6.半导体中的光吸收和光探测器

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

W
n, pE
③光检测器和它有关电路的时间常数τRC,主要随电 阻和电容的增大而增大。
总的时间常数: r
2 di
2 dr
2 RC
减小耗尽层宽度W,可以减小渡越时间τdr,从而提高截 止频率fc,但是同时要降低量子效率η。
耗 尽 区 宽 度m /
内量子效率
1000 600 400 200 100 60 40 20 10 6 4 1.0
6.4 半导体光电探测器
一、光电二极管
光电二极管(PD)把光信号转换为电信号的功能, 是由半导体PN结的光电效应实现的。
在PN结界面上,由于电子和空穴的扩散运动,形 成内建电场。内建电场使电子和空穴产生与扩散运动 方向相反的漂移运动,使能带发生倾斜, 形成耗尽层。 当入射光作用在PN结时,如果光子的能量大于或等于 带隙(hv≥Eg), 便发生受激吸收,即价带的电子吸收光 子的能量跃迁到导带形成光生电子 - 空穴对。 在耗尽 层,由于内建电场的作用,电子向N区运动,空穴向P 区运动, 形成漂移电流。
声子能量非常小(Ep<0.1 eV),所以最小的光吸收能量 往往比较接近于禁带宽度。
(4)参考曲线:
常见半导体的带间光吸收谱曲线见图2。 IV族半导体属间接跃迁能带结构,它们的光吸收 谱曲线较缓;而III-V族半导体属直接跃迁能带结构,它 们的光吸收谱曲线都很陡峭。 此外,半导体中载流子的光吸收谱曲线一般都位于 带间光吸收谱曲线的截止波长以外。因为载流子光吸收 是在能带内部的各个能级之间跃迁,所以吸收的光子能 量更小,吸收的光波长更长。
第六章 半导体中的光吸收和光探测器
6.1 半导体中的光吸收理论 6.2 半导体中的本征吸收和其他光吸收 6.3 半导体光电探测器的材料和性能参数 6.4 半导体光电探测器
6.1 半导体中的光吸收理论
(1) 光吸收系数:
半导体吸收光的机理主要有带间跃迁吸收(本 征吸收)、载流子吸收、晶格振动吸收等。吸收光的 强弱常常采用描述光在半导体中衰减快慢的参量—— 吸收系数α来表示;若入射光强为I,光进入半导体中 的距离为x,则定义:
的下限,该能量下限也就对应于光吸收的长波限——
截止波长g :
g (m)
1.24 Eg (eV )
一些用于光电探测器的半导体的禁带宽度、截止 波长和带隙类型,如下表所示。
根据光吸收截止波长的这种关系,即可通过光吸 收谱曲线的测量来确定出半导体的禁带宽度。
由于半导体禁带宽度会随着温度的升高而减小,
所以g 也将随着温度的升高而增长。
为什么半导体的带间光吸收谱曲线具有以上 一些特点呢?
——与半导体的能带结构有关。
(3) 对带间光吸收谱曲线的简单说明:
① 因为半导体的带间光吸收是由于价带电子跃迁到 导带所引起的,则光吸收系数与价带和导带的能态密 度有关。
在价带和导带中的能态密度分布较复杂, 在自由 电子、球形等能面近似下,能态密度与能量是亚抛物 线关系,在价带顶和导带底附近的能态密度一般都很 小,因此,发生在价带顶和导带底附近之间跃迁的吸 收系数也就都很小;随着能量的升高,能态密度增大, 故吸收系数就相应地增大,从而使得吸收谱曲线随光 子能量而上升。
然而,实际晶体中,禁戒跃迁并不是完全不会发 生,禁戒跃迁也是一种吸收光的跃迁形式,只是跃迁 几率非常小——远小于容许跃迁。
这是由于能带之间的相互作用会使得电子状态的 奇偶性发生一点改变,禁戒被松动,所以奇偶性相同 的电子状态之间,也有可能发生一定几率的光吸收跃 迁——禁戒跃迁。
6.2 半导体中的本征吸收和其他光吸收
③ GaAs和Si的光吸收效率比较:
• 直接跃迁带隙的GaAs:
GaAs的光吸收谱曲线上升得比较陡峭,这是由于 GaAs具有直接跃迁能带结构的缘故。在此,当价电子 吸收了足够能量的光子、从价带跃迁到导带时,由于它 的价带顶与导带底都在布里渊区的同一点上(即 kvmax=kcmin),则在跃迁时动量几乎不会发生变化:
响应度R:定义为单位入射光功率作用到探测器 上后在外电路中产生的光电流的大小。
R
I p 光电流
Pi
电子数 q
