和成膜
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薄膜材料与技术,授课教师:张卫华 2007
薄膜材料与技术,授课教师:张卫华 2007
4.1 CVD 反应的类型 6、气相输运 利用升华和冷凝进行薄膜沉积。
T1
2CdTe( s ) 2Cd ( g ) Te2 ( g )
T2
2Cd ( g ) Te2( g ) 2CdTe( s )
CVD特点: 气相为前驱反应物,产物至少有一相为固相
Ni(CO) 4 ( g ) Ni( s ) 4CO( g )
WF6 ( g ) H 2 ( g ) W ( s ) 6 HF( g ) WF6 ( g )
300 ℃ 3 3 Si ( s ) W ( s ) SiF 4 ( g ) 2 2
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本章主要内容
第四章 薄膜的化学气相沉积
第四章 化学气相沉积讲解
设在生长中的薄膜表面形成了界面层,其厚度为,cg和cs分别为 反应物的原始浓度和其在衬底表面的浓度,则
扩散至衬底表面的反应物的通量为: 衬底表面消耗的反应物通量与Cs成正比
平衡时两个通量相等,得
F1 hg (Cg Cs )
F2 ksCs
F1 F2
Cs
Cg 1 ks
hg
hg为气相质量输运系数,Ks为表面化学反应速率常数
第四章 化学气相沉积----4.2 化学气相沉积
1. 歧化反应
大多数歧化反应,源区只有在高温下才能生成可进行歧化反 应的中间产物,源区的反应器壁也要处于高温下,以避免在 反应器上进行沉积,如生成SiI2中间产物需要1150℃:
Si(s) + 2I2(g) → SiI4 (g) SiI4 (g) + Si(s) → 2SiI2 (g) 衬底区生成硅外延层的歧化反应只需900℃:
第四章 化学气相沉积----4.2 化学气相沉积
3. 热解反应 某些元素的氢化物和金属有机化合物高温下不稳
定,发生分解,产物可沉积为薄膜,反应是不可逆的。 如:
SiH4(g) = Si(s) + 2H2(g) Ni(CO)4(g) = Ni(s) + 4CO(g)
TiI(g) = Ti(s) + 2I 多晶硅沉积的生长温度可低至600℃;单晶硅则需850。 当需要低温工艺时,硅烷可作为理想的硅源来使用。
4. 氧化反应 利用氧气作为氧化剂促进反应:
SiH4(g) + O2 = SiO2(s) + H2O(g) (450℃) Si(C2H5O)4 + 8O2 = SiO2 + 10H2O + 8CO2
(Si(C2H5O)4是正硅酸乙酯 简称TEOS)
化学气相沉积技术
produce the desired deposit. Frequently, volatile by-products are also
produced, which are removed by gas flow through the reaction chamber.
速加热晶圆。只对基底加热,而不是气体或腔壁。可以减少不必要的气
相反应,以免产生不必要的粒子。
气相外延 (Vapor phase epitaxy, VPE)
……
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化学气相沉积的特点
优点:
1)既可制作金属薄膜,又可制作多组分合金薄膜,且成分控制准确;
2)可在复杂形状基片上沉积薄膜,绕射性能好;
3)一些反应可在常压或低真空进行,不需要昂贵的真空设备;
超高真空CVD (Ultrahigh vacuum CVD, UHVCVD):
在非常低压环境下的CVD。大多低于10-6 Pa (约为10-8 torr)。大部
分现今的CVD制程都是使用LPCVD或UHVCVD。
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化学气相沉积的种类
以气相的特性分类:
气溶胶辅助CVD (Aerosol assisted CVD, AACVD):
层位于最初表面以上。
8
SiO2薄膜的热氧化法制备
Oxidation technology
大多数热氧化在加热炉中进行,温
度800到1200℃。将基片放在石英
支架(石英舟)里,一个加热炉同
时可以处理一批基片。
水平炉和垂直炉
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微电子技术
在半导体器件和集成电路的基本制造流程中,有 关半导体膜的外延,P-N结扩散元的形成、介质隔离、 扩散掩膜和金属膜的沉积等是工艺核心步骤,化学气 相沉积在制备这些材料层的过程中逐渐取代了如硅的 高温氧化和高温扩散等旧工艺,在现代微电子技术中 占主导地位,在超大规模集成电路中,化学气相沉积 可以用来沉积多晶硅膜,钨膜、铅膜、金属硅化物, 氧化硅膜以及氮化硅膜等,这些薄膜材料可以用作栅 电极,多层布线的层间绝缘膜,金属布线,电阻以及 散热材料等。
6
7
20世纪50年代 主要用于道具
涂层
古人类在取暖 或烧烤时在岩 洞壁或岩石上
的黑色碳层
20世纪60-70 年代用于集成
电路
近年来PECVD 、LCVD等高
速发展
