第十二章 扫描电化学显微镜
扫描电化学显微镜的基本原理与应用_尹其和
中山大学研究生学刊(自然科学、医学版)第32卷第2期JOURNAL OF THE GRADUATES VOL.32ɴ22011SUN YAT-SEN UNIVERSITY(NATURAL SCIENCES、MEDICINE)2011扫描电化学显微镜的基本原理与应用*尹其和(中山大学化学与化工学院)【内容提要】本文回顾了扫描电化学显微镜(SECM)的发展历史,阐明了其基本原理,综述了其应用,展望了其发展前景。
对从事SECM研究工作的人员具有一定参考价值。
【关键词】扫描电化学显微镜;电化学;探头;原理;应用1SECM的发展简史1981年宾宁(G.Binnig)和罗雷尔(H.Rohrer)发明了扫描隧道显微镜(STM)。
它基于量子力学的隧道效应和三维扫描的原理设计而成。
原子尺度的针尖在不到一个纳米的高度上扫描样品时,此处电子云重叠,外加一电压(2mV 2V),针尖与样品之间产生隧道效应而有电子逸出,形成隧道电流。
电流强度和针尖与样品间的距离有函数关系,当探针沿物质表面按给定高度扫描时,因样品表面原子凹凸不平,使探针与物质表面间的距离不断变化,从而引起电流不断改变。
将电流的这种改变图像化即可显示出原子水平的凹凸形态。
STM的分辨率很高,横向为0.1 0.2nm,纵向可达0.001nm[1]。
可观察固态、液态和气态样品。
但它要求样品非绝缘性,这限制了它的广泛应用。
随后于1985年,Binnig与Quate发明了原子力显微镜(AFM)。
它利用探针针尖和待测试样之间范德华作用力的强弱得知样本表面的起伏高低和几何形状,且导体和非导体试样均可测试,这解块了STM在材料上的限制。
AFM的发明,引起许多扫描探针显微镜的发展,如:扫描近场光学显微镜(SNOM)和光子扫描隧道显微镜(PSTM),但上述几种扫描探针显微镜均不能提供样品的电化学信息。
在扫描探针发展的基础上,Bard A.J.于1986年明确提出了扫描电化学显微镜(Scanning Electrochemical Microscopy,SECM)的概念并予实验实现[2]与STM和AFM不同,SECM基于电化学原理工作[3,4]。
扫描电子显微镜ppt
根据仪器使用手册,进行校准标准操作,确保仪 器达到最佳工作状态。
调整参数
根据样品的性质和观察目的,调整扫描电子显微 镜的参数,如加速电压、工作距离等。
图像获取
图像调整
根据观察效果,调整扫描电子 显微镜的焦距、亮度、对比度 等参数,获取清晰、高质量的
图像。
图像存储
将获取的图像存储在计算机或硬 盘中,以便后续分析。
03
扫描电子显微镜的操作流程
样品准备
1 2
样品选择
选择具有代表性的、适合观察的样品,确保样 品无污染、无损坏、无过热等。
样品处理
根据样品性质,进行干燥、打磨、染色等处理 ,以优化观察效果。
3
样品装载
将处理好的样品放置在扫描电子显微镜的样品 台上,确保位置准确、稳定。
仪器校准
仪器开机
打开扫描电子显微镜的电源,启动控制系统,预 热仪器。
高速扫描技术
采用更快速的扫描方式,提高成像速度,适用于动态过程或高速 运动的样品。
三维重构技术
利用计算机技术和算法,将多个层面的扫描结果进行整合,获得 样品的三维结构信息。
跨学科应用与合作
与其他技术的结合
将扫描电子显微镜与其他分析仪器(如光谱仪、能谱仪等)结合,实现多维 度的综合分析。
跨领域应用
拓展扫描电子显微镜在生物学、医学、材料科学、地质学等领域的应用,促 进跨学科的合作与交流。
电子与样品的相互作用
当高能电子束打到样品表面时,会与样品原子发生相互作用,产生各种散射 和发射的电子、次级电子、俄歇电子等。
信号收集与图像形成
信号收集
在扫描电子显微镜中,通过特殊的探测器来收集各种散射和发射的电子,如次级 电子、反射电子、透射电子等。
《扫描电化学显微镜》课件
目录
• 引言 • 工作原理 • 扫描电化学显微镜的应用 • 实验操作和注意事项 • 未来发展与展望
01
引言
目的和背景
目的
介绍扫描电化学显微镜(SECM)的 基本原理、应用和发展趋势。
背景
随着科技的发展,微观世界的观察和 检测变得越来越重要。SECM作为一 种先进的微观电化学检测技术,在许 多领域具有广泛的应用前景。
定义和概述
定义
扫描电化学显微镜(SECM)是一种将电化学原理与扫描探 针显微技术相结合的仪器,用于在纳米尺度上研究电化学反 应。
概述
SECM通过在电极表面扫描微型电极,实现对表面电化学反 应的实时监测和成像。它具有高灵敏度、高空间分辨率和无 损检测等优点,广泛应用于能源、环境、生物医学等领域。
02
,从而获得样品的表面信息。
技术特点
高分辨率、高灵敏度、无损检测等。
信号处理和图像形成
信号处理
对采集到的电化学信号进行放大、滤波、数字 化等处理,以提取有用的信息。
图像形成
将处理后的信号转换成图像形式,以便观察和 分析。
技术难点
如何提高信号的信噪比、如何实现快速扫描等。
03
扫描电化学显微镜的应用
பைடு நூலகம்
在材料科学中的应用
金属材料
研究金属材料的表面电化学性质,如腐蚀、氧化等反 应的动力学过程。
半导体材料
研究半导体材料的表面电化学性质,如光电化学反应 、表面光电压等。
电化学储能材料
研究电池、超级电容器等电化学储能材料的性能和反 应机理。
在生物学中的应用
生物电化学研究
研究生物分子的电化学性 质,如酶的电化学反应、 生物膜的电化学性质等。
CHI900B
