X射线测厚影响因素分析_技术进展及其在冶金工业中的应用_下
高精度X射线测厚仪的研究与应用
高精度X射线测厚仪专业测控1101学号201102540112姓名卢丰收测厚仪作为一种在线测量板材厚度的精密仪器，在整个轧机的AGC控制系统中占有非常重要的地位。
它为AGC系统提供实时厚度偏差信号，信号的准确和灵敏度直接影响了轧制板材的厚度质量。
瑞清XTC70L X测厚仪可为带钢提供精确，高速的非接触式厚度测量。
它采用模块化设计，配置灵活，维护简便，经济且性能指标优异。
用户能够根据RM 215测厚仪提供的，对测量结果的绝对值或偏差的实时的反馈，来提高产品的质量。
因此，RM 215测厚仪因其响应速度快、噪声低、精度高而在冷热轧线得到广泛应用。
1、X射线测厚仪的组成原理以及技术特点1.1、测厚仪组成瑞清XTC70L X测厚仪的典型平面布置图1：测厚仪主要由主控制柜、接线箱、报警灯、C 型架等部分组成1.1.1、C 型架C 型架位于轧线精轧机组后，包括机械部分、探头、放射源、接收源等；X射线探测头，高压源均由国外进口，分辨率高，响应时间短，使测量数据更精确，保证了产品质量的稳定性和可靠性。
机械部分由一个C型框架、一个驱动气缸、前后限位等组成，在C型框架下部里面，有一个控制、校准用小气缸及其辅助机构，通过CRT触摸屏的软件控制按钮可以驱动气缸进行测量、校准、屏蔽等操作。
放射源在C型架的下臂内的一个黑色铅盒中，并在上面开了一个快门，用来控制放射线的通断。
位于源盒正上方，C型架上臂的圆柱体里面装有探测用的射线探测器、电离室和前置放大电路。
1.1.2、主控制柜主控制柜里有工控机，触摸显示器以及接线柜的总电缆终端、模拟和数字输入输出模块、高速计数器和以太网模块等，工控机的配置包括摩托罗拉680LC40微处理器主板、4MDRAM、1M快闪存储器、一个打印口和软盘硬盘驱动器。
计算机通过多功能数据采集板获取厚度、长度脉冲、和探头温度等模拟信号和气缸位置等数字信号，进行计算输出、厚度显示、机械控制等，以及给轧机AGC系统一个厚度偏差信号。
影响X射线测厚仪测量精度的因素及维护方法
收稿日期:2009-01-11 第一作者简介:陈德斌(1966-),男,云南大理人,高级工程师。
影响X 射线测厚仪测量精度的因素及维护方法陈德斌,胥福顺,栾争位(云南铝业股份有限公司,云南昆明650502)摘要:介绍了影响X 射线测厚仪测量精度的因素,在实际使用中采取相应维护措施,就能保证X 射线测厚仪满足测量精度的控制要求。
关键词:X 射线源衰减;测量精度;标准化;现场标定中图分类号:TG115.22 文献标识码:A 文章编号:1007-7235(2009)04-0038-03The factors of impacting the X -ray thickness measurement accuracyand methods to maintainCHEN De -bin ,XU Fu -shun ,LUAN Zheng -wei(Yunnan Aluminium Co .,Ltd .,Kunming 650502,C hina )A bstract :This paper introduced the factors of effecting the X -ray thickness measurement accuracy .The measures takend appropriate safeguard in the actual use to ensure that X -ray thickness measurement accuracy to meet the requirements of control .Key words :X -ray source decay ;measurement accuracy ;standardization ;field calibration X 射线测厚仪是通过向X 射线源施加高压电源,产生X 射线,X 射线穿透被测量物体时其强度衰减量来测量物体厚度[1-2]。
X射线荧光分析技术在冶金分析中应用
X射线荧光分析技术在冶金分析中的应用摘要：在冶金行业中，对于矿石原料的成分的定性分析，是一项比较复杂的工作，分析方法也有很多种，本文介绍了x射线荧光分析技术的工作原理、技术特点以及在冶金行业中应用于矿材成分的定性、定量分析，阐述了这种分析方法的特点和优越性。
关键词：x射线光谱分析；冶金；元素一、前言在冶金行业中，传统的分析技术大多采用的是湿法化学分析，这种分析法一般是采用化学试剂进行相关化学反应，根据化学反应的结果，计算推出矿石原料中所含成分，这种方法操作比较麻烦，专业性强，每一种试剂测量的元素只指向某一种或两三种元素，当含有多种元素时，要进行几次不同试剂的测量分析，所以，有效性受到限制，特别是在野外作业时，对于选矿、探矿，这种湿法作业达不到便捷、快速的要求，影响工作效率。
随着19世纪英国科学家伦琴发明x射线以来，x射线在很多领域得到了推广应用。
近些年来，利用x射线荧光分析技术进行矿材成分的定性、定量分析，在冶金行业得到了广泛应用，极大的推动了冶金技术的快速发展，x 射线分析技术具有以下特点：二、x射线荧光分析技术的特点在冶金行业中，要针对矿石的成分分析，来确定冶炼工艺，控制冶炼产品，包括炉料的计算，成分含量的计算，成分种类的分析等，这是一项生产前的准备工作，要求比较高，操作比较复杂，它的特点是：①要求在保证产品质量的前提下，进行快速分析，准确定性各种成分含量。
②对于矿材中的固体、液体和粉末等，能够适应全面分析各种成分，以便与生产确定工艺流程。
③对传统的湿法分析法来，操作起来要接触很多化学试剂和化学仪器，工作量非常大，效率比较低，对环境和操作者都有影响。
但是x射线荧光分析技术就克服了这些难题，能够适应冶金行业冶炼过程中的成分分析要求。
x射线荧光分析技术有两大种类型：能量色散x射线荧光分析和波长色散x射线荧光分析；这几种类型的技术在不同的应用条件下各有其突出的特点。
在冶金行业应用中，它具有许多优势：（1）色谱谱线比较简单，外界干扰很少背景低，对元素的能量反射灵敏度高每一种元素对应一种谱线特征，在分析过程中简便易行，准确度很高，对于多种元素的同时分析非常有效。
X射线测厚仪测量精度的影响因素与维护
引言X射线测厚仪是通过放射X射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。
X 射线测厚仪的优点是器在断电后就不会在释放任何射线,减少了对人体和周围环境的危害,从而是一种安全的测厚仪,因此,各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。
