美国半导体器件的失效率及其计算方法

美国半导体器件的失效率及其计算方法美国半导体器件的失效率及其计算方法 22电子产品可靠性与环境试验1999年第5期

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FailureRatesofAmericanSemiconductorDevicesand

TheirComputa~onMethod

彭苏娥刘涌(信息产业部电子五所51061oY

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导体失效宰的方法,并收集了近年来发表的部分半导体器件失效宰的数据(其中早期失

效宰数据是利用60%置信度计算出来的,长期失效率是利用激活能和60%置信度计算

出来的),同时还分析了白1995年以来美国半导体失效宰的变化趋势或可靠性改进的情

扎,地关麓词:半导体器件失效空;)

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引言2翥萎蔫霁篓失效率计算方法

推算产品失效率的传统方法是对从母体

中随机抽取的样品进行高温加速寿命试验,

计算出在该试验条件下的失效率,然后进行

以得出降额条件下或在现场应用条件外推,

下的失效率估计值.虽然描述半导体器件可