半导体物理第三章
半导体物理第三章半导体中的载流子统计分布
电子浓度:单位体积内导带中的电子数(单位:1/cm3)
20
导带中电子都聚集在 导带底 价带中空穴都聚集在 价带顶
21
计算电子:
单位体积中
dN = f (E)gc (E)dE
( ) =
V 2π
2
2me* h3
3/ 2
(E
−
EC
)1/ 2
exp⎜⎜⎝⎛ −
E − EF kBT
⎟⎟⎠⎞dE
( ) dn =
m
3 2
pl
+
3
m
2 ph
⎤ ⎥⎦
3
3
gv(E) =
V
2π 2
(2mdp ) h3
2
(Ev
1
− E) 2
mph 和mpl分别是重空穴和轻空穴的有效质量。由于mph>>mpl, 重空穴带的态 密度显著大于轻空穴带的态密度。所以空穴主要分布在重空穴带中。
§ 3.2 费米能级和载流子的统计分布
费米分布函数 玻尔兹曼分布函数 导体中的电子浓度和价带中的空穴浓度
gv (E)
=
V
2π 2
(
2
m
* p
)
3
2
h3
(Ev
1
− E) 2
实际情况:在价带顶有两种空穴
gv (E ) = gvl (E ) + gvh (E )
3
3
=
V
2π 2
⋅ (2m pl ) h3
2
1
(Ev − E) 2
+
V
2π 2
⋅ (2m ph ) h3
2
(Ev
1
− E) 2
半导体物理学-第三章-半导体中载流子统计分布
当 E-EF>>k0T时,
fB E e x E p k E F T e x E kF p T e x k E p T
费米和玻耳兹曼分布函数
三、空穴的分布函数
空穴的费米分布函数和波尔兹曼分布函数
当 EF-E>>k0T时,
1 fE e x E F p E e x E F p e x E
整个价带的空穴浓度为
p0 NVexpEFk 0TEV NV称为价带的有效状态密度.
价带空穴浓度可理解为:全部空穴集中在价带 顶EV上,其上空穴占据的状态数为NV个.
对于三种主要的半导体材料,在室温(300K)状 况下,它们的有效状态密度的数值列于下表中.
导带和价带有效状态密度(300K)〔见课本P77〕
一、费米〔Fermi〕分布函数与费米能级
1.费米分布函数
电子遵循费米-狄拉克〔Fermi-Dirac〕 统计分布规律。能量为E的一个独立的电 子态被一个电子占据的几率为
K0玻尔兹曼常数,T确定温度,EF费米能级
费米能级的物理意义:化学势
EF (N F)T
当系统处于热平衡状态,也不对外界做功的状 况下,系统中增加一个电子所引起的系统的自 由能的变化等于系统的化学势也即为系统的费 米能级
在导带中,E-EF>>k0T,则导带中的电 子听从波尔兹曼分布,且随着E的增大, 概率快速削减,所以导带中绝大多数电子 分布在导带底四周
在价带中,EF-E>>k0T,则空穴听从波 尔兹曼分布,且随着E的增大,概率快速 增加,所以价带中绝大多数空穴分布在价 带顶四周。
听从Boltzmann分布的电子系统 非简并系统
§3.1 状 态 密 度
假设在能带中能量E与E+dE之间的能量间 隔dE内有量子态dZ个,则定义状态密度g 〔E〕为:
半导体物理 刘恩科 第三章答案
第三章习题讲解7.Ec − E F 解: Q n0 = N c exp(− ) k0T∴ ∴ Q ∴ EF Nc = E c − k 0 T ln = E c − 0 . 017 eV n0E F − E c = − 0 . 017 eV E c − E D = 0 . 01 eV E F − E D = − 0 . 007 eVND n0 = 1 + 2 exp[( E F − ED ) / k0T ] ⇒ N D = 1.7 ×1017 cm −3ND 9. E F = Ec + k 0T ln Nc N D1 E F 1 = Ec + k 0T ln = Ec − 0.206eV Nc EF 2 EF 3 N D2 = Ec + k 0T ln = Ec − 0.087eV Nc N D3 = Ec + k 0T ln = Ec − 0.027eV NcEc − E D = 0.05eVEF1远在ED之下,故此时全电离方法1 方法2(Ec-EF2) /k0T=1.4,故此时不能全电离 EF3在ED之上,故此时全电离+ nD 1 = N D 1 + 2 exp[−( ED − EF ) / k 0T ]1 = 是否大于90% 1 + 2 exp[−( Ec − ΔED − EF ) / k 0T ]算出电离度分别为1,67%,55%。