但是,由于X射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到X射线测厚仪测量的精确度,所以我们应该注意影响X射线测厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
1 X射线测厚仪测量精度的影响因素首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响。
X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出X射线,通过X射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。
但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的精确度造成一定的影响。
安装的位置不当就会使测量的精度不准确波动比较明显。
另外,X射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量精度。
X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中,随着使用时间的增加,灯管的曲线会发生变化,在同一电压下,随着使用灯管时间的递加,厚度偏差会越来越大,因此,X射线源的衰减,是影响测量精度的一个主要原因。
除了正常使用过程中X射线源会出现衰减,在出现某些故障是,也会发生突发性的衰减,出现标准化通过不过,反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大,发生这种情况,X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。
第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。
尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。
第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。
比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。
另外,被测量的物体,可能会上下跳动,偏离测量时的位置,这种倾斜也会影响测量的精度。
X射线厚度测量原理及影响因素
0引言X 射线的发现是19世纪末20世纪初物理学的三大发现（X 射线1896年、放射线1896年、电子1897年）之一，这一发现标志着现代物理学的产生。
X 射线的发现为诸多科学领域提供了一种行之有效的研究手段。
X 射线的发现和研究，对20世纪以来的物理学以至整个科学技术的发展产生了巨大而深远的影响。
同样，基于X 射线特性制造的测厚仪使得钢铁企业在线厚度检测成为可能，更高精度的厚度控制系统得以应用，钢铁企业可以生产更高质量的产品。
下面本文将对X 射线厚度测量原理及影响因素进行说明。
1测量原理1.1特征X 射线通过将原子暴露在能量中，电子可以从内壳层提升到外壳层（激发态）或完全从原子结合中移除（电离态）。
在后一种情况下，会产生一个离子对：一个电子（也称为离子）和一个电子损失而形成的带正电的残余原子。
由电子腾出的空间实际上立即被来自外壳的电子再次填充（在10-8秒内），释放出与所涉及的外壳结合能之间的差相对应的能量。
这些能量在千电子伏范围内。
如果壳层K 中的电子间隙再次被填充，则会发射所谓的K 辐射，如果此过程发生在壳层L 中，则会发射所谓的L 辐射等[1]。
对于每个元素，壳层能量之间的差异是不同的。
这是元素的特征。
因此，这种辐射也称为特征x 辐射（图1）。
这些元素的原子序数Z 不同，因此其原子电荷也不同。
这意味着不同的电场会产生不同的结合能，并最终导致每个元素的壳层能量存在非常典型的差异。
如果测量了元件发射的x 射线能量，则可以根据这些值识别元件。
因此，每当原子内电子壳层中缺失的电子被外层电子取代时，就会产生特征x 射线。
这个过程类似于可见光的产生。
在这种情况下，电子间隙在外壳中产生，例如通过加热金属。
1.2X 射线管X 射线管中产生高达数百keV 的X 辐射。
电子的大部分动能以热的形式损失。
只有大约1%转化为x 射线。
x 射线管包括：电子发射器（阴极），聚焦装置（阳极）。
阴极由钨丝组成，在工作过程中，用直流电（灯丝电流IFl ）将灯丝加热到200°C 以上。
X射线测厚仪测量精度影响及维护研究
X射线测厚仪测量精度影响及维护研究摘要：基于X射线与物质相互作用的原理,改进了X射线厚度测量系统的研究技术。
主要任务是借鉴国内厂家的设计和制造经验,结合国内外相关研究,研究影响X射线厚度测量的稳定性和准确性的因素,并进行全面具体的分析。
该分析提高了X射线测量的准确性和稳定性。
最后,通过X射线中心的一些测试措施和数据分析,提出了系统的改进和维护计划,合理有效。
关键词：X射线；实际应用；相关介绍X射线厚度计通过测量放射性X射线进入测试对象时的强度衰减来测量物体的厚度。
X射线测厚仪优点是它们在停电后不发射线,从而降低了对人健康和环境的风险。
相反,它们是一种安全的测厚仪。
因此,大型工程,特别是有色金属板材的生产和加工,得到了广泛的应用。
但是,由于X射线测厚仪以及测量对象的材质、温度和倾斜,我们必须注意影响X射线测量精度的因素,并注意其日常维护。
一、X射线测厚仪测量精度的影响因素首先,高压X射线控制对测量精度有一定的影响，X射线测厚仪是用用于X射线辐射的高压电流源测量的,并且通过X射线穿透物体后的衰减来测量物体的厚度。
因此,高压射线源的安装位置会直接影响厚度计的精度。
安装上的差异使测量的不准确性更加明显。
此外,X射线源本身的衰减会影响厚度计的测量精度。
在现场校准时,射线源的衰减曲线随使用时间的增加而变化。
在相同的电压下,厚度随着管道时间的逐渐增加而增加。
因此,X射线源的衰减是影响测量精度的主要原因之一。
X射线源在正常使用期间除衰变外,一些缺陷还可能出现突然衰变和标准化通道。
但是,反馈电压与出厂标准电压有很大不同,因此X射线强度的测量精度不一定准确。
其次,当X射线源在高压下释放X射线时,X射线源的环境温度和湿度也会影响测量的稳定性。
尤其是湿度，将直接影响高压发生器及射线管的稳定性。
因此，在射线源内部，需放入一些除湿颗粒，也可以用低压氮气管道进行吹扫，保证射线源内的干燥；尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。