CHI900B扫描电化学显微镜电化学扫描显微镜(SECM)发明于1989年并获得美国专利。
CHInstruments与UniversityofTaxesatAustin的化学系的AllenJ.Bard教授合作实现了电化学扫描显微镜的仪器商品化,从而使得这一强有力的研究方法走进了更多的实验室。
扫描电化学显微镜与扫描隧道显微镜(STM)的工作原理类似。
但SECM测量的不是隧道电流,而是由化学物质氧化或还原给出的电化学电流。
尽管SECM的分辨率较STM低,但SECM的样品可以是导体,绝缘体或半导体,而STM只限于导体表面的测量。
SECM除了能给出样品表面的地形地貌外,还能提供丰富的化学信息。
其可观察表面的范围也大得多。
在SECM的实验中,探头先移动到非常靠近样品表面,然后在X-Y的平面上扫描。
探头是双恒电位仪的第一个工作电极。
如果样品也是导体,则通常作为第二个工作电极。
探头的电位控制在由传质过程控制的氧化或还原的电位。
而样品的电位被控制在其逆反应的电位。
由于探头很靠近样品,探头上的反应产物扩散到样品表面又被反应成为原始反应物并回到探头表面再作用,从而造成电流的增加。
这被称为"正反馈"方式。
正反馈的程度取决于探头和样品间的距离。
如果样品是绝缘体,当探头靠近样品时,反应物到电极表面的扩散流量受到样品的阻碍而造成电流的减少。
这被称为"负反馈"方式。
负反馈的程度亦取决于探头和样品间的距离。
探头电流和探头与导体或绝缘体样品间的距离的关系可通过现有理论计算得到。
基于以上特性,SECM已在多个领域发现了许多应用。
SECM能被用于观察样品表面的化学或生物活性分布,亚单分子层吸附的均匀性,测量快速异相电荷传递的速度,一级或二级随后反应的速度,酶-中间体催化反应的动力学,膜中离子扩散,溶液/膜界面以及液/液界面的动力学过程。
SECM还被用于单分子的检测,酶和脱氧核糖核酸的成像,光合作用的研究,腐蚀研究,化学修饰电极膜厚的测量,纳米级刻蚀,沉积和加工,等等。
《扫描电化学显微镜》课件
通过对扫描电化学显微镜图像的处理和分析,可以对纳米材料的结构、组分和电子结构 等进行不同尺度下的评价和分析。
扫描电化学显微镜的未来发展趋势
1 功能多样化
未来扫描电化学显微镜 将往多样化的功能方向 发展,如结合光学、质 谱等方法,实现更多的 化学和生物表征。
2 自组装技术的发展
扫描电化学显微镜可用 于研究自组装技术中的 超分子自组装及其性质 等问题,未来在这一领 域的应用前景广阔。
3
打开仪器
打开样品室,将电极插入样品室,确保仪器连接没有问题。
4
开始操作
根据实验需求设置相应的扫描模式、扫描速度等参数,按下扫描按钮即可进行实验。
扫描电化学显微镜的优势和局限性
高分辨率
扫描电化学显微镜具有相当高的分辨率和灵敏 度,可以精确测定纳米尺度的物体和电化学反 应中的小电流变化。
原位操作
可以进行原位、实时、非破坏性的观察和控制 反应过程,适用于原位动态分析。
3 大数据技术的应用
扫描电化学显微镜测量 获得的数据保存量巨大, 未来大数据技术的应用 将会更加广泛,促进了 扫描电化学显微镜技术 在不同领域的发展。
应用领域
扫描电化学显微镜广泛应用于材料科学、生命科学、环境监测、电化学等领域。
重要性
扫描电化学显微镜为研究表面形貌、表面反应动力学、分子扩散和输运过程等提供了高分辨 率、原位、定量的手段。
扫描电化学显微镜操作步骤
1
选择工作电极
选择合适的电极和电极液,设置电极距离和扫描速度。
2
对样品进行处理
样品表面必须均匀地覆盖电极液,并在实验前进行防锈等处理。
扫描电化学显微镜在纳米材料研究中的 应用
1
纳米材料表面形貌分析
扫描电化学显微镜的原理及应用
扫描电化学显微镜的原理及应用引言扫描电化学显微镜(Scanning Electrochemical Microscopy,SECM)是一种利用电化学方法实现表面成像的高分辨率显微镜技术。
它将电化学反应与显微镜成像结合起来,可以对材料表面的电化学行为进行原位观察和分析。
本文将介绍扫描电化学显微镜的原理以及其在各个领域的应用。
扫描电化学显微镜的原理1. 基本原理扫描电化学显微镜的基本原理是利用电化学探针在样品表面与电解液之间的相互作用进行成像。
主要包括两种测量模式:接触模式和非接触模式。
接触模式通过在样品表面移动探针,并测量由电流引起的探针的垂直位移来获得拓扑图像。
非接触模式则通过测量电流和电压之间的关系,实现对样品表面的电化学反应的原位观察。
2. 电化学探针电化学探针是扫描电化学显微镜的核心组件,它用于在样品表面与电解液之间传递电子和离子。
电化学探针一般由微型电极和参比电极组成。
微型电极可以是圆盘形、柱形或其他形状的电极,用于测量电流信号。
参比电极则用于提供一个稳定的电势参考。
3. 信号检测与成像信号检测与成像是扫描电化学显微镜的关键步骤。
它通过测量电化学反应引起的电流或电势变化来获得样品表面的信息。
扫描电化学显微镜可以通过控制电极位置在样品表面上扫描,记录每一个位置的电化学信号,从而生成完整的成像结果。
扫描电化学显微镜的应用1. 材料表面反应动力学的研究扫描电化学显微镜可以实时观察和测量材料表面的电化学反应动力学参数,如电化学反应速率、反应机制等。
这对于研究材料的电化学性能、催化剂的活性等具有重要意义。
2. 生物电化学研究扫描电化学显微镜可以在生物界面中实现高分辨率成像,用于研究生物体内各种生物电化学过程,例如细胞信号传递、药物递送等。
它可以提供与传统显微镜不同的电化学信息,为生物界面的研究提供了新的工具。