所以第二、三种 不能认为全电离。
10. 解:Ge 在300K时的本征载流子浓度ni = 2.4 × 10 cm13−3要以杂质电离为主,其杂质浓度最低应 高于ni一个数量级,即:N D ,min = 1014 cm −3最高浓度为:⎛ ΔE D ⎞ ⎛D N ⎞ N D = ⎜ − C ⎟ exp⎜ − ⎜ k T ⎟= ⎟ ⎝ 2 ⎠ 0 ⎝ ⎠ ⎛ 0.1 × 1.05 × 1019 ⎞ 0.0127 ⎞ 17 −3 ⎜ ⎟ exp⎛ − ⎟ = 3.22 × 10 cm ⎜ ⎜ ⎟ 2 ⎝ 0.026 ⎠ ⎝ ⎠11. 根据未电离杂质占总掺杂比例的定义:ΔE D 2N D ⇒ D− = exp Nc k 0T ⎡⎛ D ΔE D 1 3 = ln T + ln ⎢⎜ − ⎜ k0 T 2 ⎢⎝ N D ⎣∗ 3/ 2 k 0 mn 3⎞ 2π ⎟ ⎟ h ⎠(∗ 3/ 2 k 0 mn 3)(2π 其中)⎤ ⎥ ⎥ ⎦h=1015ΔE D =116 k0将上两个常数代入,得 : ⎛ D− 116 3 = ln T + ln ⎜ ⎜N T 2 ⎝ D ⎞ ⎟+15 ln 10 ⎟ ⎠(1) 将N D=1014 cm −3D−=1 %代入116 3 ⎛ 0.01 ⎞ = ln T + ln⎜ 14 ⎟+15 ln 10 T 2 ⎝ 10 ⎠ 3 = ln T-2.3 2 ⇒ T = 37.1K 将N D=1017 cm −3 D−=1 %代入 116 3 ⎛ 0.01 ⎞ = ln T + ln⎜ 17 ⎟+15 ln 10 T 2 ⎝ 10 ⎠ 3 ln T-9.2 2 ⇒ 533K(1) 将N D=1014 cm −3D−=10%代入116 3 3 ⎛ 0.1 ⎞ = ln T + ln⎜ 14 ⎟+15 ln 10= ln T T 2 2 ⎝ 10 ⎠ ⇒ T = 24.3 将N D=1017 cm −3 D−=10%代入 116 3 ⎛ 0.1 ⎞ = ln T + ln⎜ 17 ⎟+15 ln 10 T 2 ⎝ 10 ⎠ 3 ln T-6.9 2 ⇒ T = 160.5 K50%电离时,不能再用上方法,须用:ND ⎛ ED − EF 1 1 + exp⎜ ⎜ kT 2 0 ⎝⎞ ⎟ ⎟ ⎠ND = ⎛ EF − ED ⎞ 1 + 2 exp⎜ ⎜ kT ⎟ ⎟ 0 ⎝ ⎠⎛ EF − ED ⎞ ⎛ ED − EF ⎞ ⎟ ⎟ = 4 exp⎜ ⇒ exp⎜ ⎜ kT ⎟ ⎜ kT ⎟ 0 0 ⎠ ⎝ ⎠ ⎝ ED − EF EF − ED ⇒ = ln 4 + k 0T k 0T ⇒ E F = E D − k 0T ln 2 (1)⎛ E F − Ec ⎞ ND n0 = = N c exp⎜ ⎟ ⎜ kT ⎟ 2 0 ⎠ ⎝ ⎛ ND ⎞ ⇒ E F = Ec + k 0T ln⎜ ⎟ ⎜ 2N ⎟ c ⎠ ⎝ ( 2)联立(1)、(2)两式可得:⎛ ND ⎞ ⎟ E D − k 0T ln 2 = Ec + k 0T ln⎜ ⎜ 2N ⎟ c ⎠ ⎝ ⎛ N c ⎞ 116 ⎛ Nc ⎞ ⎟⇒ ⎟ ⇒ ΔE D = k 0T ln⎜ = ln⎜ ⎜N ⎟ ⎜N ⎟ T ⎝ D⎠ ⎝ D⎠ 116 = ln 2 × 1015 × T 3 / 2 − ln N D T[()]分别将 N D=1014 cm −3 ,N D=1017 cm −3代入116 15 3/ 2 = ln 2 × 10 × T − ln N D T[()]可得其分别对应得温度为16K和55K。
半导体物理学第三章习题和答案
时 Eg=0.76eV。求这两个温度时锗的本征载流子浓度。②77K 时,锗的电子浓度为 1017cm-3 ,假定受主浓度为零,而 Ec-ED=0.01eV,求锗中施主浓度 ED 为多少?
