数字卡尺内校规范

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卡尺内校 SOP1

卡尺内校 SOP1

SOP-QR-104三阶文件生效日期2012.06.19 编号SOP-QR-104版本/次A/1卡尺内校作业指导书编制人曲海涛审核人邱丰批准人张述强日期2012.06.19 日期2012.06.19 日期2012.06.19文件修改记录文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期A0 首次发行2012.06.19卡尺内校作业指导书版本/次A/11. 目的1.1 确保校准结果的结果的准确性,使校准作业规范化。

2. 范围2.1 本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺,包括高度尺、游标卡尺、戴表卡尺、电子数显卡尺。

3. 职责3.1 卡尺保管人:负责所属卡尺维护和保养。

3.2 品保部:卡尺专用量块的维护和保养。

3.3校验人:卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。

4. 作业内容说明:4.1 卡尺结构:4.1.1游标卡尺结构如下图所示。

4.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。

4.1.3 戴表卡尺结构如下图所示。

卡尺内校作业指导书版本/次A/14.2 校验/检定条件:4.2.1 室内温度:25±3℃4.2.2 相对温度:65±15%4.3 校验/检定用主要标准器具:成都产二级量块.4.4外观检查4.4.1 检查方法:目检与试验;4.4.2 卡尺表面应无锈蚀,碰伤或其它缺陷,刻度和数字应清晰、均匀;4.4.3 尺框沿尺身移动应平稳,不应有阻滞及明显晃动现象,紧固螺丝的作用可靠。

4.5显示值校验/检定4.5.1所卡尺校正外卡任意选五个点校正,第五点须是该卡尺的最大量程范围,所卡尺校正内卡任意选三个点校正,第三点须是该卡尺的最大量程范围. 所卡尺校正深度,任意选四个点校正,第四点须是该卡尺深度的最大量程范围。

所有卡尺必须校正并须校正卡尺的外卡,内卡,深度。

4.5.2 误差:4.5.2.1 所有游标卡尺、带表卡尺在100mm以内(含100mm)受检误差为±0.02mm,受检点在100mm以上误差为±0.02mm;4.5.2.2 数显卡尺100mm以内(含100mm)受检误差为±0.02mm,受检点在100mm以上误差为±0.02mm。

卡尺校准规程

卡尺校准规程
4.2.8校准周期
校准周期可按实际使用情况而定,卡尺校准周期一般在三个月以内。
0.7
0.05
1.0
4计量器具控制
计量器具控制包括:首次校准、后续校准和使用中校准。
4.1校准条件
4.1.1计量室室内温度(20±5)℃。
4.1.2计量室室内湿度不得超过80%RH。
4.1.3校准前,应将被校准卡尺及量块等校准用设备同时置于平板或木桌上,一小时后方可进行校准。
4.2校准方法
4.2.1外观
目力观察
4.2.2各部分相互作用
目力观察和手动试验。
4.2.3各部分相对位置
目力观察或用2级塞尺进行比较校准。
4.2.4零值误差
移动尺框,使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触。对于深度游标卡尺,将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触。分别在尺框紧固和松开的情况下,用目力观察。
4.2.5示值变动性
在相同条件下,移动尺框,使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触;对于深度游标卡尺,将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触,重复测量10次并读数。示值变动性以最大与最小读数的差值确定。
2概述
通用卡尺是用来测量外尺寸和内尺寸、盲孔、阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的量具。其主要结构形成分别为游标卡尺(见图1)、电子数显卡尺(见图2)、带表卡尺(见图3)、深度游标卡尺(见图4)。
图2
图3
图4
3通用技术要求
3.1外观
3.1.1卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰,表蒙透明清洁。不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕,无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷。
4.2.6示值误差
用3级或6等量块校准。受校准点的分布:对于测量范围在300mm内的卡尺,不小于均布分布3点。卡尺校准点分布在20mm、50mm、100mm。误差不得超过校准符合本规程要求的在量具空白处贴上《校准标签》,不符合本规程要求的,暂停使用,维修后,再校准。

卡尺内校规范

卡尺内校规范
深度示值测量0~150㎜/ 0~200㎜±0.02㎜/±0.03㎜
四.校正方法
4.1将需要校正的卡尺先清洁灰尘,然后合拢对零。
4.2分别用卡尺测量标准量块,测量项目有内径/外径/深度.每个测量项目分别取三个测量点测量,每个测量点分别测量五次,观看卡尺所测量值及平均值与标准值是否在最大允许误差范围内。
4.3校正完毕,取下量块,合好卡尺,做好相关测量校正记录。
五.注意事项
5.1测量、计量、试验仪器应注意轻拿轻放,避免摔落、碰撞影响仪器精密度与准确度。
5.2定期维护仪器清洁及保养,定期给仪器打防锈油,避免仪器生锈影响仪器使用寿命。
一.目的
规范仪器实施管理与定期校验.确保其精密度与准确度靠性符合国家及国际标准。
二.适用范围
适用于本公司的卡尺内校测量作业。
三.校准范围
仪器名称测量项目测量范围最大允许误差
卡尺内径示值测量0~150㎜/ 0~200㎜±0.02㎜/±0.03㎜
外径示值测量0~150Байду номын сангаас/ 0~200㎜±0.02㎜/±0.03㎜