80年代低压 CVD成膜技术 成为研究热潮
8
9
CVD是一种材料表面改性技术。它利用气相间的反应, 在不改变基体材料的成分和不削弱的基体材料的强度条 件下,赋予材料表面一些特殊的性能。CVD是建立在 化学反应基础上的,要制备特定性能材料首先要选定一 个合理的沉积反应。用于CVD技术的通常有如下所述 五种反应类型。
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在耐磨涂层机械零件方面的应用
• 在许多特殊环境中使用的材料往往需要有涂层保护,以
使其具有耐磨,耐腐蚀,耐高温氧化和耐辐射等功能。 SiC、Si3N4、MoSi2等硅系化合物是最重要的高温耐氧 化涂层。这些涂层在表面上生成致密的SiO2薄膜,起着 阻止氧化的作用,在1400~1600℃下能耐氧化。Mo和 W的CVD涂层亦具有优异的高温耐腐蚀性。
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其他领域的应用
• 在光学领域中,金刚石薄膜被称为未来的光学材料,
它具有波段透明和极其优异的抗热冲击、抗辐射能力, 可用作大功率激光器的窗口材料,导弹和航空、航天 装置的球罩材料等。金刚石薄膜还是优良的紫外敏感 材料。而且上海交通大学把CVD金刚石薄膜制备技术 应用于拉拔模具,不仅攻克了涂层均匀涂覆、附着力 等关键技术,而且解决了金刚石涂层抛光这一国际性 难题。
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CVD动力学
显示以TEOS为反应气体的CVDSiO2沉积 的沉积速率与温度之间的关系曲线
基 本 上 CVDSiO2 的 沉积速率,将随着 温度的上升而增加。 但当温度超过某一 个范围之后,温度 对沉积速率的影响 将变得迟缓且不明 显
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CVD反应的进行,涉及到能量、动量、及质量的传递。 反应气体是借着扩散效应,来通过主气流与基片之间 的边界层,以便将反应气体传递到基片的表面。接着 因能量传递而受热的基片,将提供反应气体足够的能 量以进行化学反应,并生成固态的沉积物以及其他气 态的副产物。前者便成为沉积薄膜的一部分;后者将 同样利用扩散效应来通过边界层并进入主气流里。至 于主气流的基片上方的分布,则主要是与气体的动量 传递相关。
MOCVD
低压
原子层 外延
MOCVD (ALE)
激光 MOCVD
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LCVD
• 激光化学沉积就是用激光(CO2或准分子)诱导促
进化学气相沉积。激光化学气相沉积的过程是激光 分子与反应气分子或衬材表面分子相互作用的工程。 按激光作用的机制可分为激光热解沉积和激光光解 沉积两种。激光热解沉积用波长长的激光进行,如 CO2激光、YAG激光、Ar+激光等,一般激光器能 量较高、激光光解沉积要求光子有大的能量,用短 波长激光,如紫外、超紫外激光进行,如准分子 XeCl、ArF等激光器。
APCVD的操作压力接近1atm(101325Pa),按照气体分子 的平均自由径来推断,此时的气体分子间碰撞频率很高,是属 于均匀成核的“气相反应”很容易发生,而产生微粒。
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LPCVD
• 低压CVD的设计就是将反应气体在反应器内进行沉积反
应时的操作能力,降低到大约 100Torr(1Torr=133.332Pa)一下的一种CVD反应。利 用在低压下进行反应的特点,以LPCVD法来沉积的薄膜, 将具备较佳的阶梯覆盖能力。且因为气体分子间的碰撞 频率下降,使气相沉积反应在LPCVD中变得比较不显著 (尤其是当反应进行时,是在表面反应限制的温度范围 内)。但是也因为气体分子间的碰撞频率较低,使得 LPCVD法的薄膜沉积速率比较慢一些 。
SiH4 ~3500Ca-Si(H)+2H2 W(CO)6 激光 束W+6CO
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CVD技术的热动力学原理
化学气相沉积的五个主要的机构
(a)反应物已扩散通过界面边界层;(b)反应物吸附在 基片的表面;(c)化学沉积反应发生; (d) 部分生 成物已扩散通过界面边界层;(e)生成物与反应物 进入主气流里,并离开系统
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热分解反应 氧化还原反应 化学合成反应 化学输运反应 等离子增强反应 其他能源增强增强反应
Cd(CH3)2+H2S 4750CCdS+2CH4 SiH4 +2O2 325~4750CSiO2 +2H2O
3SiH4 +4NH3 7500CSiN4 +12H2 W(s)+3I2 (g) ~ 134000 0 000CC WI6 (g)