3 k 0Tmn ) 2 2 2
7 ( .1 )根据N c 2( N v 2( k 0Tm p 2
' ' N( C 77 K) 3 T N( T C 300 K) ' NC NC (
77 3 77 3 ) 1.05 1019 ( ) 1.37 1018 / cm 3 300 300
' NV NV (
77 3 77 3 ) 3.9 1018 ( ) 5.08 1017 / cm 3 300 300
5. 利用表 3-2 中的 m*n,m*p 数值,计算硅、锗、砷化镓在室温下的 NC , NV 以及本征载
流子的浓度。
3 2koTmn 2 N 2 ( ) C 2 h 2koTm p 32 5 N v 2( ) h2 Eg 1 2 koT 2 n i ( N c N v ) e Ge : mn 0.56m0 ; m p o.37 m0 ; E g 0.67ev si : mn 1.08m0 ; m p o.59m0 ; E g 1.12ev Ga As : mn 0.068m0 ; m p o.47 m0 ; E g 1.428ev
0.037
nD ND
30%不成立
80%10%不成立 0.023 1 0.026 1 e 2 ' (2) 求出硅中施主在室温下全部电离的上限 2N E D ( D )e D (未电离施主占总电离杂质数的百分比) NC koT 10% 0.1N C 0.026 2 N D 0.05 e , ND e 2.5 1017 / cm 3 N C 0.026 2
半导体物理第三章03
Ev EF p0 NV exp( ) k0T
都是由费米能级EF和温度T表示出来的,通 常把温度T作为已知数,因此这两个方程式 中还含有 n0, p0, EF三个未知数。
第三章03
2/56
为了求得它们,还应再增加一个方程 式。从3.3节(本征半导体的载流子浓度) 及3.4节(杂质半导体的载流子浓度)中 看到这第三个方程式就是在具体情况 下的电中性条件 (或称为电荷中性方程 式)。 无论是在本征情况还是只含一种杂质 的情况下,都是利用电中性条件求得 费米能级EF,然后确定本征的或只含 一种杂质的情况下的载流子统计分布 。
第三章03
19/56
式(3-85)就是施主杂质未完全电离情况下载流子浓 度的普遍公式。对此式再讨论如下两种情况: ①极低温时,N’c很小,而NA很大, N’C <<NA。 则得 (N N ) 4N (N N ) N N
n0
' ' 2 ' c A
2
c
A
c
D
A
2 4 Nc' 1 (ND N A ) N A2 2
这就是同时含有一种施主杂质和一种受主 杂质情况下的电中性条件。
第三章03
8/56
它的意义是半导体中单位体积内 的正电荷数 (价带中的空穴浓度与 电离施主杂质浓度之和)等于单位 体积中的负电荷数 (导带中的电子 浓度与电离受主杂质浓度之和)。
第三章03
9/56
当半导体中存在着若干种施主杂质和若干 种受主杂质时,电中性条件显然是:
上式表明在低温弱电离区内,导带中电子浓度与 (ND-NA)以及导带底有效状态密度Nc都成正比关系, 并随温度升高而指数增大。
半导体物理第3章课件
9
第三章 半导体中载流子的统计分布 思考题
16、某含有一些施主的p型半导体在极低温度 下(即T→0时)电子在各种能级上的分布 情况如何?定性说明随温度升高分布将如 何改变? 17、什么叫载流子的简并化?试说明其产生 的原因。有一重掺杂半导体,当温度升高 到某一值时,导带中电子开始进入简并。 当温度继续升高时简并能否解除?
14
第三章 半导体中载流子的统计分布 思考题
25、已知温度为500K时,硅ni= 4×1014cm-3 , 如电子浓度为2×1016cm-3,空穴浓度为 2×1014cm-3,该半导体是否处于热平衡状态?
15
第三章 半导体中载流子的统计分布 思考题
26、定性说明下图对应的半导体极性和掺杂状况
16
1
第三章 半导体中载流子的统计分布 思考题
2、什么叫统计分布函数?费米分布和玻尔兹 曼分布的函数形式有何区别?在怎样的条件 下前者可以过渡为后者?为什么半导体中载 流子分布可以用波尔兹曼分布描述? 3、说明费米能级EF的物理意义。根据EF位置 如何计算半导体中电子和空穴浓度?如何理 解费米能级EF是掺杂类型和掺杂程度的标志?
13
第三章 半导体中载流子的统计分布 思考题
23、定性讨论如下掺杂硅单晶费米能级位置 相对于纯单晶硅材料的改变,及随温度变化 时如何改变: (1)含有1016cm-3的硼; (2)含有1016cm-3的硼和9×1015cm-3的P; (3)含有1015cm-3的硼和9×1015cm-3的P; 24、说明两种测定施主和受主杂质浓度的实 验方法的原理?
10
第三章 半导体中载流子的统计分布 思考题
18、有四块含有不同施主浓度的Ge样品。在 室温下分别为: (1)高电导n-Ge; (2)低电导n-G;(3) 高电导p-Ge; (4)低电导p-Ge;比较四 块样品EF的位置的相对高低。分别说明它们 达到全部杂质电离或本征导电时的温度的高 低? 杂质浓度愈高,全部电离时的温度将愈高; 相应达到本征激发为主的温度也愈高。
半导体物理课件1-7章(第三章)
V
dN 2 2
2mn* 3
2
exp
E EF k0T
E
1
Ec 2 dE
积分
E
' c
导带顶能量
3
n0
dN
V
1 Ec'
Ec 2 2
2mn* 3
2
exp
E EF k0T
E Ec
1
2 dE
热平衡3状2 态下非简并半导体的导带电子浓度n0
3
n0
dN V
1 Ec'
Ec 2 2
3.2费米能级和载流子的统计分布
3.2.1 费米分布函数
⑴把半导体中的电子看作是近独立体系,即认为电子之间的相互 作用很微弱. ⑵大量电子的运动是服从量子力学规律的,用量子态描述它们的 运动状态.电子的能量是量子化的,即其中一个量子态被电子占据, 不影响其他的量子态被电子占据.并且每一能级可以认为是双重 简并的,这对应于自旋的两个容许值. ⑶在量子力学中,认为同一体系中的电子是全同的,不可分辨的. ⑷电子在状态中的分布,要受到泡利不相容原理的限制.
电子在允许的量子态上如何分布的一个统计分布
函数。
f E
1
1 exp( E EF )
k0T
EF:费米能级或费米能量,与温度、半导体材料的导电类
型、杂质的含量以及能量零点的选取有关。
一个很重要的物理参数
在一定温度下电子在各量子 态上的统计分布完全确定
17
将半导体中大量电子的集体看成一个热力系统, 由统计理论证明,费米能级EF是系统的化学势:
•半导体的导电性受温度影响剧烈。
本章讨论: 1、热平衡情况下载流子在各种能级上的分 布情况 2、计算导带电子和价带空穴的浓度,分析 它们与半导体中杂质含量和温度的关系.