卡尺 内校指导

卡尺   内校指导
文件名称
文件编号
标准文件
版别
A/0
文件名称:“卡尺”内校指导
页码
1of 1
1、校正目的: 说明卡尺校正之程序,确保卡尺在使用期间能维持其准确度。
2、校正范围: 凡本公司所有用于生产及来料质量判定的卡尺(带表卡尺、数显卡尺)均属此范围。
3、校正权责: 计量组。
4、校正环境:温度(20±5)℃;湿度(60±20)%。
10、准备工作:
10.1 应用清洁液清洗平台,再将待校件与量块标准件放置平台上准备清洁。
10.2 以棉花棒沾无水酒精清洁待校件与量块标准件及辅助器具表面,再用干净白布擦干净。
10.3 清洁完毕之后应将待校件与量块标准件放置于平台上至少30分钟以上,使标准件与待校件及校正环境温度同温;校正前应先戴上细纱手套。
a.依校正点拿取标准量块与卡尺直接测量。
b.长度为0-150mm的卡尺的校正点可选择: 5mm、 10mm、20mm、 40mm、60mm、80mm、100mm、130mm、等,每个测量校验点测量2次后取其平均值,并把测量结果记录于校正报告内。
c.长度为0-200mm的卡尺的校正点可选择: 10mm、20mm、40mm、60mm、80mm、100mm、150mm、180mm、等,每个测量点测量2次后取其平均值,并把测量结果记录于校正报告内。
11、校正内容:外观、归零、长度(包括外径、内径、深度)。
11.1外观检查:
卡尺表面镀层均匀、标尺上标记刻度应清晰,无生锈碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕,表
盘刻度应清晰,卡尺外部及内外径刀口是否弯曲变形,紧固螺丝是否能牢固,内外径测量面
是否完全密合,尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象,数字显示应清晰、完

卡尺内部校准作业规范

卡尺内部校准作业规范
卡尺内部校准作业规范
版本
更改类型
生效日期
更改内容
会签部门:
品质:工程:
采购:业务:
研发:DCC:
生产:PMC:
行政:财务:
制作:
审核:
批准:
1.目的﹕
确保校准结果的准确性,使校准作业规范化,程序化,特制定此规范;
2.范围﹕
制程中所有卡尺均属之
3.责任部门﹕
生技课
4.相关部门:
检测设备使用部门
5.定义﹕
《内校校正报告》
11.参考文件
《检测设备校验规范》
《内校检测设备精度要求》
12.附录:

8.5认真填写《内校校正报告》并做好相关的记录;
9.注意事项
9.1拿标准量块时要戴手套;
9.2用完后及时放回盒子中;
9.3校验前对该检测设备进行年度保养;
9.3.1看机身是否有损坏,及不灵活现象;
9.3.2检查机身是否清洁,否则清洁干凈;
9.3.3卡尺属精密仪器,在校验过程中一定要轻拿轻放;
10.应用窗体
8.2.5.6用标准量块(191.8MM)测量,记下示值与标准量块值之差d6;
8.3将以上记录数据按《内校检测设备精度要求》上面所规定的的标准去判断被校的卡尺是否合格;
8.4如果所测结果在《内校检测设备精度要求》所规定的范围内,即为合格,在被校的卡尺上贴《合格证》;如果所测结果大部分在所规定的范围内,而有一小部分超过标准,结合实际的情况还可以用,这样的情况可定为准用,在被校的卡尺上贴《准用证》,并要求使有部门了解准用的内容,如果所测结果严重超去,则判断为不合格,在被校的卡尺上贴《暂停使用》,送维修处维修OK后再校验;
8.1.5.6用标准量块(121.8MM)测量,记下示值与标准量块值之差d6;

内校仪器规范

内校仪器规范

一.数显/带表卡尺校验规范1.校验范围:0-150mm2.校验周期:半年3.使用之标准件:经外校合格(追溯至国家标准)之块规及带表卡尺。

4.校验环境: 环境温度25℃±5℃、相对湿度50%-80%5.校验步骤:5.1校验前先检查卡尺的外观,及各部件相互作用是否正常。

5.2戴上纯棉手套,用脱脂棉粘高纯度酒精(99.5%或以上)对游标卡尺各部件进行擦拭清洗干净,并用纸吸干。

5.3戴上手套将卡尺卡紧,旋转游标卡尺之刻度盘,让指针指正零位或让显示屏显示零数字。

5.4卡尺校验5.4.1卡尺内爪校验:待校验卡尺两端外侧测爪分别平夹于块规两端之量测面上。

5.4.2卡尺外爪校验:将外校合格的带表卡尺调至校验点,待验卡尺外爪与标准卡尺内爪平行,并紧密接触。

5.4.3卡尺深度校验:将标准块规置于平滑的台面,竖起卡尺,深度针抵住台面,并与块规测试面平行,轻轻滑动卡尺,使卡尺尾部与块规测试边缘紧密接触。

5.4.4正确读取卡尺上的量测读数值,并如实记录于“校验记录表”。

5.4.5实测差值:差值=卡尺读示值-块规标准尺寸.5.4.6每一个校验点测试1次,并分别将结果数值记录下来,然后用实际测量值与允许误差作比较来判定是否符合标准。