X射线测厚仪测量精度影响因素及补偿措施
X射线测厚仪测量精度影响因素及补偿措施魏运鹏;方伟新【摘要】In order to ensure the accuracy of X-ray thickness gauge, combining with the measuring principle, equipment structure and application environment of the gauge, the factors influencing the accuracy are researched, and the appropriate compensation measures are investigated. The application of compensation measures reduces the measuring error of the thickness gauge to %o, and satisfies the requirement for thickness control of cold-rolled steel strip.%为保证X射线测厚仪的测量精度,结合X射线测厚仪测量原理、设备结构和应用环境,对影响测厚仪测量精度的因素进行了研究,并探讨了影响因素的相应补偿措施.测量精度补偿措施的应用使测厚仪测量误差降至1‰,满足了冷轧带钢厚度控制的要求.【期刊名称】《自动化仪表》【年(卷),期】2011(032)010【总页数】4页(P79-81,86)【关键词】X射线;测厚仪;电离室;合金补偿;角度补偿;静态校准【作者】魏运鹏;方伟新【作者单位】上海梅山钢铁股份有限公司设备部,江苏南京 210039;上海梅山钢铁股份有限公司设备部,江苏南京 210039【正文语种】中文【中图分类】TP274+.10 引言作为轧机基础自动化功能的一个重要组成部分，测厚仪对轧钢厚度的控制起到至关重要的作用。
x射线厚度测量方法
x射线厚度测量方法一、引言随着科技的不断发展，x射线测量技术在工业领域的应用越来越广泛。
x射线厚度测量方法是其中的一种重要应用。
本文将介绍x射线厚度测量的原理、仪器设备以及实际操作步骤。
二、原理x射线厚度测量是利用x射线在物质中的透射性质进行测量的方法。
当x射线穿过物质时，会与物质中的原子相互作用，其中一部分被散射或吸收，另一部分则透过物质。
通过测量透射x射线的强度，可以推算出物质的厚度。
三、仪器设备进行x射线厚度测量需要使用专用的仪器设备，包括x射线发生器、探测器和数据处理系统。
x射线发生器用于产生高能的x射线，探测器用于测量透射x射线的强度，数据处理系统用于处理和分析测量结果。
四、实际操作步骤1. 准备工作：确保仪器设备正常运行，检查x射线发生器和探测器的状态。
根据实际需求选择合适的测量模式和参数。
2. 校准仪器：使用已知厚度的标准样品进行校准，根据标准样品的透射x射线强度和厚度建立校准曲线。
3. 放置待测样品：将待测样品放置在测量台上，确保样品与x射线垂直，并且样品表面平整。
4. 测量：启动仪器设备，开始测量。
仪器将发射x射线穿过样品，并记录透射x射线的强度。
5. 数据处理：将测量得到的透射x射线强度与之前建立的校准曲线进行对比，根据强度与厚度的关系计算出待测样品的厚度。
6. 结果分析：根据测量结果进行分析，判断样品的厚度是否符合要求。
如有需要，可以进行多次测量取平均值，提高测量的准确性。
五、注意事项1. 在进行x射线测量时，应注意防护措施，避免对人体造成伤害。
2. 在进行测量之前，应对仪器设备进行正确的校准，以确保测量结果的准确性。
3. 样品的表面应平整，以避免测量误差。
4. 在进行测量时，应选择适当的测量模式和参数，以获得准确的测量结果。
5. 测量结果应进行多次重复测量，以提高测量的准确性。
6. 在测量过程中，应注意仪器设备的操作规范，避免对仪器设备造成损坏。
六、应用领域x射线厚度测量方法在许多领域都有广泛的应用，如金属加工、材料科学、电子工业等。
x射线装置在工业应用过程中的环境影响分析
39X射线装置在工业应用过程中的环境影响分析王亮亮1,2（1.福建省冶金工业设计院有限公司，福州 350011；2.福建闽冶环保科技咨询公司，福建 福州 350011）【摘要】本文通过介绍自屏蔽式X射线探伤装置的工作原理和工作流程，从而分析其在工业生产无损检测过程的环境影响，并提出应采取的环境保护措施。
【关键词】自屏蔽式 X射线 环境影响 环境保护措施Environmental Impact Analysis of X-ray Device in Industrial ApplicationWang Liangliang1,2(1.Fujian Metallurgical Industry Design institute Co.,LTD.,Fuzhou 350011，Fujian2.Fujian Minye Environmental ProtectionScience andTechnology Consulting Co.,Ltd., Fuzhou 350011，Fujian)【Abstract】This article introduces the working principle and working flow of self-shielded X-ray detection device, thus analyzes its environmental impact in the process of non-destructive testing in industrial production, and puts forward the Environmental Protection measures to be taken.【Key words】self-shielded；x-ray；environmental impacts；environmental protection measures前言目前工业用X射线装置分为自屏蔽式X射线探伤装置和其他工业用X射线探伤装置，包括加速器、计算机断层扫描仪、工业CT、测厚仪、电子束焊机等。
X射线测厚仪测量精度的影响因素与维护
