测量系统分析用图

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．附图 图4-1.1测量系统分辨力对过程分析和控制的影响 数据组数与过程的分析

测量数据对分析的影响 测量数据对控制的影响

1个数据组

不能用于对过程的参数估计或

计算过程能力指数,仅能表明过

程的输出是否合格

只有下列条件下才可用于控制: ·与规X 相比过程变差较小

·预期过程变差上的损失函数很

平缓

·过程变差的主要原因导致均值偏倚

2~4个数据组

仅能提供粗糙的估计值,一般说来不能用于对过程的参数估计或计算过程能力指数 ·依据过程分布可用半计量控制技术 ·可产生不敏感的计量控制图

5个及以上数据组

能够用于过程参数估计,以及可

以用于各种类型的控制图.表明测量系统具有足够的分辨力

·可用于计量控制图 图4-1.2过程波动的主要来源及测量系统分析的主要内容

图4-1.4重复性极差控制图

2名评价人3次试验5个零件

评价人1 评价人2

极差受控—测量过程是—致的

图4-1.5零件评价人均值图

2名评价人3次试验5个零件

评价人1 评价人2

1 2 3 4 5 1 2 3 4 5

30%的零件平均值在限值外，测量过程不足以检出零件间变差

图4-1.6

图4-2

图4-6 偏倚示例

图4-10:零件评价人均值图

图4-11:标准均值和极差法量具重复性和再现性数据表

图4-14: 量具特性曲线

偏倚=0.05

图4-15 绘制在正态概率纸上的量具特性曲线一Ⅱ

99.8 99.5

98 96 95 90 80 70 60 50 40 30 20 10 5 2 1 0.5 1

2

5

10

20

30

40

50

60

70

80

90

95

98

96

99.5

99.8

%

高

% 低

图4-16:量具特性曲线

-0.015 -0.010 -0.005 0 +0.005 +0.010 +0.015

被测零件的基准值

下限

上限

接

受 概 率

1.0

0.9

0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0

5．附表

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表5-2: 控制图常数

表5-3：量具研究(极差法)

表5-4：量具重复性和再现性数据

量具R&R

均值和极差法

3位评价人，10个零件，2次试验评注：特殊研究

5.15

%总变差

标准偏差

重复性 0.18 18.7

再现性 0.16 16.8

量具R&R 0.24 25.2

零件间 0.90 96.8

基于本过程，量具合格

注：

容差=不适用总变差=0.93

不同数据分级数=5 置信水平CL=90.00% 表5-7量具研究比较一相同的5个零件,有和无零件内变差(WIV)

表5-8 量具数据一览表

零件 1 2 3 4 5

基准值 2.00 4.00 6.00 8.00 10.00

1 2.70 5.10 5.80 7.60 9.10

2 2.50 3.90 5.70 7.70 9.30

3 2.40 4.20 5.90 7.80 9.50

4 2.50 5.00 5.90 7.70 9.30

试 5 2.70 3.80 6.00 7.80 9.40

6 2.30 3.90 6.10 7.80 9.50

验 7 2.50 3.90 6.00 7.80 9.50

8 2.50 3.90 6.10 7.70 9.50

次 9 2.40 3.90 6.40 7.80 9.60

10 2.40 4.00 6.30 7.50 9.20

数 11 2.60 4.10 6.00 7.60 9.30

12 2.40 3.80 6.10 7.70 9.40

零件平均值 2.49 4.13 6.03 7.71 9.38

基准值 2.00 4.00 6.00 8.00 10.00

偏倚 +0.49 +0.13 +0.03 -0.29 -0.62

极差 0.4 1.3 0.7 0.3 0.5

表5-9：计数型量具研究（小样法）

离散型数据测量系统分析测量原始记录表(3个测量者)

离散型数据测量系统分析重复性百分比处理记录表(3个测量者)

续表

χ2分布的α分位数表

t分布的α分位数表

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