5.4.7对于所设定之其它校验点,重复以上5.4.1-5.4.4即可。

5.4.8本公司依块规情况,对卡尺所设定校验点及所用块规值和允许误差值列表如下:5.4.9完成校验后需清洗干净所有用过的仪器,将其恢复原状放回仪器柜内,长时间不用需包一层涂有保护油的纸,以免锈蚀。

5.4.10对校验合格之仪器贴上校验“合格标签”,校验不合格的仪器贴上“停用标签”。

5.4.11各项校验之记录“仪器内校记录表”应存于品质部,保存期限为半年。

二.电子称校验规范1.校验范围: 0-3kg2.校验周期: 半年3.使用之标准件:经外校合格之砝码.4.校验环境: 环境温度25℃±5℃相对湿度:50%-80%5.校验步骤:5.1.校验前先检查电子称表面是否有生锈、按钮灵敏度是否正常。

卡尺校验规范

卡尺校验规范
6.0参考数据
卡尺使用说明,检测设备校验/管理作业方法
7.0附件:

100-200mm±0.03mm200mm以上±0.04mm
带表游标卡尺0.02mm0-100 mm±0.04mm
100-200mm±0.05mm
200mm以上±0.06mm
5.2校验设备
块规一级0-100mm
块规三级100-500mm
5.3准备事项
5.3.1准备标准块规及需校验的卡尺放置于仪校室至少4小时,仪校室
环境温度要求在22±2℃,湿度在65%以下.
5.3.2准备手套.
5.3.3用擦拭纸沾酒精把卡尺清洁干凈.
5.3.4熟读整个校正程序与使用说明书.
5.4注意事项:
5.4.1标准块规及卡尺应轻拿轻放,谨防掉落,随时注意人员设备安全.
5.5校验:
5.5.1外观检查:
无锈蚀,碰伤,镀层完好,刻线及数字均匀清晰.数显卡尺数显窗不得
1
5
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100
150
300
300
5
150
200
300
450
500
5.5.5深度校验:
按下表对深度进行校验:
步骤
150Hale Waihona Puke m200mm300mm
450mm
500mm
1
5
5
2
10
10
3
50
50
5.5.6校验结果记录于<<检测设备内部校验报告>>.

内校校准规范

内校校准规范

XX(科技)有限公司卡尺校准规范文件编编号:发布日期:实施日期:1、目的对内部的卡尺校准,确保准确度和实用性保持完好。

2、规范性引用文件本规范引用下列文件:JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。

3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为:0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围:0~500mm,各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准,其它类型卡尺也可参照执行。

4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度(20±5)℃,恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前,应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上,其平衡温度时间见表-1的规定。

表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触(深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面)时,由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。

其重合度应符合表-2的规定。

带表卡尺部超过不超过分度值的1/2,数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定,带深度测量杆的卡尺,深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。

表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框,使通用卡尺的量爪两外侧面接触,分别在尺框紧固和松开的情况下,用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。

必要时用工具显微镜校准。

5.1.2 对于深度通用卡尺,将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。

5.2示值变动性5.2.1在相同条件下,移动尺框,是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触,重复测量10次读数。

示值变动性以最大与最小读数的差值确定。

5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布:对于测量范围在300mm 内的卡尺,不少于均匀分布3点,如测量范围为(0~150mm )的卡尺,其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为(0~300mm )的卡尺,其受校点为 101.30mm ;102.60mm ;291.90mm ;对于测量范围大于300mm 的卡尺,不少于均匀分布6点,如测量范围为(0~500mm )的卡尺,其受校点为 80mm ;161.30mm ;240mm ;321.60mm ;400mm ;491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。

量具内校规程

量具内校规程

1、数显卡尺校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于数显卡尺的内部校准3校验基准外校合格的量块。

4环境条件室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,表头是否平稳、平滑。

5.2调校零位,或使指针对准零点。

5.3取2〜3块任意基准量块进行度量,量块被测面要干净、平整。

每块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《内校记录》内。

允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。

5.4测内径接触面磨损程度:取两块量块(构成测量的基准面)夹紧一块量块成“H”型,然后移动表头,使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数,每块测量三次,取平均值。

测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm,将其平均值记录在《内校记录》中。

5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准;5.6历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格;6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》2、数显千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于千分尺的内部校准。

