jtag接口是什么
JTAG接口
JTAG接口JTAG接口1、JTAG(Joint Test Action Group；联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP （Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG 测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmer，在系统编程），对FLASH 等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG 接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程。
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS 进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
2、JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
JTAG电路的工作原理
JTAG电路的工作原理JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的通信接口标准。
它是一种串行接口，常用于集成电路（IC）芯片的测试和编程。
本文将详细介绍JTAG电路的工作原理。
一、JTAG接口的基本组成JTAG接口由四个主要组成部份构成，分别是测试访问端口（TAP，Test Access Port）、测试数据寄存器（TDR，Test Data Register）、测试状态寄存器（TSR，Test Status Register）和测试模式寄存器（TMR，Test Mode Register）。
1. 测试访问端口（TAP）：TAP是JTAG接口的核心部份，它负责控制和管理整个JTAG链路。
TAP包含了五个信号线，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）、TDO（Test Data Output）和TRST （Test Reset）。
TCK是时钟信号，用于同步数据传输；TMS用于选择测试模式；TDI是测试数据输入线，用于向被测设备发送测试数据；TDO是测试数据输出线，用于接收被测设备返回的测试结果；TRST是测试复位信号，用于复位被测设备。
2. 测试数据寄存器（TDR）：TDR是一个可编程的寄存器，用于存储和传输测试数据。
通过TAP接口，测试数据可以从外部输入到TDR中，或者从TDR中输出到外部。
3. 测试状态寄存器（TSR）：TSR用于存储和传输测试状态信息。
它记录了被测设备当前所处的测试状态，例如测试模式、测试进程等。
4. 测试模式寄存器（TMR）：TMR用于设置和控制被测设备的测试模式。
通过TAP接口，可以向TMR中写入相应的配置信息，以选择不同的测试模式。
二、JTAG电路的工作原理可以分为两个主要阶段：初始化阶段和测试阶段。
1. 初始化阶段在初始化阶段，JTAG电路通过TRST信号将被测设备复位，并将TAP接口设置为测试模式。
jtag时序定义 -回复
jtag时序定义-回复JTAG时序定义引言：随着集成电路的不断发展，芯片内部的功能越来越复杂，设计和测试也变得越来越困难。
为了解决这个问题，IEEE 1149.1标准提出了JTAG（Joint Test Action Group）接口，使得芯片设计和测试变得更加容易和高效。
JTAG时序定义是这一接口中至关重要的一环，本文将一步一步详细回答关于JTAG时序定义的问题。
第一部分：JTAG概述1. JTAG是什么？JTAG是一个接口标准，用于简化集成电路的设计、制造和测试过程。
它提供了一种标准的测试方法，可以通过少量的引脚控制和监测芯片内部的信号和状态。
2. JTAG的主要应用领域是什么？JTAG主要应用于芯片设计和测试中。
它可以用于测试电路的连通性、验证硬件的正确性、下载程序以及调试应用软件。
3. JTAG的主要特点有哪些？JTAG接口具有以下特点：- 灵活性：JTAG接口可以用于任何类型的数字和模拟电路。
- 低成本：JTAG只需要少量的引脚，从而节省了成本和空间。
- 高效性：JTAG可以通过并行和串行操作实现高速数据传输。
- 可编程性：JTAG接口可以根据需要进行配置和扩展。
第二部分：JTAG接口时序1. JTAG接口时序的定义是什么？JTAG接口时序定义了JTAG引脚的状态转换和时序关系，以确保正确的数据传输和操作。
2. JTAG接口时序的元素是什么？JTAG接口时序通常由以下元素组成：- 时钟信号：控制数据传输和操作。
- 信号线：包括数据输入、数据输出、测试模式选择等。
- 状态机：用于管理和控制JTAG操作。
- 数据寄存器：用于存储和传输数据。
3. JTAG接口时序的主要状态有哪些？JTAG接口时序主要包括以下状态：- Test-Logic-Reset（TLR）：在测试模式下重置JTAG逻辑。
- Run-Test/Idle（RTI）：准备进行新的操作或传输数据。