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CVD 设 备 的 心 脏 , 在 于 其 用 以 进 行 反 应 沉 积 的 “ 反 应 器” 。CVD反应器的种类,依其不同的应用与设计难以 尽数。以CVD的操作压力来区分,CVD基本上可以分为 常压与低压两种。若以反应器的结构来分类,则可以分 为水平式、直立式、直桶式、管状式烘盘式及连续式等。 若以反应器器壁的温度控制来评断,也可以分为热壁式 (hot wall)与冷壁式(cold wall)两种。若考虑CVD 的能量来源及所使用的反应气体种类,我们也可以将 CVD 反 应 器 进 一 步 划 分 为 等 离 子 增 强 CVD(plasma enhanced CVD,或PECVD),TEOS-CVD,及有机金 属CVD(metal-organic CVD,MOCVD)等。
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PECVD • 在低真空的条件下,利用硅烷气体、氮气(或氨气)和氧化亚氮,
通过射频电场而产生辉光放电形成等离子体,以增强化学反应, 从而降低沉积温度,可在常温至350℃条件下,沉积氮化硅膜、 氧化硅膜、氮氧化硅及非晶硅膜等。在辉光放电的低温等离子体 内,“电子气”的温度约比普通气体分子的平均温度高10~100 倍,即当反应气体接近环境温度时,电子的能量足以使气体分子 键断裂并导致化学活性粒子(活化分子、离子、原子等基团)的 产生,使本来需要在高温下进行的化学反应由于反应气体的电激 活而在相当低的温度下即可进行,也就是反应气体的化学键在低 温下就可以被打开。所产生的活化分子、原子集团之间的相互反 应最终沉积生成薄膜。把这种过程称之为等离子增强的化学气相 沉积PCVD或PECVD,称为等离子体化学气相沉积。
第四章
化学气相沉积
目
录
• 基本概念 • 化学气相沉积发展历程 • 化学气相沉积基本原理 • 化学气相沉积合成方法的适用范围 • 化学气相沉积工艺及设备 • 化学气相沉积工艺参数 • 化学气相沉积方法应用举例
2
3
• 化学气相沉积乃是通过化学反应的方式,利用加热、等
离子激励或光辐射等各种能源,在反应器内使气态或蒸 汽状态的化学物质在气相或气固界面上经化学反应形成 固态沉积物的技术。
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切削工具方面的应用
用CVD涂覆刀具能有效地控制在车、铣和钻孔过程 中出现的磨损,在这里应用了硬质台金刀具和高速 钢刀具。特别是车床用的转位刀片、铣刀、刮刀和 整体钻头等。使用的涂层为高耐磨性的碳化物、氯 化物、碳氯化台物、氧化物和硼化物等涂层。TiN与 金属的亲和力小,抗粘附能力和抗月牙形磨损性能 比TiC涂层优越,因此,刀具上广泛使用的是TiN涂 层。
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模具方面应用
➢工模具在工业生产中占有重要的地位,如何提高工模具 的表面性能和使用寿命一直是材料与工艺研究的重点之 一,CVD技术在工模具上的推广应用,对传统的工模具 制造是个突破。 ➢金属材料在成形时,会产生高的机械应力和物理应力, 原来工模具的抗磨能力,抗接触能力及摩擦系数等机械 性 能 是 靠 基 体 材 料 来 实 现 的 , 采 用 该 技 术 后 , CVD 的 TiN涂层作为表面保护层。
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超导技术
CVD制备超导材料是美国无线电公司(RCA)在20世 纪60年代发明的,用化学气相沉积生产的Nb3Sn低温超 导材料涂层致密,厚度较易控制,力学性能好,是目 前烧制高场强、小型磁体的最优材料,为提高Nb3Sn的 超导性能,很多国家在掺杂、基带材料、脱氢、热处 理以及镀铜稳定等方面做了大量的研究工作,使CVD 法成为生产Nb3Sn的主要方法之一。
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MOCVD
• 在 MOCVD 过 程 中 , 金 属
有 机 源( MO 源)可以 在 热解或光解作用下,在较 低温度沉积出相应的各种 无机材料,如金属、氧化 物、氮化物、氟化物、碳 化物和化合物半导体材料 等 的 薄 膜 。 如 今 , 利 用 常压 MOCVD 技 术 不 但 可 以 改 MOCVD 变材料的表面性能,而且 可以直接构成复杂的表面 结构,创造出新的功能材 料。
从气相中析出的固体的形态主要有下列几种: ➢在固体表面上生成薄膜、晶须和晶粒 ➢在气体中生成粒子
4
CVD技术的分类
CVD技术 低压CVD(LPCVD) 常压CVD(APCVD)) 亚常压CVD(SACVD) 超高真空CVD(UHCVD)
等离子体增强CVD(PECVD) 高密度等离子体CVD(HDPCVD
14
• 两种常见的流体流动方式
热传导是固体中热传递的主要方式,是将基片 置于经加热的晶座上面,借着能量在热导体 间的传导,来达到基片加热的目的
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体流经固定表面时所形成的边界层δ及 δ与移动方向x之间的关系
边界层的厚度δ,与
反应器的设计及流
体的流速有关