3校验基准外校合格的标准量块。

4环境条件室温5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,刻度是否清晰。

5.2扭动千分尺螺栓调校零位,使刻度对准零点。

5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3〜4块,(可对标准量块进行组合测量)。

每块量块连续测量三次,每次测量值均应在允许误差范围内,将其平均值记录在《内校记录》内。

允许误差范围为±0.01mm。

5.5历次测量值与标准值之差,均在允许误差范围内,判校准合格。

6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》1目的对FRT进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。

2范围适用于FRT的内部校准。

内校校准规范

内校校准规范

XX(科技)有限公司卡尺校准规范文件编编号:发布日期:实施日期:1、目的对内部的卡尺校准,确保准确度和实用性保持完好。

2、规范性引用文件本规范引用下列文件:JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。

3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为:0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围:0~500mm,各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准,其它类型卡尺也可参照执行。

4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度(20±5)℃,恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前,应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上,其平衡温度时间见表-1的规定。

表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触(深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面)时,由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。

其重合度应符合表-2的规定。

带表卡尺部超过不超过分度值的1/2,数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定,带深度测量杆的卡尺,深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。

表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框,使通用卡尺的量爪两外侧面接触,分别在尺框紧固和松开的情况下,用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。

必要时用工具显微镜校准。

5.1.2 对于深度通用卡尺,将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。

5.2示值变动性5.2.1在相同条件下,移动尺框,是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触,重复测量10次读数。

示值变动性以最大与最小读数的差值确定。

5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布:对于测量范围在300mm 内的卡尺,不少于均匀分布3点,如测量范围为(0~150mm )的卡尺,其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为(0~300mm )的卡尺,其受校点为 101.30mm ;102.60mm ;291.90mm ;对于测量范围大于300mm 的卡尺,不少于均匀分布6点,如测量范围为(0~500mm )的卡尺,其受校点为 80mm ;161.30mm ;240mm ;321.60mm ;400mm ;491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。

卡尺内部校准规范

卡尺内部校准规范

名称: 卡尺内部校准规范 编号: TT-WIC20030一.目的通过对卡尺规定其校正方法和频次确保装置的监视和测量结果准确有效二.适用范围:适用于本厂所用来测量0~150mm的通用卡尺三.定义数显、带表卡尺校验四.权责:品保部计量管理员负责对卡尺的内部校准五.流程图无六. 内容说明:6.1校正环境:温度21~25°C,湿度不低于30%RH,且不高于75%RH6.2校正时机:依校准计划(每年1次)6.3校正引用参考文件:JJG30-2002(国家通用卡尺检定规程)6.5.1校正前:用防锈油除去卡尺上的锈并清洁油污及灰尘6.5.2校正中:标准件校验法6.5.2.1校验标准工具:经国家或国定认可的实验室校验合格的标准件卡尺专用块规6.5.2.2校正项目步骤1)外观a仔细观察卡尺,卡尺表面镀层均匀,标尺标记应清晰,不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划伤,有无粗细不匀及影响外观质量的其他缺陷b使用中和修理后的卡尺,允许有不影响使用准确度的外观缺陷c检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上2)各部位相互配合a尺框尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象,数字显示应清晰、完整、无黑斑闪跳现象,各按钮功能稳定,工作可靠b紧固螺钉的作用应可靠,微动装置的空程应不超过1/2转c检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上3)示值变动性a移动尺框使数显卡尺或带表卡尺量爪两侧接触b重复测量十次并读数c示值变动性以最大与最小读数差值确定d带表卡尺不超过分辨率的1/2,电子数显卡尺不超过0.01mme检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上4)数字显示器的示值稳定性a在测量范围内的任意位置紧固尺框,观察1小时内显示值变化不超过0.01mmb检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上5)卡尺受检点分布用四等专用块规校准,测量范围0~150mm卡尺外量爪受检点分布与允许误差:(41.2+/-0.02、81.5 +/-0.03、121.8+/-0.03)mm,深度尺用两块20mm块规校验允许误差+/-0.02mm6)在对量块规格值与测得的平均值进行比较并依判定标准进行判定7)在对量块取用时,需戴上手指套,且轻拿轻放6.5.3校正后6.5.3.1给被校正卡尺进行防锈保养,并放于盒内6.5.3.2给量块进行防锈保养,并整齐放于盒内6.5.3.3在卡尺校验履历表上做好记录6.5.3.4把校验合格的发给使用或保养者6.6判定标准在保证量测准确度的情况下,可依此判定该卡尺的示值误差是否可以达到允收标准,达到允收标准的发放使用,不达标准的按《不合格管理程序》追溯被测产品6.7校验结果处理6.7.1对所有项目的都在要求范围内的,在卡尺适当位置(或卡尺盒上)贴上仪器校验合格标签6.7.2在同一卡尺中,有部分项目不在要求范围内,能进行维修的可适当维修,维修后的卡尺需重新进行检验。