3. 腐蚀和防护研究扫描电化学显微镜可以对金属材料的腐蚀行为进行表征和研究。
通过观察腐蚀过程中的电流和电位变化,可以评估材料的耐蚀性,为材料的防护提供理论依据。
扫描电子显微镜PPT课件
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扫描电子显微镜
引言 扫描电镜结构原理 扫描电镜图象及衬度 扫描电镜结果分析示例 扫描电镜的主要特点
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引言
扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写 为 SEM (Scanning Electron Microscope)。SEM 与 电子探针(EPMA)的功能和结构基本相同,但SEM 一般不带波谱仪(WDS)。它是用细聚焦的电子束 轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二 次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行 观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以 进行成分分析。所以,SEM也是显微结构分析的主 要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等 领域。
入射电子与试样相互作用后,能量耗尽的电子称吸收 电子。吸收电子的信号强度与背散射电子的信号强度相 反,即背散射电子的信号强度弱,则吸收电子的强度就 强,反之亦然,所以吸收电子像的衬度与背散射电子像 的衬度相反。通常吸收电子像分辨率不如背散射电子像, 一般很少用。
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各种信息的作用深度
从图中可以看出, 俄歇电子的穿透 深度最小,一般 穿透深度小于 1nm,二次电子 小于10nm。
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特征X射线能级图
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俄歇过程和俄歇电子
当一束电子﹑离子﹑光子或者其它入射源照射在固体 表层时,表层原子某一芯层K 能级上的一个电子受入射粒子 撞击后飞离该能级,原子由基态进入受激状态。 原子的退 激过程包含着下述一种非辐射过程(见图7.1)。即:由不在同 一芯层L 能级上的一个电子跃迁,去填补受激后在K 层初次 产生的空穴;多余的能量诱发能级等同或低于填补电子原 来所在L能级上的另一个电子发射。原子处于退激后的状态。 这种非辐射过程被命名为俄歇过程。退激过程发射的电子 就是俄歇电子。
扫描电化学显微镜原理
扫描电化学显微镜原理.扫描电化学显微镜(SECM)是一种测量样品在溶液中局部电化学活性的扫描探针技术。
反馈模式是最常见的SECM形式,测量与样品相互作用的氧化还原介质的法拉第电流,引起固有的化学选择性。
SECM是A.J.Bard[1]在1989年提出的,它是基于先前的工作,证明了从有偏压的大电极扩散的电活性物种可以通过其扩散层内的微电极进行测量[2]。
在这项工作的基础上,研究表明,当探针靠近样品时,即使没有偏压样品,与溶液中氧化还原介质相互作用的偏压探针所测得的信号也会受到影响,并且也会受到接近绝缘样品的影响。
此外,SECM测量的信号取决于探针和样品之间的距离。
扫描电化学显微镜利用这种现象来描绘样品的电化学活性和形貌。
自引入和商业化以来,SECM已成为最流行的扫描探针电化学技术。
最初引入的直流(dc)SECM形式所提供的灵活性仅在近年来通过引入交流(ac)SECM和一些恒定距离SECM模式而得到扩展。
虽然本文只考虑最简单的SECM形式,即仅探针有偏压的反馈模式,但有关其他SECM类型的更多信息,可以在我们的网站中找到。
2.SECM技术是如何工作的?在SECM中,超微电极(UME)探针在已知电位下偏压,保持在样品附近以测量由于电化学活性物质(氧化还原介质)在间隙中扩散并在UME处被还原或氧化而产生的法拉第电流。
测得的法拉第电流反映了样品的电化学活性。
在最简单的SECM反馈模式中,样品在开路电位(OCP)下保持无偏压。
SECM的UME探针是该技术的关键工作原理。
在SECM中,通常使用25微米或更小的直径。
当使用UME时,会发生半球向电极的扩散,并且探针在电解质中测得的稳态电流由氧化还原物质向UME探针的扩散确定。
其中iss是稳态电流,n是转移的电子数,F是法拉第常数,单位为C mol-1,D是扩散系数,单位为cm2s-1,C是体积浓度,单位为mol cm-3,r是UME的半径,单位为cm。
该方程表明,测量电流与氧化还原介质的浓度直接相关。
【材料课件】12扫描电子显微镜
二、背散射电子
v 是指被固体样品原子反弹回来的一部分入射电 子,它来自样品表层0.1~1m深度范围,其能 量近似于入射电子能量,背散射电子产额随原 子序数的增加而增加,如图。利用背散射电子 作为成象信号不仅能分析形貌特征,也可用来 显示原子序数衬度,定性地进行成份分析。
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2020/10/30