光子数 h
q
q
h
e
hc
A
W
2. 暗电流和噪声
理想的光电探测器,在无光照时应该没有光电流, 然而实际中由于:①在耗尽层中存在有载流子产生复 合电流,②耗尽层边界上少数载流子的扩散流,③表 面漏电流,使得无光时存在一个小电流,无光时的电 流称为暗电流。
ke k p 光子动量 0
同时能量守恒规律为: 光子能量hv=Eg
由于这种吸收光的直接跃迁既符合能量守恒、又符
合动量守恒的规律,则这种光吸收的效率很高,使得光
吸收系数将随着光子能量的增加而快速增大,从而形成
陡峭的光吸收谱曲线。
这时,吸收系数与光子能量hv和禁带宽度Eg之间的 函数关系可以表示为
1 exp 0W
1 R1 exp 0d1 1 exp 0W
Si探测器量子效率与波长、吸收层厚度的关系图
1.0
= 90 %
0.8
In GaAs
70 %
0.6
Si
50 %
Ge
0.4 30 %
(·W - 1)
0.2 10 %
0 0.7 0.9 1.1 1.3 1.5 1.7 m
图 PIN光电二极管响应度、量子效应率与波长的关系
半导体对光的吸收机制大致可分为: ①本征吸收; ②激子吸收; ③晶格振动吸收; ④杂质吸收; ⑤自由载流子吸收。
参与光吸收跃迁的电子可涉及四种: ①价电子; ②内壳层电子; ③自由电子; ④杂质或缺陷中的束缚电子。
6.3 半导体光电探测器的材料和性能参数
一、常用的半导体光电探测器材料
光电二极管通常要施加 适当的反向偏压,目的是 增加耗尽层的宽度,缩小 耗尽层两侧中性区的宽度, 从而减小光生电流中的扩 散分量。
由于载流子扩散运动比漂移运动慢得多,所以减 小扩散分量的比例便可显著提高响应速度。但是提高反 向偏压,加宽耗尽层,又会增加载流子漂移的渡越时间, 使响应速度减慢。为了解决这一矛盾, 就需要改进PN 结光电二极管的结构。
光电效应示意图
在耗尽层两侧是中性区,由于热运动,部分光生电 子和空穴通过扩散运动可能进入耗尽层,然后在内建电 场作用下,形成和漂移电流相同方向的电流。光生漂移 电流分量和光生扩散电流分量的总和即为光生电流。
当与P区和N区连接的电路开路时,便在两端产生 电动势。 当连接的电路闭合时,N区电子通过外部电路 流向P区。同样,P区的空穴流向N区, 便形成了光生电 流。 当入射光变化时,光生电流随之作线性变化,从而 把光信号转换成电信号。这种由PN结构成,在入射光作 用下,由于受激吸收产生电子-空穴对的运动,在闭合电 路中形成光生电流的器件,就是简单的光电二极管(PD)。
【注】带间光跃迁的量子力学规则:
按照量子力学的跃迁理论,电子的跃迁需遵从——选 择定则。
满足选择定则的跃迁有两种:容许跃迁和禁戒跃迁。 这是由于电子在跃迁时的初态和终态的奇偶性需要符合一 定的要求,才能吸收光而发生跃迁。
波函数奇偶性不同的状态之间的跃迁是容许跃迁,波 函数奇偶性相同的状态之间的跃迁是禁戒跃迁。例如电子 从s态跃迁到p态是可以的——容许跃迁,但是从s态跃迁到 s态却是不可以的——禁戒跃迁。
第二项2eIdB是暗电流产生的噪声。
均方热噪声电流
iT2
4KBTB R
式中,T为等效噪声温度,R为等效电阻。
因此, 光电二极管的总均方噪声电流为:
i2
2e(I
p
Id
)B
4 K BTB R
3. 响应时间或频率带宽
光电二极管对高速调制光信号的响应能力用响应时 间τ或截止频率fc(带宽B)表示。
响应时间通常用光生电流脉冲前沿由最大幅度的 10%上升到90%,或后沿由90%下降到10%的时间来衡 量,有时这两者可能不同。
均方散粒噪声电流〈 i2sh〉=2e(IP+Id)B
式中,B为放大器带宽,IP和Id分别为信号电流和暗电流。
第一项2eIPB称为量子噪声,是由于入射光子和所形 成的电子—空穴对都具有离散性和随机性而产生的。只要 有光信号输入就有量子噪声。这是一种不可克服的本征 噪声, 它决定光接收机灵敏度的极限。
在波长λ<1um的波段内,硅是目前广泛使用的 探测器材料。
在λ>1.0um时,Ge是可供选择的材料。 Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体光探测器适合在1.3um和 1.55um波段的光纤通信系统中使用的,同时还可以 调整组分,使吸收边正好处在工作波段之外。