半导体物理第三章半导体中载流子的统计分布
半导体物理第三章半导体中载流子的统计分布第三章半导体中载流子的统计分布第三章 Part 1 3.1 状态密度 3.2 3 2 费米能级和载流子的统计规律3.3 电子和空穴浓度的一般表达式电子和空穴浓度的般表达式 3.4 本征半导体的载流子浓度3.5 杂质半导体的载流子浓度3.6 杂质补偿半导体 3.7 3 7 简并半导体3.1 状态密度状态密度g(E)dZ(E) g( E ) = dE表示在能带中能量E附近单位能量间隔内的量子态数。
dZ 为E到E+dE内的量子态数计算状态密度的方法:1、k空间的量子态密度 1 k空间的量子态密度2、dZ或Z(E)dZ=k空间量子态密度×能量间隔对应的k空间体积Z(E)=k空间量子态密度×能量为E的等能面在k空间的体积一、导带底附近的状态密度1、k空间的量子态密度对于边长为L的立方晶体,波矢对于边长为L的立方晶体波矢 k 的三个分量为的三个分量为: n n n 即( k x = x , = y , z = z ) k ky k x ,k y ,k z L L L 其中 n x , n y , n z 取 0,±1,±2… 每个代表点都与体积为每一个代表点都与体积为 1 = 1 的一个小的个小 L3 V 立方体相联系即 k 空间中,电子的状态密度是V 若考虑电子的自旋,量子态密度是2V。
若考虑电子的自旋量子态密度是2V一、导带底附近的状态密度2、求dZ或Z 2 dZ Z①等能面为球面:1 h2k2 假设导带底在k=0,即 E (k ) = EC + * 2 mn以k 为半径的球面对应E,以 k + d k 为半径的球面对应E+dEdZ = 2V × 4πk dk由 E - k 关系可解得关系可解得:(2m ) ( E - EC ) k= h2n112m dE kdk = 2 hn一、导带底附近的状态密度得到(2m ) dZ = 4π V ( E - EC ) dE h1 23 ? 2 n 3所以(2m ) g ( E ) = 4π V ( E - EC ) h3 ? 2 n 31 2一、导带底附近的状态密度②实际材料:对于Si、Ge来说,在导带底附近等能面为旋转椭球面假设有S个能谷,在每个能谷附近:2 2 ? k x + k y k z2 ? h E( k ) = Ec + + ? ? 2 ? mt ml ? 2将上式变形2 kx2mt ( E ? Ec ) h2态数为+2 ky2mt ( E ? Ec ) h2k z2 2ml ( E ? Ec ) h2=1能量为E的等能面在k空间所围成的s个旋转椭球体积内的量子4 2 mt ( E ? Ec ) [2 ml ( E ? Ec )]1 2 Z ( E ) = 2Vs π 3 h2 h一、导带底附近的状态密度则导带底(附近)状态密度为(8s m ml ) dZ ( E ) gC ( E ) = = 4π V dE h2 2 t 312( E ? Ec)12* mn = mdn = ( s 2 mt2 ml )1 3 令,称 m 为导带底电子状态密度 dn有效质量,则有效质量则(2m ) dZ d (E) = 4π V gC ( E ) = d E h* 32 n 3( E ? Ec)12二、价带顶的状态密度①等能面为球面:①等能面为球面h2k 2 E (k ) = Ev 2m* pg v ( E ) = 4π V ?(2 m * ) 3 2 p h3( Ev - E )1 2②实际材料:价带顶在价带顶在k=0,而且重空穴带(mp)h和轻空穴带 (mp)l在布里渊区而空穴带 ( ( 在布渊区的中心处重合。
半导体物理第三章
对硅、锗等半导体,其中的
• mdn称为导带底电子状态密度有效质量。 对于Si,导带底有六个对称状态,s=6,mdn =1.08m0 对于Ge,s=4,mdn =0.56m0
3.1.2 状态密度
• 同理可得价带顶附近的情况 – 价带顶附近E(k)与k关系
的量子态基本没有电子占据,而能量小于费米能级的
量子态基本为电子占据,所以费米能级的位置比较直
观地标志了电子占据量子态的情况,即——
EF标志着电子填充能级的水平
3.2.3 费米分布函数性质
⑶ E-EF>>kT时,
fE e x E p E F e x E F p e x E p A ex E p ) (
代入得到:
dZ2V 3 (2m n *3)32(EEc)12dE
• 根据公式,各向同性半导体导带底附近状态密度:
gc(E)d dE Z 2V2(2m n * 3)32(EE c)12
• 价带顶附近状态密度
gv(E)2V 2(2m * p 3)32(EvE)12
3.1.2 状态密度
• ②对于各向异性,等能面为椭球面的情况 设导带底共有s个对称椭球,导带底附近状态密度为:
第3章 半导体中载流子的统计分布
● 3.1 ● 3.2 ● 3.3 ● 3.4 ● 3.5 ● 3.6
状态密度 费米能级和载流子的统计分布 本征半导体的载流子浓度 杂质半导体的载流子浓度 一般情况下的载流子统计分布 简并半导体
• 完整的半导体中电子的能级构成能带,有杂质和缺 陷的半导体在禁带中存在局部化的能级.