卡尺内部校准规范

卡尺内部校准规范

校点为101.20,201.50,291.80mm。
5.5 内量爪的校准:先将一块尺寸为20mm的3级或5等量块的长边夹持于两外量爪测量面之间,紧固螺
钉后,该量块应能在量爪测量面间滑动而不脱落。用测力(6-7)N的外径千分尺测量内量爪三次,
取平均值,记录在《内校记录表》中。
5.6 示值误差:历次测量值与标准值之差,均要求在允许误差范围内,判断校准合格。对于分度值为
盖红色受控文件印章为受控文件,若印章不是红色则为非受控文件,请只使用受控 印章 文件.
文件编号:WI-QA-0005
标题:卡尺内部校准规范
版本:
A1
页数:
2/2
生效日期:2006-10-25 5.4 用同样的方法,在整个量程上对其它的受校点分别测量三次,再取平均值记入《内校记录表》内 。 对于测量范围在300mm内的卡尺,受校点不少于均匀分布3点,如测量范围为(0-300mm)的卡尺,其受
0.01或0.02mm的卡尺:尺寸范围为0-150mm,允许示值误差±0.02mm;尺寸范围>150-200mm,允许示
值误差为±0.03mm;尺寸范围>200-300mm,允许示值误差为±0.04mm。
6.相关记录《ຫໍສະໝຸດ 校记录表》3.校准用基准件 外校合格的标准量块和数显外径千分尺。
4.校准条件 4.1 温度:20±5℃,湿度:≤80%RH。 4.2 校准前,将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于木桌上平衡温度时间2H。
5.校准步骤 5.1 检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹,表盘卡尺表头的指针是否完好,有无松
动,刻度是否清楚,推动表头是否平稳、平滑、数显卡尺显示屏是否完好。 5.2 示值的变动性:移动尺框,使卡尺的两外测量面接触,重复测量10次并读数,以最大与最小读 数的差值确定,带表卡尺不超过分度值的1/2;数显卡尺不超过0.01mm。 5.3 取一块20mm基准量块进行度量,量块被测量面要干净、平整。连续测量三次,取平均值记录在 《内校记录表》中,校准时每一受校点应在量爪的里端和外端两位置校准,量块工作面的长边和 卡尺的测量面长边应垂直。

数显卡尺内校标准

数显卡尺内校标准

3. 要求序号12345 f )检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。

4)数字显示器的示值稳定性:检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。

3)示值变动性:a )移动尺框,使电子数显卡尺量爪两外测量而接触;b) 每个校准值必须取量爪里端或外端两个位置进行检定c )重复测量3次并读数;d)示值变动性以最大与最小读数的差值确定;e )数显卡尺不超过±0.01mm ;c )检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。

2)各部位相互配合:a) 尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象。

数字显示应清晰、完整。

b) 无黑斑和闪跳现象,各按钮功能稳定,工作可靠c) 紧固螺钉的作用应可靠。

微动装置的空程应不超过1/2转;d) 检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。

4.2校正中:标准件校验法。

4.3校验标准工具:国家认可的实验室校验合格的标准件卡尺专用量块。

4.4 校正项目步骤1)外观:a )仔细观察卡尺,卡尺表面应镀层均匀,标尺标记应清晰,表蒙透明清洁。

不应有锈蚀,碰伤,毛刺,镀层脱落及明显划痕,有无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷;b )使用中和修理后的卡尺,允许有不影响使用准确度的外观缺陷;数字显示器的示值稳定性目视示值误差量块4 校正步骤4.1 校正前:用防锈油除去卡尺上的锈并清洁油污及灰层。

外观目视各部分相互作用目视示值变动性目视3.1校正环境:温度20±5℃,湿度≤80%RH3.2校正引用参考文件:JJG 30-2002(国家通用卡尺检定规程)3.3校正人,必需有一定资质者3.3校正项目校正项目主要校正方式/设备1. 目的为了保证公司内部用于生产通用卡尺(即数显游标卡尺)的准确性,使其性能满足测量及测试要求2. 范围适用于本厂所用来测量产品的通用卡尺(即数显游标卡尺)测量范围(mm)0.050.10 ~ 1500 ~ 300±0.026 校验结果处理对所有项目的都在要求范围内的,在卡尺适当位置(或卡尺盒上)贴上仪器校验合格标签对同一卡尺中有部分项目的不在要求范围内的,能进行维修的可适当维修,维修后的仪器需重新进行校验。