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三、成象原理
v 在扫描电镜中,电子枪发射出来的电子束,一般经过 三个电磁透镜聚焦后,形成直径为0.02~20m的电子 束。末级透镜(也称物镜,但它不起放大作用,仍是 一个会聚透镜)上部的扫描线圈能使电子束在试样表 面上作光栅状扫描。
v 电子感应电动势象是半导体器件所特有的,常用来显示半导 体、绝缘体的表面形貌、晶体缺陷、微等离子体和P-N结。
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【材料课件】12扫描电子显微镜
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【材料课件】12扫描电子显微镜
•扫描电镜操作演示
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v 试样在电子束作用下,激发出各种信号,信号的强度 取决于试样表面的形貌、受激区域的成份和晶体取向, 置于试样附近的探测器和试样接地之间的高灵敏毫微 安计把激发出来的电子信号接收下来,经信号处理放 大系统后,输送到显象管栅极以调制显象管的亮度。
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【材料课件】12扫描电子显微镜
【材料课件】12扫描电子显微镜
二、放大倍数及有效放大倍数
v 扫描电镜的放大倍数M取决于显象管荧光屏尺寸S2和 入射束在试样表面扫描距离S1之比,即: M=S2/S1 由于荧光屏尺寸S2是固定的,因此其放大倍数的变化 是通过改变电子束在试样表面扫描距离S1来实现的。 一般放大倍数在20~20万倍之间,且连续可调。
扫描电化学显微镜在功能材料分析中的应用_GuntherWittstock
针 和 样 品 间的 距 离 。 探 针 电 流 和探 针 与 导 体或 绝缘 体 样 品 间的 距 离 的 关 系 可 通 过现 有理论 计算 得 到 。
图 2 1mM 二 茂铁 在 ( )常 规 电极 ;( )超微电极 上 的 循环伏安 图 a b
酶 和 脱 氧核 糖 核 酸 S E CM 还被 用于 单 分子的 检 测 , 的成像, 光 合作 用 的研究 , 腐蚀 研究 , 化 学 修饰 电极
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光 学 与 光 电 技 术
第1 0卷
膜厚 的测 量 , 纳 米 级 刻 蚀, 沉 积 和 加 工 等 。S E CM 的 许 多 应用 或是 其 他 方 法 无 法 取 代 的 , 或是 用其 他 方 法 很 难 实现的 , 因而使其成 为 强有 力的研究方 法 而走进实验室。 下 面 简 单 介 绍 几 个 例 子 说 明 扫 描 电化学显微镜的重要性。 已知微接触印刷是一种利用高分子弹性印章 和自 组 装 单 分子 膜 技 术 在 基 片 上 印 刷 图 形 的 新 方 法, 能 够 形 成高质 量 微 结 构 , 可直接用于制作大面 积简单图案, 适 用于 微 米 至 纳米 级 图 形 的 制 作 。 微 接 触印刷 流 程 图 如 图 4 所 示 。 微 接 触 印 刷 是 通 过 浸 有 硫醇 的 P 在基板 DMS 弹 性 印 章 与 基 板 接 触 , ) 。扫描力显微技 上形成 自 组 装 单 分 子 膜 ( S AM s 是 一 种经 典 分 析 这 种 自 组 装 单 分 子 膜 的 术( S FM) 技术 , 它可以看到 分 子 的 存 在, 但是无法看到分子 结构 更无 法 判 断这种自 组 装 单 分子 膜 的 好 坏 。
扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope)基础知识 (2005-11-26)
扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope)基础知识一、扫描电子显微镜的工作原理扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。
试样为块状或粉末颗粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。
其中二次电子是最主要的成像信号。
由电子枪发射的能量为5 ~35keV 的电子,以其交叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束,在扫描线圈驱动下,于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。
聚焦电子束与试样相互作用,产生二次电子发射(以及其它物理信号),二次电子发射量随试样表面形貌而变化。
二次电子信号被探测器收集转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。
二、扫描电镜具有以下的特点(1) 可以观察直径为0 ~30mm的大块试样(在半导体工业可以观察更大直径),制样方法简单。
(2) 场深大、三百倍于光学显微镜,适用于粗糙表面和断口的分析观察;图像富有立体感、真实感、易于识别和解释。
(3) 放大倍数变化范围大,一般为15 ~200000 倍,对于多相、多组成的非均匀材料便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。
