《先进陶瓷材料及进展》 第三章 陶瓷晶体缺陷
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异相共格模型
分类: 互扩散模型
过渡层模型
杂质在陶瓷晶界的分布
缺陷属何种类,进而推知导电机构。
四.固溶体的概念及其分类
固溶体 —— 固态条件下,一种组分内溶解了其它 组分而形成的单一、均匀的晶态固体。
如:红宝石:-Al2O3+0.5~2% Cr2O3 (纯-Al2O3白宝石) 结构中Cr3+的存在能产生受激辐射,固体激光材料
固溶体中不同组分的结构基元是以原子尺度混合 的,这种混合是以不破坏主晶相结构为前提的。
2 玻璃相
玻璃相是指陶瓷材料中的非晶态物质。玻璃相分布在晶粒的 周围成连续状或仅仅分布在三界处,也可能形成孤岛状。
显微结构
玻璃相的作用:
a粘结的作用,填充晶粒的间隙把晶粒粘在一起使陶瓷密化 b降低烧结温度促进烧结的作用蒸发一凝聚扩散机理 c阻止或延缓晶型转变抑制二次晶粒长大
因此玻璃相可提高材料的抗电强度和机械强度
是指不同类(异相)物质的晶粒间界(PB)
晶界的特点(性质):
A.晶界处存在大量缺陷 B.晶界处有空间电荷区 C.晶界上易出现杂质偏析
显微结构
5.
相界的特点:
由于两相物质之间成分结构,键特性不同,
晶格场有较大的区别,故相界结构一般都较同类 晶界复杂,且厚些。两相物质间可能出现互扩散 和超限固溶,晶相能高。
缺陷反应方程式应用示例
④具有反Schottky缺陷的化学计量化合物M+2X-2:
X MX X M M X i X i
⑤正离子缺位的非化学计量化合物M1-yX(Ni1-yO, Cu2-yO, Mn1-yO等)
1 X X X 2 ( g ) VM XX 2
V
X M
VM h
一、溶质原子在溶剂晶体结构中所处的位置分类 (本质) 1 .置换固溶体:无机材料多发生在金属阳离子 的置换 2 .填隙固溶体:无机材料多发生在阴离子所形 成的间隙中 二、按溶质原子在溶剂晶体中的溶解度分类 1.连续固溶体:Sr+2Ba+2 BaTiO3 2.有限固溶体:Ca+2Ba+2 BaTiO3
电阻、热释电性、介 电学性质 电常数、压电性、电 光效应、离子导电性 、绝缘破坏强度 熔点、比热、热导 热学性质 率、热膨胀系数 化学性质 耐酸、碱、电化学 腐蚀,与金属的亲 合性
陶 瓷 的 性 质
( )
LTCC基板优点 缺陷的分类:
瞬时 缺陷 声子 电子 缺陷 电子 空穴 点缺陷 晶格空位 格点间填 隙原子 置换原子 线 缺 陷 位错 面 缺 陷 晶 体 表面 晶界 相界 层错 体缺陷 空洞 缺陷簇 夹杂物
缺陷反应方程式应用示例:
①具有Frankel缺陷的化学计量化合物M+2X-2:
M
X M
M
i
VM
②具有反Frankel缺陷的化学计量化合物M+2X-2:
X XX Xi VX
③具有Schottky缺陷的化学计量化合物M+2X-2:
(无缺陷)
0
VX VM
X XX V XX
1 X 2 (g) 2
VX VX e
X VX VX e
若缺陷反应充分,则有:
X
X X
V
X
1 2e X 2 ( g ) e为多子,n型半导体 2
O
如BaTiO3在还原性气氛条件下烧结:
O V
X O
1 2e O2 ( g ) 2
X OO VO 2e
1 O2 ( g ) 2
K
[V ]n PO22 [O ]
X O
O
2
1
或
K
2 1 2 [VO ]n PO2
应用示例:
1)掺杂对电导的影响: 通常NiO为具有Ni缺位的非化学计量氧化物,p型半导体
1 X 2h OO O 2 (g) VNi 2
玻璃相的缺点:结构疏松 Na+,K+ 等金属离子作为网络的变性 剂易进入玻璃网络,在外电场作用下易迁移故电导产生松驰 极
化使介质损耗(tg&)对材料的机械强度、热稳定性也 有影响。
显微结构
3 气相:
形成::烧结过程就职气孔排除材料改变密化的过
程,坯体中的空气水汽粒合剂和易挥发物形成形 成的气体,化合物分解的气体等在烧结过程中大 部分沿陶瓷晶界扩散排除,然而总有点少部分特 别是裹在晶粒中的气体不能排除它们以 O2,H2,
Y2O3 Y
⑨电子与空穴复合
e h 0
三.用质量作用定律表述缺陷浓度
质量作用定律——在一定温度下,化学反应达到平衡 时,正反两方面参加反应的组元浓度乘积之比保持为 常数:
如:aA+bBcC+dD
平衡常数
[C] [D] K a b [A] [B]
c
d
将质量作用定律应用于缺陷反应式时,用[ ]表示某 种缺陷的浓度,用n、p分别表示电子、空穴的浓度, 气体的分压表示该气体的浓度。 如:
2
1 ] P 因而 [VNi 2
பைடு நூலகம்
P KPO6
1
2
又因空穴电导率 穴迁移率
p pqp
q- 电 子 电 量 , p- 空
p Kq p PO KpPO6
6 2
1
1
2
表明:NiO的电导率随烧结或热处理过程中的氧分压 的增加
按1/6次方的指数规律增加。可从此关系反证
在NiO中掺杂微量的Li+, Na+,K+等一价金属离子
X Li2O 2Li Ni 2h OO Ni1 xO