数字卡尺内校规范

数字卡尺内校规范
一、适用范围理权责:品质部。
三、作业程序:
3-1依《量检具校验一览表》上所使用的外校合格、且在有效期内的量块、平板,并找出《量检具设备校验履历表》及要求使用单位提供受检之设备。
3-2备妥清洁用布、治工具内校记录表。
3-3外观要求,数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其它影响质量的缺陷,数字显示应清晰、完整,无黑斑和闪跳现象,各按钮功能可靠,工作稳定。
3-13校验合格后,数显卡尺校验周期为一年。
四、附表:
4-1仪器设备内校记录表
批 准:
审 核:
拟 制:
3-4各部分相互作用,尺框沿尺身移动应手感平稳,深度尺不应有窜动,紧固螺母的作用应可靠。
3-5刀口内量爪尺寸检测,将一块6等(或以上)量块置于两外量爪测面之间,旋紧固定螺钉,量块不应滑落,用杠杆千分尺在全长范围内测量内量爪尺寸,尺寸偏差由测得值与量块之差确定,检定结果不应大于下表的规定:
新制的和修理后
76.8
214.4
299.2
3-7-1外测量爪示值误差,用标准量块进行检测,各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定,检定结果不应大于下表的规定。一般检测三点。下表为一般推荐检测点:
示值误差规定:
受检尺寸
示值误差
0~200
±0.03
≥200~300
0.04
≥300~500
0.05
3-7-2深度尺示值误差:用一块尺寸为20mm的6等或以上量块于平板上进行检定,读数值与量块尺寸之差即为检定结果。
使用中
+0.015~0
+0.015~-0.005
3-6示值变动性,移动尺框,使两外量面至手感接触时在表上读数,移动尺框五次,其最大与最小值之差为变动性,检定结果不应大于0.01mm。

卡尺校正规程

卡尺校正规程

1 目的为有效管理本公司卡尺的使用、保养及维护,使生产能顺利运行,并延长其使用寿命,保持卡尺的准确度,以确保产品质量。

2 范围本规程适用于公司所有卡尺的首次检定、后续检定和使用中检查。

3 定义卡尺:卡尺是利用带有量爪(或基准面)的尺框在尺身上相对运动,通过游标、指示表或数显形式显示尺身和尺框上两量爪(或测量面)之间的平行间距,用于测量外尺寸、内尺寸和深度尺寸以及盲孔、阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的计量器具。

4 职责4.1 校正实验室负责卡尺校正作业细则的制定及卡尺的定期校正;4.2 检测中心负责卡尺校正规程的审核;4.3 品质管理处经理负责卡尺校正规程的核准。

5 内容5.1 计量性能要求5.1.1 标尺标记的宽度和宽度差游标卡尺的主标尺和游标尺的标记宽度和宽度差应符合表1的规定。

表1 标尺标记的宽度和宽度差 mm带表卡尺的主标尺标记和圆标尺标记宽度及指针末端宽度应为(0.10—0.20mm ),宽度差应不超过0.05mm 。

5.1.2 测量面的表面粗糙度测量面的表面粗糙度应符合表2的规定。

表2 测量面的表面粗糙度 分度值标尺标记宽度 标尺标记宽度差 0.020.08—0.18 0.02 0.050.03 0.10 0.05分度值(分辨力)/mm表面粗糙度R a/μm外量爪测量面内量爪测量面深度卡尺的尺框测量面和尺身测量面深度测量杆的测量面0.01, 0.02 0.20.4 0.20.80.05, 0.10 0.4 0.45.1.3 测量面的平面度测量面的平面度应不超过表3的规定。

表3 测量面的平面度 mm测量范围外量爪测量面的平面度深度卡尺的尺框测量面和尺身测量面在同一平面时的平面度0<L≤1000 0.003 0.0051000<L≤2000 0.005 0.006注:测量面边缘0.2mm范围内允许塌边。

5.1.4 圆弧内量爪的基本尺寸偏差和平行度两量爪合并时,圆弧内量爪基本尺寸,首次检定的一般为10mm或20mm整数,其偏差应符合表4的规定;后续检定的基本尺寸允许为0.1mm的整倍数,保证使用的情况下可为卡尺分度值的整数倍,并在证书内页上注明。