(4) 具有相当高的分辨率,一般为3.5 ~6nm。
(5) 可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量,如通过调制可改善图像反差的宽容度,使图像各部分亮暗适中。
采用双放大倍数装置或图像选择器,可在荧光屏上同时观察不同放大倍数的图像或不同形式的图像。
(6) 可进行多种功能的分析。
与X 射线谱仪配接,可在观察形貌的同时进行微区成分分析;配有光学显微镜和单色仪等附件时,可观察阴极荧光图像和进行阴极荧光光谱分析等。
(7) 可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验,观察在不同环境条件下的相变及形态变化等。
三、扫描电镜的主要结构1.电子光学系统:电子枪;聚光镜(第一、第二聚光镜和物镜);物镜光阑。
电化学扫描探针显微镜在表面微_纳米加工的应用
电化学扫描探针显微镜在表面微/纳米加工的应用汤 儆,毛秉伟,田中群(固体表面物理化学重点实验室,化学系,福建厦门361005)摘要:概述了在固/液界面微/纳米加工中经常采用的三种电化学扫描探针显微镜(EC2SPM)技术,分别讨论了电化学扫描隧道显微镜(EC2STM)、电化学原子力显微镜(EC2AFM)和扫描电化学显微镜(SECM)在应用于微/纳米加工时的基本原理和各种方法,并综合比较和分析了这三种技术的优缺点。
关键词:扫描隧道显微镜;原子力显微镜;扫描电化学显微镜;微/纳米加工;电化学中图分类号:TH742 文献标识码:A 文章编号:167124776(2003)07/0820192205Micro2and nano2fabrication by EC2SPMTAN G Jing,MAO Bing2wei,TIAN Zhong2qun(State Key L aboratory f or Physical Chemist ry of Soli d S urf aces,Depart ment of Chemist ry,Xiamen U niversity,Xiamen361005,Chi na)Abstract:Three main electrochemical scanning probe microscopy(EC2SPM)techniques for micro2and nano2fabrication are reviewed.The mechanism and different approaches of micro/nanofabrication about scanning tunneling microscope(STM),atomic force microscope(AFM)and scanning electro2 chemical microscope(SECM)are discussed in detail.The advantage and disadvantage of each tech2 nique are compared and analyzed.K ey w ords:STM;AFM;SEM,micro/nanofabrication;electrochemistry1 引 言扫描探针显微镜(SPM)泛指扫描隧道显微镜以及在此基础上发展起来的原子力显微镜、磁力显微镜(MFM)、静电力显微镜(EFM),扫描近场光学显微镜(SNOM)和扫描电化学显微镜(SECM)等一系列显微镜。
扫描电化学显微镜的发展及应用
扫描电化学显微镜的发展及应用第一篇:扫描电化学显微镜的发展及应用浅谈电化学扫描显微镜的发展与应用一、电化学扫描显微镜简介1984年,Engstrom 把生理学上的离子电渗技术引入化学领域,研究了固体电极表面微区电化学活性,达到10µm的分辨率[1];1986年,Engstrom小组利用微电极探针监测扩散层内毫秒级寿命反应中间体NAD等电极产物的空间分布,可达2µm分辨率[2];同年,电分析化学家Bard小组在使用扫描隧道显微镜(STM)首次进行溶液中导体表面研究时,为了弥补STM不能提供电化学信息的不足,明确提出了扫描电化学显微镜的概念并予实验实现[3]。
扫描电化学显微镜(SECM)是80年代末由A.J.Bard的小组提出和发展起来的一种扫描探针显微镜技术。
它是基于70年代末超微电极(UME)及80代初扫描隧道显微镜(STM)的发展而产生出来的一种分辨率介于普通光学显微镜与STM之间的电化学现场检测新技术。
与STM和AFM技术不同,扫描电化学显微镜基于电化学原理工作,可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。
该技术驱动一支超微电极(探针)在离固相基底表面很近的位置进行扫描,从而获得对应的微区电化学和相关信息。
可用于研究:(1)导体和绝缘体基底表面的几何形貌;(2)固/液、液/液界面的氧化还原活性;(3)分辨不均匀电极表面的电化学活性;(4)微区电化学动力学;(5)生物过程及对材料进行微加工。
SEME装置由电化学部分(电解池、探头、基底、各种电极和双恒电位仪)、压电驱动器(用来精确地控制操作探针和基底位置)以及计算机(用来控制操作、获取和分析数据)组成,实验装置如图1。
二、工作模式及原理2.1 工作模式SECM是以电化学原理为基础的一种扫描探针新技术,有多种不同的操作模式,见图2。