- Select-DR-Scan（SDR）：选择数据寄存器链路。
jtag标准 引脚定义
jtag标准引脚定义
JTAG标准的引脚定义
JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。
它能够通过几根线路实现对设备内部的观察和控制，用于芯片的生产和维护。
在JTAG标准中，定义了一系列的引脚，用于实现与设备的通信和控制。
根据JTAG标准的定义，JTAG接口包括四根信号线（TMS、TCK、TDO和TDI）和一个共享引脚（TRST）。
这些引脚的定义如下：
1. TMS（Test Mode Select）：此引脚用于选择设备的测试模式。
在测试过程中，通过改变TMS引脚的状态，可以控制设备进入不同的测试状态。
2. TCK（Test Clock）：此引脚用于提供时钟信号，控制测试数据的传输速率。
TCK信号是通过在TCK引脚上周期性地切换高和低电平来控制的。
3. TDO（Test Data Out）：此引脚用于从设备读取测试数据。
在测试过程中，
设备通过TDO引脚将测试数据输出。
4. TDI（Test Data In）：此引脚用于向设备输入测试数据。
在测试过程中，通
过TDO引脚将测试数据输入给设备。
5. TRST（Test Reset）：此引脚用于将设备重置为初始状态，以便开始测试过程。
TRST引脚是一个共享引脚，可以在需要的情况下选择使用或不使用。
以上就是JTAG标准中定义的引脚及其功能的简要介绍。
这些引脚的正确使用
可以帮助测试人员有效地测试和调试电子设备。
JTAG接口已经成为现代电子设备
测试和调试的关键部分，并广泛应用于各个领域。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种非常有效的方法，可以在芯片制造过程中进行测试和调试，以确保芯片的质量和可靠性。
本文将详细介绍JTAG的工作原理，包括其基本原理、信号传输方式、链路结构、测试模式和调试功能。
一、基本原理：1.1 逻辑层次：JTAG是一种基于逻辑层次的测试方法。
它通过在芯片上添加一组专用的测试逻辑电路，实现对芯片内部逻辑电路的测试和调试。
这些测试逻辑电路包括扫描链（Scan Chain）、测试模式选择器（Test Mode Selector）和测试控制器（Test Controller）等。
1.2 扫描链：扫描链是JTAG的核心组成部分。
它由一系列可编程的触发器（Flip-flop）组成，用于存储和传输芯片内部的测试数据。
在测试过程中，测试数据可以通过扫描链逐个传递到芯片内部的逻辑电路中进行测试。
1.3 测试模式选择器和测试控制器：测试模式选择器用于选择测试模式，将芯片切换到测试模式。
测试控制器则用于控制测试过程的执行，包括扫描链的操作、测试模式的切换和结果的读取等。
二、信号传输方式：2.1 TDI和TDO信号：JTAG使用两个主要的信号线进行数据传输，即测试数据输入（TDI）和测试数据输出（TDO）。
TDI用于将测试数据输入到芯片中，而TDO则用于将测试结果输出到外部。
2.2 TCK信号：TCK是时钟信号，用于同步测试数据的传输。
它控制着扫描链中的触发器按照时序进行数据的移位和存储。
2.3 TMS信号：TMS是测试模式选择信号，用于控制测试模式的切换。
通过改变TMS信号的状态，可以将芯片从一种测试模式切换到另一种测试模式。
三、链路结构：3.1 JTAG链路：JTAG链路是由多个JTAG设备连接而成的链状结构。
每个JTAG设备都包含一个扫描链，可以通过TDO和TDI信号进行级联连接。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它通过一组标准的测试信号和控制信号，实现了对电路的访问和控制。
本文将详细介绍JTAG的工作原理，包括其基本原理、信号传输方式、测试模式和调试功能。
一、基本原理1.1 信号链JTAG通过一条信号链连接被测电路的各个组件。
这条信号链由多个TAP （Test Access Port）组成，每个TAP连接一个组件。
通过TAP，JTAG可以对各个组件进行测试和调试。
1.2 信号传输JTAG使用四条标准信号进行数据传输，包括TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
TCK用于控制时钟信号，TMS用于控制状态转换，TDI用于输入测试数据，TDO用于输出测试结果。
1.3 状态机JTAG使用状态机来控制信号的传输和状态的转换。
状态机包括多个状态，例如Test-Logic-Reset（TLR）、Run-Test/Idle（RTI）和Shift-DR。
通过状态机，JTAG可以实现测试和调试的各种功能。
二、信号传输方式2.1 串行传输JTAG使用串行传输方式进行数据的输入和输出。
在测试模式下，测试数据从TDI输入，并通过TDO输出。
在调试模式下，调试数据也是通过这种方式进行传输。
2.2 并行传输JTAG还支持并行传输方式，可以同时传输多个数据位。
这种方式可以提高数据传输的速度，适用于大规模集成电路的测试和调试。
2.3 链接测试JTAG可以通过链路测试功能，检测信号链中的连接是否正常。