卡尺内校操作规程

卡尺内校操作规程

卡尺内校操作规程卡尺是一种常用的测量工具,在使用前需要进行内校操作以确保其准确性和精度。

下面是卡尺内校的操作规程,详述了具体的步骤和注意事项。

一、准备工作1.确保卡尺清洁干净,没有杂质和污渍。

2.检查卡尺的清晰度,确保读数尺上的刻度和标度清晰可见。

3.检查卡尺的零位,确保读数尺上的零刻度与刻度线对齐。

二、内校操作1.选择一个标准样品,其长度应与卡尺的测量范围相匹配。

标准样品可以是已经检定合格的卡尺、钢尺等。

2.将标准样品放置在平坦的工作台上。

3.将卡尺完全关闭,将读数尺缩回,确保没有误差。

4.使用手指轻轻按住卡尺的刀口,将卡尺平放在标准样品上。

5.在经过平放后,将标准样品与卡尺的一端对齐,确保两者之间没有间隙。

6.利用读数尺读取标准样品的长度,记录下读数。

三、计算误差1.将读数尺的读数与标准样品的长度做差,得到偏差数值。

2.根据偏差数值判断卡尺的正负误差,并计算得到相对误差。

四、调整方法1.如果卡尺的误差在正常的范围内,可以不进行调整。

2.如果卡尺的误差超出了正常范围,需要进行调整。

调整方法可以有以下几种:-若误差过大,则需要将卡尺送至专业单位进行修复。

-若误差较小,可以通过手动调整读数尺的位置来校正偏差。

五、再次内校1.在完成调整后,重新对卡尺进行内校操作,以确认误差是否已被消除。

2.重复以上操作,并记录误差值,直到卡尺的误差在正常范围内。

六、操作注意事项1.内校操作应在稳定的环境中进行,避免受到外界干扰。

2.内校操作应在合适的温度和湿度条件下进行,避免温度和湿度对卡尺产生影响。

3.内校操作应由经验丰富的操作人员进行,确保操作的准确性和稳定性。

4.内校操作后,应将卡尺存放在干燥、清洁的环境中,避免受潮和受损。

总结:卡尺内校操作是确保卡尺准确度和精度的重要步骤,通过选择标准样品、进行读数和计算误差等步骤,可以对卡尺进行内部校对,以保证测量的准确性。

在进行内校操作时,需要注意操作方法和环境条件,以确保操作的准确性和稳定性。

卡尺内校规程

卡尺内校规程

重庆三木华瑞机电有限公司批准制订部门品质部卡尺内校规程审核文件编号?编制胡建兵版本A0第 1 页共1 页1.0、目的:规范卡尺内校流程,量测器具准确有效。

2.0、校正范围:0—200mm。

3.0、权责:由品质部负责对该规程进行实施。

4.0、校正环境:温度23℃±5℃湿度60%±20%5.0、校正步骤:5.1 校正前:5.1.1 以目测检验,外部不得弯曲变形。

5.1.2 卡尺全程滑动顺畅。

5.1.3 检查针盘或示数器数值归零,如未归零,应调整归零后,再重复前一动作。

5.1.4 归零后对光检查,卡尺内外量抓是否密合。

5.1.5 检查刻度磨损状态。

5.2 校正:5.2.1 选量块对卡尺校验尺寸时,至少选取3个常用点。

5.2.2 量测时,保持卡尺与量块测量面平行垂直,用力均匀;量测深度时,卡尺测量面紧贴量块测量面,需将量块放置在水平桌面上。

5.3 校正后:5.3.1 卡尺外观不良或需调整时,转校验单位上级或工程师判定是否暂停使用,并安排送校。

5.3.2 如键钮,数显不良时,不能正确判定数据时,应以暂停使用,并送修,如无法修理申请报废处理。

5.3.3 校正完毕,应贴校正标签,并将结果记录在仪器校正报告书内。

8.3.4 量块使用完毕后,须用专用纸檫试干净,并喷专用油,然后放回规定位置。

6.0、判定标准:规格测量精度(mm)标准(mm) 允许误差(mm) 0-150mm数显:0.01 游标:0.0210 ±0.220 ±0.251.2 ±0.2121.5 ±0.20-200mm 191.8 ±0.2。

计测器具内校管理规范

计测器具内校管理规范

计测器具内校管理规范一、目的根据本公司实际情况,大部分计量器具送检外校,其中对部分没有送外校、或无法外校的、或外校后使用频繁的器具进行不定期的内部校准,确保其准确度和适用性,以保持完好。

二、范围适应于游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等的内部校准。

三、校准基准:外校合格的游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等。

四、校准步骤:4.1、卡尺内校程序:4.1.1 卡尺的类型4.1.1.1游标卡尺:由尺身、尺框和深度三部分组成。

其刀口内量爪用于测量内尺寸,外量爪用于测量外尺寸,尺身背面沟槽中装有深度尺用于测量孔或槽的深度。

(如图1)4.1.1.2带表卡尺该卡尺的尺身有毫米刻线并装有高精度齿条,以齿条为基准带动百分表转动,由此代替游标装置进行读数。

我司带表卡尺的百分表分度值为0.01mm(如图2)4.1.1.3数显卡尺该卡尺尺身装有高精度齿条,齿条运动带动圆形栅格片转动,用光电脉冲计数原理,将卡尺量爪的位移量转变为脉冲讯号,通过计数器和显示器将测量尺寸用数字显示在屏幕上。

(如图3)图1图2图34.1.2校准原理:利用主尺刻线间距与游标刻线间距之差来进行小数部分读数,整数部分由游标尺的零刻线所对应的主尺刻线确定。

4.1.3校准基准:①、外校合格的标准件。

②、选用外校合格的平台。

4.1.4 校准环境及周期:常温,常压,静置2小时以上,校准周期为6个月。

4.1.5校准步骤:4.1.6 判定标准:表示值误差不超过下表所列的标准即为合格:4.1.7 注意事项:4.1.7.1掌握好测力测量力对于卡尺来说是一个影响测量准确度的重要因素,测量时要掌握好量爪与工件表面接触时的压力,测量面与工件接触后,量爪应能沿工件表面滑动,但不能有松动,跌落的手感,有微动装置的卡尺应使用微动装置。