(1)反馈模式Feedback Mode(SECM试验中最常用)(2)收集模式(Generation/collection Mode)(3)穿透模式(Penetration Mode)(4)离子转移反馈模式(Ion transfer Mode)(5)平衡扰动模式(Equilibrium perturbation Mode)(6)电位测定模式(Potentionmetric detect Mode)图2.SECM几种操作模式的原理示意图 2.2 工作原理SECM的工作原理一般是:当探针(常为超微圆盘电极,UMDE)与基底同时浸入电活性物质O的溶液中,在探针上施加电位(ET)使O发生还原反应,O+ne→R当探针靠近导电基底时,其电位控制在R氧化电位,则基底产物O可扩散回探针表面使探针电流iT就越大。
扫描电化学显微镜的发展及应用
浅谈电化学扫描显微镜的发展与应用一、电化学扫描显微镜简介1984年,Engstrom 把生理学上的离子电渗技术引入化学领域,研究了固体电极表面微区电化学活性,达到10µm的分辨率[1];1986年,Engstrom小组利用微电极探针监测扩散层内毫秒级寿命反应中间体NAD等电极产物的空间分布,可达2µm分辨率[2];同年,电分析化学家Bard小组在使用扫描隧道显微镜(STM)首次进行溶液中导体表面研究时,为了弥补STM不能提供电化学信息的不足,明确提出了扫描电化学显微镜的概念并予实验实现[3]。
扫描电化学显微镜(SECM)是80年代末由A.J.Bard的小组提出和发展起来的一种扫描探针显微镜技术。
它是基于70年代末超微电极(UME)及80代初扫描隧道显微镜(STM)的发展而产生出来的一种分辨率介于普通光学显微镜与STM之间的电化学现场检测新技术。
与STM和AFM技术不同,扫描电化学显微镜基于电化学原理工作,可测量微区内物质氧化或还原所给出的电化学电流。
该技术驱动一支超微电极(探针)在离固相基底表面很近的位置进行扫描,从而获得对应的微区电化学和相关信息。
可用于研究:(1)导体和绝缘体基底表面的几何形貌;(2)固/液、液/液界面的氧化还原活性;(3)分辨不均匀电极表面的电化学活性;(4)微区电化学动力学;(5)生物过程及对材料进行微加工。
SEME装置由电化学部分(电解池、探头、基底、各种电极和双恒电位仪)、压电驱动器(用来精确地控制操作探针和基底位置)以及计算机(用来控制操作、获取和分析数据)组成,实验装置如图1。
二、工作模式及原理2.1 工作模式SECM是以电化学原理为基础的一种扫描探针新技术,有多种不同的操作模式,见图2。
(1)反馈模式Feedback Mode(SECM试验中最常用)(2)收集模式(Generation/collection Mode)(3)穿透模式(Penetration Mode)(4)离子转移反馈模式(Ion transfer Mode)(5)平衡扰动模式(Equilibrium perturbation Mode)(6)电位测定模式(Potentionmetric detect Mode)图2. SECM几种操作模式的原理示意图2.2 工作原理SECM 的工作原理一般是:当探针(常为超微圆盘电极,UMDE )与基底同时浸入电活性物质O 的溶液中,在探针上施加电位(E T )使O 发生还原反应,R ne O →+当探针靠近导电基底时,其电位控制在R 氧化电位,则基底产物O 可扩散回探针表面使探针电流i T 就越大。
第十二章-扫描电化学显微镜
发展纳米级的探头对于SECM未来研究至关重要, 这方面的发展可以促进从腐蚀动力学过程的研 究到生物体系中现场高分辨的测量等。为了防 止纳米级的探头在探测基底时被损坏,应发展 纳米级精度上控制探头和基底之间距离的方法。
应用纳米级的探针可使图像的分辨率从 m提高到30~50 nm,这已接近其理论极 限。因为进一步提高图像的分辨率需要将 探头移到离基底在1O nm之内,可以引起电 子在探头和导电基底之间的隧道电流,这 样使SECM过渡到STM的范畴。
对于基底含有导电和绝缘体微结构的不均 匀体系,应用等电流模式可以避免等高模 式所引起的探头会碰到基底而撞坏的问题。 目前应用SECM所得到的最高的分辨率是在 空气中研究绝缘基底。
5、液/液界面研究
SECM主要应用于研究固体基底。但最近 的研究表明,液/液界面是一个稳定的、在 尺寸上处于亚微米级的界面,从而可作为 SECM的基底。
SECM用于液/液界面研究时,两相的电位 取决于两相中电对的浓度。此时电子转移 在探针附近微区内发生,而离子转移在整 个相界面发生,因而可以区分电子转移与 离子转移过程,减少电容电流和非水相iR 降的影响。
Disk-type SECM Tip
二、工作原理
正负反馈模式的工作原理:
工作电极:UME探头(圆盘电极,半径是a)
基底:所研究的样品,也可以被极化而作为第二个
工作电极
Байду номын сангаас
作为探头的超微盘电极和基底均处于一含有
电化学活性物R (Fe(CN)64-)的溶液中,当探针 所处的电极电位足以使R的氧化反应
( R-ne
(三)电阻法
液膜或玻璃微管离子选择性电极可用于没 有电活性物质或有背景电流干扰的体系, 也常用在生物体系中。在两电极之间施加 恒电位,通过测量探针-基底电极间的溶液 电阻来获得空间分辨信息。探针电极内阻 越小,灵敏度越高。
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2、Synthetic Metals, 2005, 152, 133-136