对于三种主要的半导体材料,在室温(300K)情况 下,它们的有效状态密度的数值列于下表中。
半导体物理学(第7版)第三章习题和答案
第三章习题和答案1. 计算能量在E=E c 到 之间单位体积中的量子态数。
2*n 2C L 2m 100E E π+=解:2. 试证明实际硅、锗中导带底附近状态密度公式为式(3-6)。
322233*28100E 21233*22100E 0021233*231000L 8100)(3222)(22)(1Z VZZ )(Z )(22)(2322C22CL E m h E E E m V dE E E m V dE E g Vd dEE g d E E m V E g cn c C nlm h E C nlm E C nn c n c πππππ=+-=-====-=*++⎰⎰**)()(单位体积内的量子态数)()(21)(,)"(2)()(,)(,)()(2~.2'213''''''2'21'21'21'2222222C a a lt tz y x ac c zla z y t ay x t a xz t y x C C e E E m hk V m mm m k g k k k k k m h E k E k m m k k m m k k m m k mlk m k k h E k E K IC E G si -=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+∙=+++====+++=*****系中的态密度在等能面仍为球形等能面系中在则:令)(关系为)(半导体的、证明:[]3123221232'2123231'2'''')()2(4)()(111100)()(24)(4)()(~ltn c nc l t t z m m sm VE E hm E sg E g si V E E h m m m dE dz E g dkk k g Vk k g d k dE E E =-==∴-⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎣⎡+∙∙==∴∙=∇∙=+**πππ)方向有四个,锗在(旋转椭球,个方向,有六个对称的导带底在对于即状态数。
半导体物理学——半导体中载流子的统计分布
1− fB (E) = Bek0T
15
半导体物理学 黄整
第三章 半导体中载流子的统计分布
结论
−E
fB (E) = Ae k0T
E
1− fB (E) = Bek0T
导带中电子分布可用电子的玻尔兹曼分布函数描 写(绝大多数电子分布在导带底);价带中的空 穴分布可用空穴的玻尔兹曼分布函数描写(绝大 多数空穴分布在价带顶)
练习
推导价带顶附近状态密度gv(E)
gv (E)
=
dz dE
=
V
2π 2
(2mp* )3/ 2 h3
(Ev
− E)1/ 2
10
半导体物理学 黄整
第三章 半导体中载流子的统计分布
费米分布函数
根据量子统计理论,服从泡利不相容原理的电子 遵循费米统计律
能量为E的一个量子态被一个电子占据的概率为
f (E) =
半导体物理学
黄整
第三章 半导体中载流子的统计分布
热平衡状态
在一定温度下,载流子的产生和载流子的复 合建立起动态平衡,这时的载流子称为热平 衡载流子。
半导体的热平衡状态受温度影响,特定温度 对应特定的热平衡状态。
半导体的导电性受温度的强烈影响。
2
半导体物理学 黄整
第三章 半导体中载流子的统计分布
dz
=
V
2π 2
(2mn* )3/ 2 h3
(E − EC )1/ 2 dE
9
半导体物理学 黄整
第三章 半导体中载流子的统计分布
状态密度
dz
=
V
2π 2
(2mn* )3/ 2 h3
(E − EC )1/ 2 dE
半导体物理 第三章
积分后可得热平衡状态下非 简并半导体的导带电子浓度
30
导带顶能量
n0
/ Ec
Ec
(2m ) 4 h
* 3/ 2 n 3
e
E EF kT 0
( E Ec ) dE
1/ 2
令x ( E Ec ) /(k0T ) ( E Ec )1/ 2 (k0T )1/ 2 x1/ 2 d ( E Ec ) (k0T )dx x' ( Ec' Ec ) /(k0T )
33
p0 4
(2m ) h
* 3/ 2 p 3
e
Ev EF kT 0
Hale Waihona Puke x'0
x1/ 2e x dx
2
(,Ev' )的空穴数 极少,忽略不计
* p 0 3
0
x e dx
Ev EF kT 0
1/ 2 x
p0 2
其中,μ:系统的化学势;
半导体能带内所有量子 态中被电子占据的量子 态数等于电子总数
F: 系统的自由能; N:电子总数,决定费米能级的条件是: f ( Ei ) N
i
上式的意义是:当系统处于热平衡状态,也不对外界作
功的情况下,系统中增加一个电子所引起系统自由能的变 化,等于系统的化学势,也就是等于系统的费米能级。
f B ( E ) g c ( E )dE e
E EF kT 0
( E Ec )1/ 2 dE
单位体积中的电子数即电子浓度
(2m ) dN dn 4 V h
半导体物理第三章习题答案
第三篇 题解 半导体中载流子的统计分布刘诺 编3-1、对于某n 型半导体,试证明其费米能级在其本征半导体的费米能级之上。
即E Fn >E Fi 。
证明:设n n 为n 型半导体的电子浓度,n i 为本征半导体的电子浓度。
显然n n > n iin i n F F F c c F c c E E T k E E N T k E E N >⎪⎪⎭⎫⎝⎛--⋅>⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--⋅则即00exp exp即得证。
3-2、试分别定性定量说明:(1) 在一定的温度下,对本征材料而言,材料的禁带宽度越窄,载流子浓度越高;(2) 对一定的材料,当掺杂浓度一定时,温度越高,载流子浓度越高。