首先， 是 Ｘ射 线 的பைடு நூலகம்高 压 控 制 箱会 对 测 量 该 进 行 定 期 检 查 ， 以免其松动 。 另外， 还 应 衰 减 、 在 生 产 过 程 中 操 作 者 人 为 的 偏 差 造 以 免 影 响 高 压 电源 工 作 成 补 偿 值 的 不 精 确 、 的精 度 造 成 一 定的 影 响 。 Ｘ 射 线 测厚 仪 的 测 该 保 证 风 的 质 量 ， 被 测 量 物 体 上 的 附 着 量 原 理 就 是 通 过 施 加 高 压 电 源 放 射 出Ｘ射 时 的大 量 热 不能 很 好 的 冷 却 ， 烧 坏 电路 板 。 物 以 及Ｘ射 线途 经 的 环境 中 的 温 度或 者 湿 线， 通 过Ｘ射线 的 穿 透 物体 时 的 衰 减量 来 测 对 于 测 头 的 维护 ， 要 定期 查 看 Ｘ 射 线 测 厚 仪 度 的影 响 。 由此 ， 我 们 可 以 看 出 虽 然Ｘ射 线 量被测 物体的厚度 。 但 是 高 压 控 制 箱 的 安 的 测头 冷却 水 是 否正 常 。 在 日常维 护 时 ， 要 装 位 置 会 对 测 厚 仪 的 精 确 度 造 成一 定的 影 查看 ｘ射 线 源 箱 内的 灯 管和 高 压 绝 缘油 ， 避 响。 安 装 的 位 置 不 当 就 会 使 测 量 的 精 度 不 免 漏 油 和 长 期 受 热 和辐 射 的 影 响 ， 绝 缘 油 准确波动比较明显 。 另外 ， ｘ射 线 本 身的 衰 的 碳 化 。 另外 ， 对 于 Ｘ射 线 测 厚 仪 的 维 护 还 减 也 会影 响 测 厚 仪 的测 量 精 度 。 ｘ射 线源 的 应 该 经常 查 看 ｘ射源 箱 内 的水 循 环 情况 ， 使 衰减对 于工厂现场 的的标 定过程 中， 随 着 冷 却 水 的温 度 不 要 超 过 ３ ５ ℃。 定 期 更换 高 使 用 时 间 的 增加 ， 灯 管的 曲线 会 发 生 变 化 ， 压 绝缘 油 ， 高压绝缘油在使用中， 会 受到 温 在 同一 电压 下 ， 随 着 使 用灯 管 时 间 的 递 加 ， 度 而 发 生炭 化 从 而影 响绝 缘 的效 果 ， 影 响Ｘ 厚度偏差会越来越 大 ， 因此 ， ｘ射 线 源 的 衰 射 线 源 的 使 用 ， 因此 对 Ｘ射 线 测 厚 仪 的 维 减， 是 影 响 测量 精 度 的 一个 主 要 原 因。 除了 护， 要特 别注 意对 高压 绝 缘 油 的 定 期查 看 ， 测 厚仪 相 比 同位 素 测 厚 仪 已经 有 了很 大 的 进步 ， 不 但 精 确 还 更 环 保 而 且 对 于 人 和 环 境 的辐射更小 。 但 是 我 们 在 日常 的 使 用 中 还 是 要 注 意 以 上 几 点 影 响 Ｘ射 线 测 厚 仪 精 度的因素 ， 以确 保 测 量 的 准 确 度 。 对 于Ｘ射 线测 厚仪 的 维 护 ， 主 要 定 期 查 看 高 压 控 制箱 内 的 接 线 端 子 是 否 松 动 ； 注 意 箱 内 的 排 风 状 况 以 免 烧 坏 电路 板 ； 保 证
X射线荧光分析技术在冶金分析中的应用
X射线荧光分析技术在冶金分析中的应用发布时间：2021-12-06T08:04:24.906Z 来源：《科学与技术》2021年第29卷第19期作者：吴艳芬[导读] 目前，X射线荧光分析技术广泛应用于冶金、地质、化工、建材、石吴艳芬包钢钢联股份有限公司巴润矿业分公司内蒙古包头市 014080摘要：目前，X射线荧光分析技术广泛应用于冶金、地质、化工、建材、石油、农业、环保等领域。
它已成为生产控制和科学研究不可缺少的分析工具。
它以其谱线简单、干扰小等特点得到了广泛的应用；低背景、高灵敏度；共存元素间谱线的重叠和基体的吸收增强效应有明确的数学校正模型；智能软件与仪器硬件的最佳结合，可形成高智能的自动分析系统；由于元素分析（be-u）的广泛范围和含量覆盖率（0.000 1%~100%）。
关键词：X射线光谱分析；表观浓度；两点法校准；用于冶金原辅材料分析的通用软件“宽范围氧化物精确测定定量分析程序”(W RO)和专用于各类合金准确定量分析的Ni FeCo通用软件;适用于取制样条件较差,难以获得大块样品的生产现场的“钢削X R F直接测定”的定量分析方法。
一、原辅材料分析原辅材料的种类十分繁杂,可根据生产过程的不同要求采用不同的分析方法。
在X RF分析中,通常采用粉末压片和熔融法制备样品。
粉末法的特点是:速度快,操作简单,但由于矿物效应粒度效应等物理影响存在,分析精度较差。
熔融法的特点是:分析精度高,但速度慢,操作比较繁杂。
介绍一种简易的高精度定量分析方法:即宽范围氧化物通用定量分析方法(W RO法)。
该方法是以纯元素氧化物和无分析元素浓度,净强度为零的空白样品建立的两点校准曲线,进行各种氧化物材料中19种浓度范围很宽的元素定量分析的。
方法要求用硼酸锂熔融方法制备样品。
通过高温熔融,使样品成为一种非晶态共熔体,从而消除各类物料间的矿物效应和粒度效应等物理影响;通过熔剂的高倍稀释,降低共存元素间的吸收—增强影响,用理论T系数校正残余的基体影响。
薄膜射线测厚仪的设计和软件开发
薄膜射线测厚仪的设计和软件开发随着科技的快速发展，精密测量技术在工业生产中占据了越来越重要的地位。
薄膜射线测厚仪作为一种高精度的在线测厚设备，在众多工业领域如半导体、电子、包装等得到了广泛应用。
为了提高设备的测量精度和响应速度，本文将详细介绍薄膜射线测厚仪的设计方案和软件开发过程，旨在为相关领域的学者和工程师提供有益的参考。
薄膜射线测厚仪主要利用射线穿透物质时的吸收、散射等现象，测量薄膜或其他薄物质的厚度。
通过在线测量，可以实时监控生产过程中的厚度变化，及时调整生产参数，从而提高产品质量和生产效率。
在软件开发方面，针对薄膜射线测厚仪的特点，需要设计一套高效、稳定、易用的软件系统，以实现对设备硬件的控制、数据采集、处理和分析等功能。
薄膜射线测厚仪的设计主要分为硬件和软件两个部分。
射线源：选用稳定、穿透力强的X射线或β射线源。
探测器：选用高灵敏度、低噪声的半导体或气体探测器。
信号处理电路：将探测器输出的电信号进行放大、滤波和模数转换等处理。
数据传输接口：采用USB或以太网等接口，将测量数据上传至计算机或工业控制系统。
设备驱动程序：实现对硬件设备的控制和通信功能。
数据采集程序：实时读取硬件设备输出的测量数据，并进行预处理。
数据处理程序：对采集到的数据进行算法处理，如厚度拟合、数据校正等。
用户界面程序：提供可视化界面，方便用户进行设备配置、数据查询和统计分析等功能。
在实现过程中，我们采用C++和Python编程语言，分别实现了硬件驱动程序和软件功能模块。
使用C++编写设备驱动程序，实现了对射线源、探测器等硬件设备的控制和通信功能。
利用操作系统提供的设备驱动框架，将驱动程序与操作系统集成，实现了设备的即插即用功能。
使用Python编写数据采集程序和数据处理程序，实现了对测量数据的实时采集和预处理功能。