Synthesis and characterization of inherently conducting polymers by using Scanning Electrochemical Microscopy and Electrochemical Quartz Crystal Microbalance
(2)收集模式:探针(基底)上施加电位 得到电生物,基底(探针)电极上记录所 收集的该物质产生的电流,根据收集比率 得到物质产生/消耗流量图。可分为探针产 生/基底收集和基底产生/探针收集两种。
(3)暂态检测模式 单电位跃记时安培法和双电位跃记时安培 法用于SECM研究获取暂态信息。在探针 上施加大幅度电位阶跃至扩散控制电位, 考察还原反应,设 tc为到达稳态的时间,则 在绝缘体基底上tc是(d2/DO)的函数,而在 导体基底上tc是[d2(1/DO +1/DR )] 的函数。
五、最新进展
1、SECM的探头
在SECM早期的研究中,大多采用各种金属或碳纤 微圆盘电极作为探头,这种探头至今仍是最常 用的SECM伏安式(或称之为安培式)探头。这样就 限制了SECM仅可应用到有电活性样品的研究中。
然而,许多与生命过程有密切关系的离子物 质,如Cl- 、NH4+;、Ac+ (乙酰胆碱)及碱金 属和碱土金属离子等,均是非电活性物质。 为了检测它们的流量及浓度分布的纵剖面, 人们通常是制作固体或以微米管为基础的电 位式的离子选择性微电极来作为SECM的探头。
iT, = 4 n F C0* D0 a F:法拉第常数; C0* :溶液本体中R的浓度; D0 :扩散系数; a:探头半径 (1)当探针与基底间距 d 大于5-10a时,基 底的存在并不影响该稳态电流值。 (2)当探针与基底间距 d 与a相当时,探针 上的电化学电流 iT 将随距离d 的变化和基 底性质的不同而发生显著改变。
5、液/液界面研究
SECM主要应用于研究固体基底。但最近 的研究表明,液/液界面是一个稳定的、在 尺寸上处于ECM用于液/液界面研究时,两相的电位 取决于两相中电对的浓度。此时电子转移 在探针附近微区内发生,而离子转移在整 个相界面发生,因而可以区分电子转移与 离子转移过程,减少电容电流和非水相iR 降的影响。
6、生物体系测量和成像
用SECM的电流法或电位法可观察人 工或天然的生物体系。如活细胞研究、生 物酶活性的分布和测定、抗原抗体成像等。
7、微区加工
当探针移至样品表面时,电子转移局限于 靠近样品表面的很小的区域,故可用 SECM进行微区沉积或刻蚀。探针可以作 为工作电极来直接进行表面加工, 也可以在探针上产生试剂与样品的作用。 已用于制作生物传感器的生物分子沉积。
SECM的反馈模式
当探针在微位移器的驱动下对基底进行恒 定高度状态下的X-Y扫描时,探针电极上 的法拉第电流将随基底的起伏或性质改变 而发生相应改变,SECM就是通过电流的 正反馈或负反馈过程及其强弱来感应基底 表面的几何形貌或电化学活性研究的。
CV of the ion Ru(NH3)63+ at a 10-µ diameter m tip in an unstirred buffer solution.
8、联用技术
(1)SECM与石英晶体微天平(QCM) 联用。由SECM提供电化学信息,由QCM 提供质量效应信息来研究有机或无机薄膜 性质。
(2)SECM与原子力显微镜(AFM)联用, 同时提供高空间分辨率的电化学和基底形 貌信息,已用于表面刻蚀和固/液界面研究。 (3)SECM与扫描光学显微技术联用,同 时进行扫描电化学、光学研究获得空间分辨 信息。
2、探针的质量
SECM的分辨率主要取决于探针的尺寸、 形状及探针-基底间距(d)。能够做出小 而平的超微盘电极是提高分辨率的关键所 在,且足够小的d与a能够较快获得探针稳 态电流。同时要求绝缘层要薄,减少探针 周围的归一化屏蔽层尺寸RG ( RG = r/a, r为探针尖端半径 )值,以获 得更大的探针电流响应。
2、异相电荷转移反应研究
SECM的探针可移至非常靠近样品电极表 面从而形成薄层池,达到很高的传质系数, 且SECM探针电流测量很容易在稳态进行, 具有很高的信噪比和测量精度,也基本不 受iR降和充电电流的影响。
SECM可以定量地测量在探针或基底表面 的异相电子转移速率常数。异相速率常数 既可以通过稳态伏安法也可以由分析i-d曲 线而得到。
第十二章 扫描电化学显微镜
扫描电化学显微镜(SECM)是80年代末由 A.J.Bard的小组提出和发展起来的一种 扫描探针显檄镜技术。它是基于70年代末 超徽电极(UME)及80年代初扫描隧道显微 镜(STM)的发展而产生出来的一种分辨率 介于普通光学显微镜与STM之间的电化学 现场检测新技术。
与STM和AFM技术不同,SECM基于电化 学原理工作,可测量微区内物质氧化或还 原所给出的电化学电流。该技术驱动非常 小的电极(探针)在靠近样品处进行扫描, 样品可以是导体、绝缘体或半导体,从而 获得对应的微区电化学和相关信息,目前 可达到的最高分辨率约为几十纳米。
三、实验方法
(一)电流法 该模式是基于给定探针、基底电位, 观察电流随时间或探针位置的变化,从而 获取信息的方法。 1、变电流模式(恒高度) (1)反馈模式:探针既是信号的发生源又 是检测器,被形象地称为“电化学雷 达”。
当探针与基底建立电化学反馈电流后,恒定 探针-基底绝对距离d,即探针在基底表面进 行等高的X,Y方向扫描,同时记录探针在 不同位置的电流大小.
