SoC测试的领先技术
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CPU
RISC CISC etc
DFT
SCAN BIST Iddq
I/O
PCI GTL SCSI etc
ANALOG
A/D converter D/A converter
PLL etc
ASSP
MPEG CODEC etc
2004 Advantest China Seminar
T6600/T6500的高度扩充性
T6372/6362
High Pin-Count
T7722
Viewpoint
TBD TBD
Image Sensor
T8571
CCD
TBD
T8531
T6171
CMOS
TBD
CCD/CMOS
4/28
芯片的高度集成／多功能化所需要的测试对应
芯片
多功能
高度集成
多管脚
SoC
MEMORY
DRAM・SRAM Mask ROM EPROM etc
AAFFMM
SSccaann PPGG 44 ttoo 6644 ppiinnss
44GG oorr 1166GG 112255MMHHzz
6622..55MMHHzz iinn 4488,,6644bbiitt
2004
2005
2006
1Q
2Q
3Q
4Q
1Q
2Q
3Q
4Q
1Q
2Q
3Q
4Q
Mixed Module RF Module
Other Modules
T6683
250MHz
1024pin
250M Digital
小型化
T6577
6.5GHz Module
Next
T6672/3
125MHz 1024pin
T6575
125MHz 512pin
Specific Solution
LCD Driver
T6371/6361
车载芯片
T7721
同测机能改进 RF测试功能对应
多通道对应 Mixed增强
・125MHz/1024pin ・Mixed(VAFG/D) ・SCPG,ALPG,
IDDQ,HSCLK, , , etc
・RF Option ・BBWG/D
8/28
T6600测试系统的特点（2）
2004 Advantest China Seminar
内置存储器、SCAN的测试功能 最高测试速度：125MHz
AAllggoorriitthhmmiicc PPGG 1166XX && 1166YY AAddddrreessss
3366 DDaattaa BBiittss 1188 CCoonnttrrooll BBiittss
2001.7
T6673
2002.3Q
T2000LS T2000RF
T6575 T6565 MCU/LowEndASIC
2001
T6535
2002
2003
T6577
2004
3/28
ADVANTEST SoC测试系统的Roadmap（2）
SoC Solution
T2000
2004 Advantest China Seminar
77//2288
T6600测试系统的特点（1）
2004 Advantest China Seminar
多管脚对应
超小型测试头 并行测试功能 高精度
最多1024数字通道×1STN、512数字通道×2STN （另含模拟测试通道）
1024 Digital Pin＋ FULL Option 可2STN同时测试。系统可最多同时测8个 综合时间精度：±350pS Dr/Cp Skew:±150pS
ALPG AFM
TEST PATTERN 16MＷ(64MＷ)
High speed Reload Server
(max35MB/S)
SCAN PATTERN 82GG**22bbiitt//１１CChhaaiinn High Speed clock option
Iddq option
P.E. TECHNOLOGY
T6600系列测试系统
■ T6500系列测试系统的上位 兼容测试系统
从评价到大批量生产， 从Low End到High End，
软硬件基本相同
6/28
T6600/T6500系列产品的特点
2004 Advantest China Seminar
AT-Speed测试
最大500MHz Data Rate(PTMUX ＆ PINMUX)
ANALOG OPTION
小型 高度可靠性 低价格
55//2288
ADVANTEST的提案
T6500系列测试系统
2004 Advantest China Seminar
■ 测试成本低、测试功能全 （内含AD,DA，存储器等的芯片都可测试） ■ 可根据用户测试需要灵活升级（T6535 T6565 T6575）
2004 Advantest China Seminar
SoC 测试的领先技术
大规模SoC/混合信号测试系统T6600/T6500
1/28
您将要了解什么？
ADVANTEST SoC测试系统的Roadmap
2004 Advantest C成／多功能化所需要的测试对应
ADVANTEST的提案 T6600/T6500的特点
强大的软件环境
2/28
ADVANTEST SoC测试系统的Roadmap（1）
2004 Advantest China Seminar
1GHz / 500MHz/
250MHz
T6682
MPU /HighEndASIC
高速、高精度 2001.７
T6683
提供丰富的测试功能用于测试系统大规模集成电路(SCPG,ALPG,ANALOG等)
大容量测试图形的发生 SQPG 64MW(MAX)
SCPG 16GW(MAX)
ALPG 16X,16Y,36D
高速度、小振幅路径接口的对应
时间设定非常灵活
每根针都可被分配有6个TIMING EDGE、3bit测试向量、
System LSI
1024Pin PG/Mixed Enhancement Low Cost
T2000ES
500MHz / 250MHz/ 125MHz
T6671E
T3326/47
99.11
T6672
2000.9
1999
T6573
T6563
T6533
512Pin Low Cost Compact
2000
最多32组时间设定，可自由组合产生各种波形
软硬件的兼容性
Viewpoint/Siteseer/程序、测试板兼容
高速度的数据存储服务器
高度的可靠性
排除机械继电器
和过去产品系列的兼容性 通过HIFIX实现测试板的兼容
绝大多数的图形程序的目标程序都兼容
高性能的测试用电源
最多可配备32台 ｘ 2A的测试用电源
RISC CISC etc
DFT
SCAN BIST Iddq
I/O
PCI GTL SCSI etc
ANALOG