二、半导体光电探测器的性能参数 1. 量子效率和响应度
所产生的电子 空穴对数 入射的光子数
温度越高,受温度激发的电子数量越多,暗电 流越大。
噪声是反映光电二极管特性的一个重要参数,它直 接影响光接收机的灵敏度。光电二极管的噪声包括由信 号电流和暗电流产生的散粒噪声和由负载电阻和后继放 大器输入电阻产生的热噪声。噪声通常用均方噪声电流 (在1Ω负载上消耗的噪声功率)来描述。
i2 is2h iT2
(hv Eg )
式中的γ是常数。当光子能量降低到Eg时,吸收系数 即减小到0,这就明确地对应于截止波长。
• 间接跃迁带隙的Si:
Si的能带结构是间接跃迁型的,kvmax≠kcmin,价电子 跃迁时,就需要借助于声子的帮助才能达到动量守恒。于 是光吸收的动量守恒规律为:
ke k p 声子动量 K 则光吸收的能量守恒规律为:
对于幅度一定,频率为ω=2πf的正弦调制信号,用 光生电流I(ω)下降3dB的频率定义为截止频率fc。
图 响应时间
响应时间主要取决于三个因素:
①耗尽区外产生的载流子扩散时间τdi
di
L2n, p Dn, p
eL2n, p
KBTn, p
②载流子漂移通过耗尽区的渡越时间τdr
dr
W vn, p
dr
1 dIቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
I dx
吸收系数的单位是cm-1。
(2) 带间光吸收谱曲线的特点:
对于Si和GaAs的带间跃迁的光吸收,测得其吸收 系数a与光子能量hv的关系如图1所示。这种带间光吸 收谱曲线的特点是:
① 吸收系数随光子能量而上升; ② 各种半导体都存在一个吸收光子能量的下限(或 者光吸收长波限——截止波长),并且该能量下限随 着温度的升高而减小(即截止波长增长); ③ GaAs的光吸收谱曲线比Si的陡峭。
光子能量 hv Eg 声子能量 Ep 这时,吸收系数与光子能量hv和禁带宽度Eg之间的 函数关系可以表示为:
(hv Eg Ep )
a)间接跃迁的实现需要第三者(声子)参与,因此光吸 收效率要低于直接跃迁的光吸收,所以光吸收谱曲线的
上升速度较慢;
b)因为声子的参与,最小的光吸收能量并不完全对应于 禁带宽度(多出了一个声子能量Ep),因此光吸收的截 止波长并不像直接带隙半导体的那么明显。不过,由于
半导体光电探测器材料的基本要求是希望对所 探测的入射光在半导体材料内部能引起大的受激吸 收速率,因此直接带隙材料是最理想的。但有些间 接带隙跃迁材料对一定波长范围的入射光也能产生 明显的吸收。
含有异质结的光电探测器,要考虑异质结材料 的晶格常数匹配。
Si、Ge、GaAs、InGaAsP是几种光纤通信中 常用的探测器材料。
要提高响应速度需减少耗尽层电容,这意味着大 面积的探测器不适合探测高频调制信号。加大耗尽层 宽度可减少结电容,同时可提高量子效率,但却增加 了载流子的渡越时间。
所以吸收区的厚度要兼顾量子效率和响应速度, 减小面积来减少结电容的同时还要考虑小面积与光纤 耦合的问题。
4. 灵敏度
半导体光探测器的灵敏度是指,在保证所要求的误 码率前提下,所能探测到的最小光功率,用dBm表示。
但是由于实际半导体能带中能态密度分布函数的 复杂性,而且电子吸收光的跃迁还必须符合量子力学 的跃迁规则——k选择定则,所以就导致半导体光吸收 谱曲线变得很复杂,可能会出现如图1所示的台阶和多 个峰值或谷值。
② 因为价电子要能够从价带跃迁到导带,至少应该吸
收禁带宽度Eg大小的能量,这样才能符合能量守恒规 律,所以就存在一个最小的光吸收能量——光子能量
0.9 Si -P IN
0.8
0.7
0.6 0.5 0.4
0.3
0.2 = 1.0 6m
0.1
0
10
10 0
10 00
带 宽 / MHz
0.6328
0.80 0.85
0.90 0.95
2 10 00 0
在光纤通信中要求半导体光探测器对入射的高速 调制光信号能产生快速响应,以利于提高通信速度, 降低误码率。
相关文档
最新文档