以液体为基础的玻璃微米管类型的ISME也 可以作为SECM的探头。对K+ 、Zn+ 和NH4+ 有选择性的微米管探头可用来给出微米级 分辨率的区域浓度分布图 。
2、SECM图像
大多数已报道的SECM图像是应用等高模式得到 的。此模式的工作原理是探头在基底表面进行 等高的x,Y方向扫描,同时记录探头在不同位 置的电流大小。探头电流的大小反映出z方向的 高低不等,从而可得到基底的三维图像。可获得 的图像的分辨率主要与探头的大小和探头与基底 之间的距离有关。
参考文献:
1、Corrosion Science, 2005, 47, 3312-3323 In situ monitoring of electroactive species by using the scanning electrochemical microscope. Application to the investigation of degradation processes at defective coated metals
3、Journal of Electroanalytical Chemistry, 2005, 585, 8-18 Combined scanning electrochemical-atomic force microscopy (SECM-AFM): Simulation and experiment for flux-generation at un-insulated metal-coated probes .
应用纳米级的探针可使图像的分辨率从 m提高到30~50 nm,这已接近其理论极 限。因为进一步提高图像的分辨率需要将 探头移到离基底在1O nm之内,可以引起电 子在探头和导电基底之间的隧道电流,这 样使SECM过渡到STM的范畴。
对于基底含有导电和绝缘体微结构的不均 匀体系,应用等电流模式可以避免等高模 式所引起的探头会碰到基底而撞坏的问题。 目前应用SECM所得到的最高的分辨率是在 空气中研究绝缘基底。
当一个原子级平整的云母放在不是非常干 燥的空气中,在其表面有一个零点几 nm 厚的水层。当用纳米级的探头进行研究时, 其探头的有效面积仅是浸在水相中的那部 分探头。应用此类方法,人们已得到了DNA 的双螺旋结构和簇类化合物的图像,其分 辨率可达1~2 nm.
3、均相化学反应动力学研究
SECM的收集模式、反馈模式及其与记时 安培法、快扫描循环伏安法等电化学方法 的联用,已用于测定均相化学反应动力学 和其它类型的与电极过程耦联的化学反应 动力学。
4、薄膜表征
SECM可监测微区反应,因此也是研究电 极表面薄膜的十分有效的技术。它既可以 通过媒介反应进行测量,也可以把探针伸 入膜中直接测量。
1、探针制备
SECM探针为被绝缘层包围的超微圆盘电 极(UMDE),常为贵金属或碳纤微,半 径在微米或亚微米级。制作时把清洗过的 微电极丝放入除氧气毛细玻璃管内,两端 加热封口,然后打磨至电极部分露出,由 粗到细用抛光布依次抛光至探针尖端为平 面。再小心地把绝缘层打磨成锥形,以在 实验中获得 尽可能小的探针-基底间距(d)。
因为电位式的探头是一个被动式的传感器, 它不会改变在基底上产生或消耗的物质的 浓度分布的纵剖面,这样它可方便地应用 在收集模式实验中。并且它与伏安式探头 相比具有选择性。但是它与伏安式探头相 比,其图像分辨率降低。另外它不能给出 离基底的距离的信息。
已报道在碳纤维上涂有酶可作为具有生物敏感性 的探头。另外已发展了一种对于研究半导体电 化学有用的探头,在光导纤维外镀一层很薄的 金,然后用高分子膜将之绝缘 。光导纤维可在 基底上产生一个微米大小的聚光点,金圆环电极 作为探头检测在基底上发生光化学反应的产物。 探头电流和基底的光电流可提供有关区域光化学 反应性以及给出基底的图像。
2、恒电流模式(直接模式)
通过反馈电路控制探针-基底的相对间距d 不变,并检测探针在垂直方向的位置变化 来实现成象过程,以提高分辨率. 对于基底含有导电和绝缘体微结构的不均 匀体系,应用恒电流模式可以避免恒高度 模式所引起的探头会碰到基底而撞坏的问题。
(二)电位法
微型离子选择性电极作为SECM的探针。 此类探针仅传感基底附近浓度,而不产生 或消耗电极反应活性物质。电极膜电位方 程可用于浓度空间分布的计算并确定探针基底间距范围。