解:(1) 在一定的温度下,对本征材料而言,材料的禁带宽度越窄,则跃迁所需的能量越小,所以受激发的载流子浓度随着禁带宽度的变窄而增加。
由公式Tk E v c i g eN N n 02-=也可知道,温度不变而减少本征材料的禁带宽度,上式中的指数项将因此而增加,从而使得载流子浓度因此而增加。
(2)对一定的材料,当掺杂浓度一定时,温度越高,受激发的载流子将因此而增加。
由公式可知,这3-3、若两块Si 样品中的电子浓度分别为2.25×1010cm -3和6.8×1016cm -3,试分⎪⎪⎭⎫⎝⎛--=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--⋅=Tk E E N p Tk E E N n V F V Fc c 0000exp exp 和别求出其中的空穴的浓度和费米能级的相对位置,并判断样品的导电类型。
假如再在其中都掺入浓度为2.25×1016cm -3的受主杂质,这两块样品的导电类型又将怎样?解:由 200i n p n = 得()()()()⎪⎪⎩⎪⎪⎨⎧⨯≈⨯⨯==⨯=⨯⨯==--3316210022023101021001201103.3108.6105.1100.11025.2105.1cm n n p cm n n p i i可见,型半导体本征半导体n p n p n →>→≈02020101又因为 Tk E E v v F e N p 00--=,则⎪⎪⎩⎪⎪⎨⎧+=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⨯⨯⋅+=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⋅+=+≈⎪⎪⎭⎫⎝⎛⨯⨯⋅+=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⋅+=eV E E p N T k E E eV E E p N T k E E v v n v F v v v v F 331.0103.3101.1ln 026.0ln 234.0100.1101.1ln 026.0ln 319020210190101 假如再在其中都掺入浓度为2.25×1016cm -3的受主杂质,那么将出现杂质补偿,第一种半导体补偿后将变为p 型半导体,第二种半导体补偿后将近似为本征半导体。
半导体物理第三章
k空间状态分布
在k 空间量子态的分布是均匀的 量子态的密度为V/83(V立方晶体的体积)。 如果计入自旋,每个量子态可以允许两个自旋相反的电 子占据一个量子态。
换言之,k空间每个量子态实际上代表自旋方向相反的 两个量子态
所以,在k空间,电子允许的量子态密度为2V/83。 注意:这时每个量子态最多容纳一个电子。
(3). E-EF>>kT时,
f
E
exp
E
EF kT
exp
EF kT
exp
E kT
此时分布函数的形式同经典的波尔兹曼分布是一致的.对 于能级比EF高很多的量子态,被电子占据的几率非常小.
(4). EF-E>>kT时,
1
f
E
exp
EF kT
E
exp
EF kT
exp
E kT
f
EF
1
f
EF
1 2
EF实际上是一个参考能级,低于EF的能级被电子占据的 几率大于空着的几率;高于EF的量子态,被电子占据的几率 则小于空着的几率.
1.0
1 f E
0.5
f E
0
E EF KT
分布函数随 E EF KT 的变化
从图中可以看出,函数 f E和1 f E相对于费米能级EF
是对称的.
第3章 半导体中载流子的统计分布
本章重点
计算一定温度下本征和杂质半导体中热平衡载 流子浓度;
探讨半导体中载流子浓度随温度变化的规律。
热平衡状态
一定的温度下,两种相反的过程(产生和复合)建 立起动态平衡
电子从价带跃迁到导带(本征激发),形成导电电 子和价带空穴。
半导体物理学第三章习题和答案
第三章习题和答案1. 计算能量在E=E c 到2*n 2C L 2m 100E E π+= 之间单位体积中的量子态数。
解:2. 试证明实际硅、锗中导带底附近状态密度公式为式(3-6)。
322233*28100E 21233*22100E 0021233*231000L 8100)(3222)(22)(1Z VZZ )(Z )(22)(2322C22CL E m h E E E m V dE E E m V dE E g Vd dEE g d E E m V E g cn c Cn lm h E C nlm E C nn c n c πππππ=+-=-====-=*++⎰⎰**)()(单位体积内的量子态数)()(21)(,)"(2)()(,)(,)()(2~.2'213''''''2'21'21'21'2222222C a a lt tz y x ac c zla z y t ay x t a xz t y x C C e E E m hk V m m m m k g k k k k k m h E k E k m m k k m m k k m m k mlk m k k h E k E K IC E G si -=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+•=+++====+++=*****系中的态密度在等能面仍为球形等能面系中在则:令)(关系为)(半导体的、证明:3. 当E-E F 为1.5k 0T ,4k 0T, 10k 0T 时,分别用费米分布函数和玻耳兹曼分布函数计算电子占据各该能级的概率。
4. 画出-78o C 、室温(27 o C )、500 o C 三个温度下的费米分布函数曲线,并进行比较。