A/D converter D/A converter
PLL etc
ASSP
MPEG CODEC etc
2004 Advantest China Seminar
T6600/T6500的高度扩充性
T6372/6362
High Pin-Count
T7722
Viewpoint
TBD TBD
Image Sensor
T8571
CCD
TBD
T8531
T6171
CMOS
TBD
CCD/CMOS
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芯片的高度集成／多功能化所需要的测试对应
芯片
多功能
高度集成
多管脚
SoC
MEMORY
DRAM・SRAM Mask ROM EPROM etc
AAFFMM
SSccaann PPGG 44 ttoo 6644 ppiinnss
44GG oorr 1166GG 112255MMHHzz
6622..55MMHHzz iinn 4488,,6644bbiitt
2004
2005
2006
1Q
2Q
3Q
4Q
1Q
2Q
3Q
4Q
1Q
2Q
3Q
4Q
Mixed Module RF Module
Other Modules
T6683
250MHz
1024pin
250M Digital
小型化
T6577
6.5GHz Module
Next
T6672/3
125MHz 1024pin
T6575
125MHz 512pin
Specific Solution
LCD Driver
T6371/6361
车载芯片
T7721
同测机能改进 RF测试功能对应
多通道对应 Mixed增强
・125MHz/1024pin ・Mixed(VAFG/D) ・SCPG,ALPG,
IDDQ,HSCLK, , , etc
・RF Option ・BBWG/D
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T6600测试系统的特点（2）
2004 Advantest China Seminar
内置存储器、SCAN的测试功能 最高测试速度：125MHz
AAllggoorriitthhmmiicc PPGG 1166XX && 1166YY AAddddrreessss
3366 DDaattaa BBiittss 1188 CCoonnttrrooll BBiittss
2001.7
T6673
2002.3Q
T2000LS T2000RF
T6575 T6565 MCU/LowEndASIC
2001
T6535
2002
2003
T6577
2004
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ADVANTEST SoC测试系统的Roadmap（2）
SoC Solution
T2000
2004 Advantest China Seminar
77//2288
T6600测试系统的特点（1）
2004 Advantest China Seminar
多管脚对应
超小型测试头 并行测试功能 高精度
最多1024数字通道×1STN、512数字通道×2STN （另含模拟测试通道）
1024 Digital Pin＋ FULL Option 可2STN同时测试。系统可最多同时测8个 综合时间精度：±350pS Dr/Cp Skew:±150pS
ALPG AFM
TEST PATTERN 16MＷ(64MＷ)
High speed Reload Server
(max35MB/S)
SCAN PATTERN 82GG**22bbiitt//１１CChhaaiinn High Speed clock option
Iddq option
P.E. TECHNOLOGY
T6600系列测试系统
■ T6500系列测试系统的上位 兼容测试系统
从评价到大批量生产， 从Low End到High End，
软硬件基本相同
6/28
T6600/T6500系列产品的特点
2004 Advantest China Seminar
AT-Speed测试
最大500MHz Data Rate(PTMUX ＆ PINMUX)
ANALOG OPTION
小型 高度可靠性 低价格
55//2288
ADVANTEST的提案
T6500系列测试系统
2004 Advantest China Seminar
■ 测试成本低、测试功能全 （内含AD,DA，存储器等的芯片都可测试） ■ 可根据用户测试需要灵活升级（T6535 T6565 T6575）
2004 Advantest China Seminar
SoC 测试的领先技术
大规模SoC/混合信号测试系统T6600/T6500
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您将要了解什么？
ADVANTEST SoC测试系统的Roadmap
2004 Advantest C成／多功能化所需要的测试对应
ADVANTEST的提案 T6600/T6500的特点
强大的软件环境
2/28
ADVANTEST SoC测试系统的Roadmap（1）
2004 Advantest China Seminar
1GHz / 500MHz/
250MHz
T6682
MPU /HighEndASIC
高速、高精度 2001.７
T6683
提供丰富的测试功能用于测试系统大规模集成电路(SCPG,ALPG,ANALOG等)
大容量测试图形的发生 SQPG 64MW(MAX)
SCPG 16GW(MAX)
ALPG 16X,16Y,36D
高速度、小振幅路径接口的对应
时间设定非常灵活
每根针都可被分配有6个TIMING EDGE、3bit测试向量、
System LSI
1024Pin PG/Mixed Enhancement Low Cost
T2000ES
500MHz / 250MHz/ 125MHz
T6671E
T3326/47
99.11
T6672
2000.9
1999
T6573
T6563
T6533
512Pin Low Cost Compact
2000
最多32组时间设定，可自由组合产生各种波形
软硬件的兼容性
Viewpoint/Siteseer/程序、测试板兼容
高速度的数据存储服务器
高度的可靠性
排除机械继电器
和过去产品系列的兼容性 通过HIFIX实现测试板的兼容
绝大多数的图形程序的目标程序都兼容
高性能的测试用电源
最多可配备32台 ｘ 2A的测试用电源