可见,掺Li+后,空穴浓度p要增大,NiO的电导率上升。
若在NiO中掺杂微量Fe3+,Cr3+等三价金属离子。
X Fe2O3 2Fe 2e 3OO Ni1xO Ni
形成固溶体的条件
1.结构因素:晶格类型相同是形成无限固溶体的必要条件
晶格类型差别愈大,固溶度愈低 2.离子半径因素
离子半径相对差值
r
r大 r小 r小
100%
r: <15% 15%~40% >40 形成的固溶体:无限 有限 非固溶体 3.化学性质 化学性质相似,酸碱性接近的组元易形成固溶体 4.离子的电子构型 离子的电子构型相同或相近的组元易形成固溶体
第三章
陶瓷的晶体缺陷
一.决定陶瓷性能的结构因素
机械性质 硬度、强度、比重、 弹性率、断裂韧性
微结构
陶 瓷 的 构 成 因 素 组 成
超微结构
(原子离子级别)
原子的种类, 原子的金属性 元素 和非金属性, 化学结合的方 式,结晶结构
(晶粒、晶界级别) 多晶体 晶粒直径 气孔量 ( 晶界、晶 粒内) 晶界 ( 分凝、析出 相) 缺陷(裂纹、位错) 表面状态(伤痕等) 晶格的各向异 性和取向
显微结构
陶瓷的显微结构是指在光学显微镜(如金相
显微镜、体式显微镜等)或是电子显微镜(
SEM、TEM)下观察到的陶瓷内部的组织结构
,也就是陶瓷的各种组成(晶相、玻璃相、气相
)的形状、大小、种类、数量、分布及晶界状态 、宽度等。研究陶瓷的显微结构时往往将样品放 大数百倍到数千倍,观察范围为微米数量级。
CaO(s) Ca OO VO
ZrO 2 '' Zr
⑦正离子填隙非化学计量化合物M1+yX 充分反应
M
X N
X
X X
M
i
1 2e X 2 ( g ) 2
体
如:Zn1+yO在一定条件下以 Zni˙ 缺陷为主时,呈n型半导
2LiCl (s) 2Li
可见,掺入Fe3+后,电子浓度补偿了空穴浓度, e h 0 使NiO电导率下降。
2)气氛对电导的影响:由上例
1 X 2h O O O 2 VNi 得: 2
K1
]P 2 [VNi PO2
1 2
] P 2[VNi 根据电中性条件:
代入上式:
K1 1 3 P 21 PO2
正离子缺位 一价电离 正离子缺位 二价电离
VM h VM
如果缺陷反应充分,则有
1 X 2h X X X 2 ( g ) VM 2
h 为多子,p型半导体
Al2O3 (s) 2 Al V 3O0
. Mg " Mg
MgO
等。
⑥非化学计量比化合物 MX1-y( 负离子缺位 ) ,如 TiO2-y,WO2-y
二.晶体缺陷的研究:
1)结晶学观点出发,研究缺陷存在的形态 2)热力学立场出发,研究缺陷生成的理论依据
准化学平衡法
原理——将缺陷生成看作是一种化学反应 缺陷反应方程式的规则: (1) 质量关系 —— 原子数平衡,方程两边各种 原子(或离子)的个数必须相等 (2)位置关系——格点数成正确比例,每增加a 个M格点,须增加b个X格点 (3)电荷关系——电荷平衡,方程两边的总有 效电荷必须相同(晶体的电中性)
微观结构
陶瓷的微观结构是指晶体结构类型、对称
性、晶格常数、原子排列情况及晶格缺陷等,
其研究分析手段有 X射线衍射、电子衍射、场
离子显微镜等。研究微观结构时需将样品放大
数百万倍,分析精度可达数埃。
显微结构
1晶相 晶相是指陶瓷材料中具有晶态结构的相,它是陶瓷材料 最基本最主要的部分。 晶相的性质决定着陶瓷材料的性质,不同的材料决定不 同的晶相,晶相包括主晶相和次晶相(或称析出晶相)陶瓷 中可能有好几种晶相。
N2,CO2,H2O 等形成式停留在材料中而形成气
相气相对陶瓷材料的电学热学光学和机械强度都 有影响。影响:a 使抗电强度下降;b 使机械强度 下降;c气孔使光的透过率下降
显微结构
4 .晶界 : 在多晶材料的形成过程中,晶粒是
各自为核心长大的,到后期晶粒长大至相互 接触,共同组成了晶粒间界。
1. 晶界是指同类物质的晶粒间界( GB),相界
组分间的固溶:晶体的生长过程 溶液中结晶时 烧结过程原子扩散 固溶体与一般化合物有本质区别: 化合物 AmBn:A、B 之间按确定的克分子比 例m:n化合,晶体结构固有既不同于A,亦 不同于B 固溶体:A、B之间并不存在确定的克分子 比,可以在一定范围内波动,其结构与主 晶体结构一致。
固溶体分类
点缺陷的标记法:Kroger-Vink Notation:
· 正电荷 ,负电荷 ×电中性
缺陷有效电荷
缺陷种类
缺陷位置
MXV
金非晶 属金格 元属空 素元位 符素 号符 号 MX I 金非格 属金点 元属间 素元填 符素隙 号符位 号置
Fe
Ni
缺陷种类与有效电荷
缺陷种类 高价离子置换 低价离子置换 金属离子空位 非金属离子空位 金属离子填隙 非金属离子填隙 有效电荷 + + + -
MgCl 2
' Mg
Mgi 2ClCl
⑧负离子填隙非化学计量化合物MX1+y 充分反应
1 X 2 ( g ) X i 2h 2
如VO1+y,UO2+y在一定条件下,氧过量缺陷为主,呈p型半 导体
3 1 '' ZrO2 ( s ) Zr OO Oi 2 2