5. 利用表3-2中的m *n ,m *p 数值,计算硅、锗、砷化镓在室温下的N C , N V 以及本征载[]3123221232'2123231'2'''')()2(4)()(111100)()(24)(4)()(~l t n cn c l t t z m m s m V E E h m E sg E g si V E E h m m m dE dz E g dkk k g Vk k g d k dE E E =-==∴-⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎣⎡+••==∴•=∇•=+**πππ)方向有四个,锗在(旋转椭球,个方向,有六个对称的导带底在对于即状态数。
半导体物理_第三章 ppt课件
在正常温度下,将这个施主电子激发到导带上所需的能 量显然要远远低于将共价键中的某个电子激发到导带所需的 能量。施主电子进入导带之后就可以参与导电,而留下带正
电的磷离子则在晶体中形成固定的正电荷中心。 Ed就是施主电子在半导体中引入的能级,叫做施主能级。
施主能级位于禁带中靠近导带底部的位置,通常将其
对于本征半导体材料来说,费米-狄拉克统计分布可 以简化为玻尔兹曼分布函数,即:
半导体物理_第三章
半导体物理_第三章
其中NC称为导带的有效态密度函数,若取 mn*=m0,则当T=300K时, NC=2.5X1019cm-3, 对于大多数半导体材料来说,室温下NC确实是在 1019cm-3的数量级。
5. 掌握热平衡状态下半导体材料中两种载流子 浓度与掺杂之间的函数关系;
6. 熟悉费米能级位置与半导体材料中掺杂浓度 之间的函数关系;
半导体物理_第三章
所谓热平衡状态:不受外加作用力影响的状 态,即半导体材料不受外加电压、电场、磁场、 温度梯度、光照等的影响。此时半导体材料的 各种特性均不随时间变化,即与时间无关。它 是我们分析各种稳态和瞬态问题的起点
半导体物理_第三章
半导体物理_第三章
半导体物理_第三章
其中NV称为价带的有效态密度函数,若取mp*=m0,则 当T=300K时, NV=2.5X1019cm-3以及费米能级的位置。
半导体物理_第三章
在一定温度下,对于给定的半导体材料来 说,NC和NV都是常数。下表给出了室温下( T=300K)硅、砷化镓锗材料中的导带有效态 密度函数、价带有效态密度函数以及电子和空 穴的有效态密度质量。
半导体物理_第三章
第四章 热平衡状态下的半导体 本章学习要点: 1. 掌握求解热平衡状态下半导体材料中两种载
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p0 = ∫
价带底能量
Ev
/ Ev
gv (E) [1 − f ( E )] dE V ( 2m ) h
* 3/ 2 p 3
= 4π
∫
Ev
/ Ev
e
E − EF kT 0
( Ev − E ) dE
1/ 2
令x = ( Ev − E ) /(k0T ) ( Ev − E )1/ 2 = (k0T )1/ 2 x1/ 2 d ( Ev − E ) = −(k0T )dx x' = ( Ev − Ev' ) /(k0T )
导带中大多数电子是在导带底附近,而价带中大多数空穴 则在价带顶附近。 1. 导带中电子浓度 在能量E~(E+dE)之间有: 量子态:dZ=gc(E)dE 电子占据能量为E的量子态的概率: 则电子数为:
29
f B (E) = e
E − EF − kT 0
dN = dZ ⋅ f B ( E ) ( 2m ) = 4πV h
利用前述方法可得:
k12 + k 2 2 k3 2 h E ( k ) = Ec + + 2 mt ml
2
电子态 密度有 15 效质量
2. 价带顶状态密度 在实际Si、Ge中,价带中起作用的能带是极值相重合的 两个能带,与这两个能带相对应的有轻空穴有效质量(mp)l和 重空穴有效质量(mp)h,因此价带顶附近状态密度应为这两个 能带的状态密度之和,称为价带顶空穴的状态密度有效质量 价带顶空穴的状态密度有效质量 (空穴态密度有效质量 空穴态密度有效质量)。价带顶状态密度式子与球形等能面情 空穴态密度有效质量 况下的价带状态密度式(5)有相同的形式,
电子占据能量 为导带底Ec的 为导带底 的 量子态的概率
导带中所有量子态都集中在导带底Ec,而其状态密度为 , 导带中所有量子态都集中在导带底 ,而其状态密度为Nc, 则导带中的电子浓度是Nc中有电子占据的量子态数 则导带中的电子浓度是 中有电子占据的量子态数
32
2. 价带中空穴浓度 同理,热平衡状态下,非简并半导体价带中空穴浓度为:
5
3.1 状态密度
一、概念
6
二、计算状态密度的步骤
首先算出单位k空间中的量子态数,即k空间中的状态密度 空间中的状态密度; 空间中的状态密度 然后算出k空间中与能量E~(E+dE)间所对应的k空间体积 空间体积, 空间体积 并和k空间中的状态密度相乘,从而求得在该能量间隔的 量子态数dZ; 量子态数 最后,根据式(1)求得状态密度 状态密度g(E). 状态密度
dZ = 2V × 4πk dk
2
由式(2)可得:
11
* (2mn )1/ 2 ( E − Ec )1/ 2 k= h
* mn dE kdk = 2 h
代入上式可得:
12
上式表明,导带底附近 单位能量间隔内的量子 态数目,随着电子的能 量增加按抛物线关系增 按抛物线关系增 大。即电子能量越高, 状态密度越大。如右图 所示状态密度与能量的 关系。
(nx = 0,±1,±2 L) (n y = 0,±1,±2 L) (nz = 0,±1,±2 L)
任一k值 任一 值,沿一个坐标轴 方向均为1/L的整数倍 的整数倍, 方向均为 的整数倍, 在k空间均匀分布 空间均匀分布
其中,L是半导体晶体的线度,V=L3是晶体体积。
8