利用Qt框架，设计了一款可视化界面程序，方便用户进行设备配置、数据查询和统计分析等功能。
为了提高薄膜射线测厚仪的测量精度和响应速度，我们采取了以下优化措施：算法优化：采用更精确的射线衰减算法，提高了厚度测量精度。
使用X射线荧光测厚仪时的注意事项 测厚仪操作规程
使用X射线荧光测厚仪时的注意事项测厚仪操作规程X射线荧光测厚仪是利用X射线穿透被测材料时其强度的变化与材料厚度相关的特性，从而测定材料厚度的仪器，是一种非接触式的动态计量仪器。
X射线测厚仪适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动掌控。
X射线荧光测厚仪测试原理：对被测样品发射一束——次x射线，样品的原子吸取x射线的能量后被激发并释放出二—次X射线。
每个化学元素会释放出特定能量的X射线。
通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，x射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份供应定性和定量分析。
注意事项：1、机器没有在使用时适时断电。
2、滚轮达到使用寿命时适时更换以免测试结果有误。
3、这一系列的试验要专业人员操作使用，并定期做清洁维护和修理保养工作。
4、机器工作时必需有良好的通风环境。
5、掌控箱部分，须以干布擦拭，不可用湿布。
6、试验杆臂和试验盘心轴，时常加注少许润滑油进行润滑。
该如何选购测厚仪？在工业生产中企业常常需要用到测厚仪检测产品厚度，但是测厚仪的种类也是特别之多，那么该如何选择一款测厚仪呢，下面来和我一起学习一下吧!如何选购1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪（会破坏镀层）或X射线测厚仪（无损测量），如铜层在10m～200m可考虑电涡流法测厚仪（无损测量）。
2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪（无损测量）。
其它金属基体用库仑法测厚仪（会破坏镀层）或X射线测厚仪（无损测量）。
3、铁基体上的电泳漆，油漆应使用经济的磁感应法测厚仪（无损测量）。
其它金属基体上的电泳漆，油漆应使用经济的电涡流法测厚仪（无损测量）。
4、干膜是指己固化了的油漆涂层。
5、镀铬层参考2项、1项。
6、车内外饰件喷漆只有用切锲法（PIG，会破坏涂层），超声波法（无损测量）可测10微米以上涂层，但有时测不到。
价格:磁感应法、电涡流法0.6～3万；库仑法0.8～6万；超声波法5.5～6万；X射线测厚仪25～40万注意事项测厚仪的测试方法紧要有:磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
X射线测厚仪综述
透射X射线测厚仪的构造
透射X射线测厚仪的构造
• 操作终端：进行数据的设置，输出结果， 一般一台PC机（装有设备程序）就能搞定 • 主电控柜：对仪器进行电气控制（使用专 业电器控制设备） • 冷却器：给X光源降温 • C形架：对样品进行照射与数据采集。
C形架的构造与运做原理
C形架的构造与运做原理
• 荧光X射线测厚仪
• 韩国Micro Pioneer XRF-2000
原子序
可测量厚度 范围
XRF2000 可测六层.误差大约如下:第 一层5%.第二层10%.第三层15%.第 四层20%.第五层25%.第六层为底材
22-25
26-40 43-52 72-82
0.1-0.8μm
0.05-35μm 0.1-100μm
透射X射线测厚仪
优点：
可以厚仪
--x射线在薄膜工业中的应用
测厚仪的发展
• • • • 上世纪50-60年代-----------同位素测厚仪 上世纪70年代前期---------双束光测厚仪 上世纪70年代后期---------单束光测厚仪 现如今：激光测厚仪、涡流测厚仪、电容 式测厚仪、超声波测厚仪、磁感应测厚仪 等。
• 高压电源：给X射线管提供高电压，以激发 X射线 • X射线管 ：图中为电子枪 • 电离室 ：对X射线强度进行测定 • 前放：对电信号进行放大，将电信号传入 计算器。
电离室工作原理与其他探测方法
• 电离 室 用 于测量出射X射线能量，由室壁导电的 充气容器和中心电极组成。X射线进人电离室后， 便在气体中产生电离现象。在电离室的外壳和中 心电极之间加有适当电压，用来收集所产生的离 子或电子。这个电压不能太高，以避免外部电场 或碰撞电离等引起电荷倍增。电离室的输出电流 与所充气体的压力、化学成分、电离室的容积以 及人射线的能量有关。尽管电离过程十分复杂， 但产生一对电荷载流子所需的能量是一定的，与 电离室粒子的类型和能量无关，即与探测器的工 作条件无关。电离室的响应波段取决于窗口材料 和填充的工作气体。
在冶金物料化学成分分析中X―射线荧光光谱分析法的应用研究
在冶金物料化学成分分析中X―射线荧光光谱分析法的应用研究X-射线荧光光谱分析法（X-ray Fluorescence Spectroscopy，XRF）是一种常用于冶金物料化学成分分析的无损分析技术。
它基于样品中原子发射特定X-射线的原理，通过测量这些X-射线的能量和强度来确定样品中元素的含量。
XRF分析的原理是当样品受到入射X-射线的激发后，样品中的原子会吸收能量并跃迁到一个高能级，形成一个激发态。
当原子返回基态时，会放出特定能量的X-射线。
这些特定能量的X-射线与目标元素有关，通过检测这些X-射线的强度和能量，可以确定样品中的元素含量。
XRF分析的优点是非常快速、无损和多元素分析能力强。
它可以同时分析样品中的多种元素，而无需进行仪器调整或样品预处理。
这样可以大大提高分析的效率和减少分析时间。
此外，XRF分析不需要破坏样品，因此可以保证样品的完整性，而且可以对各种不同形态和状态的样品进行分析。
对于冶金物料化学成分分析，XRF可以应用于多个方面。
首先，在原材料的质量控制和品质监测中，XRF可以快速分析出原材料中的各种元素含量，从而保证生产过程中的成分一致性。
例如，在铸造工业中，XRF可以用于分析熔炼中的原料成分，以确保最终产品的质量。
其次，XRF还可以用于冶金产品的质量控制。
例如，在钢铁行业，XRF可以用于分析熔铁和熔钢中的C、Si、Mn、P、S等元素含量，以确保产品的质量达到标准要求。
此外，XRF还可以用于金属材料的合金分析。
在冶金工业中，合金的成分分析对于产品质量和性能十分重要。
XRF可以快速准确地分析合金中各种元素的含量，从而指导合金的研发和生产。
最后，XRF还可以应用于冶金行业的环境保护和污染控制中。
通过分析冶金过程中废气、废水或固体废物中的元素含量，可以确保冶金行业的排放和处理符合环境法规。
总之，XRF作为一种快速、无损和多元素分析技术，在冶金物料化学成分分析中具有广泛的应用前景。
通过对原材料、产品和环境的分析，可以保证冶金行业的质量控制和环境保护，促进冶金工业的可持续发展。
X射线荧光仪钢铁行业工作报告
工作报告X-射线荧光光谱分析仪，由于分析的高精度、高灵敏度、准确性和自动快速等优点，使其钢铁冶金企业生产现场质量控制和质量管理必不可少的分析工具，对企业的经营管理、产品研发、工艺优化等起着举足轻重的作用。
而此次调动，对我来说无疑是一个学习了解光谱仪的重要机会，所以在这一个多月里，我通过查阅资料和实际操作，了解了这个岗位所需的复杂的知识，具备了岗位所需要的严谨工作的态度。
具体表现在在试样的种类和待检项、试样的制备、分析方法的确立、仪器的日常维护和定期的核检、操作中的要点以及现存的不足与改进措施。
一．分析试样种类和待检项分析试样种类主要有：铁矿石（球团、烧结矿）、辅料（石灰石、白云石、石灰、白灰块、轻烧白云石、高钙灰、脱硫剂、增碳剂）、炉渣、含铁废料（除尘灰）及耐火材料等。
检化验的项目：1.辅料中氧化钙、氧化镁、二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、五氧化二磷、硫含量的测定。
2.铁矿石中全铁、氧化亚铁、二氧化硅、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、硫、磷的测定。
3.炉渣中氧化钙、氧化镁氧化锰、五氧化二磷、二氧化硅、三氧化二铝的测定。
4.耐火材料中镁、铝、硅、钾、钙、钛、锰、铁、锆等元素的测定。
二. 分析试样的制备由于X-射线荧光仪具有良好的精密度，当其标准曲线制定完成，人为因素将对测定结果产生很大影响。
这就要求采制样工作应遵循其标准操作方法和约定程序。
1. 分析试样制取主要包括破碎、混均、缩分、干燥、研磨等程序。
应保证试样均匀干燥，有代表性，并且粒度要达到要求。
2. 待检测试样的制取又分玻璃熔片制样和压片制样。
玻璃溶片制样的步骤可以简单分为称量和熔制两步，称量包括称量样品和助溶剂，以及一些其它的助剂如氧化剂、脱模剂和内标试剂。
熔制步骤在高频熔样机中完成，包括预热-氧化（如有需要）-熔融+摇摆-手动浇铸成型-冷却，放入干燥器待测。
压片制样的步骤为称量四克待测样品，倒入模具中，用硼酸镶边垫底，在30t的压力下保持30s,制成样饼，放入干燥器待测。
x射线测厚原理
x射线测厚原理X射线测厚原理引言：X射线测厚是一种常用的无损检测技术，广泛应用于工业生产中的金属材料厚度测量。
本文将介绍X射线测厚的原理及其应用。
一、原理介绍X射线是一种高能电磁辐射，具有穿透力强的特点。
当X射线照射到被测物体上时，会发生散射和吸收现象。
被测物体的厚度越大，其对X射线的吸收量就越大。
二、X射线的发射和探测在X射线测厚中，首先需要一台X射线发射装置。
该装置通过一个高压电源产生高能电子束，经过加速器加速后，电子束撞击靶材产生X射线。
这些X射线经过滤波器后，进入被测物体。
在被测物体的另一侧，放置一个X射线探测器。
当X射线穿过被测物体后，探测器会接收到X射线，并将其转换为电信号。
这个信号会经过放大和处理后，通过计算机进行分析和显示。
三、厚度计算原理通过测量X射线的吸收量，可以推算出被测物体的厚度。
在X射线测厚中，一般会使用半衰厚度的概念来进行计算。
半衰厚度是指X射线穿过物质后，其强度减少到原始强度的一半所需要穿过的距离。
当X射线通过被测物体时，其强度会随着厚度的增加而减小。
通过测量不同位置处的X射线强度，可以得到一组数据。
根据这些数据，可以绘制出X射线强度与被测物体厚度的关系曲线。
通过分析曲线，可以确定被测物体的厚度。
四、应用领域X射线测厚广泛应用于金属材料的生产和加工过程中。
它可以用于测量金属板、金属管及容器等的厚度。
以下是一些常见的应用领域：1. 建筑工程：在建筑工程中，X射线测厚可用于测量钢结构的厚度，确保工程质量。
2. 石油化工：在石油化工领域，X射线测厚可用于测量管道和容器的厚度，以确保其安全运行。
3. 航空航天：在航空航天领域，X射线测厚可用于测量飞机零部件的厚度，以确保飞机的安全飞行。
4. 汽车制造：在汽车制造中，X射线测厚可用于测量汽车车身的厚度，以确保安全性和耐久性。
总结：X射线测厚是一种非常重要的无损检测技术，通过测量X射线的吸收量来确定被测物体的厚度。
它在工业生产中有着广泛的应用，可以确保产品的质量和安全性。
x射线测厚仪工作原理
x射线测厚仪工作原理x射线测厚仪是一种用于测量物体厚度的仪器，主要应用于工业领域中的材料分析和检测。
与传统的测厚方法相比，x射线测厚仪具有高精度、高灵敏度、非接触式测量等优点，因此在工业生产中广泛应用。
x射线测厚仪的工作原理是基于x射线在物体中的衰减规律。
当x射线通过物体时，会受到物体中原子的散射和吸收作用，从而导致射线的强度降低。
根据x射线的衰减规律，可以通过测量射线通过物体前后的强度差，推算出物体的厚度。
具体来说，x射线测厚仪通常由x射线源、探测器和计算机控制系统三部分组成。
x射线源是仪器中最核心的部分，它能够产生高能量的x射线，并将其发射到待测物体上。
探测器则用于测量射线通过物体前后的强度差，通常采用电离室、Geiger-Muller计数器等探测器。
计算机控制系统则用于控制x射线源和探测器的运行，并对测量结果进行处理和分析。
在实际应用中，x射线测厚仪需要先对待测物体进行校准。
校准过程中，需要使用一组已知厚度的样品，通过对这些样品的测量，建立起x射线强度和物体厚度之间的关系模型。
然后，将待测物体放置在x射线源和探测器之间，进行测量。
在测量过程中，x射线源会发射一束x射线，射线穿过物体并到达探测器，探测器会测量射线通过前后的强度差，并将数据传输给计算机。
计算机根据校准模型，将测量数据转化为物体的厚度值，并显示在屏幕上。
x射线测厚仪的应用范围非常广泛，包括金属材料、塑料、橡胶、纸张等各种材料的测量。
在金属材料领域，x射线测厚仪可以用于测量各种金属板材、管道、容器等的厚度，以及金属材料中的缺陷和裂纹等。
在塑料、橡胶等领域，x射线测厚仪可以用于测量各种塑料薄膜、管道、容器等的厚度。
在纸张领域，x射线测厚仪可以用于测量各种纸张、纸板等的厚度。
总之，x射线测厚仪是一种非常重要的工业检测仪器，它具有高精度、高灵敏度、非接触式测量等优点，可以广泛应用于材料分析和检测领域中。
在未来的发展中，x射线测厚仪将会越来越普及，并将会在不断的技术进步中不断提高其测量精度和功能。
x射线测厚仪工作原理
x射线测厚仪工作原理
X射线测厚仪是一种利用X射线测量物体厚度的仪器。
它的
工作原理是通过发射X射线束并将其照射到待测物体上，然
后测量反射回来的X射线束的强度，从而得出物体的厚度信息。
X射线是一种高能电磁波，具有很强的穿透力。
当X射线束
照射到物体上时，其中一部分射线会被物体吸收，而另一部分射线会穿过物体并反射回来。
测厚仪通过测量反射回来的X
射线束的强度，来推断物体的厚度。
具体来说，测厚仪通常包含一个X射线发射器和一个X射线
探测器。
X射线发射器会发出连续不断的X射线束，照射到
待测物体上。
X射线束穿过物体时，会与物体内部的原子发生相互作用。
这些相互作用会导致X射线的吸收、散射和衍射。
反射回来的X射线束会被X射线探测器接收并测量其强度。
根据X射线的强度变化，可以推断出物体的厚度。
因为X射
线吸收和散射的程度与物体的厚度有关，当物体越厚，反射回来的X射线束的强度就越弱。
为了获得准确的测量结果，测厚仪还需要进行校准。
通常会使用已知厚度的标准物体进行校准，以确保测量结果的精度和准确性。
总的来说，X射线测厚仪利用X射线的穿透力和被物体吸收
的特性，通过测量反射回来的X射线束的强度来确定物体的厚度。
它在工业生产和质量检测中具有重要的应用价值。
x射线测厚原理
x射线测厚原理一、引言x射线测厚技术是一种非破坏性测试方法，广泛应用于工业生产和科学研究领域。
它通过利用x射线在物体中的穿透性，测量物体的厚度。
本文将详细介绍x射线测厚的原理及其应用。
二、x射线的特性x射线是一种电磁辐射，它具有穿透力强、波长短、频率高的特点。
这使得x射线能够穿透物体，被物体内部的不同组成物质吸收或散射。
x射线的穿透性与物质的密度和厚度有关，密度越高、厚度越大，吸收的x射线越多。
三、x射线测厚的原理x射线测厚原理基于x射线的穿透性。
当x射线通过物体时，会发生以下几种情况：1. 如果物体是均匀的，x射线会直接通过，不会发生吸收或散射，形成一个均匀的透射束。
2. 如果物体中存在缺陷或界面，x射线会被吸收或散射，透射束会发生衰减或扩散。
根据以上原理，可以利用x射线测厚仪器对物体进行测量。
具体步骤如下：1. 将待测物体放置在x射线装置下方，使得x射线垂直照射到物体上。
2. x射线通过物体后，被探测器接收，并转化为电信号。
3. 探测器将接收到的信号传输给计算机进行处理。
4. 计算机根据接收到的信号分析透射束的衰减或扩散情况，进而计算出物体的厚度。
四、x射线测厚的应用x射线测厚技术在工业生产和科学研究中有着广泛的应用。
1. 工业领域：x射线测厚广泛应用于管道、容器、压力容器等设备的检测。
通过测量设备的壁厚，可以判断设备的安全性和使用寿命。
2. 材料科学：x射线测厚技术可以用于材料的表面涂层测厚。
通过测量涂层的厚度，可以判断涂层的质量和性能。
3. 医学影像：医学领域中的x射线摄影技术也是基于x射线的穿透性原理。
通过x射线的吸收程度，可以获得人体内部的影像，用于检测和诊断。
总结：x射线测厚原理基于x射线的穿透性特点，通过分析透射束的衰减或扩散情况，可以测量物体的厚度。
该技术在工业生产和科学研究中有着广泛的应用，能够帮助人们进行设备检测、材料表面涂层测厚以及医学影像等领域的工作。
随着科技的不断发展，x射线测厚技术也将不断完善和应用于更多领域，为人们的工作和生活带来更多便利和安全。
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Influence factor analysis and technical progress of X-ray thickness measurement and its application in metallurgical industry( B)
MA Zhu-wu
( Automation Research and Design Institute of Metallurgical Industry，Beijing 100071，China)
内
容
测量范围: 160 mm 最大; C 型架间隙: 厚度测量时为 50 ～ 3 000 mm、断面测量时为 100 ～ 2 600 mm; C 型架喉深: 厚度测量 时为 350 ～ 6 000 mm、断面测量时为 500 ～ 4 000 mm。
测量时间常数: 1 ～ 10 ms 可设定; 测量值处理循环时间: 1 ～ 10 ms; 测量值输出循环时间: 1 ～ 10 ms。
璃、橡胶、纺织、塑料、化工等行业的板材和带材厚 度测量，其中在钢铁工业主要用于冷轧带钢( 包括 处理线) 、热轧带钢和中厚板生产过程中的厚度检 测，见表 2。此外，我国最早引进的 X 射线测厚仪
是日本 Toshiba 公司的产品，该公司的 X 射线测厚 仪可靠性 好、精 度 高，使 用 经 验 丰 富 并 且 业 绩 斐 然，产品很有特点，其技术也先进，例如 X 射线测 厚仪的电离室尺寸较大( 号称比其他公司产品大
图 6 IMS 公司的 X 射线测厚基本硬件系统 Fig． 6 Basic hardware system for X-ray thickness measurement of IMS Company
收稿日期: 2010-05-20; 修改稿收到日期: 2010-09-20 作者简介: 马竹梧( 1931-) ，男，广东广州人，教授级高级工程师，主要从事冶金自动化方面的研究及应用工作。
薄板坯连铸连轧 CSP 生产线 薄板坯连铸连轧 CSP 生产线 板带热连轧机 中宽板带热连轧机 2 500 mm 四辊中厚板精轧机 四辊中厚板精轧机
测厚仪国别及型号
原为 4 套 RMC 公司 480 型，后改为德国 IMS 公司 德国 IMS 公司 美国 Thermo Radiometrie 公司的 RM214 型 德国 IMS 公司 英国 Thermo Radiometrie 公司 RM215 型，共 5 台 德国 IMS 公司 德国 IMS 公司 德国 IMS 公司 美国 Thermo Radiometrie 公司 原为两台 DMC800 测厚仪，后改为 1 台 Thermo Radiometrie 公司的 RM312 型多功能板型仪 德国 IMS 公司 TIMG76-X 光型，厚度仪 / 凸度仪 德国 IMS 公司 X 射线测厚仪 英国 Thermo Radiometrie 公司 RM312 型多功能板型仪 美国 Thermo Radiometrie 公司 RM215 型 X 射线测厚仪 美国环球( GGC) 公司 Perfect 环球 X 射线测厚仪 美国环球( GGC) 公司 Perfect 环球 X 射线测厚仪
测量精度( 重现性 + 线性) : 优于 ± 0. 1% ，优于 ± 0. 2 μm; 统计噪音: 在 T = 1 ～ 5 ms 时( T 为积分时间) ，优于 ± 0. 1% ; 可 用率: ≥99. 5% 。
测量通道: 1 ～ 200; 检测器: 电离室，最大效率为 98% 。
X 射线射源为 10 ～ 160 kV; 快门开闭: 气动打开，金工业 中的应用
国外有许多生产 X 射线测厚仪的厂家，如英 国的 Daystrom 公司，德国的 IMS( 工业测量系统) 公司，美国的 DMC 公司、Thermo Radiometrie 公司、 环球公司，日本的 Toshiba( 东芝) 公司等，他们的 产品基本上都是按上两节所述原理和进展以及考 虑了影响精度的各种因素( 但补正程度不尽相同) 而设计的。图 6 列出了国内用得较多的德国 IMS 公司的多通道 X 射线测厚系统作为例子。IMS 公
2
冶金自动化
第 35 卷
单独设计的监控计算机键盘和显示器与测厚系统 进行对话。( 5) 现场操作面板。用以校准和对 C 型架的操作。( 6) 连接 IMS 各设备的电缆和管线。 该测厚系统可以采用不同个数的 X 射线源和检测 器，经不同布置而组成不同功能的测厚系统，例如 使用一 组 射 线 源 和 检 测 器 来 测 量 板 带 中 心 线 厚 度、使用两组 射 线 源 和 检 测 器 来 测 量 板 带 边 缘 厚 度、使用三组 射 线 源 和 检 测 器 来 测 量 板 带 中 心 线
TOSGAGE-CP 系列( 紧凑型) 0. 1 ～ 3. 3 mm
± 15% 0. 1% ( 2σ) 0. 05% 或 0. 35 μm 0. 06% 或 0. 25 μm
板厚测定值的 0. 1% /10 h ( IEC61336)
冷轧: 10 ms; 热轧: 30 ms 板形计算时间: 2 s
测定值的 0. 1% + 0. 5 μm /8 h ( IEC61336)
厚度和边缘 厚 度、使 用 四 组 或 更 多 组 射 线 源 和 检 测器来测量板带横向厚度、使用两组发出扇形 X 光( 覆盖带钢宽度) 的 X 射线源和检测器以立体测 量方式来测量板带横向厚度和凸度。测厚系统可 以测量普钢、MSLA 钢、耐磨钢、不锈钢、有色金属 等多种板材的厚度和截面、凸度、板形甚至宽度和 温度。测厚系统的技术规格见表 1。
控制单元包括: ( 1) C 型架驱动控制。通过操作画面内部控制或由远程监控计算机画面远程控制，完成行走和定位控 制。( 2) 带钢两个边部测点可单独启动，通过操作画面控制。( 3) 测点驱动速度由各自的变频器控制完成。( 4) X 射 线源快门操作。包括由中央处理计算机的画面进行控制和( 或) 由操作面板手动操作，用于标准化和维护。( 5) 紧急停 车时 C 型架和测点驱动被锁住、快门关闭。( 6) 能执行测厚仪自动校准程序。
技术数据名称 测定范围
材质补正范围 线性度 复现性 噪音
漂移
TOSGAGE-7000A、8000A 系列
冷轧: 0. 1 ～ 8. 0 mm; 热轧: 1. 0 ～ 15. 99 mm ± 15% 板厚测定值的 0. 1% ( 2σ) 板厚测定值的 0. 05% 或 0. 1 μm
冷轧: 板厚测定值的 0. 05% 或 0. 1 μm 热轧: 板厚 1. 0 ～ 7. 99 mm 时 0. 06% ( 2σ) 板厚 8. 0 ～ 13. 99 mm 时 0. 1% ( 2σ) 板厚 14. 0 ～ 15. 99 mm 时 0. 12% ( 2σ)
第 35 卷 第 2 期 2011 年 3 月
·综述与评论·
冶金自动化
Metallurgical Industry Automation
Vol． 35 No． 2 Mar． 2011
X 射线测厚影响因素分析、技术进展及其 在冶金工业中的应用( 下)
马竹梧
( 冶金自动化研究设计院，北京 100071) 中图分类号: TH744． 15 文献标志码: A 文章编号: 1000-7059( 2011) 02-0001-03
投产时间 2006 年 10 月
－ － － 2005 年 10 月 － － 2002 年 2006 年
2002 年 7 月
1999 年 12 月 1999 年 －
2000 年 8 月 2006 年，现已拆除
已停用
第2 期
马竹梧: X 射线测厚影响因素分析、技术进展及其在冶金工业中的应用( 下)
3
2. 5 ～ 5 倍，直径 Φ70 mm，高度 250 mm; 而其他公 司的直径 Φ40 ～ 50 mm，高度 150 ～ 200 mm) ，因而 响应快速，灵敏度高，但是由于日元坚挺而且价格 较贵，所以在国内近来使用较少( 但也可作为选择
10 ms
仪。
4 X 射线测厚仪应用问题及经验教训
不同于一般常 规 的 压 力、流 量、温 度 仪 表，X 射线测厚系 统 是 集 机、电、测 量 技 术、计 算 机 技 术 等多科学交叉的高科技含量和价格昂贵的大型仪 表，实施以后 要 更 换 很 困 难，因 此 需 要 特 别 注 意。 要使 X 射线测厚系统在生产中良好地运行和发挥 作用，正确地规划和设计 － 安装 － 维护是必不可 少的。规划和设计中的选型和安装地点则更为关 键。首先是选型，由于 X 射线测厚仪需求量较大， 价格昂贵且 利 润 大，国 外 不 少 生 产 厂 家 的 经 验 和 产品质量也不尽相同，在激烈的市场竞争中，往往 出现低价以求胜出，调查表明，国内应用的 X 射线 测厚仪问题 多 的 甚 至 不 能 使 用 的，大 多 是 低 价 产 品，因此，选型时要认真注意的是仪表技术数据是 否满足工艺 要 求，在 该 工 艺 对 象 是 否 有 使 用 经 验 良好的业绩。其次是安装，当然价格问题要考虑， 但更主要的是可用性、可靠性和可维护性，要考虑 产品具有 良 好 的 性 能 / 价 格 比，有 些 产 品 虽 然 可 用，但维护量 大 或 需 要 大 力 改 造，此 时，即 使 产 品 低价却得不偿失。例如曾在中厚板轧机采用价格 低廉( 仅是德国大型测厚仪的 1 /5) 的国外某公司 X 射线测厚仪，虽然该测厚仪在有色轧板、冷轧钢 板，甚至带钢 轧 制 线 有 在 线 成 功 应 用 并 取 得 良 好
地点 冷轧厂 1 420 mm 冷连轧机 冷轧厂 冷连轧机 4#机架出口 双机架可逆式冷轧机 冷轧厂酸洗连轧线 1 780 mm 热连轧机 2 250 mm 热连轧机 1 549 mm 热连轧机 2 250 mm 热连轧机
梅山冶金公司
热轧厂热连轧机
邯郸钢铁公司 广州珠江钢厂 新疆八一钢铁公司 凌源钢铁公司 济钢中板厂 首钢中板厂