通过发送测试数据和接收测试结果，可以判断信号链的完整性和可靠性。
三、测试模式3.1 选择测试模式JTAG可以通过TMS信号切换不同的测试模式。
例如，通过将TMS信号从高电平切换到低电平，可以进入Shift-DR模式，用于数据的输入和输出。
JTAG接口介绍
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。
目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。
14针JTAG接口定义：14针JTAG接口定义引脚名称描述1、13VCC接电源2、4、6、8、10、14GND接地3nTRST测试系统复位信号5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟11TDO测试数据串行输出12NC未连接20针JTAG接口定义引脚名称描述1VTref目标板参考电压，接电源2VCC接电源3nTRST测试系统复位信号4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟11RTCK测试时钟返回信号13TDO测试数据串行输出15nRESET目标系统复位信号17、19NC未连接下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口：在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种通用的方法，使得在生产过程中可以对芯片进行测试和调试，以确保其正常工作。
本文将详细介绍JTAG的工作原理，包括其基本原理、信号传输方式、测试模式和应用案例等方面。
一、JTAG的基本原理JTAG是一种串行接口，它通过少量的引脚与芯片内部的测试逻辑进行通信。
它主要由四个信号线组成，分别是TCK（时钟信号）、TMS（状态机信号）、TDI （数据输入信号）和TDO（数据输出信号）。
这些信号线通过一个称为TAP（Test Access Port）的接口与芯片内部的测试逻辑进行连接。
JTAG的工作原理是基于状态机的概念。
状态机是一种具有有限个状态和状态转移条件的数学模型，它用于描述JTAG在测试和调试过程中的不同操作。
JTAG通过改变TMS信号的状态来控制状态机的状态转移，从而实现不同的操作。
二、JTAG的信号传输方式JTAG使用的是一种称为“链式扫描”（Boundary Scan）的技术来传输数据。
在链式扫描中，芯片内部的各个逻辑单元被连接成一个链，数据通过这个链进行传输。
链式扫描技术使得JTAG可以在芯片生产过程中对内部的逻辑单元进行测试和调试。
链式扫描通过两个特殊的寄存器来实现数据的传输，分别是数据移位寄存器（Data Shift Register，DSR）和状态移位寄存器（State Shift Register，SSR）。
DSR用于传输数据，而SSR用于传输状态。
在数据移位寄存器中，数据从TDI输入，通过TCK的时钟信号逐位移入，然后通过TDO输出。
这样，可以将数据从外部输入到芯片内部，或者从芯片内部输出到外部。
在状态移位寄存器中，状态从TMS输入，通过TCK的时钟信号逐位移入，然后通过TDO输出。
这样，可以改变JTAG的状态，从而控制状态机的状态转移。
三、JTAG的测试模式JTAG有多种测试模式，常用的包括以下几种：1. Bypass模式：在Bypass模式下，JTAG将绕过芯片内部的测试逻辑，直接将TDI输入信号连接到TDO输出信号。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的标准接口协议。
它提供了一种简单而有效的方法，可以对集成电路（IC）进行测试、调试和编程。
本文将详细介绍JTAG工作原理，包括其基本原理、信号线定义、时序和应用示例。
一、基本原理JTAG工作原理基于一种称为“串行扫描链”的技术。
该技术通过在芯片上添加一组可编程逻辑电路，将芯片内部的各个功能模块连接起来，形成一个长链。
这个链可以通过JTAG接口与外部设备进行通信。
二、信号线定义JTAG接口由四根主要的信号线组成，分别是TCK、TMS、TDI和TDO。
1. TCK（Test Clock）：测试时钟信号，用于同步数据传输。
2. TMS（Test Mode Select）：测试模式选择信号，用于控制JTAG状态机。
3. TDI（Test Data Input）：测试数据输入信号，用于向芯片发送测试数据。
4. TDO（Test Data Output）：测试数据输出信号，用于从芯片读取测试数据。
三、时序JTAG的时序是由JTAG状态机控制的。
JTAG状态机有四种状态，分别是Test-Logic-Reset（TLR）、Run-Test/Idle（RTI）、Select-DR-Scan（SDR）和Select-IR-Scan（SIR）。
1. TLR状态：在此状态下，芯片的所有逻辑电路都将被复位，并将扫描链的状态重置为初始状态。
2. RTI状态：在此状态下，芯片处于正常工作状态，可以执行正常的操作。
3. SDR状态：在此状态下，可以对芯片的数据寄存器进行扫描操作。
4. SIR状态：在此状态下，可以对芯片的指令寄存器进行扫描操作。