每个允许的能量状态在k空间中与由整数组(nx,ny,nz)决定 的一个代表点 (kx,ky,kz)相对 应; 每一代表点都和 体积为1/V=L3的 一个立方体相联 系。
7
三、k空间中量子态的分布 空间中量子态的分布
k空间 空间就是以波矢k的三个互相正交的分量kx、ky、kz为坐标 空间 轴的直角坐标系所描写的空间。 k空间中电子的波矢k只能取分立值,而不能取任意值,其允 许值为:
nx k x = L ny k y = L nz k z = L
1 由式 f ( E ) = E − EF 1 + exp kT 0 Fra bibliotek 可知:
E < EF时,f(E)=1;E > EF时,f(E)=0; 即:热力学温度为0K时,能量小于EF的量子态被电子占据 的概率为100%,故这些量子态上都是有电子的;反之,则 被电子占据的概率为0,故这些量子态上都没有电子,是 空的; 热力学温度为0K时,费米能级可看成量子态是否被电子占 是否被电子占 据的一个界限。如下图所示。 据的一个界限
( E − Ec ) dE
1/ 2
积分后可得热平衡状态下非 简并半导体的导带电子浓度
30
导带顶能量
n0 = ∫
/ Ec
Ec
( 2m ) 4π h
* 3/ 2 n 3
e
E − EF − kT 0
( E − Ec ) dE
1/ 2
令x = ( E − Ec ) /(k0T ) ( E − Ec )1/ 2 = (k0T )1/ 2 x1/ 2 d ( E − Ec ) = (k0T )dx x' = ( Ec' − Ec ) /(k0T )
∫
∞
0
x e dx
1/ 2 − x
(2πm k T ) =2 h
* n 0 3
3/ 2
e
Ec − E F − k 0T
* (2πmn k0T ) 3 / 2 令N c = 2 h3 导带有效状态密度
Ec − E F n0 = N c exp − k0T
9
k空间中电子的允许量子态密度 允许量子态密度
10
四、球形等能面情况下的状态密度
1. 导带底状态密度 为简单起见,先考虑能带极值在k=0、球形等能面的情况。
在k空间中,以|k|、|k+dk|为半径作两个球面,分别为能量 E(k)和(E+dE)的等能面。两个球壳间的体积是4πk2dk。则在能 量E ~ (E+dE)之间的量子态数为:
第三章 半导体中载流子的统计分布
3.1 3.2 3.3 3.4 状态密度 费米能级和载流子的统计分布 本征半导体的载流子浓度 杂质半导体的载流子浓度
3.5 一般情况下的载流子统计分布 3.6 简并半导体
1
本章重点: 本章重点:
状态密度 热平衡态时非简并半导体中载流子的浓度分布 费米能级E 费米能级 F的相对位置
2
热平衡状态
半导体中的导电电子浓度和 空穴浓度都保持一个稳定值
3
热平衡载流子:处于热平衡状态下的导电电子和空穴; 热平衡载流子 当温度改变时,破坏了原来的平衡状态,又重新建立起新 的平衡状态,热平衡载流子浓度也将随之发生变化,达到 另一稳定数值。
4
热平衡状态时载流子浓度决定于: 热平衡状态时载流子浓度决定于:
数。
18
3.2 费米能级和载流子的统计分布
一、费米分布函数
1. 定义
服从泡利不相容原理
描写热平衡状态下, 描写热平衡状态下,电子在 允许的量子态上如何分布的 一个统计分布函数 19
2. 费米能级 F 费米能级E 把半导体中大量电子的集体看成一个热力学系统 热力学系统,则费 热力学系统 米能级是系统的化学势 化学势,即: 化学势
∂F EF = µ = ∂N T
其中,µ:系统的化学势; F: 系统的自由能; N:电子总数,决定费米能级的条件是: ∑ f ( Ei ) = N
i
半导体能带内所有量子 态中被电子占据的量子 态数等于电子总数
上式的意义 意义是:当系统处于热平衡状态,也不对外界作 意义 功的情况下,系统中增加一个电子所引起系统自由能的变 化,等于系统的化学势,也就是等于系统的费米能级。
22
费 米 分 布 函 数 与 温 度 关 系 曲 线
23
T>0K时: E < EF时,f(E)>1/2; E = EF时,f(E)=1/2; E > EF时,f(E)<1/2; 即:系统热力学温度大于0K时,能量小于EF的量子态被电 子占据的概率大于50%;能量等于EF的量子态被电子占据 的概率等于50%;能量大于EF的量子态被电子占据的概率 小于50%; 热力学温度大于0K时,费米能级是量子态基本上 基本上被电子占 基本上 据或基本上是空的的一个标志。如上图所示; 随着温度的升高,电子占据能量小于费米能级的量子态的 概率下降,而占据能量大于费米能级的量子态的概率增大.
24
一般可以认为: 在温度不很高时,能量大于费米能级的量子态基本上没有 被电子占据;能量小于费米能级的量子态基本上为电子所 占据; 电子占据费米能级的概率在各种温度下总是1/2; 所以费米能级的位置比较直观地标志了电子占据量子态的 情况,通常就说 费米能级标志了电子填充能级的水平 费米能级标志了电子填充能级的水平 了电子填充能级的水平; 费米能级位置较高,说明有较多的能量较高的量子态上有 电子。
20
处于热平衡状态的系统有统一 统一的化学势,故处于热平衡状 统一 态的电子系统有统一的费米能级; 费米能级与温度、半导体材料的导电类型、杂质的含量以 及能量零点的选取有关; 只要知道了费米能级的数值,在一定温度下,电子在各量 子态上的统计分布就完全确定。
21
3. 费米分布函数的特性 T=0K时:
13
2. 价带顶状态密度 对于价带顶情况,其附近E(k)与k的关系为:
E ( k ) = Ev −
h (k + k + k )
2 2 x
2m
2 y * p
2 z
14
五、旋转椭球等能面情况下的状态密度
1. 导带底状态密度 对于实际的Si、Ge半导体,在其导带底附近,等能面是旋 转椭球面;导带底有s个(Si:6,Ge:4)状态;极值Ec不在k=0 处。则E(k)与k的关系为: