cpk基础知识

A l 1 n

CPK

A l 1 n

和Cpk 相关的几个重要概念

单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格。如考试成绩不得低于80分；双边规格：有上下限和中心值，此时数据越接近中心值越好；如某长度规格2.8±0.2mm ；◆单边规格和双边规格

◆几个相关的常见缩写

USL ：Upper specification limit ，规格上限；LSL ：Low specification limit ，规格下限；

C ：规格中心；

X ：平均值=(X 1+X 2+… …+X n ) /n ，(n 为样本数)；T ：规格公差=

USL-LSL

◆标准偏差σ

表示数据的离散程度,标准偏差越小，这些值偏离平均值就越少，反之亦然。σ=1

N

෍i=1

N

x i −x 2

因为标准偏差是用数据整体计算，所以当数据量大太时，就不便以操作,而且不符合现场需要。所以一般情况下,会用样本标准偏差δ来代替总体标准偏差δ

σ=

1

N −1

෍i=1N

x i −x 2

整体

样本

•

对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca ；

•对于双边规格，

Ca:Capability of Accuracy 制造准确度。

Ca 代表制造平均值偏离规格中心值之程度。若其值越小，表示平均值越接近规格中心值，亦即质量越接近规格要求之水平。等级Ca 值处理原則

A

|Ca|<12.5%

需继续保持.

B 12.5%<|Ca|<25%有必要尽可能将其改进为A 級

C 25%<|Ca|<50%作业员可能看错规格不按作业标准操作。检讨作业规格及作业标准.D

50%<|Ca|

应采取紧急措施,全面检讨所有可能影响的因素，必要时停止生产

••••••••••••••••••M

M

准确度差

准确度好

Cp:Capability of Precision 精密度。

Cp 适用于统计稳定过程，是过程在受控状态下的实际加工能力，不考虑过程的偏移，是过程固有变差（仅由于普通原因产生的变差）的6σ范围。•

对于只有规格上限和规格中心的规格：

•对于双边规格：

•对于只有规格下限和规格中心的规格：

等级

Cp 值处理原則

A+≧1.67无缺点、考虑降成本A 1.33 ≦ Cp ＜1.67状况良好，维持现状B 1.00 ≦ Cp ＜1.33 需要持续改进到A C 0.67 ≦ Cp ＜1.00

不良较多，必须提升能力D

Cp ＜0.67

制造能力太差，需要重新整改设计

••••••••••••

••••••不精密

精密

设计容许范围(Design Tolerance)

生产能力(Product Capability)

A l 1 n

偏移系数

Su

S L

K

偏移量=

_x

M

M -_x

Su=规格上限；SL=规格下限；M =规格中心

•T =S u –S L =T u -T L 注。

•偏移系数K

K =

m −x ΤT 2K =1−Ca

A l 1 n

Cp 与Ca

不精密

精密

准确

不准确

••••••••••••••••••••••

•••••••

•平均偏离中心

平均偏离中心

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什么是Cpk?

Cpk:index of process capability 工序能力指数/过程能力指数。

Cpk 值0.67，1.0，1.33，1.67分别对应的是六西格玛水平的2，3，4，5水平等级，

实质作用是反映制造合格率的高低。主要用于周期性的过程评价，反映的是在稳定状态下的实际加工能力，有助于过程管理水平的提高。

•Cpk=Cp * (1-Ca ); Ca 好，Cp 差Cp 好，Ca 差

Cpk 好

.

.......

.....

...等级Cpk 值

处理原則

A+≧1.67无缺点、考虑降成本A 1.33 ≦ Cp ＜1.67状况良好，维持现状B 1.00 ≦ Cp ＜1.33 需要持续改进到A C 0.67 ≦ Cp ＜1.00

不良较多，必须提升能力

D

Cp ＜0.67 制造能力太差，需要重新整改设计

Cpk ≦ Cp •

Cpk=min( ，

)

即取两者最小值，但不管采用那种方式，结果都是一样的。

仅给出规格上限S u

μ

f （x ）

S L

σ

x

μ-S L

σ

3)

(X USL Cpu CPK -=

= 仅给出规格下限SL

σ

3)

(LSL X CpL Cpk -=

=μ

f （x ）

S U

σ

x

S u -μ

单边公差时：由于没有规格中心值，故Ca =N/A ，故定义Cpk=Cp