四、应用示例JTAG广泛应用于各种电子设备的测试和调试中。
以下是一个应用示例，以展示JTAG在芯片测试中的应用。
假设我们有一个芯片，其中包含一个8位的数据寄存器和一个8位的控制寄存器。
jtag接口
JTAG接口1. 简介JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）接口是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。
它可以提供对设备内部的信号和状态进行非侵入性访问，方便测试和调试工作的进行。
2. JTAG接口的原理JTAG接口基于IEEE 1149.1标准而设计，通常由以下几个主要部分组成：2.1 TAP控制器TAP（Test Access Port，测试访问端口）控制器是JTAG接口的核心部分，它负责控制JTAG链上的各个设备进行测试和调试操作。
TAP控制器包含四个主要状态：Test-Logic-Reset （测试逻辑复位）、Run-Test/Idle（运行测试/空闲）、Select-DR-Scan（选择数据寄存器扫描）和 Select-IR-Scan（选择指令寄存器扫描）。
2.2 数据寄存器和指令寄存器JTAG接口通过数据寄存器和指令寄存器实现对设备内部信息的读取和写入。
数据寄存器用于存储设备内部的数据，指令寄存器用于存储控制设备的指令。
2.3 JTAG链JTAG链是由多个设备连接在一起形成的链路，每个设备都有一个JTAG接口用于进行测试和调试操作。
通过JTAG链，可以对所有设备进行统一的控制和访问。
3. JTAG接口的应用JTAG接口广泛应用于电子设备的测试和调试领域。
它可以用于以下几个主要方面：3.1 片上自检（BIST）JTAG接口可以用于进行片上自检（Built-In Self-Test，BIST）操作，通过读取和分析测试模式下设备内部的信号和状态，检测设备是否正常工作。
3.2 调试模式JTAG接口可以进入设备的调试模式，可以对设备进行单步调试、断点调试等操作，方便开发人员进行程序调试和故障排查。
3.3 仿真和验证JTAG接口还可以用于仿真和验证工作。
通过JTAG接口，可以将外部测试模式下的信号加载到设备内部进行仿真和验证工作。
4. JTAG接口的优势与其他调试和测试接口相比，JTAG接口具有以下几个显著的优势：4.1 非侵入性访问JTAG接口可以在不破坏原有电路功能的情况下，对设备内部信号进行读取和分析。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解标题：JTAG工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口，它可以提供对芯片内部结构的访问。
在现代集成电路设计中，JTAG已经成为一种必不可少的工具。
本文将详细解释JTAG的工作原理，帮助读者更好地理解这一技术。
一、JTAG接口概述1.1 JTAG接口定义JTAG接口是一种标准的硬件接口，用于连接测试设备和被测试设备。
它由四个信号线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
1.2 JTAG接口的作用JTAG接口可以实现对芯片内部结构的访问和控制，包括测试、调试、编程等功能。
通过JTAG接口，可以实现对芯片的全面测试和故障排查。
1.3 JTAG接口的应用领域JTAG接口广泛应用于集成电路的测试和调试领域，包括芯片设计、生产测试、故障排查等方面。
二、JTAG的工作原理2.1 TAP控制器JTAG的核心是TAP（Test Access Port）控制器，它负责控制JTAG接口的操作。
TAP控制器包括状态机和寄存器，通过TMS信号控制状态机的状态转换。
2.2 TAP状态机TAP状态机包括Test-Logic-Reset、Run-Test/Idle、Select-DR-Scan、Capture-DR、Shift-DR、Exit1-DR、Pause-DR、Exit2-DR、Update-DR等状态，通过这些状态实现对芯片内部结构的访问。
2.3 寄存器链JTAG接口通过寄存器链实现对芯片内部寄存器的访问。
寄存器链包括数据寄存器（DR）和指令寄存器（IR），通过JTAG接口可以实现对这些寄存器的读写操作。
三、JTAG的应用3.1 芯片测试JTAG接口可以实现对芯片的功能测试和边界扫描测试，帮助检测芯片中的故障和缺陷。
jtag参考电压 -回复
jtag参考电压-回复JTAG，全称为“Joint Test Action Group”，是一种用于测试和调试集成电路的接口标准。
在这篇文章中，我将详细介绍JTAG参考电压及其在电子行业中的应用。
首先，让我们来了解什么是JTAG参考电压。
JTAG参考电压是在JTAG接口中供电的电压。
JTAG接口是一种由IEEE 1149.1标准定义的测试和调试接口。
该标准提供了一个能够在运行时对集成电路进行测试和调试的标准化接口。
JTAG接口通常由多个引脚组成，包括TMS（Test Mode Select）、TCK（Test Clock）、TDI（Test Data Input）、TDO（Test Data Output）和TRST（Test Reset）等引脚。
其中，JTAG参考电压用于为这些引脚提供稳定的电源。
JTAG参考电压通常为3.3V或5V。
在使用JTAG接口进行测试和调试时，这个电压将被应用到集成电路上的引脚上。
这样，通过JTAG接口发送的测试数据和命令可以在集成电路上正确地识别和执行。
JTAG参考电压的选择在设计电路时非常重要。
如果选择的参考电压过高，可能会导致电路中的元件受到损坏。
相反，如果选择的参考电压过低，可能会导致电路无法正常工作或导致测试和调试的不准确。
为了正确选择JTAG参考电压，设计人员一般需要考虑以下几个因素：1. 集成电路的供电要求：在设计电路时，需要在集成电路的规格书中查找供电电压范围的要求。
通常来说，集成电路的供电电压要求会对JTAG参考电压的选择有所限制。
2. JTAG工具的要求：不同的JTAG工具可能对供电电压有不同的要求。
设计人员应该仔细阅读JTAG工具的规格书，了解其对JTAG参考电压的要求。
3. 抗干扰能力：JTAG参考电压的选择还应考虑电路的抗干扰能力。
较高的电压通常具有较高的抗干扰能力，但也会增加功耗和热量。
因此，在设计时需要在性能和功耗之间找到一个平衡。
一旦选择了合适的JTAG参考电压，设计人员需要确保在电路板上提供稳定的电源。
JTAG接口
在Debug模式下，ARM内核的时钟从系统的主时钟 （MCLK）被替换成跟踪时钟（DCLK）。
跟踪时钟（DCLK）是通过在JTAG的状态机的 Run-test/Idle状态的TCK来控制的。
28
3.4.7 ARM7TDMI断点的设置
横 向
I2
0 X0
I 待测装置 O
0 X0
Pin
Logic
Logic
O1
Pin
O2
Pin
I3
Pin
0 X0
I
Logic
输入数据 输出数据
TCK TDI
101010
扫描前的输入数据
O
Logic
0 X0
O3
Pin
TDO
XXXXXX
扫描后的输出数据
18
JTAG处于挂起状态
I1
1 X1
DUT
0 X0
O1
(测试器件)
29
硬件断点和软件断点
在ARM7TDMI处理器的内核中，有两种断点的设置方式： 硬件断点和软件断点
硬件断点 通过设置EmbeddedICE中的Watchpoint寄存器中的地 址相关的寄存器，来实现断点。 通过这种方式设置断点，断点数目受EmbeddedICE中 的Watchpoint数目的限制（在ARM7TDMI处理器的内 核中，只有两组Watchpoint寄存器，最多只能设置两 个硬件断点）。 硬件断点可以在任何地方设置。不受存储器类型的限 制。
Channel)。
26
Watchpoint寄存器的使用
EmbeddedICE的一个主要作用就是可以在ARM的程序 中设置软件或者硬件的断点。
【2018-2019】CPU的JTAG口是个什么东西-word范文模板 (2页)
【2018-2019】CPU的JTAG口是个什么东西-word范文模板本文部分内容来自网络整理，本司不为其真实性负责，如有异议或侵权请及时联系，本司将立即删除！== 本文为word格式，下载后可方便编辑和修改！ ==CPU的JTAG口是个什么东西我们看到很多芯片，都有一个JTAG口，这是干什么用的呢?JTAG(Joint Test Action Group)联合测试工作组。
是一种标准测试协议，主要用于芯片内部的测试兼容IEEE 1149.1协议，很多的高级芯片均具有这个协议，如FPGA、DSP等。
JTAG口一开始只是用来对芯片内部进行测试的，他的原理就是在器件内部定义一个名为TAP(Test Access Port)测试访问口,然后通过专用的工具对内部进行测试。
现在，通过JTAG可对芯片内部的所有部件进行编程控制。
下面我们来介绍一下JTAG口的接口定义!JTAG口有很多的封装，比如10脚、14脚和20脚，尽管引脚的数目和排序不同，但都是大同小异!IEEE1149.1标准里是强制要求的如下：1、TCK(Test Clock Input)--JTAG口时钟脚测试时钟输入脚为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP 的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
2、TMS (Test Mode Selection Input) -----测试模式选择输入脚TMS信号可以控制TAP在不同的状态之间进行相互转换，此信号在TCK的上升沿有效。
3、TDI (Test Data Input) -----测试数据输入脚TDI是所有要输入到特定寄存器的数据串行输入的接口。
4、TDO (Test Data Output) -----测试数据输出脚TDO是所有要从特定的寄存器中输出的数据串行输出的接口。
5、 (VTREF) -----接口信号电平。
jtag debug cpu原理
jtag debug cpu原理JTAG（Joint Test Action Group）是一种硬件调试和测试接口标准，它在集成电路设计中起着至关重要的作用。
通过JTAG接口，可以实现对CPU（Central Processing Unit，中央处理器）的调试和测试。
本文将介绍JTAG调试CPU的原理和工作方式。
我们来了解一下JTAG接口的基本原理。
JTAG接口是由IEEE （Institute of Electrical and Electronics Engineers，电气和电子工程师学会）制定的标准，它定义了一种用于测试和调试集成电路的通信协议。
JTAG接口通常由四个线路组成，即TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
其中，TCK是时钟信号线，用于同步数据传输；TMS是模式选择线，用于控制JTAG接口的状态转换；TDI是数据输入线，用于向被调试的设备发送数据；TDO是数据输出线，用于从被调试的设备读取数据。
接下来，我们将JTAG接口应用于CPU的调试过程中。
在CPU的设计中，通常会在芯片上加入一个JTAG调试模块，用于与调试工具进行通信。
当CPU进入调试模式时，它将通过JTAG接口与调试工具进行连接。
调试工具可以是专用的调试器，也可以是支持JTAG 接口的开发板或者仿真器。
在调试过程中，调试工具通过TMS线控制JTAG接口的状态转换，使得CPU进入特定的调试模式。
然后，调试工具通过TDI线向CPU发送调试命令和数据。
CPU接收到这些命令和数据后，执行相应的操作，并通过TDO线将执行结果返回给调试工具。
调试工具可以根据返回的结果进行分析和判断，进一步调试CPU的运行状态。
通过JTAG接口，调试工具可以对CPU进行多种操作，例如设置断点、单步执行、读写寄存器等。
其中，断点是一种调试技术，可以在CPU执行到指定的地址时停下来，方便我们对程序进行跟踪和分析。
什么是JTAG
JTAG(Joint Test Action Group�联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG (Joint Test Action Group)是1985年制定的检测PCB和IC芯片的一个标准，1990年被修改后成为IEEE的一个标准，即IEEE1149.1-1990。
通过这个标准，可对具有JTAG接口的芯片的硬件电路进行边界扫描和故障检测。
具有JTAG接口的芯片,相关JTAG引脚的定义为:TCK为测试时钟输入；TDI为测试数据输入，数据通过TDI引脚输入JTAG接口；TDO为测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出；TMS为测试模式选择，TMS用来设置JTAG 接口处于某种特定的测试模式；TRST为测试复位，输入引脚，低电平有效JTAG最初是用来对芯片进行测试的，基本原理是在器件内部定义一个TAP （Test Access Port�测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP （In-System rogrammable�在线编程），对FLASH等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程.关于JTAG仿真器，是针对某些特殊的单片机或CPU而言的。
这类片子使用符合JTAG接口标准定义的数据线与数据时序来实现在线程序下载（ISP）或程序仿真。
JTAG接口定义
JTAG接口定义2009-12-14 17:32什么是jtag接口JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 T AP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。
标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。
JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH器件进行编程等。
通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。
目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。
14 针JTAG 接口定义：14 针 JTAG 接口定义引脚名称描述1 、 13 VCC 接电源2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地3 nTRST 测试系统复位信号5 TDI 测试数据串行输入7 TMS 测试模式选择9 TCK 测试时钟11 TDO 测试数据串行输出12 NC 未连接20 针 JTAG 接口定义引脚名称描述VTref 目标板参考电压，接电源2 VCC 接电源3 nTRST 测试系统复位信号4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地5 TDI 测试数据串行输入7 TMS 测试模式选择9 TCK 测试时钟11 RTCK 测试时钟返回信号13 TDO 测试数据串行输出15 nRESET 目标系统复位信号17 、 19 NC 未连接下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口：在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG 接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的 TMS 、 TCK 、 TDI 、TDO 信号是否已与 S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测 S3C4510B 的 nEWA IT 引脚（ Pin71 ）是否已上拉， ExtMREQ 引脚（ Pin108 ）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B 不能正常工作或无法与JTA G 接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。
jtag参考电压 -回复
jtag参考电压-回复JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的技术标准。
在JTAG接口中，参考电压是其中一个重要的参数。
本文将一步一步回答关于JTAG参考电压的问题。
第一步：什么是JTAG？JTAG是一种用于测试和调试集成电路的标准化接口。
它由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的标准1149.1定义，并于1990年首次发布。
JTAG接口为设计者和制造商提供了一种在芯片内部进行访问和控制的方式，以帮助诊断问题和验证电路功能。
第二步：为什么需要参考电压？JTAG接口中的参考电压是用来确保信号正确传输和有效测试的关键参数。
JTAG接口通过边界扫描链（Boundary-Scan Chain）提供了与外部测试设备的通信。
在该链中，每个芯片管脚被替换为输入或输出逻辑细胞，并与相邻管脚连接。
参考电压在这些逻辑细胞的工作过程中起到关键作用，确保信号稳定和可靠。
第三步：JTAG参考电压的作用是什么？JTAG参考电压的作用是为JTAG操作提供一个确定的基准，以确保正常的信号传输和可靠的测试。
在JTAG操作期间，参考电压用于提供正确的电平，使得逻辑细胞在每个时钟周期上都能以正确的方式切换。
第四步：如何确定JTAG参考电压的值？确定JTAG参考电压的值需要根据具体的芯片和测试环境来决定。
一般来说，JTAG参考电压应该与芯片工作电压相匹配。
这是因为在测试和调试过程中，JTAG接口需要与芯片的电源系统保持同步，以确保正确的信号传输。
第五步：如何提供JTAG参考电压？提供JTAG参考电压有多种方式。
最常见的方式是通过使用外部电源或模拟器来提供参考电压。
外部电源可以供应适当的电压级别，并通过连接到JTAG接口上的相应引脚来提供参考电压。
另一种方法是使用模拟器，它可以模拟芯片的电源系统，并提供所需的参考电压。
jtag各接口对地电阻
jtag各接口对地电阻
JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成
电路的标准接口。
在JTAG接口中，各接口对地的电阻值可以是不同的。
一般来说，JTAG接口包括四个信号线：TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data In）和TDO（Test Data Out）。
这些信号线通常都会与地（GND）相连接，以确
保信号的正确传输。
对于TCK、TMS和TDI信号线，它们通常都会有一个接口对
地的电阻，一般取值在几十到几百欧姆之间。
这样的电阻值可以确保信号传输时的阻抗匹配，减少信号的反射和干扰。
对于TDO信号线，它通常是输出信号，不需要接口对地电阻。
在部分设计中，为了提高信号的驱动能力和减少反射，TDO
信号线可能会使用一个电阻和其他信号线并联，这种电阻一般取值在几十到几百欧姆之间。
需要注意的是，JTAG接口对地电阻的取值可以根据具体的设
计需求有所变化。
不同的应用场景和设计要求可能会有不同的电阻取值。
因此，在具体的设计中，应根据实际需要来确定接口对地电阻的取值。
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jtag 接口是什么
JTAG（JointTestAcTIonGroup，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种
嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP （TestAccessPort，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
如今大多数比较复杂的器件都支持JTAG 协议，如ARM、DSP、FPGA 器件等。
标准的JTAG 接口是4 线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
如今JTAG 接口的连接有两种标准，即14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。
14 针JTAG 接口
1、13VCC 接电源。