4.1.7.2注意减少测量孔径的误差用内量爪测孔径时,应先将固定量爪接触孔壁,再移动活动量爪找出最大尺寸,这样的测得值才是孔径尺寸,否则,测得值是弦长或其他尺寸。

卡尺内部校准规程

卡尺内部校准规程

1.目的本规程规定了公司自行校准的卡尺校准方法、接受标准及校准周期。

2.适用范围适用于普通、指针式表盘以及数显游标卡尺的内部校准。

3.职责品质管理部负责此标准的执行 4. 参照标准JJG 30-2012《通用卡尺检定规程》 5. 通用技术要求5.1 外观5.1.1 卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰,表蒙透明清洁。

不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕,无目力可见的断线或粗细不匀等,以及影响外观质量的其他缺陷。

5.1.2 卡尺上必须有制造厂名或商标、分度值和出厂编号。

5.1.3 使用中和后续检定的卡尺,允许有不影响使用的外观缺陷。

5.2 各部分相互作用5.2.1 尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象。

数字显示应清晰、完整,无黑斑和闪跳现象。

各按钮功能稳定,工作可靠。

5.2.2 各紧固螺钉和微动装置的作用应可靠。

5.2.3 主尺尺身应有足够长度裕量,以保证在测量范围上限时尺框及微动装置在尺身之内。

5.3 各部分相对位置5.3.1 游标尺刻线与主标尺应平行,无目力可见倾斜。

5.3.2 游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面的距离应不大于0.30mm 。

5.3.3 卡尺两外量爪合并时,应无目力可见的间隙。

6. 检定条件6.1 检定室内温度20±5℃。

6.2 检定室内相对湿度不大于80%。

6.3 检定前,应将被检卡尺及量块等检定用设备置于平板或木桌上,其平衡温度时间见下表1的规定。

表1 平衡温度时间表6.4 校准基准6.4.1 标准量块(外校合格的标准量块) 6.4.2 选用外校合格平台7. 检定方法及判定标准各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定。

e = L- L o式中:e —卡尺的示值误差L —卡尺的读数值L o —量块的长度8. 检定结果处理8.1 检定为合格卡尺,由检定人员填写《卡尺内校记录表》并提交相关人员审核后,贴上校准合格标签。

8.2 检定不合格卡尺,在《卡尺内校记录表》里注明不合格项目,并标示不合格标签,停止使用。

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使用中
+0.015~0
+0.015~-0.005
3-6示值变动性,移动尺框,使两外量面至手感接触时在表上读数,移动尺框五次,其最大与最小值之差为变动性,检定结果不应大于0.01mm。
3-7示值误差检测:
测量范围
检定点
0~150
38.4
76.8
145.6
0~200
38.4
145.6
196.8
0~300
3-13校验合格后,数显卡尺校验周期为一年。
四、附表:
4-1仪器设备内校记录表
批 准:
审 核:
拟 制:
一、适用范围:
适用于本公司检测用之数显卡尺。
二、管理权责:品质部。
三、作业程序:
3-1依《量检具校验一览表》上所使用的外校合格、且在有效期内的量块、平板,并找出《量检具设备校验履历表》及要求使用单位提供受检之设备。
3-2备妥清洁用布、治工具内校记录表。
3-3外观要求,数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其它影响质量的缺陷,数字显示应清晰、完整,无黑斑和闪跳现象,各按钮功能可靠,工作稳定。
76.8
214.4
299.2
3-7-1外测量爪示值误差,用标准量块进行检测,各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定,检定结果不应大于下表的规定。一般检测三点。下表为一般推荐检测点:
示值误差规定:
受检尺寸
示值误差
0~200
±0.03
≥200~300
0.04
≥300~500
0.05
3-7-2深度尺示值误差:用一块尺寸为20mm的6等或以上量块于平板上进行检定,读数值与量块尺寸之差即为检定结果。
3-8依检验结果进行判定后呈部门主管核准。
3-9部门主管核准时,对于被判定不合格者,须做出“报废”、“暂停使用”等决定并签章。
3-10依3-8、3-9之判定后予以标示,标示方法依《检测设备校准作业办法》实施。
3-11校准温度原则为20±5℃环境,其它相关规定依《检测设备校准作业办法》。
3-12依3-10做出标示4各部分相互作用,尺框沿尺身移动应手感平稳,深度尺不应有窜动,紧固螺母的作用应可靠。
3-5刀口内量爪尺寸检测,将一块6等(或以上)量块置于两外量爪测面之间,旋紧固定螺钉,量块不应滑落,用杠杆千分尺在全长范围内测量内量爪尺寸,尺寸偏差由测得值与量块之差确定,检定结果不应大于下表的规定:
新制的和修理后
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